JPS6030977B2 - パタ−ン発生装置 - Google Patents

パタ−ン発生装置

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JPS6030977B2
JPS6030977B2 JP53120037A JP12003778A JPS6030977B2 JP S6030977 B2 JPS6030977 B2 JP S6030977B2 JP 53120037 A JP53120037 A JP 53120037A JP 12003778 A JP12003778 A JP 12003778A JP S6030977 B2 JPS6030977 B2 JP S6030977B2
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JP
Japan
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pattern
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patterns
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Prior art date
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Expired
Application number
JP53120037A
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English (en)
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JPS5547543A (en
Inventor
淳治 西浦
忠 池田
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Advantest Corp
Original Assignee
Takeda Riken Industries Co Ltd
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Publication date
Application filed by Takeda Riken Industries Co Ltd filed Critical Takeda Riken Industries Co Ltd
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Publication of JPS5547543A publication Critical patent/JPS5547543A/ja
Publication of JPS6030977B2 publication Critical patent/JPS6030977B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明はマイクロコンピュータのようなランダムロジ
ックのICや半導体メモリのICなどを試験するための
データパターンを発生するパターン発生装置に関する。
従来のランダムロジックICを試験するためのパターン
発生装置は蓄積プログラム方式が用いられていた。即ち
第1図に示すようにパターンファイル11に印加パター
ン及びそのパターンを被試験ICに印加した時に得られ
るべき正しい出力を示す期待パターンが1ワードとして
多数記憶されている。更に一連の印加パターンを被試験
ICへ印加することを繰返す、いわゆるパターンループ
や同一パターンを連続して印加するパターンポ−ズなど
の場合にパターンファイル11に記憶するパターンを少
なくするためにパターンファイル11の各ワードと対応
した番地をもつ制御ファイル12が設けられ、制御ファ
イル12においてはパターンループやパターンポーズを
行う場合はその対応番地にそれ等を示す命令をコマンド
部13に記憶すると共にその各部分に対応してループの
回数やポーズの回数がオペランド部に記憶されている。
パターンファイル11及び制御ファイル12は同時に読
出され、謙出された印加パターンはフオマット制御部1
5においてレベルや波形変換が行なわれ被試験IC16
へ印加される。図に示してないが被試験IC16の出力
がサンプリング部で適当なタイミングで取出され、これ
と詠出された期待パターンと比較される。また制御ファ
イル12から読出された命令に応じて次にパターンファ
イル11の何れの番地を謙出するか)、決まる。被試験
ICがマイクロコンピュータであり、これに対し、デー
タ感度を試験する場合には、同一命令の印加パターンを
データのみを変えて被試験にに繰返し印加する。このよ
うに印加パターンの大部分が同一で僅か異なっているだ
けでも第l図に示した従来のパターン発生装置によれば
それぞれ1つの印加パターンとしてパターンファイル1
1に記憶する必要があった。このためパターンファイル
11の記憶容量が著し大きくなった。一方、ICメモリ
の試験のためのパターン発生装置として従釆においてプ
ログラムを記憶し、そのプログラムを議出して解読実行
することにより演算により印加パターン及び期待パター
ンを発生するものがある。このパターン発生装置はマイ
クロコンピュータを内蔵したメモリや、入出力兼用ボー
