JPH0258857A - 切断整形金型 - Google Patents

切断整形金型

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JPH0258857A
JPH0258857A JP21111288A JP21111288A JPH0258857A JP H0258857 A JPH0258857 A JP H0258857A JP 21111288 A JP21111288 A JP 21111288A JP 21111288 A JP21111288 A JP 21111288A JP H0258857 A JPH0258857 A JP H0258857A
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Japan
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lead
bending
cut
shaping
leads
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JP21111288A
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Tetsuo Karube
哲夫 軽部
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Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
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Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 樹脂封止型半導体装置の切断整形金型のリードカット曲
げパンチ及びリード曲げダイの構造の改良に関し、 簡単且つ容易に製作でき、半導体装置のリードの切断整
形加工を高精度で行うことが可能な切断整形金型の提供
を目的とし、 半導体チップを半導体チップ搭載部に固着し、該半導体
チップ搭載部の周囲に配設したり一トの配線接続部と前
記半導体チップの電極とを配線接続し、前記半導体チッ
プ及びリードの配線接続部を樹脂封止した複数の樹脂封
止型半導体装置が連結されたリードフレームの、封止樹
脂の外部に突出したリードを所定の形状に切断して整形
する金型であって、前記リードを曲げて整形するり−ト
カット曲げパンチ及びリード曲げダイは、前記リードと
の曲げ部直近で接触し、前記リードの先端部とは接触し
ないような形状とするよう構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、樹脂封止型半導体装置の切断整形金型に係り
、特にリードカット曲げパンチ及びリード曲げダイの構
造の改良に関するものである。
樹脂封止型半導体装置のユーザー側において、近年、半
導体パンケージの実装の自動化が促進され、この自動化
に対処するために半導体装置のリード寸法に高い精度が
要求されるようになっている。
以上のような状況からこのようなユーザーの要求に応え
ることが可能な、樹脂封止型半導体装置の切断整形金型
の改良が要望されている。
〔従来の技術〕
従来の切断整形金型をクワッドプル・フラット・パンケ
ージ型半導体装置の場合について第2図〜第3図により
説明する。
クワッドプル・フラット・パッケージ型(以下、QFP
型と略称する。)半導体装置13のリード13bは第3
図に示すように、パッケージ13aから四方に突出し、
二回の曲げによりリード13bの先端部がパッケージ1
3aと平行になるように切断整形金型よって切断整形さ
れる。
第2図(alは切断整形金型のリード13bの折曲げ部
の部分拡大図である。
図において、半導体装置13のパッケージ13aの側方
に突出しているリード13bは、リード曲げダイ12の
第1曲げ部12bで下方に曲げられると同時にリード曲
げダイ12の第2曲げ部12cで水平方向に曲げられ、
第2曲げ部12cの位置から先端までの全面でクランプ
されている。
このような曲げ加工を行う場合の第2図(a)において
点線にて囲んだ部分の詳細を第2図(bl及び(C)に
示す。
第2図(blはリード13bの板厚寸法にバラツキがあ
る場合を示しており、板厚が薄い部分には浮きが発生ず
る。
第2図(C)はリード13bのメツキかすがリード13
bの下にたまった場合を示しており、メツキかすか付着
したり−ド13bの位置では浮きが生じている。
〔発明が解決しようとする課題〕
以上説明の従来の切断整形金型においては、リードの板
厚寸法にバラツキがある場合には板厚の薄いリードがリ
ード浮きとなり、リードのメツキかすかリードの下にた
まった場合にはメツキかすの上にリードが乗り上げてリ
ート浮きとなってしまう。
このため、リード浮きが生じて整形したリードの先端部
の加工精度が悪い場合は、半導体装置のユーザーにおい
てこのような半導体装置をプリン11J板に形成したパ
ターン上に搭載すると、半導体装置のリードが均一に確
実に安定してパターンに接触しなくなり、半導体装置の
実装が確実に行われないという問題点があった。
本発明は以上のような状況から簡単且つ容易に製作でき
、半導体装置のリードの切断整形加工を高精度で行うこ
とが可能な切断整形金型の提供を目的としたものである
〔課題を解決するための手段〕
上記問題点は、半導体チップを半導体チップ搭載部に固
