JPH0240131A - 磁気ディスクの製造方法 - Google Patents
磁気ディスクの製造方法Info
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- JPH0240131A JPH0240131A JP18990688A JP18990688A JPH0240131A JP H0240131 A JPH0240131 A JP H0240131A JP 18990688 A JP18990688 A JP 18990688A JP 18990688 A JP18990688 A JP 18990688A JP H0240131 A JPH0240131 A JP H0240131A
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Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、磁気ディスク装置に搭載される磁気ディス
クの製造方法に関するものである。
クの製造方法に関するものである。
[従来の技術]
図面は例えば、文献(rMagnejic Recor
dingVolumeI :TechnologyJC
,11enis、 蒸着e、Er1c、 D、Dani
el、 McGrow−Hill book Co、
r’、+94〜P、198 )に記載された従来の薄膜
磁気ディスクを示す断面図である。図において、(1)
は通常AIを主成分とする基材に下地硬化層を付けた基
板、(2)は金属磁性材料或は酸化鉄より成る磁気記録
媒体層、(3)はS i O2等の酸化物やスパッタお
よびCVDカーボン、またはRh等の金属から成る保護
層、(4)は潤滑層である。
dingVolumeI :TechnologyJC
,11enis、 蒸着e、Er1c、 D、Dani
el、 McGrow−Hill book Co、
r’、+94〜P、198 )に記載された従来の薄膜
磁気ディスクを示す断面図である。図において、(1)
は通常AIを主成分とする基材に下地硬化層を付けた基
板、(2)は金属磁性材料或は酸化鉄より成る磁気記録
媒体層、(3)はS i O2等の酸化物やスパッタお
よびCVDカーボン、またはRh等の金属から成る保護
層、(4)は潤滑層である。
最近の磁気ディスク装置では、ディスク回転・停止時に
は磁気ヘッドスライダは磁気ディスクに接触しており、
回転を始めると、磁気ディスク表面と摺動しながら浮上
するいわゆるC3S (コンタクト・スター]・・スト
ップ)方式がとられている。
は磁気ヘッドスライダは磁気ディスクに接触しており、
回転を始めると、磁気ディスク表面と摺動しながら浮上
するいわゆるC3S (コンタクト・スター]・・スト
ップ)方式がとられている。
C8S方式では磁気へラドスライダと磁気ディスクの摺
動時に磁気ディスクおよび磁気へッドスラ、イダに摩耗
が起こることがある。磁気ディスク装置では磁気へラド
スライダと磁気ディスクは相対速度が大きいため、激し
い摩耗を起こしやすい。このようなことが起こると、磁
気ディスクに記録されたデータは失われてしまう。これ
をいわゆるヘッドクラッシュと呼んでいる。従来例の保
護層(3)もこのようなヘッドクラッシュを貼りニする
ために設けられている。そのためには、保護層(3)と
しては、磁気ディスクの摩耗を少なくするような硬度の
高いものが考えられるが、逆に硬度が高すぎると磁気へ
ラドスライダの摩耗を引き起こす。例えば一般的なスラ
イダ材料としてフェライトが挙げられるが、フェライト
はビッカース硬度Iイ■650であり、スパッタS i
O2の800やスパッタおよびCVDカーボンの100
0以上と比較して硬度が低く、上記のようなことが起こ
りやすい。
動時に磁気ディスクおよび磁気へッドスラ、イダに摩耗
が起こることがある。磁気ディスク装置では磁気へラド
スライダと磁気ディスクは相対速度が大きいため、激し
い摩耗を起こしやすい。このようなことが起こると、磁
気ディスクに記録されたデータは失われてしまう。これ
をいわゆるヘッドクラッシュと呼んでいる。従来例の保
護層(3)もこのようなヘッドクラッシュを貼りニする
ために設けられている。そのためには、保護層(3)と
しては、磁気ディスクの摩耗を少なくするような硬度の
高いものが考えられるが、逆に硬度が高すぎると磁気へ
ラドスライダの摩耗を引き起こす。例えば一般的なスラ
イダ材料としてフェライトが挙げられるが、フェライト
はビッカース硬度Iイ■650であり、スパッタS i
O2の800やスパッタおよびCVDカーボンの100
0以上と比較して硬度が低く、上記のようなことが起こ
りやすい。
そこで、保護層材料としては、硬度が低くかつ割れや剥
離の少ないものが求められる。このような材料として、
酸化セリウムを添加した酸化ジルコニウムが挙げられる
。酸化セリウムを添加した酸化ジルコニウムは、硬度は
ビッカース硬度Hv700と低いが、破壊靭性は極めて
高い。この特性については文献(ジャーナル オブ マ
デリアル サイエンス、V Ol 20 、 l 9
8.5 、 p l 178〜+184)に述べられて
いる。
離の少ないものが求められる。このような材料として、
酸化セリウムを添加した酸化ジルコニウムが挙げられる
