JPH0247258A - 薄膜形成用蒸発源 - Google Patents
薄膜形成用蒸発源Info
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/243—Crucibles for source material
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- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は薄膜形成用蒸発源に係り、特にシリコン薄膜形
成に好適な薄膜形成用蒸発源に関する。
成に好適な薄膜形成用蒸発源に関する。
従来の薄膜形成用蒸発源たるるつぼは炭素又は高融点金
属(タンタル、タングステン等)からなる−重構造で、
これらの物質と反応する物質、例えばシリコンなどをる
つぼ内に充填し加熱すると。
属(タンタル、タングステン等)からなる−重構造で、
これらの物質と反応する物質、例えばシリコンなどをる
つぼ内に充填し加熱すると。
るつぼとシリコンが反応し、るつぼの耐熱性の低下、る
つぼ温度の不均一性という問題があった。
つぼ温度の不均一性という問題があった。
これらの問題に対しては、特開昭59−202624号
公報に記載のように中間層を設け、るつぼ温度を均一化
する方法がある。
公報に記載のように中間層を設け、るつぼ温度を均一化
する方法がある。
上記従来技術においては、るつぼの内層と外層の間に間
隙があるため、電子衝撃等により外層を加熱しても内層
の温度が上昇しない問題があった。
隙があるため、電子衝撃等により外層を加熱しても内層
の温度が上昇しない問題があった。
また中間層を炭素粒子のメタノール懸濁液で満たし乾燥
させる方法においても、中間層に空隙があり、温度が上
昇しないと共に、超高真空中で、このるつぼを加熱する
と炭素蒸気が発生し、形成膜中に混入し、膜質を低下さ
せる問題があった。
させる方法においても、中間層に空隙があり、温度が上
昇しないと共に、超高真空中で、このるつぼを加熱する
と炭素蒸気が発生し、形成膜中に混入し、膜質を低下さ
せる問題があった。
本発明の目的は、加熱効率が良く、不純物が外部雰囲気
中へ混入しない薄膜形成用蒸発源を提供することにある
。
中へ混入しない薄膜形成用蒸発源を提供することにある
。
上記目的は、蒸発源の内層の高融点物質(タンタル、タ
ングステン、モリブデン、レニウム等)を炭素又はBN
等の熱伝導度の大きい物質でコーティングし、さらに外
側を高融点物質でコーティングすることにより達成され
る。すなわち、所定の蒸発物質を収納する薄膜形成用蒸
発源において、該蒸発源は内層中間層および外層の三層
構造をなし、その中間層は、該蒸発物質に接する内層よ
りも熱伝導度の大きな物質から構成されていることを特
徴とし、さらに、上記内層と上記外層とが同じ物質から
なること特徴とし、また、上記内層はタンタル、ニオブ
、モリブデン、タングステン。
ングステン、モリブデン、レニウム等)を炭素又はBN
等の熱伝導度の大きい物質でコーティングし、さらに外
側を高融点物質でコーティングすることにより達成され
る。すなわち、所定の蒸発物質を収納する薄膜形成用蒸
発源において、該蒸発源は内層中間層および外層の三層
構造をなし、その中間層は、該蒸発物質に接する内層よ
りも熱伝導度の大きな物質から構成されていることを特
徴とし、さらに、上記内層と上記外層とが同じ物質から
なること特徴とし、また、上記内層はタンタル、ニオブ
、モリブデン、タングステン。
レニウム、およびこれら合金のいずれか1種よりなり、
上記中間層は、炭素、窒化ボロン、炭化タンタル、炭化
ニオブ、炭化モリブデン、炭化タングステン、および炭
化レニウムのいずれか1種よりなる。
上記中間層は、炭素、窒化ボロン、炭化タンタル、炭化
ニオブ、炭化モリブデン、炭化タングステン、および炭
化レニウムのいずれか1種よりなる。
炭素はダイヤモンド構造で熱伝導率が6.60W/Cm
−deg、グラファイト構造で2.50(上C)W/c
m−degと高融点金属のタンタル(0,57W/cm
−deg)、タングステン(1、70W / cm−d
eg)に比べ大きく、炭素やBN等のコーティングによ
ってるつぼ内層の温度分布は均一になる。また炭素やB
Nコーティング層の外側に高融点金属をコーティングす
ることにより、炭素又はBN等は直接、雰囲気にさらさ
れない為、雰囲気中へ不純物が混入することがない。
−deg、グラファイト構造で2.50(上C)W/c
m−degと高融点金属のタンタル(0,57W/cm
−deg)、タングステン(1、70W / cm−d
eg)に比べ大きく、炭素やBN等のコーティングによ
ってるつぼ内層の温度分布は均一になる。また炭素やB
Nコーティング層の外側に高融点金属をコーティングす
ることにより、炭素又はBN等は直接、雰囲気にさらさ
れない為、雰囲気中へ不純物が混入することがない。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。るつ
ぼ内層11とキャップ12はタンタルで、内厚2mm、
内層11の内径7.6φ 、長さ15mmである。内層
11とキャップ12はネジ締め構造の為、るつぼの気密
性は高く、蒸発源のシリコン41はネジ部分から外部へ
漏れ出ることはなく、1φの小孔51から噴出する。内
層11の外側は厚さ1mmの炭素コーティング層21で
