JPH025083U - - Google Patents

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JPH025083U
JPH025083U JP8201588U JP8201588U JPH025083U JP H025083 U JPH025083 U JP H025083U JP 8201588 U JP8201588 U JP 8201588U JP 8201588 U JP8201588 U JP 8201588U JP H025083 U JPH025083 U JP H025083U
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circuit board
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JP8201588U
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例を示す構成ブロツ
ク図、第２図は試験の第１段階の計測方法図、第
３図は第２段階の計測方法図、第４図は試験処理
の流れ図、第５図は実装プリント基板の回路例を
示す図である。 図において、１は計算機部、２は定電流電源部
、３は電圧計測部、４は表示部、５は３点プロー
ブ部、６は切換スキヤナ部である。なお、各図中
同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 実装プリント回路基板上の不良個所を診断する
    試験装置において、同一距離間隔のプローブポイ
    ントを持つた３点プローブを上記実装プリント回
    路基板のパターン上に接触できる手段を具備し、
    そのプローブから実装プリント回路基板上のパタ
    ーンに一定電流を供給する定電流電源部と、プロ
    ーブ間の電位差を計測する電圧計測部と、上記定
    電流電源部及び電圧計測部と３点プローブの接続
    を切換える切換スキヤナ部と、電圧計測部からの
    情報を処理する計算機部と、その計算機部で処理
    するために必要なプログラムと、処理された結果
    を表示する表示部で構成したことを特徴とする試
    験装置。
JP8201588U 1988-06-21 1988-06-21 Pending JPH025083U (ja)

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JP8201588U JPH025083U (ja) 1988-06-21 1988-06-21

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JPH025083U true JPH025083U (ja) 1990-01-12

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ID=31306784

Family Applications (1)

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JP8201588U Pending JPH025083U (ja) 1988-06-21 1988-06-21

Country Status (1)

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JP (1) JPH025083U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS612311A (ja) * 1984-06-15 1986-01-08 Hitachi Seiko Ltd 溶接用高周波変圧器
JPH0356116U (ja) * 1990-09-25 1991-05-30

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS612311A (ja) * 1984-06-15 1986-01-08 Hitachi Seiko Ltd 溶接用高周波変圧器
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