JPS60131748A - 走査像表示装置 - Google Patents

走査像表示装置

Info

Publication number
JPS60131748A
JPS60131748A JP23946183A JP23946183A JPS60131748A JP S60131748 A JPS60131748 A JP S60131748A JP 23946183 A JP23946183 A JP 23946183A JP 23946183 A JP23946183 A JP 23946183A JP S60131748 A JPS60131748 A JP S60131748A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
signal
circuit
image
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23946183A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Obara
健二 小原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd, Nihon Denshi KK filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP23946183A priority Critical patent/JPS60131748A/ja
Publication of JPS60131748A publication Critical patent/JPS60131748A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 1 、 、′よ ゛、 1 [技術分野] 、本興明は、走査電子顕微鏡や赤外線走査画表示・5i
竺等の、走査像!夾、装置の改良に関する・ 。
[従来技術] ( 最近、走査!子顕微鏡の走査像表、示装置として1子線
プローブによ、る試料の走査領域を広領域と!!領領域
周期的1に2切賛え1.1.広領域走査に基づく走1査
像と狭領4讐走査叫基づ、く走査像とを同1時に又はψ
、換えて表1示すやタイ1プのものが使用されることが
多い。このタイ1プの装置は、高群倍像、同一表示装置
とも称されることがあり、第1図はその構、成を、示5
.ず概略図、で、娶る1、。第1図にお、りて、1は走
査電子顕微鏡管の、光軸、に沿って縛料2、の表面を照
射するl+、1 亡 、 1 電子線を示、シ、てお虚1.電、子4.線照9.射によ
つ、て試料2、か、ら放、、出さ、、詐る1、2.取置
1子、等の、(H竺を検1B、jする検出器、3、の出
、力51.は1.川、*、器4と切換回路5を経て、陰
極) −11□111)11 用11−1臀管、R,各
眸1.し、の、Iij度変調用、、、、信5号として、
印1郡さ、れる。
馬15.子、町県卜門、1.φ54試1F!、−面1、
の2次匹、1.的走声は、光軸に沿、1つ、で、設置さ
;れ7.た轡向コ、イ1、?し6準 6.Yへ走、査、
4.竺見1−.町741、か1.ら、の走5..車1、
蝉1、向!1号責供1給する、こ、、とに47、実1つ
て行lt)へ、、る、、。走7.1査1.−号目、9.
路7か1.ら、、の水平、、垂4直1.走査信、うは隘
極翰管、R,,及1びLの偏向コイルに、も、1供、竺
さ1.れ、r:、/!3.す45.前述、、炉、些1.
輝;臀、、兜の走査と同、期した極蝉、、艷5.尽、び
L9の画面、に、、は輝、料1走章像が6.表示−され
る。
走査信号回路7の出力は低倍率用の増幅器8を経た後□
、二部は直接に勤□換回路9に印加さ□れ、一部は高倍
率用の増幅−10とレベル加算回路11を経た後に切換
回路9に印加される。増幅器8からはその波高値がステ
、ツブ状に可変される鋸歯状波信号mが出力され、増幅
器10はその波高値を1/2.1/3.115・・・の
