JPH03144853A - 製品検査用計算機におけるデータ内容の処理方式 - Google Patents
製品検査用計算機におけるデータ内容の処理方式Info
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- JPH03144853A JPH03144853A JP1284420A JP28442089A JPH03144853A JP H03144853 A JPH03144853 A JP H03144853A JP 1284420 A JP1284420 A JP 1284420A JP 28442089 A JP28442089 A JP 28442089A JP H03144853 A JPH03144853 A JP H03144853A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
Landscapes
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は量産品の製品検査にかける検査データの処理に
関し、特に高信頼度が要求される製品の製品検査用計算
機にかけるデータ内容の処理方式（従来の技術） 従来、製品検査用計算機では製品に高温、あるいは低温
などの温度環境や、振動、あるいは衝撃などの環境を印
加し、各環境変化の前後で製品の性能を検査し、それぞ
れの検査データが検査の都度、検査規格内にあれば当該
製品は良品と判定していた。
関し、特に高信頼度が要求される製品の製品検査用計算
機にかけるデータ内容の処理方式（従来の技術） 従来、製品検査用計算機では製品に高温、あるいは低温
などの温度環境や、振動、あるいは衝撃などの環境を印
加し、各環境変化の前後で製品の性能を検査し、それぞ
れの検査データが検査の都度、検査規格内にあれば当該
製品は良品と判定していた。
（発明が解決しようとする課題）
上述した従来の製品検査用計算機では、製品に潜在する
不具合、すなわち出荷後に発生するであろう性能の規格
外れを検知できないという欠点がある。よって、製品に
よっては劣化が進行しつつある部品が組込まれてしまう
ことがあう、このような場合には上述の各性能検査を合
格しても、出荷後に性能の規格外れが発生することがあ
るという欠点がある。
不具合、すなわち出荷後に発生するであろう性能の規格
外れを検知できないという欠点がある。よって、製品に
よっては劣化が進行しつつある部品が組込まれてしまう
ことがあう、このような場合には上述の各性能検査を合
格しても、出荷後に性能の規格外れが発生することがあ
るという欠点がある。
本発明の目的は、複数回の検査データを時系列上で関連
づけて解析することにより上記欠点を除去し、性能の規
格外れが発生することのないように構成した製品検査用
計算機にかけるデータ内容の処理方式を提供することに
ある。
づけて解析することにより上記欠点を除去し、性能の規
格外れが発生することのないように構成した製品検査用
計算機にかけるデータ内容の処理方式を提供することに
ある。
（課題を解決するための手段）
本発明による製品検査用計算機にかけるデータ内容の処
理方式は、検査規格記憶部と、複数の検査データ記憶部
と、データトレンド解析部と、キーボード／ＣＲＴと、
データ呼出し手段とを具備して構成したものである。
理方式は、検査規格記憶部と、複数の検査データ記憶部
と、データトレンド解析部と、キーボード／ＣＲＴと、
データ呼出し手段とを具備して構成したものである。
検査規格記憶部は、各製品の検査規格を記憶するための
ものである。
ものである。
複数の検査データ記憶部は、各製品の複数回の検査デー
タをそれぞれ一回づつ記憶するためのものである。
タをそれぞれ一回づつ記憶するためのものである。
データトレンド解析部は、複数回の検査データを比較判
定し、その変化の傾向から製品の良否を判定してＣＲＴ
上に表示させるためのものである。
定し、その変化の傾向から製品の良否を判定してＣＲＴ
上に表示させるためのものである。
キーボード／ＣＲＴは、データの入力、呼出し、および
表示を行うためのものである。
表示を行うためのものである。
データ呼出し手段は、キーボードで各製品のシリアル番
号を指定したときに検査規格を検査規格記憶部から呼出
すとともに、シリアル番号に対応して複数回の検査デー
タを呼出すためのものである。
号を指定したときに検査規格を検査規格記憶部から呼出
すとともに、シリアル番号に対応して複数回の検査デー
タを呼出すためのものである。
（実施Ｍ）
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は、本発明による製品検査用計算機にかけるデー
タ内容の処理方式の一実施例を示すブロック図である。
タ内容の処理方式の一実施例を示すブロック図である。
