DE1621358A1 - Verfahren zur Aufbringung duenner Filme aus dielektrischem Material auf ein Substrat - Google Patents
Verfahren zur Aufbringung duenner Filme aus dielektrischem Material auf ein SubstratInfo
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Description
Jng. Gottfried Leiser Ernsb.ergerstras?e 19
Patentanwälte
Telefon: 83 1510
Postscheckkonto: München117078 . <e '
TEXAS ESrSIRUMElRDS- INCORPORATED
13500 ITorth Central Expressway-Dallas, Texas / T. St. A.
13500 ITorth Central Expressway-Dallas, Texas / T. St. A.
Verfahren zur Aufbringung dünner J1IIme aus dielektrischem
Material auf ein Substrat
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung
dünner, zusammenhängender Silme aus dielektrischen Materialien.
Insbesondere betrifft sie ein Verfahren zur Her~ stellung dünner Isolierfilme durch geregelte Dissoziation
und WiedervereMgung gasförmiger Mischungen in einer i«f leder druck-Gliannentladung.
Isolierende oder dielektrische Pilme haben für zahlreiche
Zwecke allgemein Anwendung gefunden. So werden ζ. Β«
Siliciumoxidfilme
Dr.Ha/Mü 109818/0293
. BAD ORIGINAL
Siliciumoxidfilme allgemein zur Herstellung von Halbleitervorrichtungen
als Diffusionsmaskierungen, zur Oberflächenpassivierung, als Maskierungen zur Begrenzung
epitaktischer Fiederschlagungen, als dielektrische
Medien in Kondensatoren, und für viele andere verschiedene
Zwecke verwendet. Die Verfahren zur Herstellung dieser ]?ilme sind ebenfalls vielfältig und unterschiedlich.
Eine den meisten Yerfahren gemeinsame Maßnahme besteht jedoch in der Erhitzung des Substrats während
der Bildung des films..Bei der Herstellung thermisch
gewachsener (genetischer) Oxidfilme wird ein Silieiumsubstrat
auf etwa 1 200°C erhitzt. Bei der pyrolytischen Zersetzungsmethode wird das Substrat auf etwa 7ÖO°C
erhitzt und eine organische Sauerstoffverbindung von Silicium wird unter Bildung eines Siliciumoxidfilms
pyrolytisch an dem Substrat zersetzt.
Dünne zusammenhängende Filme aus isolierenden oder hochschmelzenden Materialien waren bisher trotz ihrer
extremen Brauchbarkeit auf Yerfahren beschränkt, bei welchen das Substrat lingere Zeit Temperaturen von
45O0G und hoher aushalten konnte. Ferner verlaufen die
bei niedrigeren Temperaturen durchgeführten Herstellungsverfahren
solcher Filme, z. B. das Verspritzen miteinander reagierender Stoffe, im allgemeinen sehr
langsam; sie benötigen zur Niederschlagung eines 500 £
dicken
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SAD ORIGINAL
dicken 3?ilms bis zu einer Stunde.
Bei kürzlichen Versuchen zur Herstellung von Isolierfilmen bei niedrigen Temperaturen wurde Siliciumoxid
durch Dissoziation von Tetraäthoxisilan (oder Tetraäthylorthosilicat
(CpH1-O)^Si, nachstehend als TÄOS bezeichnet)
in einer hochfrequenten Glimmentladung (0,5 MHz) hergestellt; siehe Ing. S. ¥. Jr. und W. Daven,
Journal of the Electrochemical Society, Band 112, S. 284-38 (März 1965) sowie auch in einer Mikrowellen-Glimmentladung;
siehe Secrist, D. R. und J. D. Mackenzie, Journal of the Electrochemical Society, Band 113,
S. 914-19 (September 1966). Eilme aus Siliciumoxid wurden auch aus Silan und Stickoxid und Pilme aus
Siliciumnitrid wurden aus Silan und wasserfreiem Ammoniak durch Anwendung einer hochfrequenten Glimmentladung