ト機能をもつメモリなどに対する試験のためのパターン
発生はできなかった。第1図に示した蓄積プログラム方
式のパターン発生装置においても、メモリ部の試験を行
うにはチェツカーボード試験、マーチング試験などのよ
うに必要とするパターンがアドレスの深さのN倍であれ
ば、パターンのの作成が非常に困簸であるが、作成はで
きる。しかしウオーキング試験やギャロッピング試験の
ように、アドレスの深さのN2倍のパターンを必要とす
る場合は、そのようなパターンを作成することは実質的
には不可能である。この発明の目的はランダムロジック
ICやメモリICの何れの試験にも用いることができ、
しかもパターンファイルとして記憶容量が比較的小さく
、かつ複雑なパターンも発生できるパターン発生装置を
提供することにある。
この発明によれば従来の蓄積プログラム方式のパターン
発生装置の制御ファイルに演算指定やレジスタ指定、レ
ジスタへのデータ転送などを行うに必要な情報をも記憶
し、また演算レジスタや出力レジスタを設け、制御ファ
イルの記憶内容に応じた演算を可能とし、つまりこの演
算によっても印加パターンを作ることを可能にする。
このようにして従来の蓄積プログラム方式のパターン発
生機能と、演算制御パターン発生器の機能とが得られ、
ICメモリ、ランダムロジックメモリの何れに対し、ま
たマイクロコンピュータ内蔵メモリなどに対する試験パ
ターンを発生でき、かつパターンファイルの記憶容量も
比較的小さなもので済む。第2図はこの発明によるパタ
ーン発生装置の一例を示し、第1図と対応する部分に同
一符号を付けてある。
この発明の実施例ではパターンファイル11、制御ファ
イル12の他に演算レジスタIx,ly、出力レジスタ
2x,2y、参照レジスタ3×,3yが設けられる。こ
れ等レジスタを利用して所要の演算ができるようにされ
る。レジスタlx,2x,3xとly,2y,3yとが
それぞれ組とされ、これ等各組において所定の演算を行
うことができる。例えば演算レジスターxの内容と出力
レジスタ2×の内容とが加算され、その結果が出力レジ
スタ2×内に格納される。また出力レジスタ2又の内容
が参照レジスタ3×の内容と一致すると、パターンファ
イル11の次の番地が読出されるなどパターン発生の順
序が変更される時のデータが参照レジス夕3xに格納さ
れる。これ等レジスタにより、どのような演算を行うか
の演算指定や何れのレジスタにデータを入れるまた出力
レジスタ2×,2yの内容を被試験に16へ出力するた
めのレジスタの指定などは制御バッファー2に記憶され
る。即ち制御バッファのコマンド部13にはパターンル
ープ、パターンポーズなどを示す命令の他に、レジスタ
群を使用してパターンを発生させる命令や、レジスタ内
データを格納する命令なども記憶される。またこれ等命
令と対応してそのオペランド部14にはしジス外こ格納
されるべきデータが記憶される。更にその時の演算指定
やレジスタ指定を示す情報が演算パターン発生制御部1
7に記憶される。演算パターン発生制御部17は制御バ
ッファ12に含まれ、対応するコマンド部及びオペラン
ド部と同時に読出される。演算パターン発生制御部17
は例えばB〜B4の4ビット設けられる。
その第1、第2ビットB,Bは演算指定を行い、例えば
0、0ならば出力レジスタ2×、出力レジスタ2yの内
容はそのまま、つまりノーオベレーシヨンとし、0、1
ならば出力レジスタ2×の内容と演算レジスタlxの内
容とを加算して出力レジスタ2xに格納し、出力レジス
タ2yはそのま)とし、1、0ならば出力レジスタ2x
はそのま)としv出力レジスタ2yの内容及び演算レジ
スタlyの内容を加算して出力レジスタ2yに格納し、
1、1ならば、出力レジス夕2×及び2yの各内容とそ
れぞれ演算レジスタlx及びlyの各内容と加算し、そ
の各結果をそれぞれ出力レジスタ2×及び2yに格納す
る。第3、第4ビットB3,B4は出力データを指定す
るもので、例えば0、0でパターンファイル11の読出
し出力を被試験IC16へ供給し、0、1でパターンフ
ァイル11の読出し出力と、出力レジス夕2×の内容と
の論理和を出力し、1、0でパターンファイル11の謙
出し出力と、出力レジスタ2yの内容との論理和を出力
し、1、1でパターンファイル11の出力と出力レジス
タ2×,2yの各内容との論理和を出力してそれぞれ被
試験IC16へ供給する。
出力レジスタ2×,2yの内容とパターンファイル11
の読出し出力との内容との論理和はパターンファイル1
1の各パターン中の特定の領域18の読出し出力とにつ
いて行うようにすることができ、そのため論理和回路1
9が設けられる。
上述の構成において演算パターン発生制御部17のビッ
トB,〜B4がすべて0の場合は第1図に示した従来の
蓄積プログラム方式のパターン発生装置と同様に動作し
て、パターンファイル11から読出された印加パターン
が被試験に16へ印加される。被試験IC16がマイク
ロコンピュータであって、これに対して例えばデータ感
度試験を行う場合にはその被試験IC16へ印加すべき
パターンのうち、データのみをレジスタ2×,2yに格
納しておき、印加パターンのうち他の部分はパターンフ
ァイル11から読出し、つまり蓄積プ。
グラム方式で発生し、そのパターンをループで繰返して
発生し、これ等各パターンに出力レジスタ2×又は2y
、或いはその両者の内容を加えて完全な印加パターンと
して被試験IC16へ印加すればよい。その際にループ
