JPH0340292A - 半導体出力回路 - Google Patents
半導体出力回路Info
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- JPH0340292A JPH0340292A JP1175372A JP17537289A JPH0340292A JP H0340292 A JPH0340292 A JP H0340292A JP 1175372 A JP1175372 A JP 1175372A JP 17537289 A JP17537289 A JP 17537289A JP H0340292 A JPH0340292 A JP H0340292A
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- 230000007704 transition Effects 0.000 claims abstract description 31
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
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- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体出力回路に関し、特に、出力信号の出
力波形を改良した半導体出力回路に関するものである。
力波形を改良した半導体出力回路に関するものである。
半導体メモリ素子の高速化が進むに従い、半導体メモリ
素子に制御信号、アトL/ス信号等を供給する駆動回路
にも回路遅延時間の短いものが要求されている。
素子に制御信号、アトL/ス信号等を供給する駆動回路
にも回路遅延時間の短いものが要求されている。
一般的に、半導体メモリ素子を用いた半導体メモリ装置
では、1つの駆動回路で数10個の半導体メモリ素子を
駆動するので、その負荷容量は数100PFになる。こ
のため、駆動回路は出力トランジスタの駆動能力を高く
して、出力が高レベルから低レベル、あるいは低レベル
から高レベルに遷移するとき、負荷容量を充放電する時
間を短くして5出力波形の立上がりまたは立下がりが急
峻になるようにしている。このような出力回路の例とし
て、例えば、特公昭61−53799号公報に記載され
た半導体装置の出力回路が挙げられる。この公報におい
ては、主に出力波形の立上がり、立下がりを急峻にした
場合の瞬時大電流による電源線や接続線の電位変動の問
題について論じている。
では、1つの駆動回路で数10個の半導体メモリ素子を
駆動するので、その負荷容量は数100PFになる。こ
のため、駆動回路は出力トランジスタの駆動能力を高く
して、出力が高レベルから低レベル、あるいは低レベル
から高レベルに遷移するとき、負荷容量を充放電する時
間を短くして5出力波形の立上がりまたは立下がりが急
峻になるようにしている。このような出力回路の例とし
て、例えば、特公昭61−53799号公報に記載され
た半導体装置の出力回路が挙げられる。この公報におい
ては、主に出力波形の立上がり、立下がりを急峻にした
場合の瞬時大電流による電源線や接続線の電位変動の問
題について論じている。
ところで、前述のように、数10個の半導体メモリ素子
を用いた半導体メモリ装置では、数10個の半導体メモ
リ素子の各々を接続するプリント基板上の配線長が長く
なり、立上がり/立下がりが急峻な波形で駆動した場合
には、各々の半導体メモリ素子を接続した配線は、分布
定数回路に見える。このため、駆動信号の波形にオーバ
ーシュート/アンダーシュートが発生し、半導体メモリ
素子の動作余裕度を狭め、さらには誤動作に至るという
問題がある。
を用いた半導体メモリ装置では、数10個の半導体メモ
リ素子の各々を接続するプリント基板上の配線長が長く
なり、立上がり/立下がりが急峻な波形で駆動した場合
には、各々の半導体メモリ素子を接続した配線は、分布
定数回路に見える。このため、駆動信号の波形にオーバ
ーシュート/アンダーシュートが発生し、半導体メモリ
素子の動作余裕度を狭め、さらには誤動作に至るという
問題がある。
このような問題を除去する方法としては、−膜内には、
駆動回路の出力端子に直列に数10オームのダンピング
抵抗を接続し、駆動波形の立上がり、立下がりを緩慢に
してオーバーシュート/アンダーシュートを低減する。
駆動回路の出力端子に直列に数10オームのダンピング
抵抗を接続し、駆動波形の立上がり、立下がりを緩慢に
してオーバーシュート/アンダーシュートを低減する。
ところで、上述のように、各々の半導体メモリ素子を接
続した配線の配線長が長くなり、配線が分布定数回路に