ように低くする。レベル加算回路11は、増幅器10の
出力鋸歯状波信号の中心レベル(通常は零)を直流信号
回路12の出力によって一定範囲内′を変化させ、るk
めの一 ものであり、その出力走査信号nを切換回路9に印加す
る。直流信号回路12は、視野移動操作手段として用い
られAベレータの操作によりその出力レベルが制御され
る。このようにして、二つの異った信号処理をされた走
査信号m及びnが交互に偏向コイル6X及び6Yへ供給
されるが、この信号供給の切換制御は、タイミング回路
13が走査信号回路7からのブランキング信号に基づい
て発生するタイミング信号すが切換回路9に印加される
ことによって行われる。タイミング回路13が発生する
タイミング信号すは、切換回路5へも印加゛されており
、走査信号nによる電子線走査が行なわれている期間中
は切換回路5は端子rに入力信号を印加し、走査信号m
による電子線走査が行なわれている期間中は切換回路5
は端子1に入力信号を印加する。その結果、試料2の表
面における電子線走査は第2−に示す如く、低倍率像の
ための広領域Pの走査と高倍率像のための狭領域Qの走
査が各水平走査毎に交互に行われることに、なり、桧極
線管しには広領域Pの走査が行われている時間のみ検出
器3の出力が入力されて、その画面には第3図に示すよ
うな低倍率像が表示され、陰極線管Rには狭領域Qの走
査が行われている時間のみ検出器3の出力が入力されて
、その画面には第4図に示すような高倍率像が表示され
る。尚、陰極線管りの画面に表示される低倍率像の視野
内に高倍率像に対応する領域を識別し易くするため、第
3図に破線16で示す如く囲み線を表示することが多い
が、この囲み線の表示は、第1図中の枠信号発生回路1
4の出力が陰□極線管りへ輝度変調信号□として印加′
されるごとによってにょっ゛て行わ゛れる。枠信号″発
生省路14において゛は、直流信号回路12の出力と増
幅器10°の”出□力によ゛って参照信号が設定され、
この参照信号と増幅器8からの走査信@a「との比較に
よって枠表示のための信号を出力する。
第1図の装置において、低倍率像の□視−を変えるには
、試料2讐載置する試料□移′勤手i15゛の水平移動
機I#!(図示せず)を操作′して電子線1と試料2の
相対的な位置を変化させる゛必要が゛ある。それは第2
図に示す試料−と電子□“−との交差位置2と広領□域
走査の中心が常′に一致しているためであ□る。これに
対して、高値率iの視野を移動させるには、試料装置を
操作すにとによっても行うととができるが、第1−の装
置におけるlI流□信号回路12′e操作して狭領域走
査゛信号nのレベルを変化させることによって□も行う
ことができる。通常あ場合、先ず一鱒移動手段15を操
作して低倍i像の視野が所望の視野と一致する五″うに
調整し、その後は低倍率像の視野を固定した状態で、直
流信号回路12の出力−を調整して低倍率像中の任意の
領域が高倍率像として表示さ適るよう□にする。
このような従来装置において″は、狭領域走゛査の中′
心が装置の光軸と下致しなくなり、高倍率像、における
レンズ収差や偏向歪の影響が低倍率像の場合に比較して
大きくなる欠点があった。5又、一般的、、′ に視野捜しの操作は低倍率像から順次高倍率像に第1図
、に示ず高低倍像同時表示装置にお、いては、電子線偏
向による視野移動の方法を採用しているため、上述のよ
うに高倍率像の像質゛が低下するだ1′jではdく、像
視野を一門させながら順次倍率を□ 。
上げていく、ことがで、きなりため1、視野捜しの操作
には使用で゛きないという欠点が″あった。
[発明の目的] 本発明は、このような欠点を解決し1.高低倍像同時表
示装置において像倍率の切換えを゛連続的に1 (、□ 行うことによって視野捜しの操作を従来よりも容易に行
うことを目的とするものである。
[発明の構成] 本発明装置は、プローブによる対象物の走査領域を広領
域と狭領域に周期的に切替える手段と、広領域走査に基
づく走査像と狭領域走査に基づく走査像とを同時に表示
