JPH02259762A - カチオン性硬化可能なフオトレジストのパターン化方法 - Google Patents
カチオン性硬化可能なフオトレジストのパターン化方法Info
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はカチオン性硬化可能なフォトレジストのパター
ン化に関するものである。特に、本発明はレーザビーム
に対して画像状に露光することにより、カチオン性硬化
可能なフォトレジストをパターン化することに関してい
る。本発明の方法は、プリント回路基板およびカードな
どの作製に際して特に有用である。
ン化に関するものである。特に、本発明はレーザビーム
に対して画像状に露光することにより、カチオン性硬化
可能なフォトレジストをパターン化することに関してい
る。本発明の方法は、プリント回路基板およびカードな
どの作製に際して特に有用である。
集積回路におけるプリント回路基板の製造に際して、無
機基体またはエポキシラミネート体の上に、金属状回路
のようなパターンを形成するために広く用いられている
方法の1つは、金属の析出または金属の除去からシール
ドさせるために、金属で被覆した基板上または基板の相
当区域上に、フォトレジスト材料のパターンを画像状に
形成することである。このフォトレジスト層は通常ポリ
マー性の、有機材料で形成され、このものは金属の析出
または除去工程で実質的に影響されず、従ってその下の
区域の基板を保護するのである。このだめの多数の7オ
トレジストが良く知られており、所望の基体上に必要と
するマスクパターンを形成することができる。
機基体またはエポキシラミネート体の上に、金属状回路
のようなパターンを形成するために広く用いられている
方法の1つは、金属の析出または金属の除去からシール
ドさせるために、金属で被覆した基板上または基板の相
当区域上に、フォトレジスト材料のパターンを画像状に
形成することである。このフォトレジスト層は通常ポリ
マー性の、有機材料で形成され、このものは金属の析出
または除去工程で実質的に影響されず、従ってその下の
区域の基板を保護するのである。このだめの多数の7オ
トレジストが良く知られており、所望の基体上に必要と
するマスクパターンを形成することができる。
このパターンは、リソグラフ法によるガラスマスクのよ
うな画像を通して、活性光線に対しフォトレジスト材を
画像状に露光することにより作られる。用いられる活性
光線は普通X−線、U、V、照射線、または電子ビーム
線などである。
うな画像を通して、活性光線に対しフォトレジスト材を
画像状に露光することにより作られる。用いられる活性
光線は普通X−線、U、V、照射線、または電子ビーム
線などである。
ごく最近、回路パターンを作るためにレーザの直接イメ
ージングが提案された。レーザの直接イメージングは集
積回路がより微細な配線となり、層の数がさらに増加し
たことのために特に関心がもたれている。レーザ直接イ
メージングはガラスマスクを用いることなく、フォトレ
ジストの層上に必要とするパターンを直接に形成させる
ものである。この方法にはCAD出力のデジタルデータ
、マスクスキャンの画像データに変換、フォトレジスト
上←レーザビームの直接スキャンニングなどの工程を含
んでいる。例えば、G、Chen氏の[プリント配線板
のためのレーザ直接イメージングにおける最近の進歩」
、PCFAB、19861月、 p、41およびFor
d氏他の「レーザ直接イメージングの現状J 、C1r
cuits Ma−nufacturing、 198
73月、 p、32などを参照されたい。
ージングが提案された。レーザの直接イメージングは集
積回路がより微細な配線となり、層の数がさらに増加し
たことのために特に関心がもたれている。レーザ直接イ
メージングはガラスマスクを用いることなく、フォトレ
ジストの層上に必要とするパターンを直接に形成させる
ものである。この方法にはCAD出力のデジタルデータ
、マスクスキャンの画像データに変換、フォトレジスト
上←レーザビームの直接スキャンニングなどの工程を含
んでいる。例えば、G、Chen氏の[プリント配線板
のためのレーザ直接イメージングにおける最近の進歩」
、PCFAB、19861月、 p、41およびFor
d氏他の「レーザ直接イメージングの現状J 、C1r