見え、立上がり/立下がりが急峻な波形で駆動した場合
には、駆動信号の波形にオーバーシュート/アンダーシ
ュートが発生する問題に対しては、駆動回路の出力端子
に直列にダンピング抵抗が接続するようにしているが、
このダンピング抵抗の接続は、駆動信号波形の立上がり
/立下がりが緩慢になるとともに、遅延時間が増大する
ので、したがって、半導体メモリ装置の性能が低下する
という問題がある。
続した配線の配線長が長くなり、配線が分布定数回路に
見え、立上がり/立下がりが急峻な波形で駆動した場合
には、駆動信号の波形にオーバーシュート/アンダーシ
ュートが発生する問題に対しては、駆動回路の出力端子
に直列にダンピング抵抗が接続するようにしているが、
このダンピング抵抗の接続は、駆動信号波形の立上がり
/立下がりが緩慢になるとともに、遅延時間が増大する
ので、したがって、半導体メモリ装置の性能が低下する
という問題がある。
また、ダンピング抵抗を必要とするため、半導体メモリ
装置の部品点数が増大するという問題がある。
装置の部品点数が増大するという問題がある。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので
ある。
ある。
本発明の目的は、遅延時間が短く、且つ、出力波形のオ
ーバーシュート、アンダーシュートを低減した使い勝手
の良い半導体出力回路を提供することにある。
ーバーシュート、アンダーシュートを低減した使い勝手
の良い半導体出力回路を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
上記目的を達成するために、本発明においては、電源線
と接地線の間に直列に接続された複数のトランジスタか
ら構成され、各々のトランジスタの制御端子に入力信号
を与え、駆動出力信号を出力する半導体出力回路におい
て、駆動出力信号の出力波形の遷移期間に、各々のトラ
ンジスタの駆動能力を可変とする制御回路を備えること
を特徴とする。
と接地線の間に直列に接続された複数のトランジスタか
ら構成され、各々のトランジスタの制御端子に入力信号
を与え、駆動出力信号を出力する半導体出力回路におい
て、駆動出力信号の出力波形の遷移期間に、各々のトラ
ンジスタの駆動能力を可変とする制御回路を備えること
を特徴とする。
前述した手段によれば、半導体出力回路を構成する複数
のトランジスタの各々の制御端子に与える入力信号を制
御し、出力波形の遷移期間における各トランジスタの駆
動能力を可変とする制御回路が備えられる。
のトランジスタの各々の制御端子に与える入力信号を制
御し、出力波形の遷移期間における各トランジスタの駆
動能力を可変とする制御回路が備えられる。
例えば、電源線と接地線の間に直列に接続された第1の
トランジスタおよび第2のトランジスタと、制御端子以
外の端子が該第1のトランジスタと並列に接続された第
3のトランジスタと、制御端子以外の端子が第2のトラ
ンジスタと並列に接続された第4のトランジスタと、第
1のトランジスタおよび第2のトランジスタの接続点が
出力端子に接続されて構成される半導体出力回路におい
ては、第1のトランジスタ乃至第4のトランジスタの各
々の制御端子に制御信号を印加し、出力波形の遷移期間
の駆動能力を可変とする制御回路が備えられる。制御回
路は、例えば、出力波形の遷移期間を3つの期間に分け
、各々の遷移期間の駆動能力を可変とする制御を行う。
トランジスタおよび第2のトランジスタと、制御端子以
外の端子が該第1のトランジスタと並列に接続された第
3のトランジスタと、制御端子以外の端子が第2のトラ
ンジスタと並列に接続された第4のトランジスタと、第
1のトランジスタおよび第2のトランジスタの接続点が
出力端子に接続されて構成される半導体出力回路におい
ては、第1のトランジスタ乃至第4のトランジスタの各
々の制御端子に制御信号を印加し、出力波形の遷移期間
の駆動能力を可変とする制御回路が備えられる。制御回
路は、例えば、出力波形の遷移期間を3つの期間に分け
、各々の遷移期間の駆動能力を可変とする制御を行う。
すなわち、具体的には例えば、出力の立上がり遷移にお
いて、その第1期間は第1のトランジスタをオンとし、
第2期間は第1の・トランジスタおよび第3のトランジ
スタをオンとし、また、第3期間は第1のトランジスタ
をオンとする。出力の立下がり遷移においては、その第
1期間は第2のトランジスタをオンとし、第2期間は第
2のトランジスタおよび第4のトランジスタをオンとし
、また、第3期間は第2のトランジスタをオンする。
いて、その第1期間は第1のトランジスタをオンとし、
第2期間は第1の・トランジスタおよび第3のトランジ
スタをオンとし、また、第3期間は第1のトランジスタ