(1 MHz) hergestellt; sieteSterling, H. Έ. und
R. C. G. Swann, Solid-State Electronics, Band 8, S. 653-54 (August 1965).
Bei diesen Methoden wird ein Sauerstoffstrom durch ein elektromagnetisches Feld zur Erzeugung einer Glimmentladung
geleitet. Das bei dieser Sauerstoffentladung überwiegend erzeugte erregte Produkt wurde als atomarer
Sauerstoff im Grundzustand identifiziert. Die von der Entladung stammenden erregten Sauerstoffarten werden
dann
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BAO ORIGINAL
dann in Wähe des Substrats mit TlOS oder einer anderen
flüchtigen, zu dissoziierenden Verbindung gemischt. Die zur Ionisierung der zu dissoziierenden "Verbindung
erforderliche Energie wird somit indirekt über atomaren Sauerstoff geliefert. Diese Methoden sind in ihrer Anwendung
sehr beschränkt, da die nach dieser Methode erzeugten, erregten und dissoziierten Produkte eine
so hohe lebensdauer besitzen müssen, daß sie vor der Wiedervereinigung das Substrat erreichen können, da
das Substrat in der Regel nicht innerhalb der G-limmentladung
angeordnet werden kann, ohne eine induktive Erhitzung des Substrats zu verursachen. Perner ist eine
hochleistungsfähige Energiequelle erforderlich und der in Erregung begriffene Dampf muß induktiv mit der Spule
mit hoher Impedanz gekoppelt werden; innere Elektroden sind nicht vorhanden.
Die Merkmale der Erfindung, welche diese Probleme lösen, werden in der folgenden Beschreibung in Verbindung mit
der Zeichnung näher erläutert.
In der Zeichnung zeigen:
Pig. 1 einen senkrechten Schnitt durch eine zur Durch-. führung der Erfindung geeignete Einrichtung und
Fig. 2 einen senkrechten Schnitt durch eine ähnliche Einrichtung.
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Gemäß
— J ~"
Gemäß der Erfindung werden Pilme oder Schichten aus
Oxiden, Nitriden oder Carbiden von Metallen durch Dissoziation und selektive Wiedervereinigung der
Dissoziationsprodukte in einer Niederdruck-Glimmaafcladung
gebildet.
In Fig. 1 ist eine Apparatur mit einer Glasglocke zur Durchführung der Erfindung dargestellt. Die Apparatur
besteht aus einer Basisplatte 10 mit einer aufgesetzten, abnehmbaren Pyrexglasglocke 11. Die Basisplatte 10 be-sitzt
eine Öffnung 12, die mit einer Yäkuumleitung 13 in Verbindung steht, welche wiederum an ein nicht-dargestelltes
Vakuumpumpsystem angeschlossen ist. Elektroden 14 und 15 ragen durch die Basisplatte 10 hindurch in
die Glocke 11 hinein. Die Elektroden 14 und 15 sind gleitbar in Isoliermuffen 16 bzw. 17 angeordnet, welche
eine Vakuumabdichtung zwischen den Elektroden und der Basisplatte bewirken. Die Basisplatte 10 weist auch ein
Paar Einlasse 19 und 20 auf, die jeweils mit einer Zuführungsleitung 21 bzw* 22 und Zumeßventilen 23 und 24
verbunden sind, durch welche Dämpfe in geregLter Menge
in die Glocke 11 eingeführt werden können. An die Elektroden 14 und 15 ist eine geeignete Gleichstrom- oder Wechselstrpmq_uelle
angeschlossen.
Das
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Das zu überziehende Subs-feat kann entweder an einer der Elektroden befestigt oder in einem Abstand von den
Elektroden angeordnet werden. Die Elektroden können auch aus leitenden Sieben bestehen und die zu überziehenden
Substrate werden dann hinter den Sieben angeordnet* 1
Gegebenenfalls kann das
"Substrat in geeigneter Weise mit einer Heizvorrichtung
versehen werden.