ある。これは、内層11の外側をダイヤモンド粒子大の
懸濁液中で超音波研磨した後、メタン10%、水素90
%の混合ガスをマイクロ波プラズマで、分解しタンタル
製るつぼ内層11の外側へダイヤモンドを成長させ形成
させた。メタンと水素の混合比によって、グラファイト
が成長するが、グラファイトコーティングしたるつぼで
も、ダイヤモンドコーティングのるつぼに比べて、性能
に差はなかった。タンタルコーティング層31はタンタ
ルをスパッタ法により10μm堆積させ形成した。この
るつぼに高純度シリコンを20g充填し、ガラス及びシ
リコンウェハ基板へシリコン薄膜を堆積させた。るつぼ
の加熱法は電子衝撃型で、投入電力は2.0kWである
。るつぼ外層31の表面温度は光高温計で測定した結果
、2100℃±20℃であった。堆積速度は、最初の3
枚の試料を除き200人/win以上であった。最初、
堆積速度が低かったのは、シリコンがるつぼ内層11の
タンタルと反応しタンタルシリサイドを形成した為に、
るつぼの内圧が上昇しなかった為である。膜厚5000
人の試料を350枚、作製したところで膜が堆積しなく
なり、るつぼを切断したところ、るつぼ内のシリコンが
なくなっていた。その時のるつぼは外観に異常はなく、
再使用可能である。
ぼ内層11とキャップ12はタンタルで、内厚2mm、
内層11の内径7.6φ 、長さ15mmである。内層
11とキャップ12はネジ締め構造の為、るつぼの気密
性は高く、蒸発源のシリコン41はネジ部分から外部へ
漏れ出ることはなく、1φの小孔51から噴出する。内
層11の外側は厚さ1mmの炭素コーティング層21で
ある。これは、内層11の外側をダイヤモンド粒子大の
懸濁液中で超音波研磨した後、メタン10%、水素90
%の混合ガスをマイクロ波プラズマで、分解しタンタル
製るつぼ内層11の外側へダイヤモンドを成長させ形成
させた。メタンと水素の混合比によって、グラファイト
が成長するが、グラファイトコーティングしたるつぼで
も、ダイヤモンドコーティングのるつぼに比べて、性能
に差はなかった。タンタルコーティング層31はタンタ
ルをスパッタ法により10μm堆積させ形成した。この
るつぼに高純度シリコンを20g充填し、ガラス及びシ
リコンウェハ基板へシリコン薄膜を堆積させた。るつぼ
の加熱法は電子衝撃型で、投入電力は2.0kWである
。るつぼ外層31の表面温度は光高温計で測定した結果
、2100℃±20℃であった。堆積速度は、最初の3
枚の試料を除き200人/win以上であった。最初、
堆積速度が低かったのは、シリコンがるつぼ内層11の
タンタルと反応しタンタルシリサイドを形成した為に、
るつぼの内圧が上昇しなかった為である。膜厚5000
人の試料を350枚、作製したところで膜が堆積しなく
なり、るつぼを切断したところ、るつぼ内のシリコンが
なくなっていた。その時のるつぼは外観に異常はなく、
再使用可能である。
切断したるつぼを発光分析した結果内層11のタンタル
はタンタルシリサイドになり、内層11と炭素コーティ
ング層21の界面はタンタルカーバイドになっていた。
はタンタルシリサイドになり、内層11と炭素コーティ
ング層21の界面はタンタルカーバイドになっていた。
本実施例では蒸発物質がシリコンの為、内層11はシリ
コンと反応し、タンタルシリサイドとなるが、タンタル
シリサイドとタンタルカーバイドは高温においても反応
しない為に、るつぼは安定で、蒸着物がシリコンの場合
でも再使用可能となる。
コンと反応し、タンタルシリサイドとなるが、タンタル
シリサイドとタンタルカーバイドは高温においても反応
しない為に、るつぼは安定で、蒸着物がシリコンの場合
でも再使用可能となる。
本発明によれば高融点金属るつぼの外側に熱伝導度の高
い炭素やBN等をコーティングすることで、るつぼ温度
の分布が均一化され、さらに炭素やBN等のコーティン
グ層の外側に高融点金属を堆積させるため、炭素等がる
つぼ外部の雰囲気へ出ることがなく、形成膜への不純物
混入がない。
い炭素やBN等をコーティングすることで、るつぼ温度
の分布が均一化され、さらに炭素やBN等のコーティン
グ層の外側に高融点金属を堆積させるため、炭素等がる
つぼ外部の雰囲気へ出ることがなく、形成膜への不純物
混入がない。
第1図は本発明の一実施例のるつぼの断面図である。
11・・・るつぼ内層、12・・・キャップ、21・・
・炭素コーティング層、31・・・タンタルコーティン
グ層、ノド・・る−71よ゛内層 41−・シソコン 、51・・“小JL
・炭素コーティング層、31・・・タンタルコーティン
グ層、ノド・・る−71よ゛内層 41−・シソコン 、51・・“小JL
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、所定の蒸発物質を収納する薄膜形成用蒸発源におい
て、該蒸発源は内層中間層および外層の三層構造をなし
、その中間層は、該蒸発物質に接する内層よりも熱伝導
度の大きな物質から構成されていることを特徴とする薄
膜形成用蒸発源。 2、請求項1において、上記内層と上記外層とが同じ物
質からなること特徴とする薄膜形成用蒸発源。 3、請求項1において、上記内層は、タンタル、ニオブ
、モリブデン、タングステン、レニウム、およびこれら
合金のいずれか1種よりなることを特徴とする薄膜形成
用蒸発源。 4、請求項1において、上記中間層は、炭素、窒化ボロ
ン、炭化タンタル、炭化ニオブ、炭化モリブデン、炭化
タングステン、および炭化レニウムのいずれか1種より