をオンとする。出力の立下がり遷移においては、その第
1期間は第2のトランジスタをオンとし、第2期間は第
2のトランジスタおよび第4のトランジスタをオンとし
、また、第3期間は第2のトランジスタをオンする。
このように、各々の遷移期間の出力回路の駆動能力を可
変とする制御を行うことにより、出力波形の立上がり/
立下がりが急峻に変化する振幅を、駆動能力の制御で制
限し、オーバーシュート/アンダーシュートを低減する
ことができる。したがって、出力波形のオーバーシュー
ト/アンダーシュートを低減した高速な半導体出力回路
を実現することが可能となる。
変とする制御を行うことにより、出力波形の立上がり/
立下がりが急峻に変化する振幅を、駆動能力の制御で制
限し、オーバーシュート/アンダーシュートを低減する
ことができる。したがって、出力波形のオーバーシュー
ト/アンダーシュートを低減した高速な半導体出力回路
を実現することが可能となる。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体的に説明す
る。
る。
なお、実施例を説明するための全図において、同一要素
のものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略す
る。
のものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略す
る。
第1図は、本発明の一実施例にかかる半導体出力回路を
示す回路図であり、第2図は、第1図の半導体出力回路
の動作を示す波形図である。
示す回路図であり、第2図は、第1図の半導体出力回路
の動作を示す波形図である。
第1図において、トランジスタTlおよびトランジスタ
T2は、電源線vCCと接地線GNDの間に直列に接続
され、トランジスタT1とトランジスタT2の接続点が
出力端子OUTに接続されている。トランジスタTlお
よびトランジスタT2には、それぞれ、トランジスタT
3およびトランジスタT4が並列に接続される。この出
力回路には、入力信号Diおよび入力信号Dxが入力さ
れる。入力信号Diは制御回路1を介して入力され、ま
た、入力信号Diは制御回路2を介して入力される。
T2は、電源線vCCと接地線GNDの間に直列に接続
され、トランジスタT1とトランジスタT2の接続点が
出力端子OUTに接続されている。トランジスタTlお
よびトランジスタT2には、それぞれ、トランジスタT
3およびトランジスタT4が並列に接続される。この出
力回路には、入力信号Diおよび入力信号Dxが入力さ
れる。入力信号Diは制御回路1を介して入力され、ま
た、入力信号Diは制御回路2を介して入力される。
次に、制御回路1および制御回路2の構成を説明する。
制御回路1に接続された入力信号Diはインバータ10
の入力端子とアンドゲート12の一方の入力端子に接続
されるとともに、トランジスタT1の制御端子(ゲート
)に接続される。インバータ10の出力信号は遅延回路
11に接続され、遅延回路11の出力信号がアンドゲー
ト12の他方の入力端子に接続される。アンドゲート1
2の出力信号は遅延回路13に接続され、遅延回路13
の出力信号がトランジスタT3のゲートに接続される。
の入力端子とアンドゲート12の一方の入力端子に接続
されるとともに、トランジスタT1の制御端子(ゲート
)に接続される。インバータ10の出力信号は遅延回路
11に接続され、遅延回路11の出力信号がアンドゲー
ト12の他方の入力端子に接続される。アンドゲート1
2の出力信号は遅延回路13に接続され、遅延回路13
の出力信号がトランジスタT3のゲートに接続される。
制御回路2の内部構成は制御回路1と同様であり、イン
ガータ10.遅延回路11.アンドゲート12.および
遅延回路13から構成される。入力信号DIはトランジ
スタ2のゲート、インバータ10の入力端子およびアン
ドゲート12の入力端子に接続される。トランジスタT
4のゲートには制御回路2内の遅延回路13の出力信号
が接続される。
ガータ10.遅延回路11.アンドゲート12.および
遅延回路13から構成される。入力信号DIはトランジ
スタ2のゲート、インバータ10の入力端子およびアン
ドゲート12の入力端子に接続される。トランジスタT
4のゲートには制御回路2内の遅延回路13の出力信号
が接続される。
次に、このように構成された半導体出力回路の動作を、
第2図を参照して説明する。第2図に示すように、入力
信号Diおよび入力信号i丁は、互いに相補的な関係に
あり、入力信号Diが低レベルのときは入力信号Diは
高レベルとなっている。入力信号Diが低レベルから高
レベルに、また、入力信号DIが高レベルから低レベル
に遷移したとき、トランジスタT2はオンからオフ状態