cuits Ma−nufacturing、 198
73月、 p、32などを参照されたい。
レーザ直接イメージングにおける問題の1つは、レーザ
直接イメージング法を実行するのに適したレジスト材料
を見付けることである。例えば、提案をされたレジスト
はフリーラジカル重合を基礎にしているo R,R,5
adhir、 J、D、B。
直接イメージング法を実行するのに適したレジスト材料
を見付けることである。例えば、提案をされたレジスト
はフリーラジカル重合を基礎にしているo R,R,5
adhir、 J、D、B。
Sm1LbbおよびR,M、Ca5tle各氏のPol
ymer Pre−prints、26.13C、19
85 ; C,Decker氏のJ、Polym。
ymer Pre−prints、26.13C、19
85 ; C,Decker氏のJ、Polym。
Sci、、Po1yn+、Chem、Ed、、g±、2
451.1983 ; C,Dacker氏のJ、Co
atings Tech、、 5L 2L 1984
;およびWillia+m5on氏他のLa5er I
n1tiated Polymeri−zation
of Charge−Transfer Mon
omer Systems。
451.1983 ; C,Dacker氏のJ、Co
atings Tech、、 5L 2L 1984
;およびWillia+m5on氏他のLa5er I
n1tiated Polymeri−zation
of Charge−Transfer Mon
omer Systems。
pp、207−208などを参照されたい。フリーラジ
カル重合に伴う1つの問題点は、酸素が重合反応を抑制
することである。そこでフリーラジカル重合に対する酸
素の影響を克服するために、レジストの上にポリエチレ
ンテレフタレート(例えばMylar■)のような、透
明な酸素バリアシートを配置することが提案された。し
かしながら、このフィルムを通しての露光は、散乱のた
め画像の解像性を損うから全く不適切なものである。
カル重合に伴う1つの問題点は、酸素が重合反応を抑制
することである。そこでフリーラジカル重合に対する酸
素の影響を克服するために、レジストの上にポリエチレ
ンテレフタレート(例えばMylar■)のような、透
明な酸素バリアシートを配置することが提案された。し
かしながら、このフィルムを通しての露光は、散乱のた
め画像の解像性を損うから全く不適切なものである。
本発明は酸素バリアシートを用いる必要がなく、かつフ
リーラジカル重合に依存しないレーザイメージング方法
に関するものである。そこで、本発明はフリーラジカル
重合に必要とされる、酸素バリアシートを用いることに
より生ずる欠点をさけることができる。本発明はガラス
マスクを使うことなく、また酸素バリアカバーシートも
なしにレジストの直接露光をすることができる。その上
、本発明の方法は、向上した解像性をもつより高い感光
性のフィルムを生じるような、レジスト面でのより高い
レーザ光強度を達成することを可能とする。この高い光
強度はより深い硬化と高い感光速度とを与える。
リーラジカル重合に依存しないレーザイメージング方法
に関するものである。そこで、本発明はフリーラジカル
重合に必要とされる、酸素バリアシートを用いることに
より生ずる欠点をさけることができる。本発明はガラス
マスクを使うことなく、また酸素バリアカバーシートも
なしにレジストの直接露光をすることができる。その上
、本発明の方法は、向上した解像性をもつより高い感光
性のフィルムを生じるような、レジスト面でのより高い
レーザ光強度を達成することを可能とする。この高い光
強度はより深い硬化と高い感光速度とを与える。
本発明により、カチオン性硬化可能なフォトレジストは
レーザビーム、好ましくはアルゴンレーザビームに画像
状に露光することによりパターン化できるのが認められ
た。特に、本発明はカチオン性硬化可能なフォトレジス
トの未硬化フィルムを基板上に用意し、パターン状のレ
ーザビームに対しこのフォトレジストフィルムを画像状
に露光し、カチオン性重合によりフォトレジストの部分
を硬化し、そしてフォトレジストを現像することによる
、フォトレジストにパターンを形成させるための方法に
関するものである。
レーザビーム、好ましくはアルゴンレーザビームに画像
