JPH0234421B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0234421B2
JPH0234421B2 JP57139324A JP13932482A JPH0234421B2 JP H0234421 B2 JPH0234421 B2 JP H0234421B2 JP 57139324 A JP57139324 A JP 57139324A JP 13932482 A JP13932482 A JP 13932482A JP H0234421 B2 JPH0234421 B2 JP H0234421B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
field
fluorescent screen
view
signal
movement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP57139324A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5929333A (ja
Inventor
Kenji Obara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Denshi KK filed Critical Nihon Denshi KK
Priority to JP13932482A priority Critical patent/JPS5929333A/ja
Publication of JPS5929333A publication Critical patent/JPS5929333A/ja
Publication of JPH0234421B2 publication Critical patent/JPH0234421B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/261Details

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子顕微鏡における顕微鏡像の視野移
動を容易に行うことを目的とするものである。
電子顕微鏡における顕微鏡像の視野移動は普
通、光軸と垂直な面内で試料を機械的に移動させ
ることによつて行われる。この視野移動の操作は
蛍光板上に表示される像を観察しながら行うが、
試料の位置を同一方向へ同一距離移動させても像
倍率が異なると蛍光板上の像の移動方向と移動量
は同一にはならないため、所望の視野を得るまで
には試行錯誤を何度も繰り返さなければならない
欠点があつた。
走査電子顕微鏡等のように、像表示手段として
陰極線管を使用する装置においては、例えば陰極
線管画面上で任意に移動可能なカーソル等を表示
して、カーソルで指示した部分が像の中心に自動
的に移動するように装置を構成することもでき
る。
しかしながら、像表示用に蛍光板を備える透過
型電子顕微鏡においては、電気的な移動制御が容
易なカーソル等のマークを蛍光板上に重畳表示す
ることは極めて困難であり、走査電子顕微鏡と同
様な方法で課題を解決することはできない。
本発明は、走査電子顕微鏡等と異なり、像表示
装置として陰極線管を使用しない透過型電子顕微
鏡において、視野の任意な向きへの任意量の移動
を簡単且つ短時間に行うことのできる電子顕微鏡
用視野移動装置を提供することを目的とするもの
で、試料への電子線照射に基づいて透過電子顕微
鏡線を形成する電子光学系と、前記顕微鏡像が表
示される蛍光板と、該蛍光板に表示される視野を
移動させるための視野移動機構と、該視野移動機
構を電気信号によつて操作する駆動部を備えた電
子顕微鏡用視野移動装置において、前記蛍光板又
は該蛍光板の近傍に蛍光板中心を中心として等角
度隔てて複数の基準マークが固定して付されてお
り、該基準マークはそれらが互いに識別可能なよ
うに形成又は色を異にしており、該基準マークの
各々と前記蛍光板中心を結ぶ線分を仮想的に考え
た際に、該線分上における距離の目盛りとなる目
盛りマークが蛍光板上の各線分上に固定して付さ
れており、前記基準マークの夫々に対応した複数
の移動指示ボタンを有する移動信号回路が備えら
れ、該移動信号回路からの出力信号、前記電子光
学系から出力される顕微鏡像の倍率に関する信号
及び前記電子光学系から出力される顕微鏡像の移
動方向と試料の移動方向との回転関係を表す信号
に基づいて前記駆動部へ駆動信号を供給し、前記
操作された前記移動指示ボタンに対応する基準マ
ークから前記中心に向かう向きに該操作回数に対
応する目盛り分だけ前記視野を移動させるための
中央制御回路を備えたことを特徴としている。
第1図は本発明の一実施例装置を示す略図であ
る。図中、1は試料を現わしており、電子光学系
の光軸Zに沿つて試料を照射する電子線の一部が
試料1を透過して対物レンズ2、中間レンズ3、
投影レンズ4等からなる電子光学系の結像レンズ
部によつて蛍光板5上に顕微鏡像を結像する。該