に、トランジスタT1がオフからオン状態になる。
第2図を参照して説明する。第2図に示すように、入力
信号Diおよび入力信号i丁は、互いに相補的な関係に
あり、入力信号Diが低レベルのときは入力信号Diは
高レベルとなっている。入力信号Diが低レベルから高
レベルに、また、入力信号DIが高レベルから低レベル
に遷移したとき、トランジスタT2はオンからオフ状態
に、トランジスタT1がオフからオン状態になる。
このとき、出力信号OUTは、第2図に示すように、そ
の信号波形は、低レベルから高レベルに立上がりを開始
する(t□期間)。次に、制御回路1内のインバータ1
0.遅延回路11.アンドゲート12で構成される論理
微分回路により生成された信号が遅延回路13を通過し
てトランジスタT3のゲートに印加される(tz期間)
。このt2期間ではトランジスタT1およびトランジス
タT3の両方がオンするため駆動能力が高くなり、した
がって、波形の立上がりが急峻になる0次に、t□期間
ではトランジスタT3がオフするため、t□期間と同じ
く立上がりが緩慢になる。
の信号波形は、低レベルから高レベルに立上がりを開始
する(t□期間)。次に、制御回路1内のインバータ1
0.遅延回路11.アンドゲート12で構成される論理
微分回路により生成された信号が遅延回路13を通過し
てトランジスタT3のゲートに印加される(tz期間)
。このt2期間ではトランジスタT1およびトランジス
タT3の両方がオンするため駆動能力が高くなり、した
がって、波形の立上がりが急峻になる0次に、t□期間
ではトランジスタT3がオフするため、t□期間と同じ
く立上がりが緩慢になる。
入力信号Diが高レベルから低レベルに、入力信号DI
が低レベルから高レベルに遷移したとき、出力信号OU
Tは高レベルから低レベルに遷移する。この場合も、前
述の出力波形の立上がり時の動作と同様にして、立下が
り遷移開始からt4期間はトランジスタT2がオンとな
り、引続<1゜期間はトランジスタT2およびトランジ
スタT4がオンとなり、次のt6期間ではトランジスタ
T4がオフして、トランジスタT2だけがオンするため
、図示するような出力信号OUTの波形となる。第2図
の出力波形OUTの波形においては、波形の立上がり/
立下がりの遷移期間中に、トランジスタT2またはトラ
ンジスタT4だけがオンした場合に波形を破線で併わせ
で示しである。この破線の波形に比べて、本実施例によ
る実線の波形は、立上がり時間または立下がり時間が短
く、かつ、遷移期間の最終段階の波形が緩慢であるため
、オーバーシュート/アンダーシュートが低減されてい
ることが容易に理解される。なお、トランジスタTl〜
トランジスタT4は、当該半導体出力回路を作成する際
に、そのW/L (Wはチャネル幅、Lはチャネル長)
を適正な値に設定することにより、出力波形の傾きを所
望の値に制御することができる。
が低レベルから高レベルに遷移したとき、出力信号OU
Tは高レベルから低レベルに遷移する。この場合も、前
述の出力波形の立上がり時の動作と同様にして、立下が
り遷移開始からt4期間はトランジスタT2がオンとな
り、引続<1゜期間はトランジスタT2およびトランジ
スタT4がオンとなり、次のt6期間ではトランジスタ
T4がオフして、トランジスタT2だけがオンするため
、図示するような出力信号OUTの波形となる。第2図
の出力波形OUTの波形においては、波形の立上がり/
立下がりの遷移期間中に、トランジスタT2またはトラ
ンジスタT4だけがオンした場合に波形を破線で併わせ
で示しである。この破線の波形に比べて、本実施例によ
る実線の波形は、立上がり時間または立下がり時間が短
く、かつ、遷移期間の最終段階の波形が緩慢であるため
、オーバーシュート/アンダーシュートが低減されてい
ることが容易に理解される。なお、トランジスタTl〜
トランジスタT4は、当該半導体出力回路を作成する際
に、そのW/L (Wはチャネル幅、Lはチャネル長)
を適正な値に設定することにより、出力波形の傾きを所
望の値に制御することができる。
このように、本実施例の半導体出力回路によれば、出力
波形の立上がり/立下がりが急峻であり、かつ、オーバ
ーシュート/アンダーシュートを低減した高速な半導体
出力回路を実現できる。
波形の立上がり/立下がりが急峻であり、かつ、オーバ
ーシュート/アンダーシュートを低減した高速な半導体
出力回路を実現できる。
次に、本発明の他の実施例および変形例について説明す
る。
る。
第3図は、第1図の実施例の半導体出力回路において制
御回路の一部を変更した場合の出力波形の変化を示す図
である。すなわち、第工図の半導体出力回路において、
制御回路1および制御回路2内の遅延回路13を削除し
