JPH0320784Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［考案の技術分野］ 本考案は、高電圧ケーブルの実負荷試験等を行
なう場合に有用なケーブル試験用端末に関する。

［考案の技術的背景とその問題点］ 一般に、電力ケーブルの高電圧破壊試験を行な
う場合には、いわゆるＬ型端末とＩ型端末とが使
用される。

Ｌ型端末は、第１図に示すように、Ｌ字状ケー
ス１と、このケースの水平開口に気密に設置され
たブツシング２と、上方開口に気密に設置された
課電用ブツシング３と、ブツシング先端から延出
し、前記課電用ブツシング３の下端電極部４に電
気的に接続される導体引出棒５と、前記Ｌ字状ケ
ース内に充填された絶縁媒体６とで構成されてい
る。

また、Ｉ型端末は、同図の左に示すように、一
端閉鎖の筒状ケース７の開口にブツシング２′を
気密に設置し、前記筒状ケース内に絶縁媒体６を
充填してなるもので構成されている。

しかして、電力ケーブルの高電圧破壊試験は、
Ｌ型端末８およびＩ型端末９のそれぞれのブツシ
ング２，２′内に段剥処理した試料ケーブル１０
の各端末を装着し、課電用ブツシング３に高電圧
を印加することにより行なわれる。

一方、ケーブルの特性試験には、通電状態にお
けるケーブルの耐電圧特性の良否を判定するいわ
ゆる実負荷試験がある。

ところで、かかる実負荷試験を行なう場合、前
記のＬ型端末８およびＩ型端末９をそのまま使用
することができれば便利である。

ところが、Ｉ型端末９にはブツシング２′先端
から導体引出棒が延出されていないので、すなわ
ち露出する電極部が存在しないので試料ケーブル
に循環電流を流すことが不可能である。

従つて試料ケーブルに循環電流を流すには、第
２図に示すように、Ｌ型端末８，８を２組用い、
それぞれのブツシング２，２内に試料ケーブル１
０を装着しなければならなかつた。

なお図中符号１１は電流トランス、１２は通電
バーを示している。

しかしながら、このような試験においては、Ｌ
型端末２自身がかなり大型であるため、試験スペ
ースに余裕がある場合は問題ないが、スペースに
制約がある場合には試験を行なうことができない
難点があつた。

［考案の目的］ 本考案はこのような点に対処してなされたもの
で、試験スペースに制約がある場合でも実負荷試
験を行ない得るケーブル試験用端末を提供するこ
とを目的としている。

［考案の概要］ すなわち本考案のケーブル試験用端末は、外側
の折曲部に開口を有するほぼＬ字状ケースの水平
開口には、ケーブル端末を受容し得る第１ブツシ
ングが、上方開口には高電圧が印加される課電用
ブツシングがそれぞれの軸線が直交するように気
密に設置され、前記第１ブツシング先端に存在す
る導体引出棒と前記課電用ブツシング下端の電極
部とは前記Ｌ字状ケース内で電気的に接続されて
なるＬ型端末と、筒状ケースの一端開口にケーブ
ル端末を受容し得る第２ブツシングが気密に設置
されてなるＩ型端末とを、前記Ｌ字状ケースの折
曲部の開口と前記筒状ケースの他端開口とが合致
するごとく気密にかつ着脱自在に連結し、連結さ
れた密閉ケース内で、前記第１ブツシングの導体
引出棒と前記第２ブツシングの先端電極部とを着
脱可能な接続導体により電気的に接続してなるこ
とを特徴としている。

［考案の実施例］ 次に本考案の実施例について説明する。

第１図および第２図と同一部分に同一符号を付
した第３図において、Ｌ型端末８は、外側の折曲
部に開口を有するほぼＬ字状ケース１′と、この
Ｌ字状ケースの水平開口に気密に設置された第１
ブツシング２と、Ｌ字状ケース１′の上方開口に
気密に設置された課電用ブツシング３と、第１ブ
ツシング２の先端から延出され、課電用ブツシン
グ３の下端の電極部４に電気的に接続された導体
引出棒５とで構成されている。

また、Ｉ型端末９′は、筒状ケース７′の一端開
口にケーブル端末を受容し得る第２ブツシング
２′が気密に設置されてなるもので構成されてい
る。

しかしてＬ型端末８′とＩ型端末９′とは、Ｌ字
状ケース１′の折曲部の開口と筒状ケース７′の他
端開口とが合致するごとく気密にかつ着脱自在に
連結される。両端末の連結は、例えば両者の開口
周縁に形成したフランジ１３，１４間にパツキン
グ（図示せず）を介挿させ、両フランジ１３，１
４をボルト締めすることにより達成される。

