JPH03156800A - 半導体メモリ試験用データ発生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は半導体メモリを試験するための書き込みデー
タや読み出し時の期待値データを演算により発生する半
導体メモリ試験用データ発生装置に関する。

「従来の技術」 従来の半導体メモリ試験用データ発生装置は第４図に示
すように、プログラム記述に従ったプログラム実行シー
ケンスを制御するプログラムカウンタ１１の計数埴がア
ドレスとして演算命令格納部１２に与えられて、演算命
令が読み出され、その演算命令に従って、データ発生器
１３はバッファレジスタ１４内のデータを初期値として
＋１゜１などの演算を行ってデータを出力する。このデ
ータは被試験半導体メモリに書き込み時の書き込みデー
タとして、又は読み出し時の期待値データとして供給さ
れる。

「発明が解決しようとする課題」 近年半導体メモリの多様化に伴い、いろいろな動作モー
ドを持ったＡ　Ｓ　Ｍ　（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ　５
ｐｅｃｉｆ　ｉｃＭｅ＋ｗｏｒｙ）　　Ｉ　Ｃが登場し
て来た。このＡＳＭ　　ＩＣは例えばＲＡＭとＳＡＭと
を内蔵し、データをＲＡＭに入力するとＲＡＭからＳＡ
Ｍへデータを転送するモード、また出力データと入力デ
ータとを演算し、その演算結果を記憶するモード、指定
されたビットだけを書き込むモードなど各種の動作モー
ドがあり、外部から人力された動作モードデータに応じ
た動作モードに設定されてその動作モードで動作する。

この動作モードを設定する動作モードデータは動作モー
ドに固有のデータであり、かつ、この動作モードデータ
はランダムにＡＳＭ　　ＩＣへ人力される。このような
ＡＳＭ　　ＩＣを試験する場合は、アドレス、書きみ込
データ、期待値データを発生するのみならず、動作モー
ドデータも発生してＡＳＭ　　ＩＣへ供給してやる必要
がある。しかし、第４図に示した従来のデータ発生装置
では＋１、−１などの規則正しい演算動作によりデータ
を発生するため、動作モードデータを簡単に発生させる
ことができなかった。

「課題を解決するための手段」 この発明によれば被試験メモリの動作モードを設定する
動作モードデータが動作モードデータ格納ファイルに格
納され、演算命令格納部に、その各命令ごとに、動作モ
ードデータ格納ファイル内の動作モードデータを選択出
力するための選択信号が格納された動作モードデータ選
択信号格納部と、上記各命令ごとにセレクタ制御データ
を格納するセレクタ制御データ格納部とが設けられる。

従って演算命令格納部から１つの演算命令が読み出され
ると共に、動作モードデータ選択信号及びセレクタ制御
データが読み出され、その読み出されたセレクタ制御デ
ータにより、読み出された演算命令に応じてデータ発生
器で演算されたデータか、読み出された動作モードデー
タ選択信号により動作モードデータ格納ファイルから選
択された動作モードデータかの何れかがデータセレクタ
で選択されて被試験メモリに出力される。

「作　用」 このように構成されているから、プログラムカウンタに
より演算命令格納部から読み出した演算命令にもとすき
、データ発生器で、演算により書き込みデータ又は期待
値データを順次発生して被試験メモリへ供給すると共に
、その順次発生されるデータの途中に動作モードデータ
選択信号が読み出され、これにより動作モードデータ格
納ファイルから動作モードデータが選出され、これが被
試験メモリへ供給される。従って演算により発生した書
き込みデータ又は期待値データを出力してメモリを試験
しながら、その途中でそのメモリの動作モードを変更し
て試験を連続的に行うことができる。

「実施例」 第１図にこの発明の実施例を示し、第４図と対応する部
分に同一符号を付けである。この発明においては被試験
メモリの各動作モードをそれ・ぞれ設定する各動作モー
ドデータが動作モードデータ格納ファイル２１に格納さ
れている。また演算命令格納部１２に、その各命令ごと
に動作モードデータ格納ファイル２１内の動作モードデ
ータを選択出力するための選択信号が格納された動作モ
ードデータ選択信号格納部２２と、上記各命令ごとにセ
レクタ制御データを格納するセレクタ制御データ格納部
２３とが設けられる０例えば動作モードデータ格納ファ
イル２１は半導体メモリであってそのエアドレスについ
て１つの動作モードデータが記憶され、動作モードデー
タ選択信号はファイル２１としてのメモリの１つのアド
レスを指示するものである。アドレスカウンタ１１の各
計数値ごとに演算命令格納部１２と、動作モードデータ
選択信号格納部２２と、セレクタ制御データ格柄部２３
とがそれぞれ読み出される。