た場合の出力信号OUTの波形を示している。この場合
には、出力の立上がり遷移(立下がり遷移)の最初に、
トランジスタTlおよびトランジスタT3(トランジス
タT2およびトランジスタT4)の両方をオンとし、必
要な電圧レベルまで速く遷移させ、その後トランジスタ
T2またはトランジスタT4(トランジスタT1または
トランジスタT3)をオフとし、出力波形の立上がり(
立下がり)を緩慢にする。
御回路の一部を変更した場合の出力波形の変化を示す図
である。すなわち、第工図の半導体出力回路において、
制御回路1および制御回路2内の遅延回路13を削除し
た場合の出力信号OUTの波形を示している。この場合
には、出力の立上がり遷移(立下がり遷移)の最初に、
トランジスタTlおよびトランジスタT3(トランジス
タT2およびトランジスタT4)の両方をオンとし、必
要な電圧レベルまで速く遷移させ、その後トランジスタ
T2またはトランジスタT4(トランジスタT1または
トランジスタT3)をオフとし、出力波形の立上がり(
立下がり)を緩慢にする。
この実施例の場合にも、トランジスタT1〜トランジス
タT4のW/Lを適正な値に設定することにより出力波
形の傾きを所望の値に制御し、オーバーシュート/アン
ダーシュートを低減することができる。
タT4のW/Lを適正な値に設定することにより出力波
形の傾きを所望の値に制御し、オーバーシュート/アン
ダーシュートを低減することができる。
第4a図および第4b図は、それぞれ本実施例の半導体
出力回路を適用する半導体メモリ装置の回路構成の一例
を示すブロック図および等倍回路図である。この回路例
では、複数個の半導体メモリ素子31が、半導体出力回
路で構成される駆動回路30から導出された一本の駆動
信号線32に並列接続されている例を示している。第4
a図に示す実際の接続状態の回路図は、それぞれの半導
体メモリ素子31を駆動する負荷駆動の動作から見れば
、第4b図に示すような等倍回路となる。すなわち、等
倍回路は、複数のインダクタンス分Liおよび複数の負
荷容量分Ciからなる分布定数回路と等価なものとなる
。1本の駆動信号線32に数10個の半導体メモリ素子
31が接続されると、その負荷容量は数100PFに達
する8本実施例の半導体出力回路で構成される駆動回路
30は、高速であり、オーバーシュート/アンダーシュ
ートを低減されているので、駆動回路30から導出され
る駆動信号線32の最遠端にも、特に、終端抵抗が設け
られておらず、開放端となっている。
出力回路を適用する半導体メモリ装置の回路構成の一例
を示すブロック図および等倍回路図である。この回路例
では、複数個の半導体メモリ素子31が、半導体出力回
路で構成される駆動回路30から導出された一本の駆動
信号線32に並列接続されている例を示している。第4
a図に示す実際の接続状態の回路図は、それぞれの半導
体メモリ素子31を駆動する負荷駆動の動作から見れば
、第4b図に示すような等倍回路となる。すなわち、等
倍回路は、複数のインダクタンス分Liおよび複数の負
荷容量分Ciからなる分布定数回路と等価なものとなる
。1本の駆動信号線32に数10個の半導体メモリ素子
31が接続されると、その負荷容量は数100PFに達
する8本実施例の半導体出力回路で構成される駆動回路
30は、高速であり、オーバーシュート/アンダーシュ
ートを低減されているので、駆動回路30から導出され
る駆動信号線32の最遠端にも、特に、終端抵抗が設け
られておらず、開放端となっている。
第5図は、本発明の他の実施例にかかる半導体出力回路
の構成を示す回路ブロック図である。第5図において、
第1図の回路図と同一要素のものは同一符号を付して示
す、また、制御回路3と制御回路4は同一構成であるの
で、制御回路4の詳細は省略している。
の構成を示す回路ブロック図である。第5図において、
第1図の回路図と同一要素のものは同一符号を付して示
す、また、制御回路3と制御回路4は同一構成であるの
で、制御回路4の詳細は省略している。
第5図の半導体出力回路と第1図の半導体出力回路との
相異は、トランジスタT3およびトランジスタT4を削
除し、トランジスタT1およびトランジスタT2だけで
出力回路を構成している。
相異は、トランジスタT3およびトランジスタT4を削
除し、トランジスタT1およびトランジスタT2だけで
出力回路を構成している。
このため、出力波形の遷移期間には、トランジスタT1
およびトランジスタT2のゲート電位を複数レベルに変
化させて駆動能力を変化させている。
およびトランジスタT2のゲート電位を複数レベルに変
化させて駆動能力を変化させている。
これにより、駆動能力を可変可能としている。−膜内に
、MOSトランジスタは、ゲート電位を高くすることに