第１図にかいて、１はキーボード、２は入力データ処理
部、Ｓは表示制御回路、４はＣＲＴ、５は検査規格記憶
部、８〜３はそれぞれ第１、第２、および第Ｎの検査デ
ータ記憶部、９は検査データ書込み手段、１０はデータ
呼出し手段、１１はデータトレンド解析部である。
部、Ｓは表示制御回路、４はＣＲＴ、５は検査規格記憶
部、８〜３はそれぞれ第１、第２、および第Ｎの検査デ
ータ記憶部、９は検査データ書込み手段、１０はデータ
呼出し手段、１１はデータトレンド解析部である。
表示制御回路３はデータの読取やと表示駆動を行い、Ｃ
ＲＴは画面表示手段として設けられている。検査規格記
憶部Ｓは製品規格の範囲を記憶し、第１、第２、および
第Ｎの検査データ記憶部８〜＄はｌｓ１回目、第２回目
、および第Ｎ回目の検査データを記憶する。データトレ
ンド解析部１１は第１回目、第２回目、および第Ｎ回目
の検査データの変化の傾向から製品の良否を判定する。
ＲＴは画面表示手段として設けられている。検査規格記
憶部Ｓは製品規格の範囲を記憶し、第１、第２、および
第Ｎの検査データ記憶部８〜＄はｌｓ１回目、第２回目
、および第Ｎ回目の検査データを記憶する。データトレ
ンド解析部１１は第１回目、第２回目、および第Ｎ回目
の検査データの変化の傾向から製品の良否を判定する。
検査規格記憶部！部５には製品の検査規格が記憶され、
通常、複数の検査項目に対応して複数の検査規格が′ｊ
ｂυ、それぞれ上限値と下限値とが与えられている。検
査規格はキーボード１よジ入カデータ処理部！を介して
予め検査規格記憶部５に記憶され、環境印加前に製品検
査を実施する。以降、順次、各種環境を印加した後、そ
の都度、同じ検査を繰返して実施する。第１、第２、お
よび第Ｎの検査データ記憶部８〜８には、それぞれ環境
印加前、温度環境印加後、および振動環境後の検査デー
タが記憶されている。これらの検査データはフロッピー
ディスクによシ検査データ書込み手段９を介して前述の
各検査データ記憶部６〜８に、個々の製品のシリアル番
号に対応して記憶されているものとする。
通常、複数の検査項目に対応して複数の検査規格が′ｊ
ｂυ、それぞれ上限値と下限値とが与えられている。検
査規格はキーボード１よジ入カデータ処理部！を介して
予め検査規格記憶部５に記憶され、環境印加前に製品検
査を実施する。以降、順次、各種環境を印加した後、そ
の都度、同じ検査を繰返して実施する。第１、第２、お
よび第Ｎの検査データ記憶部８〜８には、それぞれ環境
印加前、温度環境印加後、および振動環境後の検査デー
タが記憶されている。これらの検査データはフロッピー
ディスクによシ検査データ書込み手段９を介して前述の
各検査データ記憶部６〜８に、個々の製品のシリアル番
号に対応して記憶されているものとする。
ここで、キーボード１によって製品のシリアル番号を入
力することによυ、動作が開始する。動作の開始ととも
にデータ呼出し手段１０を介して検査規格と、シリアル
番号に対応する一連の検査データとが検査規格記憶部５
、第１、第２、および第Ｎの検査データ記憶部６〜８か
ら呼出される。
力することによυ、動作が開始する。動作の開始ととも
にデータ呼出し手段１０を介して検査規格と、シリアル
番号に対応する一連の検査データとが検査規格記憶部５
、第１、第２、および第Ｎの検査データ記憶部６〜８か
ら呼出される。
次に、これらのデータに表示制御回路３金介してＣＲＴ
Ｊ上に表示される。さらに、データ呼出し手段１０は検
査項目と、一連の検査データとをデータトレンド解析部
１１に送出し、解析を開始するように命令を送出する。
Ｊ上に表示される。さらに、データ呼出し手段１０は検
査項目と、一連の検査データとをデータトレンド解析部
１１に送出し、解析を開始するように命令を送出する。
次に、その結果を受取！り、ＣＲＴ４にすでに表示され
ている画面上に重ねて表示する。
ている画面上に重ねて表示する。
第２図は、第１図の処理方式にかけるＣＲＴ上の画面表
示列を示す説明図である。第２図にかいて、（ａ）は解
析結果が正常な場合を示し、（ｂ）は解析結果が異常な
場合を示す。
示列を示す説明図である。第２図にかいて、（ａ）は解
析結果が正常な場合を示し、（ｂ）は解析結果が異常な
場合を示す。
製品に組込筐れでいる部品の劣化が進行しつつある場合
には、各種環境を印加することにより進行を加速するこ
とができる。したがって、（ａ）に示すように検査デー
タの変化が少ない場合には、部品の劣化がないとみるこ
とができる。一方、（ｂ）に示すように各検査データが
規格内であっても変化が大きい場合には劣化が進行しつ
つあり、いずれは規格を外れるとみることができる。
には、各種環境を印加することにより進行を加速するこ
とができる。したがって、（ａ）に示すように検査デー
タの変化が少ない場合には、部品の劣化がないとみるこ
