JPH03205165A - サーマルヘッド - Google Patents

サーマルヘッド

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JPH03205165A
JPH03205165A JP2116620A JP11662090A JPH03205165A JP H03205165 A JPH03205165 A JP H03205165A JP 2116620 A JP2116620 A JP 2116620A JP 11662090 A JP11662090 A JP 11662090A JP H03205165 A JPH03205165 A JP H03205165A
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heat
thermal
resistant
electrode
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JP2116620A
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Shoji Matsumoto
庄司 松本
Daisuke Kosaka
小坂 大介
Masaaki Yoshida
雅昭 吉田
Hideto Kitakado
英人 北角
Kenji Fujita
健二 藤田
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はファクシミリやプリンタなどに使用されるサー
マルヘッドに関するものであり,特に基板として表面が
ポリイミドなどの耐熱性絶縁樹脂層で被われた基板を用
いたサーマルヘッドに関するものである。
(従来の技術) 一般的に用いられているサーマルヘッドでは,基板とし
てセラミック基板の表面をガラス質のグレーズ層で被っ
たものが用いられている.その基板上に発熱体、電極、
保護膜が形威されて発熱基板が形成され,その発熱基板
は両面接着テープによって支持板上に貼りつけられてい
る。発熱基板と隣接して駆動用IC(半導体集積回路装
置)チップを搭載したガラスエポキシ配線基板が両面接
着テープにより同じ支持板上に貼りつけられ、発熱体の
電極と駆動用ICチップの間、及び発熱体の共通電極と
配線基板の配線の間がワイヤーボンディング法などによ
り接続されている。
他の形式のサーマルヘッドでは、翻動用ICチップも発
熱基板上にCOG (チップ・オン・グラス)方式によ
りダイボンディングされている。この場合は発熱基板は
支持板とカバーの間に機械的に挾まれて支持される。
一方、ファクシミリにおけるGrV規格や高速プリンタ
に用いるために、ガラス質のグレーズ層で被われたセラ
ミック基板に代えてセラミックなどの絶縁板や金属板上
にポリイミドを塗布した基板を用いたサーマルヘッドが
提案されている(特開昭52−100245号公報,特
開昭59−142167号公報、特開昭60−1675
74号公報参照)。ポリイミド層を保温層とする基板を
用イタサーマルヘッドは高速印字や低エネルギー印字に
好都合であるとされている。
(発明が解決しようとする課題) 絶縁板や金属板上をポリイミドなどの耐熱性絶縁樹脂層
で被った基板を用いたサーマルヘッドの場合、一般には
発熱基板は大判(例えば45mmX270mm程度)の
基板上に複数個のサーマルヘッド分の薄膜パターンや厚
膜パターンが形成された後、個々のサーマルヘッド用に
切断される。
個々に切断された発熱基板を従来の方法によって支持板
に貼りつけたとき、絶縁板や金属板などの基板と耐熱性
絶縁樹脂層の境界及び電極の断面が露出し、外気にさら
されることになる。このことは、大判の基板を個々のサ
ーマルヘッド用に切断する場合だけではなく、初めから
個々のサーマルヘッド用の発熱基板を形成する場合にお
いても、耐熱性絶縁樹脂層が金属板などの基板の片面だ
けに塗布される場合には、同様にして基板と耐熱性絶縁
樹脂層の境界及び電極の断面が露出することになる。
このような発熱基板を支持板に貼りつけて組み立てられ
たサーマルヘッドを高温高湿状態に保持したり、プレッ
シャー・クッカー・テストなどの信頼性試験を行なうと
、基板と耐熱性絶縁樹脂層との境界や、電極の境界に水
分が侵入し、サーマルヘッドを劣化させることがある。
また、基板と耐熱性絶縁樹脂層の接着力が弱いことから
耐熱性絶縁樹脂層が剥がれる恐れもある。
そこで、本発明は耐熱性絶縁樹脂層で被われた基板を用