着し、該半導体チップ搭載部の周囲に配設したリードの
配線接続部と前記半導体チップの電極とを配線接続し、
前記半導体チップ及びリードの配線接続部を樹脂封止し
た複数の樹脂封止型半導体装置が連結されたリードフレ
ームの、封止樹脂の外部に突出したリードを所定の形状
に切断して整形する金型であって、このリードを曲げて
整形するリードカット曲げパンチ及びリード曲げダイは
、このリードとの曲げ部直近で接触し、リードの先端部
とは接触しないような形状とした本発明による切断整形
金型によって解決される。
〔作用〕
即ち本発明においては、樹脂封止型半導体装置のリード
フレームのリードの切断整形金型のリードカット曲げパ
ンチ及びリード曲げダイのリードと接触する面にそれぞ
れ逃げを設けているから、リードの曲げに際してリード
の先端がフリーとなリ、浮きが生じるのを減少させるこ
とが可能となるので、樹脂封止型半導体装置をプリント
基板のパターン上に搭載した場合に、リードとパターン
との接触が確実になり、安定した実装を行うことが可能
となる。
〔実施例〕
以下本発明の切断整形金型の一実施例をQFP型半導体
装置の場合について第1図により説明する。
第1図に示すように、本実施例の基本となる構成は従来
のものと同一であり、リード曲げダイ2の第1曲げ部2
bは全(同一形状であるが、リードカット曲げパンチ1
及びリード曲げダイ2の半導体装置3のリード3bの先
端部に接触する部分に逃げ1d及び逃げ2aを設けてあ
り、第2曲げ部2cの直近の部分のみでリード3bを曲
げ加工し、リード3bの先端部はフリーな状態に保たれ
ている。
このような金型によって半導体装置3のリード3bの曲
げ加工を行うと、各々のリード毎に異なった条件で曲げ
加工され、浮きが生じていた。ものと比較すると、リー
ド浮きが最大0.14+uであったものが、本実施例に
おいては0.10m−mに改善された。
また、リードカット曲げパンチl及びリート曲げダイ2
のラッピングによるメツキかす取り工数も月光たり60
時間を要していたのが、20時間になり保全工数の削減
にも効果があった。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように本発明によれば極めて簡
単な構造の変更により、切断整形されたリードの浮きを
減少させることができ、半導体装置をプリント基板に搭
載した場合に、半導体装置のリードとプリント基板のパ
ターンとを安定して均一に接触させることが可能となる
等の利点があり、著しい経済的及び、信頼性向上の効果
が期待でき工業的には極めて有用なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による一実施例を示す図、第2図は従来
の切断整形金型を示す図、第3図はQFP型半導体装置
の形状を示す図、である。 図において、 IU−ドカノト曲げパンチ、 1aは逃げ、 2はリード曲げダイ、 2aは逃げ、 2bは第1曲げ部、 2cは第2曲げ部、 3は半導体装置、 3aはパッケージ、 3bはリード、 を示す。 本発明による一実施例を示す図 2虫づ′ 〜と2′ (a) リード折り曲げ部の部分拡大図 従来の切断整形金型を示す図 第 図 (その1) (ト)) リードの板厚が異なる場合 (C) リードにメツキかすが付着した場合 従来の切+l!f!り形金型を示す図 第 2 図(その2)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  半導体チップを半導体チップ搭載部に固着し、該半導
    体チップ搭載部の周囲に配設したリードの配線接続部と
    前記半導体チップの電極とを配線接続し、前記半導体チ
    ップ及びリードの配線接続部を樹脂封止した複数の樹脂
    封止型半導体装置が連結されたリードフレームの、封止
    樹脂の外部に突出したリードを所定の形状に切断して整
    形する金型であって、 前記リード(3b)を曲げて整形するリードカット曲げ
    パンチ(1)及びリード曲げダイ(2)は、前記リード
    (3b)との曲げ部直近で接触し、前記リード(3b)
    の先端部とは接触しないような形状としたことを特徴と
    する切断整形金型。
JP63211112A 1988-08-25 1988-08-25 切断整形金型 Expired - Lifetime JP2506417B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999014082A1 (en) 1996-09-18 1999-03-25 Minnesota Mining And Manufacturing Company Adhesively-bonded inflatable restraint and method of making

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56165348A (en) * 1980-05-26 1981-12-18 Hitachi Ltd Manufacturing apparatus for semiconductor device
JPS635761A (ja) * 1985-09-07 1988-01-11 ヴオルフガング・ヴア−グナ− センサ−カニユ−レ付注射装置
JPH01110444U (ja) * 1988-01-19 1989-07-26

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