とができる。一方、（ｂ）に示すように各検査データが
規格内であっても変化が大きい場合には劣化が進行しつ
つあり、いずれは規格を外れるとみることができる。
以上の解析を行うのがデータトレンド解析部１１である
。
。
なか、本発明の実施に際しては、当該製品群のデータの
積みｔｈが必要であり、それをもとに解析のアルゴリズ
ムを構築することが肝要である。
積みｔｈが必要であり、それをもとに解析のアルゴリズ
ムを構築することが肝要である。
（発明の効ｊＪ、）
以上説明したように本発明は、複数回の検査データを時
系列上で関連づけて解析することＫより、将来、発生す
るでちろう不具合の内在する製品を未然に除去できるの
で、製品の信ａ度を著しく向上できるという効果がある
。
系列上で関連づけて解析することＫより、将来、発生す
るでちろう不具合の内在する製品を未然に除去できるの
で、製品の信ａ度を著しく向上できるという効果がある
。
第１図は、本発明による製品検査弔計算機Ｋかけるデー
タ内容の処理方式の一実施例を示すブロック図である。 第２図は、第１図の処理方式にかけるＣＲＴ上の画面表
示列を示す説明図である。 １・・・キーボード ２・・・入力データ処理部 墨・・・表示制御回路 ４・・・ＣＲＴ Ｓ・・・検査規格記憶部 ６〜ＩＩ・・Φ検査データ記憶部 ８・・・検査データ書込み手段 １０・・・データ呼出し手段 １１・・・データトレンド解析部
タ内容の処理方式の一実施例を示すブロック図である。 第２図は、第１図の処理方式にかけるＣＲＴ上の画面表
示列を示す説明図である。 １・・・キーボード ２・・・入力データ処理部 墨・・・表示制御回路 ４・・・ＣＲＴ Ｓ・・・検査規格記憶部 ６〜ＩＩ・・Φ検査データ記憶部 ８・・・検査データ書込み手段 １０・・・データ呼出し手段 １１・・・データトレンド解析部
Claims (1)
- 各製品の検査規格を記憶するための検査規格記憶部と、
前記各製品の複数回の検査データをそれぞれ一回づつ記
憶するための複数の検査データ記憶部と、前記複数回の
検査データを比較判定し、その変化の傾向から製品の良
否を判定して前記ＣＲＴ上に表示させるためのデータト
レンド解析部と、データの入力、呼出し、および表示を
行うためのキーボード／ＣＲＴと、前記キーボードで前
記各製品のシリアル番号を指定したときに前記検査規格
を前記検査規格記憶部から呼出すとともに、前記シリア
ル番号に対応して前記複数回の検査データを呼出すため
のデータ呼出し手段とを具備して構成したことを特徴と
する製品検査用計算機におけるデータ内容の処理方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1284420A JPH03144853A (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 製品検査用計算機におけるデータ内容の処理方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1284420A JPH03144853A (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 製品検査用計算機におけるデータ内容の処理方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03144853A true JPH03144853A (ja) | 1991-06-20 |
Family
ID=17678326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1284420A Pending JPH03144853A (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 製品検査用計算機におけるデータ内容の処理方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03144853A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005276180A (ja) * | 2004-02-26 | 2005-10-06 | Toray Ind Inc | 品質管理システム |
-
1989
- 1989-10-31 JP JP1284420A patent/JPH03144853A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005276180A (ja) * | 2004-02-26 | 2005-10-06 | Toray Ind Inc | 品質管理システム |
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