Im Betrieb wird aus der Glasglocke Luft durch die Öffnung 12 abgepumpt. Mach Evakuierung des Systems wird das zu
dissoziierende G-as durch die Öffnung 19 mittels des Zumeßventiles
23 in die Glocke geleitet. Ein Kontrollgas, das entweder reaktionsfähig oder inert sein kann, wird durch
die Öffnung 20 durch das Zumeßventil 24 eingeleitet. Durch Einstellung der Zumeßventile 23 und 24 wird innerhalb
des Systems ein Gleichgewichtsdruck der gewünschten
Anteile von reaktionsfähigem Gas und Kontrollgas eingestellt. Die Vakuumpumpe bleibt in Betrieb, um ein dynamisches
Gleichgewicht zu schaffen, indem die Gase mit einer ihrer Zuführung entsprechenden Geschwindigkeit
aus dem System entfernt werden; auf diese Weise wird
ein dynamischer Gleichgewichtsdruck in dem System aufrechterhalten. «Venn die gewünschten Anteile und Drücke
der
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der reagierenden Gase innerhalb der Glocke erzielt
sind, wird zwischen den Elektroden 14 und 15 eine
Glimmentladung hervorgerufen. Die Glimmentladung ionisiert die reagierenden Gase und erzeugt ein Plasma
aus dissoziierten Teilchen. Die Entladung wird durch
an der Kathode infolge eines Beschüsses mit positiven
Ionen, erzeugte Elektronen aufrechterhalten. In dem Plasma "bilden sich dann durch Wiedervereinigung der
entsprechenden geladenen Teilchen litride, Oxide und
Carbide von Metallen wie Silicium, Aluminium, Titan und dergleichen. Die erhaltenen Produkte schlagen sich
dann auf der Oberfläche des Substrats nieder. Die Bildung dieser festen Stoffe wird durch die relativen Anteile
an reagierenden und Kontrollgasen in dem System gesteuert. Der Rest der Teilchen in dem System vereinigt
sich viieder zu gasförmigen Produkten, welche durch die Yakuumöffnung 12 aus dem System abgeführt werden.
Eine andere zur Durchführung der Erfindung geeignete
Apparatur ist in Pig. 2 dargestellt. In diesem System sind die Elektroden verhältnismäßig weit von der Niederschlagungsstelle
der Röhre entfernt, so daß jede._ Verunreinigung
durch Elektrodenmaterial vermieden wird. Die Apparatur besteht aus einem zylindrischen Rohr 30, z. B.
aus Quarz oder Pyrexglas, mit unter Bildung eines vakuumdieliten Zylinders daran befestigten Abschlußkappen
31 und 32. Elektroden 33 und 34 sind in jeder Abschluß-
kappe
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BAD
kappe 31 bzw. 32 befestigt und ragen, durch diese
hindurch, und etwa parallel damit in den Zylinder hinein. Die Elektroden sind gleitbar in Isoliermuffen
35 und 36 geführt, welche eine vakuumdichte Abdichtung zwischen den Elektroden und den Endkappen ergeben. So
können die Elektroden verstellbar in jedem beliebigen Abstand innerhalb des Zylinders 30 gehalten werden.
Eine Zuführungsleitung 37 mit einem Zumeßventil 38 ist
in der Abschlußkappe 32 montiert. Ein Auslaß 39 ist in der AbsJalußkapp'e 31 vorgesehen und mit einem nicht-dargesteilten
Vakuumpumpsystem verbunden. An die Elektroden 33 und 34 ist eine Wechsel- oder Gleichstromquelle angeschlossen.
