JPH04305466A - サーマルヘッドおよびその製造方法 - Google Patents
サーマルヘッドおよびその製造方法Info
- Publication number
- JPH04305466A JPH04305466A JP1119291A JP1119291A JPH04305466A JP H04305466 A JPH04305466 A JP H04305466A JP 1119291 A JP1119291 A JP 1119291A JP 1119291 A JP1119291 A JP 1119291A JP H04305466 A JPH04305466 A JP H04305466A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat storage
- storage layer
- protrusion
- heat
- thermal head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 98
- 238000005338 heat storage Methods 0.000 claims description 77
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 36
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 22
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 abstract description 16
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 6
- 238000007639 printing Methods 0.000 abstract description 3
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 abstract 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 abstract 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 abstract 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical group F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 2
- 229910001234 light alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007651 thermal printing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、サーマルヘッドおよび
その製造方法に関する。
その製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は典型的な従来例のサーマルヘッド
1の斜視図であり、図10は図9の切断面線X10−X
10から見た断面図である。サーマルヘッド1は、たと
えばアルミナ系セラミックスなどの電気絶縁性と耐熱性
とを有する材料から成る板厚t1(例として0.5mm
〜1.0mm)の平板状の絶縁基板2を備え、絶縁基板
2上にはスクリーン印刷などの厚膜技術により、蓄熱層
3がサーマルヘッド1の長手方向(図10の紙面と垂直
方向)に沿って帯状に、かつ頂部に突起3a(高さd1
)とともに形成される。また同様な厚膜技術により、た
とえばアルミニウムなどから成る厚膜共通電極4が耐熱
性基板2の周縁部に形成される。
1の斜視図であり、図10は図9の切断面線X10−X
10から見た断面図である。サーマルヘッド1は、たと
えばアルミナ系セラミックスなどの電気絶縁性と耐熱性
とを有する材料から成る板厚t1(例として0.5mm
〜1.0mm)の平板状の絶縁基板2を備え、絶縁基板
2上にはスクリーン印刷などの厚膜技術により、蓄熱層
3がサーマルヘッド1の長手方向(図10の紙面と垂直
方向)に沿って帯状に、かつ頂部に突起3a(高さd1
)とともに形成される。また同様な厚膜技術により、た
とえばアルミニウムなどから成る厚膜共通電極4が耐熱
性基板2の周縁部に形成される。
【0003】これらの上にたとえばスパッタリングや蒸