いたサーマルヘッドにおいて、基板と耐熱性絶縁樹脂層
との境界や電極の境界に水分が侵入したり、電極が腐食
することを防止してサーマルヘッドの信頼性を向上させ
ることを目的とするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明のサーマルヘッドでは少なくとも発熱基板の端面
を保護膜で被う。
(作用) 発熱基板の端面が保護膜で被われていると,基板と耐熱
性絶縁樹脂層の界面や.電極の界面に水分が侵入したり
,電極が腐食することが防がれ,特に耐湿性に対する信
頼性が向上する。
(実施例) 第1図は一実施例を表わす。
2は発熱基板であり、金属板4の表面が耐熱性絶縁樹脂
層であるポリイミド層6によって被われている.金属板
4としてはステンレス板やアルミニウム合金板を用いる
。ポリイミド層6は金属板6上にポリイミド溶液をブレ
ードなどを用いて塗布し、硬化させたものであり、硬化
後のボリイミト層6の膜厚は約15μmである。
ポリイミド層6上には従来の薄膜サーマルヘッドの製造
プロセスに従って,発熱体8、発熱体8を個別に選択す
る選択電極10a、全ての発熱体8に通電用電源を供給
する共通電極10bが形成されている。12は保護膜で
ある。
発熱基板2の各部の材質の一例を示すと、発熱体8とし
てはT a S i O.やTaNなどのTa系抵抗体
を用い、電極10a,10bとしてはAJやAuを用い
、保護膜12としてはシリコン窒化膜を用いる。しかし
、これらの材質は例示のものに限られず、サーマルヘッ
ドの材質として一般に用いられているものを用いてもよ
い。
ポリイミドH6と発熱体8の間の付着強度を高めるため
に、ポリイミド層6上にsj02やTa20,などの硬
質の誘電体薄膜を500〜3000入程度の厚さに形成
してもよい。
この発熱基板2は例えば幅が45mm、長さが270m
mの大きさの大判の基板を用い,複数個のサーマルヘッ
ド用に発熱体や電極が形威されたものをそれぞれのサー
マルヘッド用に切断して得られたものである。したがっ
て、切断面では金属板4とポリイミド層6の界面,及び
共通電極1obの断面が露出した状態となっている。
13はガラスエボキシ基板の配線基板であり、騨動用■
Cチップ14が搭載されている。
発熱基板2と配線基板l3は支持板16上に互いに隣接
して配置され、耐湿性樹脂接着剤18によって接着され
ている.耐湿性樹脂接着剤l8は塗布された段階では流
動性を持っており、発熱基板2と配線基板13を支持板
16上に接着させると耐湿性樹脂接着剤18が発熱基板
2と配線基板12の端面を被い,その状態で硬化する。
耐湿性樹脂接着剤18としては、一般に半導体集積回路
装置チップを樹脂封止する際に用いられる樹脂を用いる
ことができる。耐湿性樹脂接着剤18が発熱基板2の端
面を被う保護膜の役目を果たす。
発熱基板の選択電極10aと駆動用ICチップ14のパ
ッドの間はワイヤー20によるワイヤーボンデイング法
により接続され.ICチツプ14と配線基板13の配線
の間がワイヤー22によるワイヤーボンディング法によ
り接続され、発熱基板の共通電極10bと配線基板13
の配線の間もワイヤーを用いたワイヤーボンデイング法
により接続されている。
第2図は他の実施例を表わしたものである。
発熱基板2の構造は第1図のものと同じであり、配線基
板13に趣動用ICチップ14が搭載されている点も第
1図の実施例と同じである。発熱基板2と配線基板13
は接着剤24によって支持板16に接着されている。こ
の接着剤24は発熱基板2と配線基板13の端面まで被
ってはいない。
接着剤24としては発熱基板2の金属板4と支持板16
の間の絶縁をよくするために、従来のように両面接着テ
ープを用いるのが好ましい。しかし、M縁性有機樹脂に
よって接着してもよい。
選択電極10aとICチップ14の間やICチップl4
と配線基板12の間、及び共通電極1obと配線基板1
2の間は第1図の実施例と同じくワイヤーボンディング
法により接続されている。
第2図では、発熱基板2と配線基板工3を支持板16に
接着し,ワイヤーボンディングを施した後、耐湿性樹脂
26によって発熱基板2の端面を封止している。耐湿性
樹脂26としても一般に半導体集積回路装置チップを樹
脂封止する際に用いられる樹脂を用いることができる。
耐湿性樹脂26が発熱基板2の端面を被う保護膜の役目
を果たす。
?3図はさらに他の実施例を表わす。
32は基板であり、例えばステンレス板を用いる。基F