Der Betrieb der Apparatur von S1Ig. 2 ist ähnlich dem
von Fig. 1. Zu überziehende Substrate 40 werden innerhalb des Zylinders 13 zwischen den Elektroden 33 und
angeordnet oder an einer der Elektroden befestigt. Gegebenenfalls können die Substrate mit einer Heizvorrichtung
versehen werden. Die Abshlußkappen 31 und 32
werden auf den Zylinder 30 aufgesetzt und dieser wird durch die !Leitung 39 und das nicht-dargestellte Vakuumpumpsystem
evakuiert. Das reagierende Gas wird durch das Zumeßventil 38 und die Leitung 37 in den Zylinder
eingeführt, so daß innerhalb des Zylinders ein dynamischer
G-leichge wichtsdruck
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Gleichgewichtsdruck aufrechterhalten wird,- Das reagierende Gas kann in den gewünschten Anteilen
vor Eintritt in den Zylinder mit einem Kontrollgas gemischt oder das Kontrollgas kann durch eine getrennte Zuführungsieitung und-ein Zumeßventil (nicht
dargestellt) eingeleitet werden. An die Elektroden 33 und 34 is"fc eine Stromquelle angeschlossen, und wenn
der gewünschte Gleichgewichtsdruck von reagierendem Gas und Kontrollgas innerhalb des Zylinders erreicht
ist, wird zwischen den Elektroden eine Glimmentladung hervorgerufen. ¥enn der Elektrodenabstand groß genug
ist, bildet sich im Inneren des Zylinders 30 eine positive Säule. Das-Plasma der positiven Säule bildet
einen Leiterweg zwischen dem !Faraday'sehen Dunkelraum
und der Anode. Innerhalb des Plasmas bilden sich Dissoziationsprodukte des reagierenden Gases. Auf
den Substraten 40 schlägt sich durch Wiedervereinigung bestimmter ionisierter Teilchen eine Schicht aus festem
Material nieder. Die ve !Bleibenden ionisierten Teilchen
vereinigen sich zu flüchtigen Gasen, welche durch die Abführungsleitung 39 aus dem System abgeführt werden.
Das verwendete reagierende Gas kann im Hinblick auf die Bildung von überzügen aus verschiedenen dielektrischen
Materialien gewählt werden. Ganz allgemein kann das reagierende Gas irgendeine flüchtige Verbindung eines Metalls,
z. B.
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ζ. B. Silicium, Titan, Aluminium oder dergleichen, sein, welche bei Dissoziation in einer Glimmentladung
ein Oxid, Carbid oder Nitrid ergibt oder ein solches bei Vereinigung mit einem geeigneten Kontrollgas bildet.
So werden Argon oder Sauerstoff als Eontrollgas für die Bildung von Oxiden verwendet. Garbide erhält man durch
Dissoziation flüchtiger metallorganischer Verbindungen oder durch Dissoziation einer Mischung aus einer flüchtigen
anorganischen Metallverbindung und einer organischen oder kohlenstoffhaltigen Verbindung. Ebenso werden die
Drücke und die Anteile von Eontrollgas zu reagierendem
Gas zur Erzielung optimaler Bedingungen für die Bildung der gewünschten Filme variiert. Das Eontrollgas wird nicht
als Elektronenübertragungsmedium benötigt, sondern wird lediglich deshalb verv/endet, damit sich aus den Dissoziationsprodukten
die gewünschten festen Wiedervereinigungsprodukte bilden, indem das Eontrollgas eine gründliche
Oxidation bei niedriger Temperatur anregt. Das Kontrollgas wird auch, z. B. im Fall von Stickstoff,
wasserfreiem Ammoniak oder Methan, zur Bildung des festen
Produkts verwendet, indem es einen Teil desselben darstellt. Das Kontrollgas kann auch die Ionisierung in
Gang setzen, wenn die Ionisationsenergie des reagierenden Gases hoch ist, z. B. im Pail von Tetrachlorkohlenstoff.
Die Spannung, der Strom und der Elektrodenabstand können auch innerhalb weiter Grenzen unter Schaffung vielfältiger
Operationsbedingungen variiert werden. Die
folgenden
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folgenden Beispiele erläutern die vielen verschiedenartigen Betriebsbedingungen, welche zur Niederschlagung
dünner Isolierfilme erfolgreich angewendet wurden.