着などの薄膜技術により、抵抗体層5がほぼ全面に亘っ
て形成される。発熱抵抗体層5上に予め定める複数の領
域に透孔を有して前記薄膜技術により薄膜電極層が形成
される。透孔に望む抵抗体層5の各突部5aがサーマル
ヘッド1の発熱素子9として構成される。前記薄膜電極
層において、各発熱素子9の共通する一方側は全て共通
に接続された薄膜共通電極6として構成される。各発熱
素子9の他方側の薄膜電極層は、発熱素子9毎に区分さ
れた個別電極8を構成する。薄膜電極層上には、たとえ
ば五酸化タンタルなどの材料から成る保護膜7が形成さ
れる。
着などの薄膜技術により、抵抗体層5がほぼ全面に亘っ
て形成される。発熱抵抗体層5上に予め定める複数の領
域に透孔を有して前記薄膜技術により薄膜電極層が形成
される。透孔に望む抵抗体層5の各突部5aがサーマル
ヘッド1の発熱素子9として構成される。前記薄膜電極
層において、各発熱素子9の共通する一方側は全て共通
に接続された薄膜共通電極6として構成される。各発熱
素子9の他方側の薄膜電極層は、発熱素子9毎に区分さ
れた個別電極8を構成する。薄膜電極層上には、たとえ
ば五酸化タンタルなどの材料から成る保護膜7が形成さ
れる。
【0004】絶縁基板2は、たとえばアルミニウム合金
などの軽合金材料から板厚t2(例として5mm〜10
mm)形成される放熱板12上に乗載される。
などの軽合金材料から板厚t2(例として5mm〜10
mm)形成される放熱板12上に乗載される。
【0005】図11はサーマルヘッド1の製造工程を説
明する断面図である。図10(1)に示すように、絶縁
基板2上に前記材料からなる蓄熱層3を形成し、前記発
熱素子9の形成領域R1をフォトレジストなどの合成樹
脂材料からなる保護層A1で被覆する。このとき蓄熱層
3は全体に亘って均一な組成から形成される。このよう
な蓄熱層3にエッチングを施すと、図11(2)から図
11(3)に示すように、蓄熱層3に対し厚み方向にエ
ッチングが進行し、前記突部3aが高さd1(例えば1
μm以上)に形成される。このとき蓄熱層3に対するエ
ッチングは、蓄熱層3の厚み方向に限らず広がり方向に
も進行し、したがって図11(2)〜図11(4)に示
すように突部3aの幅L1が小さくなくとともに、その
側面3bが蓄熱層3に対してほぼ垂直方向に切り立つ状
態になる。
明する断面図である。図10(1)に示すように、絶縁
基板2上に前記材料からなる蓄熱層3を形成し、前記発
熱素子9の形成領域R1をフォトレジストなどの合成樹
脂材料からなる保護層A1で被覆する。このとき蓄熱層
3は全体に亘って均一な組成から形成される。このよう
な蓄熱層3にエッチングを施すと、図11(2)から図
11(3)に示すように、蓄熱層3に対し厚み方向にエ
ッチングが進行し、前記突部3aが高さd1(例えば1
μm以上)に形成される。このとき蓄熱層3に対するエ
ッチングは、蓄熱層3の厚み方向に限らず広がり方向に
も進行し、したがって図11(2)〜図11(4)に示
すように突部3aの幅L1が小さくなくとともに、その
側面3bが蓄熱層3に対してほぼ垂直方向に切り立つ状
態になる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このような従来例にお
いて、蓄熱層3を構成する材料がその全体に亘って完全
に均一なエッチングレートを有しておらず、ばらつきを
有しているため、形成される突部3aの前記高さd1に
ばらつきを生じ、感熱記録時に感熱記録紙などとの圧接
力にばらつきを生じ濃度むらを生じることになる。また
、図11(4)の状態の蓄熱層3に対して、図10に示
されるように抵抗体層5や保護膜7が形成されるが、感
熱記録紙Pと保護膜7の突起7aが圧接して相互に摺動
するとき、感熱記録紙Pから保護膜7への応力は保護膜
7の突起7aの角隅部7b,7cに集中することになり
、保護膜7が剥離しやすいという課題を有している。
いて、蓄熱層3を構成する材料がその全体に亘って完全
に均一なエッチングレートを有しておらず、ばらつきを
有しているため、形成される突部3aの前記高さd1に
ばらつきを生じ、感熱記録時に感熱記録紙などとの圧接
力にばらつきを生じ濃度むらを生じることになる。また
、図11(4)の状態の蓄熱層3に対して、図10に示
されるように抵抗体層5や保護膜7が形成されるが、感
熱記録紙Pと保護膜7の突起7aが圧接して相互に摺動
するとき、感熱記録紙Pから保護膜7への応力は保護膜
7の突起7aの角隅部7b,7cに集中することになり
、保護膜7が剥離しやすいという課題を有している。