符号１５はＬ型、Ｉ型端末の両者の連結と同時
に、第２ブツシング２′の先端電極部１６と導体
引出棒５′間に着脱自在に電気的に接続された接
続導体を示している。

以上の両端末の連結によつて得られたほぼ逆Ｔ
字状の密閉ケース１６内には、SF₆ガス等よりな
る絶縁媒体６が充填され、これによつて本考案に
係わるケーブル試験用端末が完成する。

次に本考案に係わるケーブル試験用端末の使用
方法について説明する。

まず、ケーブルの高電圧破壊試験を行なう場合
は、Ｌ型端末およびＩ型端末の各開口を蓋（図示
せず）で覆い、ケース内部にそれぞれ絶縁媒体
６，６を充填し、第２図に示すようにＬ型、Ｉ型
の両端末の第１、第２ブツシング２，２′に段剥
処理された試料ケーブル１０の端末をそれぞれ装
着する。なお試料ケーブルの各端末は、常法によ
り着脱自在に第１、第２ブツシングに装着され、
この装着により試料ケーブルの導体と第１ブツシ
ング先端の導体引出棒５′とが電気的に接続され
る。

しかして、課電用ブツシング３に所定の高電圧
を印加することにより、ケーブルの高電圧破壊試
験を行なうことができる。

一方、ケーブルの実負荷試験を行なう場合は、
Ｌ型、Ｉ型の両端末を第３図に示すように連結
し、第１、第２ブツシング２，２′に段剥処理さ
れた試料ケーブル１０を装着する。そうすると、
第２ブツシング２′と第１ブツシング２の導体引
出棒５′とは接続導体１５により電気的に接続さ
れているので、試料ケーブル１０は閉ループを構
成することになる。

従つてかかる状態においては、試料ケーブル１
０を囲繞する電流トランス１１により閉ループ内
に所定の通電を行なうことができ、さらにこの状
態で課電用ブツシングに所定の高電圧を印加すれ
ば通電状態、すなわち実負荷状態での絶縁破壊試
験を行なうことができる。

［考案の効果］ 以上説明したように本考案においては、Ｌ型端
末とＩ型端末とを、着脱自在に逆Ｔ字状に連結す
ることによりケーブル試験用端末を形成している
ので、このケーブル試験用端末のみでケーブルの
高電圧破壊試験とケーブルの実負荷試験を行なう
ことができる。

従つて本考案にかかるケーブル試験用端末を使
用すれば、試験スペースに制約がある場合でも両
者の試験を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はケーブルの高電圧破壊試験の状況を示
す説明図、第２図は従来のケーブルの実負荷試験
の状況を示す説明図、第３図は本考案に係わるケ
ーブル試験用端末を使用したケーブルの実負荷試
験の状況を示す説明図である。 １，１′……Ｌ字状ケース、２，２′……第１ブ
ツシング、３……課電用ブツシング、４，１６…
…電極部、５，５′……導体引出棒、６……絶縁
媒体、７，７′……筒状ケース、８，８′……Ｌ型
端末、９，９′……Ｉ型端末、１０……試料ケー
ブル、１１……電流トランス、１５……接続導
体、１６……密閉ケース。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 外側の折曲部に開口を有するほぼＬ字状ケース
   の水平開口には、ケーブル端末を受容し得る第１
   ブツシングが、上方開口には高電圧が印加される
   課電用ブツシングがそれぞれの軸線が直交するよ
   うに気密に設置され、前記第１ブツシング先端に
   存在する導体引出棒と前記課電用ブツシング下端
   の電極部とは前記Ｌ字状ケース内で電気的に接続
   されてなるＬ型端末と、筒状ケースの一端開口に
   ケーブル端末を受容し得る第２ブツシングが気密
   に設置されてなるＩ型端末とを、前記Ｌ字状ケー
   スの折曲部の開口と前記筒状ケースの他端開口と
   が合致するごとく気密にかつ着脱自在に連結し、
   連結された密閉ケース内で、前記第１ブツシング
   の導体引出棒と前記第２ブツシングの先端電極部
   とを着脱可能な接続導体により電気的に接続して
   なることを特徴とするケーブル試験用端末。