In allen folgenden Beispielen war- die Ausgangstemperatur
des Substrats Raumtemperatur. Während der Niederschlagung stieg die Temperatur des Substrats in der Regel um 20 bis
750O an. Diese Temperatur und die angewendeten Stromdichten
erlaubten die Verwendung von Substrathaltern und Elektrodenträgern aus dem Kunststoff Iiucite.
Ein Plättchen 18 aus poliertem GaAs wurde an der Elektrode 15 befestigt und elektrisch daran angeschlossen, wie dies
Fig. 1 zeigt. Die Elektrode 14 besaß einen Abstand von etwa 12,5 cm von dem Plättchen 18. Das System wurde
evakuiert und man leitete Sauerstoff in die Glocke in solchen Mengen ein, daß in dem System ein dynamischer
Sauerstoff druck von 40 χ 10 Torr herrschte. Gleichzeitig
damit wurde TÄOS-Dampf in das System unter Einstellung
eines dynamischen^TAOS-Drucks von 50 χ 10 Torr,
gemessen an einem auf £uft geeichten Thermoelement, eingeleitet.
Bei Anwendung eines ¥echselstroms von 60 Hz erfolgte
eine Glimmentladung zwischen den Elektroden.
Der
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i SiM
Der Spannungsabfall über die Elektroden wurde auf 700 Volt gehalten. Auf dem Plättchen 18 schlug sich
Siliciumoxid mit einer- Geschwindigkeit von 8 χ 10 S pro Stunde nieder. Gasförmige Nebenprodukte wurden
laufend aus dem System während der Niederschlagung entfernt, so daß man einen qualitativ hochwertigen,
zusammenhangenden, gleichmäßigen Überzug aus Siliciumoxid auf der Oberfläche des Plättchens 18 erhielt.
Hin Plättchen 18 aus poliertem GaAs wurde, wie in Fig.
dargestellt, an der Elektrode 15 bexestigt und elektrisch damit verbunden. Die Elektrode 14 besaß von dem Plättchen
18 einen Abstand von etwa 12,5 cm. Das System wurde evakuiert und man leitete Sauerstoff in die Glocke in
solchen Mengen ein, daß sich in dein System ein Sauerstoffdruck
von 60 χ 10 Torr einsteilte. Gleichzeitig
" damit leitete man TA'OS-Dampf bis zur Einstellung und
Aufrechterhaltung eines TAQS-Drucks von 40 χ 10 Torr
in das System ein, gemessen mit einem für Luft geeichten Thermoelement. Bei Anwendung eines Wechseletroms von
60 Hz erzielte man eine Glimmentladung zwischen den Elektroden. Der Spannungsabfall über die Elektroden
wurde auf 700 Volt gehalten. Auf dem Plättchen 18 schlug sich Siliciumoxid mit einer Geschwindigkeit von 10 χ 10 Ä
pro
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'" " 8A0 ORIGINAL
pro Stunde nieder. Gasförmige Nebenprodukte wurden laufend aus dem System während der' Niederschlagung
- entfernt, so daß sich auf der Oberfläche des Plättchens
18 ein qualitativ hochwertiger, zusammenhängender, gleichmäßiger
Überzug aus Siliciumoxid bildete.
Hehrere GaAs-Plättchen wurden zwischen den Elektroden
in dem in Fig. 2 dargestellten Reaktionszylinder angeordnet. Die Elektroden besaßen einen Abstand von etwa
40 cm. Das System wurde evakuiert und man hielt in dem Zylinder einen dynamischen Gleichgewichtsdruck von
5 Torr mittels TÄOS und einem geeigneten Eontrollgas,
z. B. Argon oder Sauerstoff, aufrecht. Zwischen den Elektroden wurde eine Wechselstrom-Glimmentladung bei
300 YoIt gezündet. Auf den GaAs-Platteheη bildete sich
mit einer Geschwindigkeit von 6 χ 1Cr 2. pro Stunde ein
fest haftender, zusammenhängender Siliciumoxidüberzug.