顕微鏡像の倍率は結像レンズのレンズ制御回路6
を調整することによつて可変される。蛍光板上に
表示される像の視野を移動するためには、通常試
料1を保持する試料移動機構7の水平移動杆を操
作して行うが、図の装置においては中央制御回路
9から駆動信号が供給されるパルスモータ8X,
8Yによつて自動的に操作される。又、視野移動
の別の方法として結像レンズ系内に設けられた偏
向コイル10X,10Yとその偏向電源11X,
11Yによつて電気的に行う方法もある。(詳細
は例えば特公昭48−33903号公報参照) 第2図は第1図の装置における蛍光板5を光軸
Z方向から眺めた図であり、光軸Zを中心とする
円板状蛍光板5の周囲にはリング状の部材12が
配置されており、その表面には光軸Zに関して対
称な位置にA、B、C、…、Hの文字が刻設され
ており、これらの文字と蛍光板5の中心を結ぶ線
上には等間隔で“+”印のマークが蛍光板上に刻
設されれている。上記文字A、B、…、Hに対応
する操作ボタンが第1図の装置の操作パネル13
に設けられており、操作ボタンA,B,…,Hの
いずれかを選択して所望の回数押圧することによ
り、中央制御回路9に視野移動のための信号が供
給される。
上記構成の装置によつて視野移動を行う手順は
以下のようになる。
初めにレンズ制御回路6を操作して視野捜しを
行うのに適した像倍率が得られるように調整す
る。次に蛍光板5上に表示される顕微鏡像を観察
して観察目的とする視野例えば第2図中14で示
す部分を捜し、この部分を蛍光板の中央に移動さ
せるように操作パネル13の操作ボタンAを2回
押圧する。この操作によつて、部材12のマーク
Aから蛍光板の中心Oに向かう第2図の矢印15
に示す方向へ像を移動させる信号が中央制御回路
9に供給される。又、その指定する移動量は蛍光
板上に刻設された“+”マーク間隔の2目盛分と
なる。一方、中央制御回路9にはレンズ制御回路
6から、像倍率に関する倍率信号Mとパルスモー
タによる試料移動方向と顕微鏡像の移動方向との
ズレ、即ち像回転信号Rが供給されており、前述
した操作パネルのボタン操作によつて供給される
移動信号Sと共にパルスモータ8X,8Yへ供給
する駆動信号が予め定められた関係式に基づいて
演算される。該演算においては移動信号Sの大き
さを表わす部分には倍率信号Mに対応した係数が
付加され、移動信号Sの方向を表わす部分には前
記回転信号Rに対応した信号が加えられる。以上
のような手順によつてパルスモータ8X,8Yに
駆動信号が供給されると試料1は光軸Zに垂直な
平面内を適切な方向へ適切な量だけ移動し、蛍光
板5上には視野14が中央に表示される。ここで
像倍率を増加させれば目的とする視野の詳細が観
察可能となる。
所で、観察倍率が高くなるに従つて機械的な試
料の移動による視野移動の精度が悪くなる傾向が
あり、このような欠点を避けるためには第1図の
装置におけるパルスモータ8X,8Yへ信号を供
給する代わりに偏向電源11X,11Yへ信号を
供給し電気的な視野移動を行うように構成するこ
とも容易である。
又、上述した実施例においては、基準マークの
夫々を互いに識別するため、それらを文字とした
が、少なくとも形状や色等を異ならせることによ
り互いに識別可能にすれば、必ずしも文字で識別
しなくとも良い。
以上のように本発明によれば電子顕微鏡におけ
る視野移動の操作が迅速、確実に行われるので電
子顕微鏡の操作性向上に大きな効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は透過電子顕微鏡に本発明を適用した装
置を示す略図、第2図はその部分拡大図である。 1:試料、2:対物レンズ、3:中間レンズ、
4:投影レンズ、5:蛍光板、6:レンズ制御回
路、7:試料移動機構、8X,8Y:パルスモー
タ、9:中央制御回路、10X,10Y:偏向コ
イル、11X,11Y:偏向電源、12:リング
状部材、13:操作パネル、14:視野、16:
走査電子顕微鏡の陰極線管。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 試料への電子線照射に基づいて透過電子顕微
    鏡像を形成する電子光学系と、前記顕微鏡像が表
    示される蛍光板と、該蛍光板に表示される視野を
    移動させるための視野移動機構と、該視野移動機
    構を電気信号によつて操作する駆動部を備えた電
    子顕微鏡用視野移動装置において、前記蛍光板又
    は該蛍光板の近傍に蛍光板中心を中心として等角
    度隔てて複数の基準マークが固定して付されてお
    り、該基準マークはそれらが互いに識別可能なよ
    うに形状又は色を異にしており、該基準マークの
    各々と前記蛍光板中心を結ぶ線分を仮想的に考え
    た際に、該線分上における距離の目盛りとなる目
    盛りマークが蛍光板上の各線分上に固定して付さ
    れており、前記基準マークの夫々に対応した複数
    の移動指示ボタンを有する移動信号回路が備えら
    れ、該移動信号回路からの出力信号、前記電子光