その読み出された演算命令はデータ発生器１３へ供給さ
れ、読み出された選択信号は動作モードデータ格納ファ
イル２１にアドレスとして供給されてファイル２１が読
み出され、読み出されたセレクタ制御データはセレクト
信号発生部２４へ供給される。データ発生器１３は従来
のものと同様に入力された演算命令に応じて、バッファ
レジスタ１４のデータを初期値として＋１．−１などの
演算を行い、その演算結果のデータをデータセレクタ２
５に一方の人力として供給する。動作モードデータ格納
ファイル２１から読み出された動作モードデータはデー
タセレクタ２５に他方の入力として供給される。セレク
ト信号発生部２４は入力されたセレクタ制御データに応
じたセレクト信号を発生してデータセレクタ２５に制御
信号として供給する。データセレクタ２５は入力された
セレクト信号が“０″の時はデータ発生器１３の出力デ
ータを出力し、セレクト信号が“１”の時は動作モード
データ格納ファイル２１の出力動作モードデータを出力
する。

プログラムカウンタ１１が１だけ歩進すると、その計数
値をアドレスとして、演算命令格納部１２、動作モード
データ選択信号格納部２２、セレクタ制御データ格納部
２３が読み出され、その読み出された演算命令に応じて
データ発生器１３からデータが発生され、読み出された
動作モードデータ選択信号により動作モードデータ格納
ファイル２１から動作モードデータが読み出され、続み
出されたセレクタ制御データにより、セレクト信号発生
部２４から例えば第２図に示すように１テストサイクル
の初めの部分が′１”、その後は“０′となるセレクト
信号を出力する。このセレクト信号が“１”の間はデー
タセレクタ２５から、動作モードデータ格納ファイル２
１の出力動作モードデータが出力され、この時、制御信
号ＲＡＳの立下りで被試験メモリにその動作モードデー
タが設定され、セレクト信号が“０”となっている間は
データセレクタ？５からデータ発生器１３の出力データ
が出力され、この時、制御信号ＣＡＳの立下りで被試験
メモリにデータ発生器１３の出力データが書き込まれる
。

なお、１テストサイクルを単位としてデータセレクタ２
５の選択制御を行ってもよい。この場合はセレクタ制御
データは１ビツトで、これを直接、データセレクタ２５
ヘセレクト信号として供給してもよい、またこの場合は
セレクタ制御データが“１″のアドレスにおいては演算
命令は記憶されることなく、動作モードデータ選択信号
のみが記憶され、セレクタ制御データが“０″のアドレ
スにおいては演算命令のみが記憶され、動作モードデー
タ選択信号は記憶されない、動作モードデータ格納ファ
イル２１としてはレジスタを使用してもよい。例えば第
３図に示すようにレジスタ２１１〜２１．１にそれぞれ
動作モードデータを格納しておき、これら動作モードデ
ータを、マルチプレクサ２６により動作モードデータ選
択信号に応じて選択出力するようにしてもよい、データ
発生器１３の出力演算結果データを動作モードデータ格
納ファイル２１に格納し、後に、必要に応じて動作モー
ドデータ格納ファイル２１内の演算結果データを読み出
して出力することもできる。

「発明の効果」 以上述べたようにこの発明によれば演算命令格納部１２
に、動作モードデータ選択信号格納部２２とセレクタ制
御データ格納部２３とを設け、アドレスカウンタ１１に
より読み出し、その読み出した動作モードデータ選択信
号で動作モードデータ格納ファイル２１から動作モード
データを選択し、読み出したセレクタ制御データにより
データ発生器１３の出力データか、選択した動作モード
データかの何れかを出力するため、ＡＳＭ　　Ｉｃに対
して、動作モードの設定を変化させながら、実時間で試
験することができる試験データ、つまり書き込みデータ
や期待値データを順次発生させ、その途中に動作モード
データを挿入発生させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例を示すブロンク図、第２図は
その動作例を示すタイムチャート、第３図は動作モード
データ格納ファイル２１の他の例を示すブロック図、第
４図は従来の半導体メモリ試験用データ発生装置を示す
ブロック図である。 株式会社アトパンテスト 濱ｌ命９一番塾郁 ＋２　　　　　　ｔレクク宇制御テータ着トＳシ部１　
　　　２３ 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）プログラムカウンタによりアドレス指定されて演
   算命令格納部から演算命令が読み出され、その読み出さ
   れた演算命令に応じた演算をデータ発生器で行わせ、そ
   の演算結果のデータを被試験メモリへ書き込みデータ又
   は期待値データとして供給する半導体メモリ試験用デー
   タ発生装置において、 被試験メモリの動作モードを設定する動作モードデータ
   が格納された動作モードデータ格納ファイルと、 上記演算命令格納部にその各命令ごとに設けられ、上記
   動作モードデータ格納ファイル内の動作モードデータを
   選択出力するための選択信号が格納された動作モードデ
   ータ選択信号格納部と、上記各命令ごとに設けられたセ
   レクタ制御データを格納するセレクタ制御データ格納部
   と、 上記演算命令格納部のセレクタ制御データ格納部から読
   み出されたセレクタ制御データに応じて、上記データ発
   生器の出力演算データと上記動作モードデータ格納ファ
   イルから選択された動作モードデータとの何れかを選択
   して被試験メモリへ出力するデータセレクタと、 を具備することを特徴とする半導体メモリ試験用データ
   発生装置。