i.32の表面には耐熱性絶縁樹脂層としてポリイミド
層34aが形成されている。基板32の裏面にもポリイ
ミド層34bが形成されている。
ポリイミド層34a,34bの厚さは10〜20μm程
度である。ポリイミド層34a上には後に形威される電
極と駐動用ICチップとのボンディングや電源供給用配
線とのボンディングなどのボンディング特性を向上させ
るために硬質の誘電体膜として厚さが1000〜300
0入程度のSiO■膜36が形成されている。Sin2
膜36上には抵抗体38がパターン化されて形威されて
いる。
抵抗体38としては厚さが約500λのTaSiO2膜
を用いる。抵抗体38の膜厚は発熱体38aの抵抗値に
より設定する。抵抗体38上には電極40a,40bが
パターン化されて形成されている。電極40a,40b
としては厚さが約1.2μmのアルミニウム膜を用いる
.電極40aと40bの間に露出した抵抗体38aが発
熱体となる。電極40aは発熱体38aを個別に選択す
る選択電極、電極40bは発熱体38aに通電用電源を
供給する共通電極である。
42は保護膜であり,シリコン窒化膜を用いる。
保護膜42は発熱体38aから電極40a,40b上に
及び,かつ、この発熱基板の端面にまで及んでいる。電
極上のうち、選択電極40aと馳動用ICチップとのボ
ンディングを行なうボンデイングパッド部分や、共通電
極40bの電流容量を補強するための補強電極を形成す
る部分や電源用配線と接続されるボンディングパッド部
分の保護g42は除去されている。
この発熱基板の端面には基板32とポリイミド層34a
,34bとの界面や、抵抗体38や電極40a,40b
の端面が存在するが、それらの界面や端面ば保護膜42
によって被覆されている。
第3図では基板32として金属基板を用いている.金属
基板の種類はステンレスに限らず,他の金属板としても
よい。また、基板32としては、従来から一般にサーマ
ルヘッド用基板として用いられているセラミック基板を
用いることもできる.その場合には裏面のポリイミド層
34bは不要である. 第4図はさらに他の実施例を表わす. 第3図と比較すると、共通電極40bの下部においてポ
リイミド層34aとS i O,膜36が部分的に除去
され、その除去された部分で共通電極40bが抵抗体3
8を介して基板32と接続されている。この場合、基板
32としては金属基板を用いるか、又は絶縁基板の表面
に導電層を形成したものを用いる. 第4図のように、共通電極40bと基板32とを電気的
に接統することにより、基板32を共通電極の一部とし
て用いることができ、共通電極4obの幅を狭くしても
共通電極の電流容量を十分大きくとることができ,基板
32の幅を小さくすることができる。このことは、製造
工程において一度に多数枚のサーマルヘッドを形成する
ことができることを意味し、製造コストを下げるのに貢
献する。
次に、一実施例の発熱基板の製造方法を第5図により説
明する。
(A)基板32にポリイミド層34を20〜40μmの
厚さに塗布する。塗布方法にはディップ法,スピンコー
ト法など種々の方法がある。塗布膜厚を均一にする観点
からはスピンコート法の方が適している。図はディップ
法で形成した場合であり、基板32の表面、裏面及び端
面にポリイミド層34が塗布されている。
次にポリイミド層34のベーキングを行なう.このベー
キング工程は第3図の実1/!例のサーマルヘッドを形
成するか、第4図の実施例のサーマルヘッドを形成する
かによって温度を選ぶのが望ましい.例えば第3図のよ
.うに基板32を共通電極の一部として用いない場合に
は、はじめに130〜150℃の温度でベーキングして
半硬化状態とし、その後200℃に上げ、さらに300
〜350℃まで上げて全硬化状態とすればよい,一方,
第4図に示されるように基板32を共通電極の一部とし
て用いる場合には,ポリイミド層34にコンタクト用の
穴又は溝を作成しなくてはならないので、初めに130
−150℃でベーキングして半硬化状態とした後、ポジ
型レジスト用現像液(関東化学株式会社の製品TMK−
12など)やヒドラジンを用いたウエットエッチング、
又は酸素プラズマエッチングによって基板32と共通電
極とのコンタクト用の穴又は溝を作成する。その後、3
00〜350℃まで温度を上げてベーキングし,ポリイ
ミド層34を全硬化状態とする。
300〜350℃でベーキングすると、ポリイミド層3
4の膜厚は塗布膜厚の1/2程度に減少し、この場合1
0〜20μm程度となる。