【0007】他の従来例として、図12に示すように絶
縁基板2上に帯状に第1蓄熱層3cを形成し、この状態
の絶縁基板2の全体を被覆して第2蓄熱層3dを形成す
る技術が知られている。このような技術であっても、前
記第1蓄熱層3cを製造するには、前述と同様な処理が
行われており、したがって前記第1の従来例に関して述
べた問題と同様な問題が生じるという課題がある。
縁基板2上に帯状に第1蓄熱層3cを形成し、この状態
の絶縁基板2の全体を被覆して第2蓄熱層3dを形成す
る技術が知られている。このような技術であっても、前
記第1蓄熱層3cを製造するには、前述と同様な処理が
行われており、したがって前記第1の従来例に関して述
べた問題と同様な問題が生じるという課題がある。
【0008】本発明の目的は、上述の技術的課題を解消
し、印画品質と信頼性とを格段に向上することができる
サーマルヘッドとその製造方法とを提供することである
。
し、印画品質と信頼性とを格段に向上することができる
サーマルヘッドとその製造方法とを提供することである
。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、絶縁基板上に
帯状の蓄熱層を形成するとともに該蓄熱層上に複数個の
発熱素子を直線状に配列して成るサーマルヘッドにおい
て、前記蓄熱層は発熱素子の形成領域に横断面が台形状
を成す突起を有し、かつ該突起の両側に発熱素子に接続
される電極が突起よりも低く形成されていることを特徴
とするサーマルヘッドである。
帯状の蓄熱層を形成するとともに該蓄熱層上に複数個の
発熱素子を直線状に配列して成るサーマルヘッドにおい
て、前記蓄熱層は発熱素子の形成領域に横断面が台形状
を成す突起を有し、かつ該突起の両側に発熱素子に接続
される電極が突起よりも低く形成されていることを特徴
とするサーマルヘッドである。
【0010】また本発明は、下記工程A〜工程Cを含む
ことを特徴とするサーマルヘッドの製造方法である。
ことを特徴とするサーマルヘッドの製造方法である。
【0011】A)絶縁基板上に次第にエッチングレート
が大きくなるように蓄熱層を形成する。
が大きくなるように蓄熱層を形成する。
【0012】B)前記蓄熱層の発熱素子形成領域に耐エ
ッチング性を有する被覆層を形成する。
ッチング性を有する被覆層を形成する。
【0013】C)蓄熱層をエッチングし、発熱素子の形
成領域に横断面が台形状を成す突起を形成する。
成領域に横断面が台形状を成す突起を形成する。
【0014】
【作用】本発明に従えば、絶縁基板上に次第にエッチン
グレートが増大するように蓄熱層を形成する。この蓄熱
層の発熱素子の形成領域を被覆して、耐エッチング性を
有する被覆層を形成し、その後、蓄熱層をエッチングす
る。蓄熱層の前記エッチングレートの分布により、前記
被覆層の下部の蓄熱層は、その横断面が絶縁基板側に向
かうに従い幅広となる台形状を成す突起に形成される。 この蓄熱層の該突起の両側に発熱素子に接続される電極
が、該突起よりも低く形成されサーマルヘッドが構成さ
れる。
グレートが増大するように蓄熱層を形成する。この蓄熱
層の発熱素子の形成領域を被覆して、耐エッチング性を
有する被覆層を形成し、その後、蓄熱層をエッチングす
る。蓄熱層の前記エッチングレートの分布により、前記
被覆層の下部の蓄熱層は、その横断面が絶縁基板側に向
かうに従い幅広となる台形状を成す突起に形成される。 この蓄熱層の該突起の両側に発熱素子に接続される電極
が、該突起よりも低く形成されサーマルヘッドが構成さ
れる。
【0015】蓄熱層を上記のように台形状を成す突起に
形成することができるので、その上に形成される保護膜
に感熱記録紙などの記録媒体が圧接されて摺動する場合
、摩擦に基づく応力は、突起の台形状部分のほぼ全面に
作用することになり、特定部位に応力が集中して保護膜
が剥離しやすくなる事態が防止される。これにより、サ
ーマルヘッドの信頼性が向上する。また蓄熱層の前記突
起の高さは、蓄熱層の層厚によって決定される。したが
って蓄熱層を薄膜技術により形成すれば、蓄熱層の前記
発熱素子毎の突起の高さを高精度に制御することができ
、印画品質を向上することができる。
形成することができるので、その上に形成される保護膜
に感熱記録紙などの記録媒体が圧接されて摺動する場合
、摩擦に基づく応力は、突起の台形状部分のほぼ全面に
作用することになり、特定部位に応力が集中して保護膜
が剥離しやすくなる事態が防止される。これにより、サ
ーマルヘッドの信頼性が向上する。また蓄熱層の前記突
起の高さは、蓄熱層の層厚によって決定される。したが