。酸化セリウムを添加した酸化ジルコニウムは、硬度は
ビッカース硬度Hv700と低いが、破壊靭性は極めて
高い。この特性については文献(ジャーナル オブ マ
デリアル サイエンス、V Ol 20 、 l 9
8.5 、 p l 178〜+184)に述べられて
いる。
[発明が解決しようとする課題J
しかしながら、保護層としてこの酸化セリウムを添加し
た酸化ジルコニウムをスパッタリングで磁気ディスク上
に成膜すると、酸化セリウムが還元され、化学量論的な
組成からはずれやすいという問題点があった。このよう
な酸素の欠乏した保護層では、機械的靭性が劣化し、剥
離や摩耗を起こしやすい。
た酸化ジルコニウムをスパッタリングで磁気ディスク上
に成膜すると、酸化セリウムが還元され、化学量論的な
組成からはずれやすいという問題点があった。このよう
な酸素の欠乏した保護層では、機械的靭性が劣化し、剥
離や摩耗を起こしやすい。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、C8Sにおいて剥離や摩耗の起こらないよう
な保護層を有する磁気ディスクを提供しようとするもの
である。
たもので、C8Sにおいて剥離や摩耗の起こらないよう
な保護層を有する磁気ディスクを提供しようとするもの
である。
[課題を解決するための手段]
この発明に係る磁気ディスクの製造方法は、保護層を酸
化セリウムおよび酸化ジルコニウムをターゲット(また
は蒸着源)とし酸素を含む雰囲気中でスパッタリング(
または蒸着)により形成するものである。
化セリウムおよび酸化ジルコニウムをターゲット(また
は蒸着源)とし酸素を含む雰囲気中でスパッタリング(
または蒸着)により形成するものである。
[作用]
この発明における磁気ディスクの製造方法では5保護層
として、酸素欠損のほとんど無い酸化セリウムを含み酸
化ジルコニウムを主成分とする膜が得られる。この膜は
、機械的強度が高いため傷つきや剥離が起こりに(く、
これを保護層とする磁気ディスクと、磁気へラドスライ
ダとを組み合わせたC8Sでも傷つきや剥離のない磁気
ディスクが得られる。
として、酸素欠損のほとんど無い酸化セリウムを含み酸
化ジルコニウムを主成分とする膜が得られる。この膜は
、機械的強度が高いため傷つきや剥離が起こりに(く、
これを保護層とする磁気ディスクと、磁気へラドスライ
ダとを組み合わせたC8Sでも傷つきや剥離のない磁気
ディスクが得られる。
[実施例]
以下、この発明の一実施例について比較例とともに説明
する。図面に示した従来例と同じ構成の8インチの磁気
ディスクを作成した。基板(11はAl−Mg合金にN
i −Cu −Pメツキ膜から成る下地硬化層を11
07L設けたものである。磁気記録媒体層(2)は膜厚
1500人のスパッタγ−Feg Osから成る。この
媒体上に第1表に示すような条件で酸化セリウムを含む
酸化ジルコニウムのターゲットを用いて保護層(3)を
rfスパッタにより成膜した。酸化セリウムの組成は1
2m01%である。スパッタリングに用いたガスはAr
・に20%の02を含む。この磁気ディスクなXとする
。
する。図面に示した従来例と同じ構成の8インチの磁気
ディスクを作成した。基板(11はAl−Mg合金にN
i −Cu −Pメツキ膜から成る下地硬化層を11
07L設けたものである。磁気記録媒体層(2)は膜厚
1500人のスパッタγ−Feg Osから成る。この
媒体上に第1表に示すような条件で酸化セリウムを含む
酸化ジルコニウムのターゲットを用いて保護層(3)を
rfスパッタにより成膜した。酸化セリウムの組成は1
2m01%である。スパッタリングに用いたガスはAr
・に20%の02を含む。この磁気ディスクなXとする
。
他方、比較のため02を含まないへrガスを用いてスパ
ッタリングした磁気ディスクYと、ターゲットをS i
OtとしてArガス中でスパッタリングした磁気ディ
スクZを作成した。
ッタリングした磁気ディスクYと、ターゲットをS i
OtとしてArガス中でスパッタリングした磁気ディ
スクZを作成した。
これらの磁気ディスクの耐摩耗性を以下の2つの方法で
比較した。
比較した。
(1)アブレシプ法による比較
2μm粒径のダイアモンド遊離砥粒を用いて磁気ディス
クを研磨した。その後、磁気ディスクの損傷を顕微鏡で
観察した。損傷状況は、実施例Xでは表面に傷は出るが
ほとんど剥離はなかった。
クを研磨した。その後、磁気ディスクの損傷を顕微鏡で
観察した。損傷状況は、実施例Xでは表面に傷は出るが
ほとんど剥離はなかった。
比較例Yでは傷とともに剥離が見られた。比較例Zも傷
と剥離が現われたが、比較例Yよりも損傷ははるかに大
きかった。
と剥離が現われたが、比較例Yよりも損傷ははるかに大
きかった。
(2)C3Sによる比較
フェライト3370型スライダと上記磁気ディスクX、
Y、Zに同粂件で潤滑剤を塗布したものとの組み合わせ
てC8S試験を行なった。スライダの何重は9.5gr
、CSS回数は2万回である。試験はそ゛れぞれ23枚
の磁気ディスクで行なった。C8S後の磁気ディスクお
よび磁気へットスライグの損傷、並びに磁気ヘッドスラ
イダへの摩耗粉の付着状況を調へた。その結果を第2表
に示す。表中、0は損傷および付着物が顕微鏡でほとん
ど見られないもの、△はわずかに見られるもの×は明瞭