(B)ボンディング特性を上げるための硬質誘電体膜と
してSiO2膜36を1000〜3000λ程度の厚さ
にスパッタリング法により堆積する.第4図の実施例の
ように基板を共通電極の一部とするときは,コンタクト
用の穴又は溝部分のSiO2膜36を写真製版とエッチ
ングにより除去しておく.基板32を共通電極の一部と
するときは,また、ポリイミド層34を半硬化状態にし
た?.SiO■膜36を堆積し、その後にコンタクト用
の穴又は溝を形威し、その後にポリイミド層34を全硬
化させるようにしてもよい。
(C)その上に抵抗体膜38として例えばTaSiO2
を約500人の厚さにスパッタリング法により堆積する
。抵抗体膜38の厚さは発熱体の抵抗値により設定する
(D)その上に電極g40として例えばアルミニウム膜
を約1.2μmの厚さに蒸着法により堆積する。
(E)写真製版とエッチングによって電極膜4oと抵抗
体膜38をパターン化し、抵抗体38、発熱体38a、
選択電極40a,共通電極40bを形成する.図の例で
は4個分のサーマルヘッド用にパターン化が施されてい
る。
次に、鎖線で示されるように、基板32をそれぞれのサ
ーマルヘッド用に分割する.分割した発熱基板の端面に
は基板32とポリイミド層34の界面がむき出しの状態
となる. 分割された発熱基板の発熱体38aの保護と発熱基板端
面の保護を兼ねて,プラズマCVD法によりシリコン窒
化膜などの絶縁性保護膜を堆積する。その後,ボンデイ
ングパッド部や補強電極領域など必要な部分のシリコン
窒化膜を写真製版とエッチングにより除去すると、第3
図又は第4図に示される発熱基板が得られる。
発熱体保護と発熱基板端面の保護を兼ねる保護膜42と
してはシリコン窒化膜の他にも従来からサーマルヘッド
の保護膜として用いられている材質でCVD法により形
成できるものを用いてもよい。
基板,抵抗体、電極などの材質や膜厚は実施例に示した
のは一例であり、従来からサーマルヘッドで用いられて
いる材質や膜厚に代えることもできる。
また、実施例は本発明を薄膜型サーマルヘッドに適用し
た例であるが,厚膜型サーマルヘッドにも適用すること
ができる。
(発明の効果) 本発明では保温層として耐熱性絶縁樹脂層をもつ基板上
に発熱体や電極を形成した発熱基板の端面を保護膜で被
ったので、基板と耐熱性絶縁樹脂層の界面に水分が侵入
したり,電極が腐食したりするのを防ぎ,サーマルヘッ
ドの信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2@、第3@及び第4図はそれぞれ実施例を
示す断面図,第S図は一実施例の発熱基板の製造方法を
示す工程断面図である。 2・・・・・・発熱基板、4,32・・・・・・金属板
,6,34a,34b・・・・・・ポリイミド層、8,
38a・・・・・・発熱体、1 0 a , 1 0 
b , 4 0 a , 4 0 b−=−電極、12
.42・・・・・・保護膜、18・・・・・・保護膜を
兼ねる耐湿性樹脂接着剤,26・・・・・・保護膜を兼
ねる耐湿性樹脂6

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)表面が耐熱性絶縁樹脂層で被われた基板上に発熱
    体及び電極が形成された発熱基板を備え、少なくともこ
    の発熱基板端面が保護膜で被われているサーマルヘッド
JP2116620A 1989-08-28 1990-05-02 サーマルヘッド Pending JPH03205165A (ja)

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JP2116620A JPH03205165A (ja) 1989-08-28 1990-05-02 サーマルヘッド
US07/570,397 US5041847A (en) 1989-08-28 1990-08-21 Thermal head

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JP1-222272 1989-08-28
JP22227289 1989-08-28
JP1-128100 1989-10-31
JP12810089 1989-10-31
JP2116620A JPH03205165A (ja) 1989-08-28 1990-05-02 サーマルヘッド

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