って蓄熱層を薄膜技術により形成すれば、蓄熱層の前記
発熱素子毎の突起の高さを高精度に制御することができ
、印画品質を向上することができる。
【0016】
【実施例】図1は本発明の一実施例に従うサーマルヘッ
ド11の断面図であり、図2はサーマルヘッド11の全
体の断面図であり、図3はサーマルヘッド11の全体の
平面図である。サーマルヘッド11は、たとえばアルミ
ナ系セラミックスなどの電気絶縁性と耐熱性とを有する
材料から成る板厚t3(例として0.5mm〜1.0m
m)の平板状の絶縁基板12を備え、絶縁基板12上に
はスクリーン印刷などの厚膜技術により、第1蓄熱層1
3aが形成される。第1蓄熱層13aは酸化シリコンS
iO2 を主成分とするガラスを膜厚t5(例として8
0μm程度)に形成する。第1蓄熱層13aの上に形成
される第2蓄熱層13bは酸化シリコンSiO2 を主
成分とするターゲットを用いるスパッタリング法などの
薄膜技術で、後述するように膜厚t6(例として0.3
μm)に形成し、その頂部には、高さd2(例として1
.0μm)の台形状の突部23が後述するように形成さ
れる。これらは、サーマルヘッド11の長手方向(第3
図の紙面と垂直方向)に沿って一直線状に形成される。 また厚膜技術により、たとえばアルミニウムなどから成
る厚膜共通電極14が耐熱性基板12の周縁部に形成さ
れる。
ド11の断面図であり、図2はサーマルヘッド11の全
体の断面図であり、図3はサーマルヘッド11の全体の
平面図である。サーマルヘッド11は、たとえばアルミ
ナ系セラミックスなどの電気絶縁性と耐熱性とを有する
材料から成る板厚t3(例として0.5mm〜1.0m
m)の平板状の絶縁基板12を備え、絶縁基板12上に
はスクリーン印刷などの厚膜技術により、第1蓄熱層1
3aが形成される。第1蓄熱層13aは酸化シリコンS
iO2 を主成分とするガラスを膜厚t5(例として8
0μm程度)に形成する。第1蓄熱層13aの上に形成
される第2蓄熱層13bは酸化シリコンSiO2 を主
成分とするターゲットを用いるスパッタリング法などの
薄膜技術で、後述するように膜厚t6(例として0.3
μm)に形成し、その頂部には、高さd2(例として1
.0μm)の台形状の突部23が後述するように形成さ
れる。これらは、サーマルヘッド11の長手方向(第3
図の紙面と垂直方向)に沿って一直線状に形成される。 また厚膜技術により、たとえばアルミニウムなどから成
る厚膜共通電極14が耐熱性基板12の周縁部に形成さ
れる。
【0017】これらの上にたとえばスパッタリングや蒸
着などの薄膜技術により、抵抗体層15がほぼ全面に亘
って形成される。抵抗体層15上に予め定める複数の領
域に透孔を有して前記薄膜技術により薄膜電極層16が
形成される。透孔に望む抵抗体層15の各領域が、サー
マルヘッド11の発熱素子17として構成される。前記
薄膜電極層16において、各発熱素子17の共通する一
方側は全て共通に接続された薄膜共通電極18として構
成され、厚膜共通電極14と共に共通電極19を構成す
る。各発熱素子17の他方側の薄膜電極層16は、発熱
素子17毎に区分された個別電極20を構成する。薄膜
電極層16上には、たとえばチッ化ケイ素などの材料か
ら成る耐摩耗層21が形成される。
着などの薄膜技術により、抵抗体層15がほぼ全面に亘
って形成される。抵抗体層15上に予め定める複数の領
域に透孔を有して前記薄膜技術により薄膜電極層16が
形成される。透孔に望む抵抗体層15の各領域が、サー
マルヘッド11の発熱素子17として構成される。前記
薄膜電極層16において、各発熱素子17の共通する一
方側は全て共通に接続された薄膜共通電極18として構
成され、厚膜共通電極14と共に共通電極19を構成す
る。各発熱素子17の他方側の薄膜電極層16は、発熱
素子17毎に区分された個別電極20を構成する。薄膜
電極層16上には、たとえばチッ化ケイ素などの材料か
ら成る耐摩耗層21が形成される。
【0018】耐熱性基板12は、たとえばアルミニウム
合金などの軽合金材料から板厚t4(例として5mm〜
10mm)に形成される放熱板22上に乗載される。前
記個別電極20は、予め定める数毎に区分され、各区分
毎に複数の駆動回路素子30にそれぞれ接続される。駆
動回路素子30は、各個別電極20を選択的にたとえば
接地電位と導通し、これにより発熱素子17が選択的に
通電発熱され、感熱印画が行われる。この駆動回路素子
30には、制御ライン31が接続され、前記厚膜共通電
極14は電源回路素子32に接続される。この電源回路