なることを特徴とする薄膜形成用蒸発源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19442788A JPH0247258A (ja) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | 薄膜形成用蒸発源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19442788A JPH0247258A (ja) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | 薄膜形成用蒸発源 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0247258A true JPH0247258A (ja) | 1990-02-16 |
Family
ID=16324421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19442788A Pending JPH0247258A (ja) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | 薄膜形成用蒸発源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0247258A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4334818A1 (de) * | 1993-03-10 | 1994-09-15 | Sintec Keramik Gmbh | Verfahren zur Herstellung von hochreinen, spannungsfreien interfraktionären Metallbeschichtungen oder Formkörper |
EP0855455A1 (de) * | 1997-01-24 | 1998-07-29 | W.C. Heraeus GmbH | Tiegel zur Einkristall-Züchtung, verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung |
WO2000046418A1 (de) * | 1999-02-05 | 2000-08-10 | Applied Films Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zum beschichten von substraten mit einem materialdampf im unterdruck oder vakuum mit einer materialdampfquelle |
JP2009299901A (ja) * | 2009-09-04 | 2009-12-24 | Kwansei Gakuin | ネジ |
CN103510052A (zh) * | 2005-01-21 | 2014-01-15 | 三星显示有限公司 | 一种支撑加热坩埚的装置以及包括它的沉积设备 |
WO2014076964A1 (ja) * | 2012-11-16 | 2014-05-22 | 東洋炭素株式会社 | 収容容器、収容容器の製造方法、半導体の製造方法、及び半導体製造装置 |
-
1988
- 1988-08-05 JP JP19442788A patent/JPH0247258A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4334818A1 (de) * | 1993-03-10 | 1994-09-15 | Sintec Keramik Gmbh | Verfahren zur Herstellung von hochreinen, spannungsfreien interfraktionären Metallbeschichtungen oder Formkörper |
EP0855455A1 (de) * | 1997-01-24 | 1998-07-29 | W.C. Heraeus GmbH | Tiegel zur Einkristall-Züchtung, verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung |
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WO2014076964A1 (ja) * | 2012-11-16 | 2014-05-22 | 東洋炭素株式会社 | 収容容器、収容容器の製造方法、半導体の製造方法、及び半導体製造装置 |
US9704733B2 (en) | 2012-11-16 | 2017-07-11 | Toyo Tanso Co., Ltd. | Storing container, storing container manufacturing method, semiconductor manufacturing method, and semiconductor manufacturing apparatus |
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