JP4438985B2 - パターン発生器及び試験装置 - Google Patents
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- 電子デバイスを試験するための試験パターンを生成するパターン発生器であって、
パターンデータブロックを格納するメモリと、
前記メモリから受け取る第1パターンデータブロックを格納する第1パターン格納部と、
前記メモリから受け取る第2パターンデータブロックを格納する第2パターン格納部と、
前記第1パターンデータブロック又は前記第2パターンデータブロックに基づく前記試験パターンを出力する試験パターン出力部と、
前記メモリから前記パターンデータブロックを受け取って、当該パターンデータブロックに含まれる同一のテストベクタを前記第1パターン格納部及び前記第2パターン格納部に格納させることにより、前記第1パターンデータブロック及び前記第2パターンデータブロックを更新し、前記第1パターンデータブロックに基づく前記試験パターンが、繰り返し出力すべき試験パターンである場合に、前記第1パターンデータブロックの更新を停止する格納パターン更新部と
を備えることを特徴とするパターン発生器。 - 前記試験パターン出力部は、前記第1パターンデータブロックに基づく前記試験パターンを繰り返し出力し、前記電子デバイスが出力する出力信号と期待値との一致が検出された場合に、前記第2パターンデータブロックに基づく前記試験パターンを出力することを特徴とする請求項1に記載のパターン発生器。
- 前記第1パターンデータブロックは、複数のテストベクタを含み、
前記試験パターン出力部は、前記第1パターンデータブロックの一のテストベクタに対応する、前記電子デバイスが出力する出力信号と、前記期待値との一致の検出結果を受け取り、前記第1パターンデータブロックの他のテストベクタに対応して、当該検出結果に基づいて前記一致が検出されたか否かを判定し、前記一致が検出されたと判定した場合に、前記第2パターンデータブロックに基づく前記試験パターンを出力することを特徴とする請求項2に記載のパターン発生器。 - 前記試験パターン出力部は、前記第1パターンデータブロックにおける末尾のテストベクタに対応して、前記一致が検出されたか否かを判定することを特徴とする請求項3に記載のパターン発生器。
- 前記第1パターンデータブロックは、前記一のテストベクタと前記他のテストベクタとの間に1以上のテストベクタを含み、
前記試験パターン出力部は、前記1以上のテストベクタに対応する前記試験パターンを出力する間に前記一致の検出結果を受け取り、前記他のテストベクタに対応して、前記一致が検出されたか否かを判定することを特徴とする請求項3に記載のパターン発生器。 - 前記試験パターン出力部に前記試験パターンを繰り返し出力させる繰り返し命令を検出した場合に、前記格納パターン更新部による前記第1パターンデータブロックの更新を停止させるシーケンサを更に備えることを特徴とする請求項1に記載のパターン発生器。
- 前記格納パターン更新部が前記パターンデータブロックを前記メモリから受け取る前に、当該パターンデータブロックをキャッシングするパターンキャッシュメモリを更に備えることを特徴とする請求項1に記載のパターン発生器。
- 前記第1パターン格納部の記憶容量は、前記第2パターン格納部の記憶容量より大きいことを特徴とする請求項1に記載のパターン発生器。
- 電子デバイスを試験する試験装置であって、
パターンデータブロックを格納するメモリと、
前記メモリから受け取る第1パターンデータブロックを格納する第1パターン格納部と、
前記メモリから受け取る第2パターンデータブロックを格納する第2パターン格納部と、
前記第1パターンデータブロック又は前記第2パターンデータブロックに基づいて、電子デバイスを試験するための試験パターンを出力する試験パターン出力部と、
前記メモリから前記パターンデータブロックを受け取って、当該パターンデータブロックに含まれる同一のテストベクタを前記第1パターン格納部及び前記第2パターン格納部に格納させることにより、前記第1パターンデータブロック及び前記第2パターンデータブロックを更新し、前記第1パターンデータブロックに基づく前記試験パターンが、繰り返し出力すべき試験パターンである場合に、前記第1パターンデータブロックの更新を停止する格納パターン更新部と、
前記試験パターンを整形する波形整形器と、
前記試験パターンに基づいて前記電子デバイスが出力する、出力信号に基づいて、前記電子デバイスの良否を判定する判定部と
を備えることを特徴とする試験装置。
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