素子32には、電源ライン33をそれぞれ介して、前記
複数の駆動回路素子30が接続される。前記制御ライン
31は、可撓性配線基板36に接続され、また前記厚膜
共通電極14や電源ライン33の一部分、および電源回
路素子32は、可撓性配線基板36上に配置されていて
もよい。
合金などの軽合金材料から板厚t4(例として5mm〜
10mm)に形成される放熱板22上に乗載される。前
記個別電極20は、予め定める数毎に区分され、各区分
毎に複数の駆動回路素子30にそれぞれ接続される。駆
動回路素子30は、各個別電極20を選択的にたとえば
接地電位と導通し、これにより発熱素子17が選択的に
通電発熱され、感熱印画が行われる。この駆動回路素子
30には、制御ライン31が接続され、前記厚膜共通電
極14は電源回路素子32に接続される。この電源回路
素子32には、電源ライン33をそれぞれ介して、前記
複数の駆動回路素子30が接続される。前記制御ライン
31は、可撓性配線基板36に接続され、また前記厚膜
共通電極14や電源ライン33の一部分、および電源回
路素子32は、可撓性配線基板36上に配置されていて
もよい。
【0019】また放熱板22と可撓性配線基板36との
間には耐熱性を有する補強板37が介在され、この補強
板37は放熱板22との間では、粘着剤28で固定され
る。
間には耐熱性を有する補強板37が介在され、この補強
板37は放熱板22との間では、粘着剤28で固定され
る。
【0020】本実施例では、第2蓄熱層13bに形成さ
れる発熱素子17毎の突起23の形状を、その頂部から
第1蓄熱層13aにかけて幅広となる台形状に形成し、
かつ同一高さに形成しようとするものである。本件発明
者は下記のような知見に基づいて、この課題を解決した
。すなわち、前記第2蓄熱層13bは、窒化シリコンS
i3N4をスパッタリング法などの薄膜技術を用いて絶
縁基板12上に形成される。このときスパッタリング工
程中における雰囲気ガスの酸素含有量(vol%)と、
得られた第2蓄熱層13bのエッチングレート(Å/秒
)とは、図4のラインL2に示すように正の相関関係を
有することが確認されている。したがって前記突起23
を比較的緩やかな斜面を有する台形状に形成するには、
第2蓄熱層13bにおいて第1蓄熱層13aから遠ざか
るに従い、エッチングレートが大きくなるように形成す
れば良い。このような、第2蓄熱層13bにおけるエッ
チングレートの分布を、たとえば図5に示すラインL3
であるように選ぶ。このようなエッチングレートの分布
を実現するには、図6のラインL4に示されるように、
第2蓄熱層13bの膜厚すなわち成膜時間と酸素濃度と
の関係を定めれば良い。
れる発熱素子17毎の突起23の形状を、その頂部から
第1蓄熱層13aにかけて幅広となる台形状に形成し、
かつ同一高さに形成しようとするものである。本件発明
者は下記のような知見に基づいて、この課題を解決した
。すなわち、前記第2蓄熱層13bは、窒化シリコンS
i3N4をスパッタリング法などの薄膜技術を用いて絶
縁基板12上に形成される。このときスパッタリング工
程中における雰囲気ガスの酸素含有量(vol%)と、
得られた第2蓄熱層13bのエッチングレート(Å/秒
)とは、図4のラインL2に示すように正の相関関係を
有することが確認されている。したがって前記突起23
を比較的緩やかな斜面を有する台形状に形成するには、
第2蓄熱層13bにおいて第1蓄熱層13aから遠ざか
るに従い、エッチングレートが大きくなるように形成す
れば良い。このような、第2蓄熱層13bにおけるエッ
チングレートの分布を、たとえば図5に示すラインL3
であるように選ぶ。このようなエッチングレートの分布
を実現するには、図6のラインL4に示されるように、
第2蓄熱層13bの膜厚すなわち成膜時間と酸素濃度と
の関係を定めれば良い。
【0021】図7は本発明の一実施例の製造工程を説明
する工程図であり、図8はこの製造工程を説明する断面
図である。工程a1では、図8(1)に示されるように
絶縁基板12上に第1蓄熱層13aを形成する。第2蓄
熱層13bを形成するには、前述したようにスパッタリ
ング法などの薄膜技術を用い、工程a2で窒化シリコン
Si3N4を主成分をするターゲットに成膜開始から膜
厚たとえば0.3μmまでは100%アルゴンArガス
を用いて第1段のスパッタリングを行う。次に、工程a
3では膜厚0.3〜0.6μm程度までは10%酸素ガ
スを混入させた前記アルゴンArガスを用いて第2段の
スパッタリングを行い、工程a4では膜厚0.6〜1.