    学系から出力される顕微鏡像の倍率に関する信号
    及び前記電子光学系から出力される顕微鏡像の移
    動方向と試料の移動方向との回転関係を表す信号
    に基づいて前記駆動部へ駆動信号を供給し、前記
    操作された前記移動指示ボタンに対応する基準マ
    ークから前記中心に向かう向きに該操作回数に対
    応する目盛り分だけ前記視野を移動させるための
    中央制御回路を備えた電子顕微鏡用視野移動装
    置。
JP13932482A 1982-08-11 1982-08-11 電子顕微鏡用視野移動装置 Granted JPS5929333A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13932482A JPS5929333A (ja) 1982-08-11 1982-08-11 電子顕微鏡用視野移動装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13932482A JPS5929333A (ja) 1982-08-11 1982-08-11 電子顕微鏡用視野移動装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5929333A JPS5929333A (ja) 1984-02-16
JPH0234421B2 true JPH0234421B2 (ja) 1990-08-03

Family

ID=15242654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13932482A Granted JPS5929333A (ja) 1982-08-11 1982-08-11 電子顕微鏡用視野移動装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5929333A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3014274B2 (ja) * 1994-06-29 2000-02-28 株式会社日立製作所 2軸傾斜試料微動装置及び像の逃げ補正方法
JP2002216695A (ja) * 2001-01-15 2002-08-02 Topcon Denshi Beam Service:Kk 分析透過型電子顕微鏡

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5478075A (en) * 1977-12-05 1979-06-21 Hitachi Ltd Sample image display device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5478075A (en) * 1977-12-05 1979-06-21 Hitachi Ltd Sample image display device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5929333A (ja) 1984-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3293739B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JPH0234421B2 (ja)
JP2007052972A (ja) 荷電粒子線装置システム
JPH08124510A (ja) 分析装置の試料ステージ駆動装置
JP3870141B2 (ja) 電子顕微鏡
JP2673900B2 (ja) 電子顕微鏡
JPH0393140A (ja) 走査電子顕微鏡像と光学顕微鏡像の対応装置
JPH0343742B2 (ja)
JPH0131210Y2 (ja)
JPH0238366Y2 (ja)
JPS5858779B2 (ja) 電子顕微鏡等用視野移動装置
JPH0460298B2 (ja)
JPS6020439A (ja) 荷電粒子線装置における試料回転装置
JPH05144399A (ja) 走査電子顕微鏡
JPH0243092Y2 (ja)
JP4223734B2 (ja) 電子顕微鏡
JPH07159128A (ja) 測定顕微鏡
US20220244201A1 (en) Transmission Electron Microscope and Inspection Method Using Transmission Electron Microscope
JPS62195840A (ja) 走査電子顕微鏡
JPH08215181A (ja) X線透視装置
JPH0132674Y2 (ja)
JPS60131748A (ja) 走査像表示装置
JPS59201354A (ja) 電子顕微鏡
JPS59201352A (ja) 電子顕微鏡における観察視野の記録及び表示装置
JPH0238368Y2 (ja)