する走査像表示手段を備えた装置において、走査像の視
野を移動させる信号を発生する視野移動操作手段と、視
野移動操作手段の出力変化に基づいて対象物を移動させ
る機構と、視野移動操作手段の出力変化に基づいて前記
広領域走査の位置を移動させる走査位置移動手段と、走
査領域の広さの変化時に走査位置移動手段による走査領
域の移動を元に戻す手段を備えることを特徴とするもの
である。
[実施例] 第5図は本発明の一実施例装置を示す略図であり、第1
図と同一符号を付したものは同一構成要素を表している
。第5図において、17はオペレータに操作される視野
移動操作手段を表わしており、その出力によってパルス
信号回路18の出力パルスの発生期間や発生間隔が制御
される。パルス信号回路18の出力パルスはステッピン
グモータを内蔵する駆動手段19の駆動を制御して試料
移動手段15を介して試料2を水平方向に移動すると共
に、その一部は計数回路20によって計数され、その計
数値を表わす出力は更に直流信号回路12aによりアナ
ログ信号に変換された後、レベル加算回路11aに印加
される。レベル加算回路11aは、低倍率用の増幅器8
aの出力の信号レベルに直流信号回路12aの出力を加
算した鋸歯状波信号を広領域走査用の走査信号Mとして
切換回路9へ印加する。一方、切換回路9に印加される
狭領域走査用の走査信号Nとしては、増幅器8aの出力
が印加される^倍率用の増幅器10aの出力が用いられ
る。
ところで、増幅器8a及び10aによる信号増幅度を変
化させると試料上における電子線の走査幅と陰極線管画
面の幅の比、即ち、像倍率が変化するので、以下の説明
では増幅器における信号増幅度を像倍率に換算して表現
する。マイクロプロセッサ−(図示せず)により制御さ
れる低倍率用の増幅器8a及び高倍率、用の増幅器10
aの機能は、第1図の装置における増岬器、8及び1O
と殆、!’ lfi L; ”C” a5 ’)’、増
幅器10aは1.×2− X3.X5のように数段階の
信号増幅度に半固寓の状態で使用される。そして、増幅
器10aがx3に設定(固定)されている場合には、増
幅器8aはX100、X300.X900.X2.70
0−、(Dように常に3倍の値に段階的な切替えが行わ
れ、増幅器10aが×5に設定されている場合には、×
100、 X 50.0.、 X 250..0.、X
、125.00・(7)ように常に5.倍の値に段階的
な切替えが行われる。
、5又、このような段階的な切替えが、行ね、れる毎に
、増幅器8aは切換信号dを発、生する。この切換信号
dは計、数回路20をリセ:ットし19、又信り反転回
路21.に印加、さ、れて、タイミング回路1.3から
のタイミング信号すの、極性を尽瞥させた休転タイ、ミ
ング信号Cを発生させる。 。
枠信号発生回路14の出力は加算、回路22により轡幅
器4の出力に加、算さ、れた、後、切換回路23の端子
4tに印加され、切換回路、23の他方の端子Sには増
幅器4の出力がそのまま印加されている。
切換回路23の…力は切換回路5を経て陰極線管 。
し又はRのどららかに輝度変調信号として印加される。
切換回路5.9及び23における切換えは、夫々タイミ
ング信号す又は反転タイミング信号Cによって行われる
。、 第7図は、このように構成寄れた第5図の装置における
主要な構成要素が出力する信号の波形を一問を横軸にと
2で表わしたものであり、以下第7図を用いて視野捜し
、の操作を説明する。
、オペレータは先ず、増幅器8aの倍率を低倍率、例え
ばx、 i o oに設定し、増幅器10aの倍率を。
×3に設定づる。この設定により、陰極線管り及び、R
の画面には夫々−倍、率x100とX300の走査像が
表示される。、第7図(イ)は1、走査信号回路7の1
.7ランキングパルス信号aの波形を示し、」、7図(
0)は、パルス、信号aに基づいてタイミング回路13
が発牛烹、るタイミングパルスbの波形を示す5゜パル
ス、bが(50)に示すN(t)、側にある期間にお!