3μm程度までは、20%の酸素ガスを混入させたアル
ゴンArガスを用いてスパッタリング処理を中途で停止
することなく成膜する。
する工程図であり、図8はこの製造工程を説明する断面
図である。工程a1では、図8(1)に示されるように
絶縁基板12上に第1蓄熱層13aを形成する。第2蓄
熱層13bを形成するには、前述したようにスパッタリ
ング法などの薄膜技術を用い、工程a2で窒化シリコン
Si3N4を主成分をするターゲットに成膜開始から膜
厚たとえば0.3μmまでは100%アルゴンArガス
を用いて第1段のスパッタリングを行う。次に、工程a
3では膜厚0.3〜0.6μm程度までは10%酸素ガ
スを混入させた前記アルゴンArガスを用いて第2段の
スパッタリングを行い、工程a4では膜厚0.6〜1.
3μm程度までは、20%の酸素ガスを混入させたアル
ゴンArガスを用いてスパッタリング処理を中途で停止
することなく成膜する。
【0022】工程a5では、各蓄熱層13a,13bに
おける前記発熱素子17が形成される形成領域24を被
覆して、たとえばフォトレジストなどの材料からなる被
覆層25を形成する。工程a6では図8(2)以降に示
されるように、第2蓄熱層13bをエッチングする。こ
のときのエッチング液はたとえばフッ酸またはフッショ
ウ酸を主成分とする酸が用いられる。図8(1)の状態
からエッチングを開始し、図8(2)および図8(3)
に示される状態に次第にエッチングが進行する。すなわ
ち、第2蓄熱層13bの前述したようなエッチングレー
トの分布により、第2蓄熱層13bにおいて、被覆層2
5に近いほど速くエッチングされ、第1蓄熱層13aに
近いほど遅くエッチングされる。したがって第2蓄熱層
13bの突起23の側部26は、第1蓄熱層13aに近
付くほど幅広となる緩やかな傾斜面に形成される。この
後、図8(4)に示されるように、被覆層25を除去す
ることにより前記高さd2の突起23が形成される。
おける前記発熱素子17が形成される形成領域24を被
覆して、たとえばフォトレジストなどの材料からなる被
覆層25を形成する。工程a6では図8(2)以降に示
されるように、第2蓄熱層13bをエッチングする。こ
のときのエッチング液はたとえばフッ酸またはフッショ
ウ酸を主成分とする酸が用いられる。図8(1)の状態
からエッチングを開始し、図8(2)および図8(3)
に示される状態に次第にエッチングが進行する。すなわ
ち、第2蓄熱層13bの前述したようなエッチングレー
トの分布により、第2蓄熱層13bにおいて、被覆層2
5に近いほど速くエッチングされ、第1蓄熱層13aに
近いほど遅くエッチングされる。したがって第2蓄熱層
13bの突起23の側部26は、第1蓄熱層13aに近
付くほど幅広となる緩やかな傾斜面に形成される。この
後、図8(4)に示されるように、被覆層25を除去す
ることにより前記高さd2の突起23が形成される。
【0023】この後、図1に示されるように、共通電極
18、個別電極20および保護膜21を形成してサーマ
ルヘッド11が構成される。
18、個別電極20および保護膜21を形成してサーマ
ルヘッド11が構成される。
【0024】このような製造工程で製造され、図1の構
成を有するサーマルヘッド11において、感熱記録紙2
7における記録濃度を定める保護膜21と感熱記録紙2
7との圧接力を規定する突起23の高さd2を、第2蓄
熱層13bを前記薄膜技術で形成することにより、極め
て高精度で制御することができる。すなわち、蓄熱層を
エッチングするときのエッチングレートが500〜10
00Å/秒である場合、窒化シリコンSi3N4をスパ
ッタリングするときの成膜速度は1〜10Å/秒である
ことが知られている。すなわち本実施例は、第2蓄熱層
13bの膜厚を高精度に制御することができる。これに
より、感熱記録紙27への濃度むらを防止できる。
成を有するサーマルヘッド11において、感熱記録紙2
7における記録濃度を定める保護膜21と感熱記録紙2
7との圧接力を規定する突起23の高さd2を、第2蓄
熱層13bを前記薄膜技術で形成することにより、極め
て高精度で制御することができる。すなわち、蓄熱層を
エッチングするときのエッチングレートが500〜10
00Å/秒である場合、窒化シリコンSi3N4をスパ
ッタリングするときの成膜速度は1〜10Å/秒である
ことが知られている。すなわち本実施例は、第2蓄熱層
13bの膜厚を高精度に制御することができる。これに
より、感熱記録紙27への濃度むらを防止できる。
【0025】一方、前述したように突起23の側部26
は比較的緩やかな傾斜面に形成されるので、保護膜21
と感熱記録紙27とが相互に圧接して摺動する場合であ
っても感熱記録紙27との摺動に基づいて発生する応力
は、いわば突起23の全体に亘って作用を及ぼし、従来
技術のように保護膜21の所定の一隅部にのみ、前記応
力が集中する事態を防止することができ、前記応力の集
中による保護膜21の剥離を防止することができる。こ