Für den Fachmann ist klar, daß auch andere Metalloxide nach der in den Beispielen 1 bis 3 beschriebenen Methode
gebildet v/erden können, indem man das TÄOS durch eine geeignete flüchtige Metallverbindung ersetzt, was in
den folgenden drei Beispielen erläutert wird.■
109818/09QQ
ORiGiNAL
1021358
Ein Scheibchen aus poliertem Silicium wurde auf die in Fig. 1 dargestellte ¥eise an der Elektrode 15 der
Apparatur befestigt. Die Elektrode 14 besaß einen Abstand von etwa 2,5 cm von dem Siliciumscheibchen.
Das System wurde evakuiert und man leitete soviel Tri-iso-propoxialuminium (Al /""OCUH,,/ ^) in die Glocke
2 ein, daß ein dynamischer Druck von etwa 1 χ 10 Torr
herrschte. Dann führte man dem System so viel Sauerstoff zu, daß sich ein dynamischer Sauerstoffdruk von
etwa 1 χ 10~2 Torr einstellte. Bei einem 1 000 YoIt-Vechselstrompotential
(60 Hz) über die Elektroden stellte sich eine Glimmentladung ein und ein Aluminiumoxidfilm
schlug sich auf dem Siliciumscheibchen mit einer Geschwindigkeit von etwa 5 x 10^S pro Stunde
nieder.
Ein Scheibchen aus poliertem Silicium wurde an der Elektrode 15, wie in der Apparatur von Pig. 1 dargestellt,
befestigt. Unter den Bedingungen von Beispiel 4, jedoch bei Ersatz, des Tri-iso-propoxialuminiuras durch
Tetra-iso-propoxititan schlug sich auf dem Silieium-
'5 ο scheibchen mit'einer Geschwindigkeit von etwa 2 χ 10y ä
pro Stunde ein Titanoxidfilm nieder.
1098"i8/n293 Beispiel 6
BaLspiel 6
Ein Scheibchen, aus poliertem Silicium wurde an. der
Elektrode 15 "befestigt, wie dies in der Apparatur von I*ig. 1 dargestellt ist. Die Elektrode 14 "besaß
einen Abstand von etwa 2?5 cm von dem Siliciumscheibchen.
Das System wurde 'evakuiert und man leitete Titantetrachlorid
(TiCl,) in'einer solchen Menge in die
Glocke ein, daß sich ein dynamischer Druck von etwa 40 χ 10""^ Torr einstellte. Sauerstoff wurde zur Aufrecht
erhaltung eines dynamischen Sauerstoffdrucks von etwa 50 bis 60 χ 10 Torr eingeleitet. Bei einem
1 000 Yolt-Wechsels-tompotential (60 Hz) über die Elektroden
stellte sich eine Glimmentladung ein und auf dem Siliciuraseheibchen schlug sich mit einer Geschwindigkeit
von etwa 3 x 10 I pro Stunde ein Titanoxidfilm nieder.
Ein Scheibchen aus poliertem Silicium wurde-, wie in
der Apparatur von Pig. 1 dargestellt, an der Elektrode
15 befestigt. Unter den in Beispiel 4 angegebenen Bedingungen, jedoch bei Ersatz des Tri-iso-propoxialuminiums
und des Sauerstoffs durch Siliciumtetrachlorid (SiOl.)
und Stickstoff bildete sich auf dem Siliciumscheibchen mit einer Geschwindigkeit von etwa 2 bis 3 x 10 S pro
Stunde ein Siliciumnitridfilm. g^ ORIGINAL
109818/0293 Ersichtlich
Ersiciitlieh können "bei leichten Abänderungen der
Konzentration und der Reaktionsbedingungen andere Metallnitride nach-der Methode von Beispiel 7 erhalten
werden, indem man das Silicituntetraclilorid durch eine geeignete flüchtige Metallverbindung,
z. B. Aluminiumchlorid oder Titantetrachlorid, unter Bildung von Aluminiumnitrid bzw. Titannitrid ersetzt.