I)ては、切換回路9に入力される走査信号Nが偏向コ
イル6X、6Yへ供給されると共に、切換回路23にお
ける端子を側にスイッチが切換えられ、パルスbが(ロ
)に示すM(S)側にある期間においては、切換回路9
に入力される走査信号Mが偏向コイル6X、6Yへ供給
されると共に、切換回路23における端子S側にスイッ
チが切換えられる。第7図(ハ)は反転回路21により
タイミングパルスbを反転させた信号Cの波形を示すも
ので、パルスCが(ハ)に示すr側にある期間において
は、切換回路5における端子r側にスイッチが切換えら
れ、パルスCが(ハ)に示す2側にある期間においては
、切換回路23における端子λ側にスイッチが切換えら
れる。尚、第7図(ニ)は陰極線管り、Rに表示される
像倍率の値を表わすものである。
次に、オペレータは陰極線管りの画面を観察しながら・
視野移動操作手段17を操作して観察目的とする視野が
枠16内に含まれるように調整する。
この調整により、視野移動操作手段17は゛パルス信号
回路18に操作に応じた出力パルスを発生し、その一部
は直接駆動手段19に印加されて試料移動手段15を介
して試料2を水平方向に移動させる。その結果、陰極線
管Rの画面には所望とする視野の高倍率(X300)の
像が表示される。一方、パルス信号回路18からの出力
パルスは、計数回路20に印加されて計数され、その計
数値は直流信号回路12aに印加されて直流信号に変換
される。直流信号回路12aには、増幅器8aから信号
増幅度に関する信号が印加されており、計数回路20よ
り印加された計数値を直流信号へ変換する際の変換率を
制御する信号として用いられる。このようにして、視野
移動操作手段17を操作することにより広領域走査用の
走査信号Mの信号レベルが変化し、試料2における電子
線走査領域の変化は第6図に示すようになる。即ち、広
領域Pが試料2の移動に追従して移動するため、陰極線
管りの画面に表示されるX100の走査像の視野は変化
せずに一定に保たれる。これに対して、試料面上の狭領
域Qは、光軸と試料面との交点Zを中心とする位置から
移動せずに一定に保たれるので、試料2と狭領域Qの相
対位置は変化する。
その結果、第5図の装置の陰極線管り、”Rに表示され
る低倍率像と高倍率像の関係は第1図の装置と同じにな
り、低イi1中の任蓋領域が視野移動操作手段17の操
作によってa+A率像として表示されることになる。し
かしながら、高倍率像は常に装置の光軸を中心とした試
料走査に基づいたものであるため、第1図の装置と比較
して高倍率像の像質は収差や歪の少ない−れたものとな
葛。
次に、オペレータは回旋増幅’m’s aを操□作して
低倍率像の値をX100からX300に、従って高倍率
像をX900に切換える。この操作が時刻Toにおいて
行われると、第7図(ハ)に示すパルスCが反転して、
゛陰゛極□線管R&:X300の低倍率像が、又1極1
m管しに゛はX900の高倍率像が表示される。それと
同時に、計数回路2Oの計数値がリセットされて直”流
信号回路12aの出力が零となる。その結果、陰極線管
゛Rの画面に表示される走査像の視野は、第8図に示す
ように第4自と同じになり、その中央部分゛に−は囲み
1116が表示される。オペレータは、陰極線管Rを観
−しながら再び視野移動操作手段17を操作して、画面
内の面み線の領填内に目的とする視野が含まれるよ□う
に調整する:□。そ゛して゛、この領域内の視野が陰極
線曽L″に表糸゛され:志□すこのようにして順次像倍
率を下げな□がら上述゛した視野捜しの操作なiり返す
ことにより、目的とする視野を見付は出すことができる
。 □′ □このようd視野捜しの操作において、電子線偏向によ
る走査像の視野移動は倍率を上げる毎に零′ に□戻さ
れ、しか虻J′高倍率像においては電子線偏向による視
野移゛動を全く行わないため、倍率を順次上げていって
も像質を低下させることはない。
又、截高倍亭像が同1に表示されるだけでなく倍率の切
換1時には常に一方の像視野が変化□せずに保たれるた
め、視野捜しの操作を従来よりもスム、−スに行うこと
ができる。 ′ [発明の変形゛J 尚、本゛1明は第5図の実施例装置に限定されるもので
はなく、例えば低倍率像と高倍率像をM極線管R及びL
のように互いに異った二つの画像表示手段に表示する代
わりに単一の陰極線管の画面を二つに分割し、夫々の分
割画面を低高倍率像表示用の画像表示手段として用いる
ことも容易である。又、電子線の代わりに赤外線をプロ
ーブとして用い、測定対象物の表面を該プローブによっ
て走査することにより走査像を表示する赤外線走査像表
示装置に適用づることも可能である。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば高低倍率像を同時に表示
する装置における高倍率像の像質を低下させることなく
、視野捜しの操作性を茗るしく容易にづる効果が得られ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の高低倍像同時表示装置を示す略図、第2
図乃至第4図は第1図の装置の動作を説明するための略
図、第5図は本発明の一実施例装置を示す略図、第6図
乃至第8図は第5図の装置の動作を説明するだめの略図
である。 1:電子線、2:試料、3:検出器、4:増幅器、5.