より相互コンダクタンスgmが大きくなり、したがって
流すことのできる電流が大きくなる。大電流を流すこと
より、負荷容量の充放電時間を短くすることができ、し
たがって、出力の立上がり、立下がり時間を短くするこ
とができる。
、MOSトランジスタは、ゲート電位を高くすることに
より相互コンダクタンスgmが大きくなり、したがって
流すことのできる電流が大きくなる。大電流を流すこと
より、負荷容量の充放電時間を短くすることができ、し
たがって、出力の立上がり、立下がり時間を短くするこ
とができる。
第5図において、制御回路3(制御回路4)内の遅延回
路13の出力信号はコンデンサ14の一方の電極に接続
され、コンデンサ14の他方の電極はトランジスタT1
のゲートに接続される。インバータ15およびインバー
タ16は、入力信号Diと転送トランジスタT5の間に
直列に接続され、トランジスタT5の出力がトランジス
タT1のゲートに接続される。また、トランジスタT6
が、トランジスタT1のゲートと接地線GNDの間に接
続され、トランジスタT1のゲートには、インバータ1
5の出力信号が接続される。トランジスタT2を駆動す
る入力信号TfT’に対して、トランジスタT2の駆動
能力を制御する制御回路4も同様な構成となる。
路13の出力信号はコンデンサ14の一方の電極に接続
され、コンデンサ14の他方の電極はトランジスタT1
のゲートに接続される。インバータ15およびインバー
タ16は、入力信号Diと転送トランジスタT5の間に
直列に接続され、トランジスタT5の出力がトランジス
タT1のゲートに接続される。また、トランジスタT6
が、トランジスタT1のゲートと接地線GNDの間に接
続され、トランジスタT1のゲートには、インバータ1
5の出力信号が接続される。トランジスタT2を駆動す
る入力信号TfT’に対して、トランジスタT2の駆動
能力を制御する制御回路4も同様な構成となる。
第6図は、第5図の半導体出力回路の動作を示す波形図
である。
である。
次に、第5図の半導体出力回路の動作について第6図を
参照して説明する。入力信号Diが低レベルから高レベ
ルに、入力信号丁丁が高レベルから低レベルに遷移した
とき、トランジスタTlのゲート電位はインバータ15
.インバータ16および転送トランジスタT5を経由し
て高レベルとなり、オフ状態からオン状態に変る。トラ
ンジスタT2も同様にして、入力信号百Tが低レベルに
なることにより、オン状態からオフ状態に変る。トラン
ジスタT1がオンした後、インバータ10.遅延回路1
1.およびアンドゲート12により構成される論理微分
回路で生成された信号が、遅延回路13を経由してコン
デンサ14の一方の電極を低レベルから高レベルにする
ため、コンデンサ14の他方の電極は高レベルから更に
上昇する。すなわち、トランジスタT1のゲート電極は
高レベルから更に上昇する。このようにして、トランジ
スタT1の流すことのできる電流が大きくなり、したが
って出力信号OUTの波形の立上がりが急峻になる。次
に、論理微分回路の出力(アンドゲート12からの出力
)が高レベルから低レベルになると5 トランジスタT
1のゲート電位は元の高レベルに戻り、出力信号OUT
の波形の立上がりは緩慢になる。
参照して説明する。入力信号Diが低レベルから高レベ
ルに、入力信号丁丁が高レベルから低レベルに遷移した
とき、トランジスタTlのゲート電位はインバータ15
.インバータ16および転送トランジスタT5を経由し
て高レベルとなり、オフ状態からオン状態に変る。トラ
ンジスタT2も同様にして、入力信号百Tが低レベルに
なることにより、オン状態からオフ状態に変る。トラン
ジスタT1がオンした後、インバータ10.遅延回路1
1.およびアンドゲート12により構成される論理微分
回路で生成された信号が、遅延回路13を経由してコン
デンサ14の一方の電極を低レベルから高レベルにする
ため、コンデンサ14の他方の電極は高レベルから更に
上昇する。すなわち、トランジスタT1のゲート電極は
高レベルから更に上昇する。このようにして、トランジ
スタT1の流すことのできる電流が大きくなり、したが
って出力信号OUTの波形の立上がりが急峻になる。次
に、論理微分回路の出力(アンドゲート12からの出力
)が高レベルから低レベルになると5 トランジスタT
1のゲート電位は元の高レベルに戻り、出力信号OUT
の波形の立上がりは緩慢になる。
入力信号Diが高レベルから低レベルに、入力信号百T
が低レベル高レベルに遷移したとき出力信号OUTは高
レベルから低レベルに遷移する。
が低レベル高レベルに遷移したとき出力信号OUTは高
レベルから低レベルに遷移する。
この場合も前述した出力立上がり時と同様な動作により
第5図に示したような出力波形となる。