れにより、サーマルヘッド11の信頼性を格段に向上で
きる。
は比較的緩やかな傾斜面に形成されるので、保護膜21
と感熱記録紙27とが相互に圧接して摺動する場合であ
っても感熱記録紙27との摺動に基づいて発生する応力
は、いわば突起23の全体に亘って作用を及ぼし、従来
技術のように保護膜21の所定の一隅部にのみ、前記応
力が集中する事態を防止することができ、前記応力の集
中による保護膜21の剥離を防止することができる。こ
れにより、サーマルヘッド11の信頼性を格段に向上で
きる。
【0026】本発明には、第1蓄熱層13aおよび第2
蓄熱層13bを前記薄膜技術で一体的に形成する例が含
まれる。また、第1蓄熱層13aおよび/または第2蓄
熱層13bを酸化シリコンSiO2 など、他の材料か
ら形成する例が含まれる。その他、本発明は、前記実施
例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲で種々の変更例および改善例を含むものである。
蓄熱層13bを前記薄膜技術で一体的に形成する例が含
まれる。また、第1蓄熱層13aおよび/または第2蓄
熱層13bを酸化シリコンSiO2 など、他の材料か
ら形成する例が含まれる。その他、本発明は、前記実施
例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲で種々の変更例および改善例を含むものである。
【0027】
【発明の効果】以上のように本発明に従えば、絶縁基板
上に次第にエッチングレートが増大するように蓄熱層を
形成する。この蓄熱層の発熱素子の形成領域を被覆して
、耐エッチング性を有する被覆層を形成し、その後、蓄
熱層をエッチングする。蓄熱層の前記エッチングレート
の分布により、前記被覆層の下部の蓄熱層は、その横断
面が絶縁基板側に向かうに従い幅広となる台形状を成す
突起に形成される。この蓄熱層の該突起の両側に発熱素
子に接続される電極が、該突起よりも低く形成されサー
マルヘッドが構成される。
上に次第にエッチングレートが増大するように蓄熱層を
形成する。この蓄熱層の発熱素子の形成領域を被覆して
、耐エッチング性を有する被覆層を形成し、その後、蓄
熱層をエッチングする。蓄熱層の前記エッチングレート
の分布により、前記被覆層の下部の蓄熱層は、その横断
面が絶縁基板側に向かうに従い幅広となる台形状を成す
突起に形成される。この蓄熱層の該突起の両側に発熱素
子に接続される電極が、該突起よりも低く形成されサー
マルヘッドが構成される。
【0028】蓄熱層を上記のように台形状を成す突起に
形成することができるので、その上に形成される保護膜
に感熱記録紙などの記録媒体が圧接されて摺動する場合
、摩擦に基づく応力は、突起の台形状部分のほぼ全面に
作用することになり、特定部位に応力が集中して保護膜
が剥離しやすくなる事態が防止される。これにより、サ
ーマルヘッドの信頼性が向上する。また蓄熱層の前記突
起の高さは、蓄熱層の層厚によって決定される。したが
って蓄熱層を薄膜技術により形成すれば、蓄熱層の前記
発熱素子毎の突起の高さを高精度に制御することができ
、印画品質を向上することができる。
形成することができるので、その上に形成される保護膜
に感熱記録紙などの記録媒体が圧接されて摺動する場合
、摩擦に基づく応力は、突起の台形状部分のほぼ全面に
作用することになり、特定部位に応力が集中して保護膜
が剥離しやすくなる事態が防止される。これにより、サ
ーマルヘッドの信頼性が向上する。また蓄熱層の前記突
起の高さは、蓄熱層の層厚によって決定される。したが
って蓄熱層を薄膜技術により形成すれば、蓄熱層の前記
発熱素子毎の突起の高さを高精度に制御することができ
、印画品質を向上することができる。
【図1】本発明の一実施例のサーマルヘッド11の断面
図である。
図である。
【図2】サーマルヘッド11の全体の断面図である。
【図3】サーマルヘッド11の全体の平面図である。
【図4】スパッタリング時の酸素濃度とエッチングレー
トとの関係を示すグラフである。
トとの関係を示すグラフである。
【図5】膜厚に関するエッチングレートの分布を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図6】膜厚と酸素濃度との関係を示すグラフである。
【図7】本発明の一実施例の製造工程を説明する工程図
である。
である。
【図8】本実施例の製造工程を説明する断面図である。
【図9】従来例のサーマルヘッド1の斜視図である。
【図10】サーマルヘッド1の断面図である。
【図11】サーマルヘッド1の製造工程を説明する断面
図である。
図である。
【図12】他の従来例の断面図である。
11 サーマルヘッド
12 絶縁基板
13b 第2蓄熱層
17 発熱素子
22 放熱板
23 突起
26 側部
Claims (2)
- 【請求項1】 絶縁基板上に帯状の蓄熱層を形成する
とともに該蓄熱層上に複数個の発熱素子を直線状に配列
して成るサーマルヘッドにおいて、前記蓄熱層は発熱素