9,23:切換回路、6X、6Y:偏向コイル、7:走
査信号回路、8.8a:低倍率用増幅器、10.10a
 :高倍率用増幅器1,11゜11aニレベル加算回路
、13:タイミング回路、14:枠信号回路、15:試
料移動手段、17:視野移動操作手段、18:パルス信
号回路、19:駆動手段、20:計数回路、21:信号
反転回路、22:加算回路。 特許出願人 、日本電子株式会社 代表者 伊藤 −夫 第2図 第3図 第4図 第6図 /’Q ノA 第8図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. プ擲−ブによる対象物の走査領讐、を広領域と狭領−に
    周期的に切替える手段と、広領−走□査に基づいて対象
    物を移動させる機構と、視野移動操作、手一段の出力変
    化に基1.づ25.い、X、前記、広領域走査のjQ装
    移動を元にat手彎を備えた走査像表示装シ?
JP23946183A 1983-12-19 1983-12-19 走査像表示装置 Pending JPS60131748A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23946183A JPS60131748A (ja) 1983-12-19 1983-12-19 走査像表示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23946183A JPS60131748A (ja) 1983-12-19 1983-12-19 走査像表示装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60131748A true JPS60131748A (ja) 1985-07-13

Family

ID=17045102

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23946183A Pending JPS60131748A (ja) 1983-12-19 1983-12-19 走査像表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60131748A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5532494A (en) * 1993-04-07 1996-07-02 Hitachi, Ltd. Treatment and observation apparatus using scanning probe

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5532494A (en) * 1993-04-07 1996-07-02 Hitachi, Ltd. Treatment and observation apparatus using scanning probe

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4983832A (en) Scanning electron microscope
US4091374A (en) Method for pictorially displaying output information generated by an object imaging apparatus
US4199681A (en) Method and apparatus for automatically focusing an electron beam in a scanning beam device
DE2318023A1 (de) Abtast-elektronenmikroskop
JPS6114630B2 (ja)
JPS60131748A (ja) 走査像表示装置
US4006357A (en) Apparatus for displaying image of specimen
JPH07262950A (ja) 走査形電子顕微鏡
JPS62198043A (ja) 立体観察装置
JPS63116348A (ja) 電子線装置の視野対応装置
JPH0238367Y2 (ja)
JPS5914222B2 (ja) 走査電子顕微鏡等用倍率制御装置
JPS59148254A (ja) 走査電子顕微鏡等の試料移動装置
JPH0228601Y2 (ja)
JPS5933744A (ja) 試料走査像表示装置
JP2918344B2 (ja) 走査電子顕微鏡
JPH07130321A (ja) 走査形電子顕微鏡
JPS6114631B2 (ja)
SU687492A1 (ru) Видеоконтрольное устройство дл растрового электронного микроскопа
SU456325A1 (ru) Растовый электронный микроскоп
JPS6314811B2 (ja)
KR830002233B1 (ko) 비점수차 보정방법
SU920894A1 (ru) Сканирующее устройство воспроизведени изображени образца
KR830002860Y1 (ko) 주사전자현미경 및 그 유사장치의 주사상 관찰장치
JPH0425803Y2 (ja)