に見られるものである。
Y、Zに同粂件で潤滑剤を塗布したものとの組み合わせ
てC8S試験を行なった。スライダの何重は9.5gr
、CSS回数は2万回である。試験はそ゛れぞれ23枚
の磁気ディスクで行なった。C8S後の磁気ディスクお
よび磁気へットスライグの損傷、並びに磁気ヘッドスラ
イダへの摩耗粉の付着状況を調へた。その結果を第2表
に示す。表中、0は損傷および付着物が顕微鏡でほとん
ど見られないもの、△はわずかに見られるもの×は明瞭
に見られるものである。
上記比較法(1) (2)の結果から、この発明の
一実施例により製造した保護層(3)が耐摩耗性に(i
れていることは明らかである。
一実施例により製造した保護層(3)が耐摩耗性に(i
れていることは明らかである。
なお、」二記実施例では基板(1)としてAl−Mg基
材基板にN1−Cu−P合金をめっきしたものを用いた
場合を示したが、同様の基材にN1−))合金をめっき
したものや、表面をアルマイト処理したものを用いても
よい。
材基板にN1−Cu−P合金をめっきしたものを用いた
場合を示したが、同様の基材にN1−))合金をめっき
したものや、表面をアルマイト処理したものを用いても
よい。
また、上記実施例では磁気記録媒体層(2)としてγ−
FezOsから成るスパッタ膜を用いた場合を示したが
、これに限るものではなく、例えばCo−Ni、Co−
P等の磁性合金や他の磁性材料でもよい。
FezOsから成るスパッタ膜を用いた場合を示したが
、これに限るものではなく、例えばCo−Ni、Co−
P等の磁性合金や他の磁性材料でもよい。
また、保護層(3) 1.1−の潤滑層(4)は設けて
も設けなくてもよい。
も設けなくてもよい。
また、保護層の添加物として酸化セリウムに加えてA1
20s 、SiC,MgO等を添加する場合にも上記実
施例と同様の効果が得られる。
20s 、SiC,MgO等を添加する場合にも上記実
施例と同様の効果が得られる。
さらに、上記実施例では保護層をスパッタリングにより
形成する場合について説明したが、例えばクラスタイオ
ンビームのような蒸着による場合にもこの発明は適用で
き、上記実施例と同様の効果が得られる。
形成する場合について説明したが、例えばクラスタイオ
ンビームのような蒸着による場合にもこの発明は適用で
き、上記実施例と同様の効果が得られる。
[発明の効果]
以Fのように、この発明によれば、保護層を、酸化セリ
ウムおよび酸化ジルコニウムをターゲット(または蒸着
tA)とし酸素を含む雰囲気中でスパッタリング(また
は蒸着)により形成するので、保護層の機械的強度が大
きく、CS Sにおいて剥離や摩耗の起こらないような
保護層を有する磁気ディスクが得られる効果がある。
ウムおよび酸化ジルコニウムをターゲット(または蒸着
tA)とし酸素を含む雰囲気中でスパッタリング(また
は蒸着)により形成するので、保護層の機械的強度が大
きく、CS Sにおいて剥離や摩耗の起こらないような
保護層を有する磁気ディスクが得られる効果がある。
図面は一般的な磁気ディスクを示す断面図である。
図において5(1)は基板、(2)は磁気記録媒体層、
(3)は保護層、(4)は潤滑層である。 第 1 表
(3)は保護層、(4)は潤滑層である。 第 1 表
Claims (1)
- 基板に形成された磁気記録媒体層上に酸化セリウムを含
み酸化ジルコニウムを主成分とする保護層を形成するも
のにおいて、上記保護層は、酸化セリウムおよび酸化ジ
ルコニウムをターゲット(または蒸着源)として酸素を
含む雰囲気中でスパッタリング(または蒸着)により形
成することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18990688A JPH0240131A (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 磁気ディスクの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18990688A JPH0240131A (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 磁気ディスクの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0240131A true JPH0240131A (ja) | 1990-02-08 |
Family
ID=16249181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18990688A Pending JPH0240131A (ja) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | 磁気ディスクの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0240131A (ja) |
-
1988
- 1988-07-29 JP JP18990688A patent/JPH0240131A/ja active Pending
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