子の形成領域に横断面が台形状を成す突起を有し、かつ
該突起の両側に発熱素子に接続される電極が突起よりも
低く形成されていることを特徴とするサーマルヘッド。 - 【請求項2】 下記工程A〜工程Cを含むことを特徴
とするサーマルヘッドの製造方法。 A)絶縁基板上に次第にエッチングレートが大きくなる
ように蓄熱層を形成する。 B)前記蓄熱層の発熱素子形成領域に耐エッチング性を
有する被覆層を形成する。 C)蓄熱層をエッチングし、発熱素子の形成領域に横断
面が台形状を成す突起を形成する。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1119291A JPH04305466A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | サーマルヘッドおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1119291A JPH04305466A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | サーマルヘッドおよびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04305466A true JPH04305466A (ja) | 1992-10-28 |
Family
ID=11771199
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1119291A Pending JPH04305466A (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | サーマルヘッドおよびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04305466A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009137284A (ja) * | 2007-11-13 | 2009-06-25 | Tdk Corp | サーマルヘッド、サーマルヘッドの製造方法及び印画装置 |
-
1991
- 1991-01-31 JP JP1119291A patent/JPH04305466A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009137284A (ja) * | 2007-11-13 | 2009-06-25 | Tdk Corp | サーマルヘッド、サーマルヘッドの製造方法及び印画装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1113468A (zh) | 热打印头 | |
JPH03205165A (ja) | サーマルヘッド | |
JPH04305466A (ja) | サーマルヘッドおよびその製造方法 | |
JPS6154954A (ja) | サ−マルヘツド及びその製造方法 | |
JPH0661947B2 (ja) | サーマルヘッド | |
JPH04288244A (ja) | サーマルヘッド | |
JP3172623B2 (ja) | サーマルヘッド | |
JP3652831B2 (ja) | 発熱装置およびその製造方法 | |
JP3231951B2 (ja) | サーマルヘッドおよびその製造方法 | |
JP2589164B2 (ja) | サーマルヘッドの基板構造 | |
JPH06227014A (ja) | サーマルヘッド | |
JP2547325Y2 (ja) | サーマルヘッド | |
JP3293981B2 (ja) | サーマルヘッド及びその製造方法 | |
JPH0852892A (ja) | サーマルヘッドとその製造方法 | |
JPH03227660A (ja) | サーマルヘッドおよびその製造方法 | |
JP2731059B2 (ja) | 発熱体形成基板上のグレーズ層の形成法およびサーマルヘッド基板 | |
JPH0712694B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
JPH0649376B2 (ja) | サ−マルヘツドの製造方法 | |
JPH02305654A (ja) | サーマルヘッド | |
JP3797511B2 (ja) | サーマルヘッド | |
JPH11188875A (ja) | インクジェット記録ヘッド用基板及びその製造方法 | |
JPH04216070A (ja) | サーマル・プリント・ヘッドとその製造方法 | |
JP2580633Y2 (ja) | サーマルヘッド | |
JPH0557936A (ja) | サーマルヘツドおよびその製造方法 | |
JPH02182468A (ja) | サーマルヘッドの電極部構造 |