ごとに加へるべきデータのみ内容を変化する。また、こ
のパターン発生装置をメモリにの試験に利用するには、
被試験IC16に印加するべきアドレスパターンを演算
により発生し、他のパターンは蓄積プログラム方式で発
生すればよい。例えば演算レジスタlxに1を格納し、
出力レジスタ2文を0としておき、この状態で演算レジ
ス夕lx及び出力レジスタ2xの各内容を加算して出力
レジスタ2xに格納する演算を行わせる。また参照レジ
スタ3xには試験メモリの最高番地Nを格納しておけば
、出力レジスタ2×の内容は0、1、2、・・・・・・
と順次十1され、0〜N番地のアドレスパターンが得ら
れる。この間パターンファイル11からは同一番地が読
出され、出力レジスタ2×の内容がNになると、パター
ンファイル11は次の番地へ進むようにする。或いはそ
の時のコマンド部13の出力がジャンプ命令ならオペラ
ンド部14に記憶されてる番地にジャンプする。出力レ
ジスタ2×,2yの各内容を交互に出力し、かつ出力レ
ジスタ2×の内容を十1する演算を行うことにより、い
わゆるピンポン試験やギャロピング試験のためのアドレ
スパターンを発生できる。
更に被試験IC16がアドレスライン及びデータライン
として同一ラインを時分割的に使用するマイクロコンピ
ュータの場合には、出力レジスタ2×の内容をアドレス
パターンに出力レジスタ2yの内容をデータパターンに
割当ることによりパターン発生が容易になる。上述にお
いてはしジスタ群としてx群及びy群の2種のみを示し
たが、更に多くのレジスタ群を使用して機能を拡大する
ことができ、逆に1つのレジスタ群だけでもよい。
更に各レジスタ群において参照レジスタ3は必ずしも設
けなくてもよい。またレジスタ群内の演算を行わせるこ
ともできる。演算は加算のみならず減算、乗算、除算な
ど各種のものを行うようにすることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の蓄積プログラム式のパターン発生装置を
示すブロック図、第2図はこの発明によるパターン発生
装置の一例を示すブロック図である。 lx,ly:演算レジスタ、2×,2y:出力レジスタ
、3×,3y:参照レジスタ、11:パターンファイル
、12:制御ファイル、13:コマンド部、14:オペ
ランド部、15:フオマット制御部、16:被試験IC
、17:演算パターン発生制御部。 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 印加パターン及び期待パターンを記憶するパターン
    フアイルと、そのパターンフアイルより読出す順を変更
    する命令を記憶するコマンド部、その命令に応じたデー
    タを記憶するオペランド部及び演算指定及びレジスタ指
    定を記憶する演算パターン発生制御部よりなる制御フア
    イルと、この制御フアイル中のオペランド及び演算パタ
    ーンが与えられこれらオペランド及び演算パターンによ
    り指定された演算を行う演算レジスタと、その演算結果
    を格納してパターンとして出力する出力レジスタと、指
    定された出力レジスタの内容及び上記パターンフアイル
    から読出された印加パターンの論理和をとる論理和回路
    とを具備するパターン発生装置。
JP53120037A 1978-09-28 1978-09-28 パタ−ン発生装置 Expired JPS6030977B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP53120037A JPS6030977B2 (ja) 1978-09-28 1978-09-28 パタ−ン発生装置

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JP53120037A JPS6030977B2 (ja) 1978-09-28 1978-09-28 パタ−ン発生装置

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JPS5547543A JPS5547543A (en) 1980-04-04
JPS6030977B2 true JPS6030977B2 (ja) 1985-07-19

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ID=14776336

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JP53120037A Expired JPS6030977B2 (ja) 1978-09-28 1978-09-28 パタ−ン発生装置

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US4433414A (en) * 1981-09-30 1984-02-21 Fairchild Camera And Instrument Corporation Digital tester local memory data storage system

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JPS5547543A (en) 1980-04-04

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