Ebenso können anstelle von Stickstoff andere flüchtige ■ Stickstoffverbindungen verwendet werden, z. B. wasserfreies
Ammoniak.
Ein Scheibchen aus poliertem Silicium wurde, wie in der Apparatur von I1Ig. 1 dargestellt, an der Elektrode
15 befestigt. Unter den Bedingungen von Beispiel 4-, jedoch unter Ersatz des Tri-iso-propoxialuminiums und des
k ■ Sauerstoffs durch Methyltrichlorsilan, bildete sich auf
dem Siliciumscheibchen mit einer Geschwindigkeit von etwa 1 bis 2 χ 10 S pro Stunde ein Siliciumcarbidfilm.
Naturlich können unter leichter Abänderung der Konzentrationen
und der Reaktionsbedingungen nach der Methode von Beispiel 8 andere Metallcarbide bei Verwendung anderer
geeigneter Reaktionsteilnehmer erhalten werden; so kann
man z. B. Titantetrachlorid und Methan unter Bildung von
;
>
Titancarbid
ORIGfNAL
l'it&acarbid verwenden.
Jo-iiit k.nnen dünne, zusammenhängende .Filme aus dielektrischen Materialien bei ü-'iurnteraperatur durch Zersetzung
xl":chti3er Metallverbindungen in Anwesenheit von Sauerstoff
oder 3tickstoff -aus einem mittels einer Gleichstrom- oder y-echselstrom-Glimraentladung erzeugten gas-fureigen
Plasma niedergeschlagen werden. Außerdem sind die Stromanforderungen der G-limraentladungsmethode
gering. Dps erlindungsgemä,-;e Verfahren ist vorteilhafter
ale die '«/erfahren, bei welchen eine Hochfrequenz- oder
liikro /ellen-Gliraraentladuhg zur Anwendung kommt, da die
f rc die Reaktion erforderliche Energie direkt an die zu dissoziierenden Verbindungen abgegeben wird und nicht
• ,n das Medium aus z. .8. atomarem Sauerstoff bei den
^oeLire-uenz-Gliameritladungsmethoden und da das zu überziehende
Substrat innerhalb der Glimmentladung angeordnet 1st.
Die beschriebenen Ausführungsformen der Erfindung dienen
lediglich zur -rrunds'ltzlichen Erläuterung. So kann die
dargestellte und beschriebene Apparatur so abgeändert v/erden, da·» sie sich der Art des zu überziehenden Substrats
ist und sie kann auf die fliederschlagung anderer fester
ie eingestellt v/erden, /eitere Abänderungen ergeben
sich i'-">r den Ifucriiruinn von selbst, ohne dai. dadurch der
{ahmen der torfuidun^ verlassen wird.
Claims (1)
16^1358
Patentansprüche
1..Verfahren zur liiederschlagung eines ziisamm entlang end en,
haftenden Films aus einem Metalloxid auf einem Substrat,
wobei das Substrat in einen umschlossenen, ein Paar im Abstand voneinander befindliche Elektroden enthaltenden
Raum gebracht und dieser evakuiert wird, dadurch gekennzeichnet, da/3 man eine Mischung aus einer flüchtigen
Metallverbindung und einem Kontrollgas in den uiaschlossenen
Raum einleitet, zwischen den Elektroden eine elektrische Glimmentladung unter Bildung eines Plasmas aus
dissoziierten Teilchen zündet, das Substrat mit einem aus diesen dissoziierten Teilchen gebildeten Oxid überzieht
und gasförmige nebenprodukte aus dem umschlossenen Raum abführt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
man Sauerstoff als Kontrollgas wählt.