第5図に示したような出力波形となる。
以上、説明したように第5図の他の実施例においても第
1図の実施例と同様に、高速で、かつ、オーバーシュー
ト/アンダーシュートを低減した半導体出力回路を実現
することができる。
1図の実施例と同様に、高速で、かつ、オーバーシュー
ト/アンダーシュートを低減した半導体出力回路を実現
することができる。
以上、本発明を実施例にもとづき具体的に説明したが1
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
例えば、出力トランジスタはN−MOSトランジスタと
した回路例で説明したが、これに限定されるも”のでは
なくP−MOSトランジスタおよびN−MOS トラン
ジスタの両方を使用した、C−MOSトランジスタの構
成の出力回路についても同様に適用することが可能であ
る。また、バイポーラトランジスタについても適用可能
である。また、第1図の実施例において出力トランジス
タが2個並列に接続された出力回路を例示したが、これ
に限定されるものではなく、例えば、出力トランジスタ
が3個並列に接続された出力回路を用いることにり、出
力波形の遷移期間を細かく区切って駆動能力を制御する
ことができる。
した回路例で説明したが、これに限定されるも”のでは
なくP−MOSトランジスタおよびN−MOS トラン
ジスタの両方を使用した、C−MOSトランジスタの構
成の出力回路についても同様に適用することが可能であ
る。また、バイポーラトランジスタについても適用可能
である。また、第1図の実施例において出力トランジス
タが2個並列に接続された出力回路を例示したが、これ
に限定されるものではなく、例えば、出力トランジスタ
が3個並列に接続された出力回路を用いることにり、出
力波形の遷移期間を細かく区切って駆動能力を制御する
ことができる。
更にまた、トランジスタのゲートに印加する信号を生成
する制御回路の構成は、実施例に示したものに限定され
るものではなく、例えば、制御回路は出力信号の電圧レ
ベルを検出して駆動能力を変える構成にすることもでき
る。
する制御回路の構成は、実施例に示したものに限定され
るものではなく、例えば、制御回路は出力信号の電圧レ
ベルを検出して駆動能力を変える構成にすることもでき
る。
以上、説明したように、本発明によれば、遅延時間が短
く、且つ、オーバーシュート、アンダーシュートを低減
した使い勝手の良い半導体出力回路を実現することがで
きる。また、本発明の半導体出力回路を用いた駆動回路
で半導体メモリ素子を駆動することにより、高性能な半
導体メモリ装置を構成できるという効果がある。
く、且つ、オーバーシュート、アンダーシュートを低減
した使い勝手の良い半導体出力回路を実現することがで
きる。また、本発明の半導体出力回路を用いた駆動回路
で半導体メモリ素子を駆動することにより、高性能な半
導体メモリ装置を構成できるという効果がある。
第1図は、本発明の一実施例にかかる半導体出力回路を
示す回路図、 第2図は、第1図の半導体出力回路の動作を示す波形図
、 第3図は、第1図の実施例の半導体出力回路において制
御回路の一部を変更した場合の出力波形を示す図、 第4a図および第4b図は、それぞれ本実施例の半導体
出力回路を適用する半導体メモリ装置の回路構成の一例
を示すブロック図および等価回路図、 第5図は、本発明の他の実施例にかかる半導体出力回路
の構成を示す回路ブロック図、第6図は、第5図の半導
体出力回路の動作を示す波形図である。 図中、T↓〜T6・・・トランジスタ、1〜4・・・制
御回路、10.15.16・・インバータ、11.13
・・・遅延回路、12・・・アンドゲート、14・・・
コンデンサ、30・・・駆動回路、31・・・半導体メ
モリ素子、32・・・駆動信号線。
示す回路図、 第2図は、第1図の半導体出力回路の動作を示す波形図
、 第3図は、第1図の実施例の半導体出力回路において制
御回路の一部を変更した場合の出力波形を示す図、 第4a図および第4b図は、それぞれ本実施例の半導体
出力回路を適用する半導体メモリ装置の回路構成の一例
を示すブロック図および等価回路図、 第5図は、本発明の他の実施例にかかる半導体出力回路
の構成を示す回路ブロック図、第6図は、第5図の半導
体出力回路の動作を示す波形図である。 図中、T↓〜T6・・・トランジスタ、1〜4・・・制
御回路、10.15.16・・インバータ、11.13
・・・遅延回路、12・・・アンドゲート、14・・・
コンデンサ、30・・・駆動回路、31・・・半導体メ
モリ素子、32・・・駆動信号線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、電源線と接地線の間に直列に接続された複数のトラ
