JPH03238868A - 縦型電界効果トランジスタ - Google Patents

縦型電界効果トランジスタ

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JPH03238868A
JPH03238868A JP2035380A JP3538090A JPH03238868A JP H03238868 A JPH03238868 A JP H03238868A JP 2035380 A JP2035380 A JP 2035380A JP 3538090 A JP3538090 A JP 3538090A JP H03238868 A JPH03238868 A JP H03238868A
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JP
Japan
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gate
diode
resistor
field effect
bonding pad
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JP2035380A
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Chizuru Kayama
香山 千鶴
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は縦型電界効果トランジスタに関する。
〔従来の技術〕
従来の縦型電界効果トランジスタは、第3図(a)、(
b)に示すように、Nゝ型シリコン基板1の上にN型エ
ピタキシャル層2を成長させ、N型エピタキシャル層2
の表面にゲート酸化[3を形成する。次に、ゲート酸化
膜3の上にポリシリコン層を選択的に設けてゲート電極
4を形成し、ゲート電極4をマスクとしてP型不純物を
イオン注入しベース領域9を形成する0次に、ソース領
域10はソース・ソース間にアルミニウム層を選択的に
形成し、ベース形成時のゲート電極4とアルミニウム層
をマスクとしてイオン注入を行ない形成する0次に、ア
ルミニウム層を除去した後、酸化膜12を堆積し、選択
的に開孔してアルミニウム電極13を形成している。こ
こで、ソース−ゲート、ゲート−ドレイン間は、酸化膜
12によって絶縁されているため容量が存在するが、ス
イッチング速度は容量に依存するため、ゲート酸化膜3
の厚さや、ゲート電極4の形状を変えることによって操
作をしていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の縦型電界効果トランジスタのスイッチン
グ速度は、入力容量に依存し、ゲート電極構造の影響が
大きい。即ち、容量は電極面積。
絶縁物の誘電率、電極間距離等の関数であるため、スイ
ッチング速度は、ゲート電極構造によって制限されてい
る。そのため、スイッチング速度を変えようとしてゲー
ト電極構造を操作すると他の特性も変化してしまうとい
う欠点がある。
本発明の目的は、ゲート電極そのものの構造を変えるこ
となくスイッチング速度を制御可能とする縦型電界効果
トランジスタを提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の縦型電界効果トランジスタは、ゲートボンディ
ングパッドの周囲に設けて前記ゲートボンディングパッ
ドとゲート電極との間に挿入して並列に接続しスイッチ
ング速度を調整するダイオード及び抵抗を備えている。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)、(b)、(c)は本発明の一実施例を示
す半導体チップの平面図及びA−A’線断面図及びB−
B’線断面図である。
第1図(a)〜(c)に示すように、N+型シリコン基
板1の上にN型エピタキシャル層2を成長させ、N型エ
ピタキシャル層2の表面にゲート酸化膜3を形成する。
次に、ゲート酸化膜3の上にポリシリコン層を堆積して
選択的にエツチングしゲート電極4と、ダイオード及び
抵抗形成用のポリシリコン層をゲートボンディングパッ
ド形成領域の周囲に選択的に設ける。
ここで、ダイオードの耐圧は、ダイオードを構成するP
壁領域の不純物濃度で決まるため、ノンドープのポリシ
リコン層を形成後狙いとするダイオードの耐圧5〜30
Vに対し、P型不純物をドーズ量I X 1013〜1
 x 10”cm−2でイオン注入し、P壁領域8を形
成する。次に、ベース領域9内にソース領域10を形成
するが、ポリシリコン層をマスクとして選択的にイオン
注入を行うため、ダイオード部のP壁領域8の不純物濃
度が影響されないようベース領域9形成時はレジスト膜
で、ソース領域10形成時はアルミニウム層でマスクを
する。ダイオード部のN型領域11は、ソース形成時の
N型不純物イオン注入時に形成される。抵抗6は、N型
ポリシリコン層の比抵抗が20〜30Ω/口であること
から、幅と長さによって任意の抵抗を得ることができる
。各ポリシリコン層は、酸化膜12で絶縁されP壁領域
8及びN型領域11で構成されるダイオード及び抵抗6
はゲート電極4とゲートボンディングパッド7との間に
アルミニウム電極13で並列に接続する。
第2図は第1図の等価回路図である。
第2図に示すように、オン状態の場合、電流16はゲー
トボンディングパッド7から抵抗6を通るため、抵抗の
大きさ、ダイオードの耐圧により、ターンオンの時間を
制御でき、又、オフ状態の場合、ダイオード5は順バイ
アスとなるため電流17により入力容量として充電され
た電荷をスムーズに導くことができ、ターンオフ速度が
遠くなる。
ここで、ダイオード部のP壁領域8とN型領域11の導
電型を反対導電型にしてダイオード5の極性を逆にする
ことにより、ターンオン速度を速くし、ターンオフ速度
を遅くすることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、ダイオードを抵抗からな
るゲート電流制御回路を半導体チップに内蔵することに
より、縦型電界効果トランジスタのスイッチング速度を
、他の特性を変えることなくコントロールできるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)、(c)は本発明の一実施例を示
す半導体チップの平面図及びA−A’線断面図及びB−
B’線断面図、第2図は第1図の実施例の等価回路図、
第3図(a)、(b)は、従来の縦型電界効果トランジ
スタの平面図及びC−c’線断面図である。 1・・・N+型シリコン基板、2・・・N型エピタキシ
ャル層、3・・・ゲート酸化膜、4・・・ゲート電極、
5・・・ダイオード、6・・・抵抗、7・・・ゲートボ
ンデイングパッド、8・・・P型頭域、9・・・ベース
領域、10・・・ソース領域、11・・・N型領域、1
2・・・酸化膜、13・・・アルミニウム電極、14・
・・ソース電極、15・・・トレイン電極、16.17
・・・電流。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  縦型電界効果トランジスタにおいて、ゲートボンディ
    ングパッドの周囲に設けて前記ゲートボンディングパッ
    ドとゲート電極との間に挿入して並列に接続しスイッチ
    ング速度を調整するダイオード及び抵抗を備えたことを
    特徴とする縦型電界効果トランジスタ。
JP2035380A 1990-02-15 1990-02-15 縦型電界効果トランジスタ Pending JPH03238868A (ja)

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JP2035380A JPH03238868A (ja) 1990-02-15 1990-02-15 縦型電界効果トランジスタ
US07/656,958 US5227655A (en) 1990-02-15 1991-02-15 Field effect transistor capable of easily adjusting switching speed thereof

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