■ ■.' ' ο
' : ■ ■■ ·
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß man Argon als Kontrollgas wählt.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß man Stickstoff als IControllgas wählt.
5. Verfahren ncch einem- der Annprüclie 1 biü 4, dadurch
gekennzeichnet, daß man eine Silicium enthaltende Metallvet'bindung
wählt.
1 0 9 ;i l 8 / η 7 q 3 ■ iL
BAD ORIGINAL
I b ^ 1 3 b 8
6. Verfahren iiacli einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß man eine Aluminium enthaltende Ketallirerbindung wählt.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß man.eine titanhaltige Iietallverbindung
wählt.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 "bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß man das Substrat an einer der Elektroden befestigt.
9. Verfahren nach. Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
man als siliciumhaltig© Verbindung Tetraäthoxisilan, (C2H5O)1^Si, wählt.
10. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
man Siliciumtetrachlorid als siliciumhaltige Verbindung wählt.
11. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß man eine organische Metall'ierbindung in den umschlossenen
Ilauin einführt und Methyltrichlorsilan als siliciumhaltige
Verbindung verwendet,
12. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennäichnet, daß
man
1 0 ο-.β 1 8 / η 7 9 3
BAD
1821358
man als aluminiumhaltige Verbindung Tri-iso-propoxialuminiun)
(ΟΟ,Ηγ),ΑΙ wählt-·
15. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß man als titanhaltige Verbindung letra-iso-propoxititan
(OC5H7)^i wählt.
14. Verfahren nach Anspruch 7» dadurch gekennzeichnet, daß man als titanhaltige Verbindung Titantetrachlorid
wählt.
ORiqiNal
109318/0293
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US59284866A | 1966-11-08 | 1966-11-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1621358A1 true DE1621358A1 (de) | 1971-04-29 |
Family
ID=24372307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19671621358 Pending DE1621358A1 (de) | 1966-11-08 | 1967-07-26 | Verfahren zur Aufbringung duenner Filme aus dielektrischem Material auf ein Substrat |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1621358A1 (de) |
GB (1) | GB1197756A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0032788A1 (de) * | 1980-01-16 | 1981-07-29 | National Research Development Corporation | Verfahren zum Aufbringen einer Beschichtung mittels Glimmentladung |
DE3512825A1 (de) * | 1985-04-10 | 1986-10-16 | Stiftung Institut für Härterei-Technik, 2820 Bremen | Verfahren zur herstellung von verschleissfesten verbundwerkstoffen |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3757733A (en) * | 1971-10-27 | 1973-09-11 | Texas Instruments Inc | Radial flow reactor |
GB2001106B (en) * | 1977-07-14 | 1982-07-07 | National Research Development Co | Epitaxial crystalline aluminium nitride |
US4423701A (en) * | 1982-03-29 | 1984-01-03 | Energy Conversion Devices, Inc. | Glow discharge deposition apparatus including a non-horizontally disposed cathode |
JPS61174128A (ja) * | 1985-01-28 | 1986-08-05 | Sumitomo Electric Ind Ltd | レンズ成形用型 |
GB2221215A (en) * | 1988-02-29 | 1990-01-31 | Donald Charlton Bradley | Forming aluminium nitride films |
-
1967
- 1967-07-26 DE DE19671621358 patent/DE1621358A1/de active Pending
- 1967-07-28 GB GB3482367A patent/GB1197756A/en not_active Expired
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0032788A1 (de) * | 1980-01-16 | 1981-07-29 | National Research Development Corporation | Verfahren zum Aufbringen einer Beschichtung mittels Glimmentladung |
DE3512825A1 (de) * | 1985-04-10 | 1986-10-16 | Stiftung Institut für Härterei-Technik, 2820 Bremen | Verfahren zur herstellung von verschleissfesten verbundwerkstoffen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1197756A (en) | 1970-07-08 |
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