ンジスタから構成され、各々のトランジスタの制御端子
に入力信号を与え、駆動出力信号を出力する半導体出力
回路において、駆動出力信号の出力波形の遷移期間に、
各々のトランジスタの駆動能力を可変とする制御回路を
備えることを特徴とする半導体出力回路。 2、制御回路は、各々のトランジスタの制御端子に印加
する入力信号を、出力波形の遷移期間を分割した各期間
に対応して、駆動レベル値を変えて、各々のトランジス
タの駆動能力を可変とすることを特徴とする半導体出力
回路。 3、複数のトランジスタは、電源線と接地線の間に直列
に接続された第1のトランジスタおよび第2のトランジ
スタと、制御端子以外の端子が該第1のトランジスタと
並列に接続された第3のトランジスタと、制御端子以外
の端子が該第2のトランジスタと並列に接続された第4
のトランジスタから構成され、第1のトランジスタおよ
び第2のトランジスタの接続点から駆動出力信号が出力
されることを特徴とする請求項1に記載の半導体出力回
路。 電源線と接地線の間に直列に接続された第1のトランジ
スタおよび第2のトランジスタと、制御端子以外の端子
が第1のトランジスタと並列に接続された第3のトラン
ジスタと、制御端子以外の端子が第2のトランジスタと
並列に接続された第4のトランジスタと、第1のトラン
ジスタおよび第2のトランジスタの接続点に接続された
出力端子と、各々のトランジスタの制御端子に印加する
入力信号を、出力波形の遷移期間を分割した各期間に対
応して制御し、各々のトランジスタの駆動能力を可変と
制御回路とを備えることを特徴とする半導体出力回路。 請求項4に記載の半導体出力回路において、制御回路は
、出力波形の遷移期間を3つの期間に分割し、出力波形
の立上がり遷移の第1期間は第1のトランジスタをオン
とし、第2期間は第1のトランジスタおよび第3のトラ
ンジスタをオンとし、第3期間は第1のトランジスタを
オンし、出力波形の立下り遷移の第1期間は第2のトラ
ンジスタをオンとし、第2期間は第2のトランジスタお
よび第4のトランジスタをオンとし、第3期間は第2の
トランジスタをオンする制御信号を与えることを特徴と
する半導体出力回路。 6、請求項1に記載の半導体出力回路を用いて、半導体
素子の負荷回路を駆動する構成としたことを特徴とする
半導体装置。 7、請求項6に記載の半導体装置において、負荷回路が
半導体メモリ素子で構成されたことを特徴とする半導体
メモリ装置。 8、請求項1に記載の半導体出力回路を、複数の半導体
メモリ素子の駆動回路に共通に用いたことを特徴とする
半導体メモリ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1175372A JPH0340292A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 半導体出力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1175372A JPH0340292A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 半導体出力回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0340292A true JPH0340292A (ja) | 1991-02-21 |
Family
ID=15994947
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1175372A Pending JPH0340292A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 半導体出力回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0340292A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002147545A (ja) * | 2000-08-29 | 2002-05-22 | Nabco Ltd | 油圧駆動減速装置 |
-
1989
- 1989-07-05 JP JP1175372A patent/JPH0340292A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002147545A (ja) * | 2000-08-29 | 2002-05-22 | Nabco Ltd | 油圧駆動減速装置 |
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