状に露光することによりパターン化できるのが認められ
た。特に、本発明はカチオン性硬化可能なフォトレジス
トの未硬化フィルムを基板上に用意し、パターン状のレ
ーザビームに対しこのフォトレジストフィルムを画像状
に露光し、カチオン性重合によりフォトレジストの部分
を硬化し、そしてフォトレジストを現像することによる
、フォトレジストにパターンを形成させるための方法に
関するものである。
本発明に使用されるレジスト材料は、カチオン性重合メ
カニズムによって硬化可能または重合可能なもので、エ
ポキシモノマ、フエ、ノブラスト、アミノプラスl−、
ラクトン、環状エーテル、環状ホルマール、および環状
アセタール、および好ましくはエポキシポリマを含んで
いる。
カニズムによって硬化可能または重合可能なもので、エ
ポキシモノマ、フエ、ノブラスト、アミノプラスl−、
ラクトン、環状エーテル、環状ホルマール、および環状
アセタール、および好ましくはエポキシポリマを含んで
いる。
エポキシポリマの代表的なものにはエポキシ化されたノ
ボラックポリマ、およびエビクロロヒドリンのようなハ
ローエポキシアルカンとビスフェノールAのような多核
ジヒドロキシフェノールとからのポリエポキシドなどが
含まれる。
ボラックポリマ、およびエビクロロヒドリンのようなハ
ローエポキシアルカンとビスフェノールAのような多核
ジヒドロキシフェノールとからのポリエポキシドなどが
含まれる。
エポキシドの混合物も必要のときは用いることができる
。
。
エポキシ化されたノボラックポリマは市場で入手するこ
とができ、またハローエポキシアルカンとフェノールの
熱可塑性のフェノール性アルデヒドとの反応により、既
知の方法によって製造することができる。フェノールは
単核また1;i 多核フェノールでもよい。単核フェノ
ールの例としては次の式を有している: 町 ここでX、YおよびR,は約12よりも多くない炭素原
子を含む炭化水素である。
とができ、またハローエポキシアルカンとフェノールの
熱可塑性のフェノール性アルデヒドとの反応により、既
知の方法によって製造することができる。フェノールは
単核また1;i 多核フェノールでもよい。単核フェノ
ールの例としては次の式を有している: 町 ここでX、YおよびR,は約12よりも多くない炭素原
子を含む炭化水素である。
エポキシノボラックの製造用に適したポリマを与えるア
ルデヒド縮合のための、フェノール性水酸基に対してオ
ルトまたはパラの2つの有効な位置を有する、炭化水素
置換フェノールには0−およびp−クレゾール、0−お
よびp−エチルフェノール、0−およびp−イソプロピ
ルフェノール、0−およびp−t−ブチルフェノール、
0−およびp−5ec−ブチルフェノール、0−および
p−アミルフェノール、0−およびp−オクチルフェノ
ール、0−およびp−ノニルフェノール、2.5−キシ
レノール、3.4−キシレノール、2.5−ジエチルフ
ェノール、3.4−ジエチルキシレノール、2.5−ジ
イソプロピルフェノール、4−メチルレゾルシノール、
4−エチルレゾルシノール、4−インクロビルレゾルシ
ノール、4−L−ブチルレゾルシノール、0−およびp
−ベンジルフェノール、o−およ(ip−−yエチルフ
ェノール、0−およびp−フェニルフェノール、0−お
よU p −1−リルフエノー/’%O−およびp−キ
シリルフェノール、0−およびp−シクロヘキシルフェ
ノール、0−およびp−シクロペンチルフェノール、4
−7エネチルレゾルシノール、、4−)リルレゾルシノ
ール、および4−シクロへキシルレゾルシノールなどが
含まれる。
ルデヒド縮合のための、フェノール性水酸基に対してオ
ルトまたはパラの2つの有効な位置を有する、炭化水素
置換フェノールには0−およびp−クレゾール、0−お
よびp−エチルフェノール、0−およびp−イソプロピ
ルフェノール、0−およびp−t−ブチルフェノール、
0−およびp−5ec−ブチルフェノール、0−および
p−アミルフェノール、0−およびp−オクチルフェノ
ール、0−およびp−ノニルフェノール、2.5−キシ
レノール、3.4−キシレノール、2.5−ジエチルフ
ェノール、3.4−ジエチルキシレノール、2.5−ジ
イソプロピルフェノール、4−メチルレゾルシノール、
4−エチルレゾルシノール、4−インクロビルレゾルシ
ノール、4−L−ブチルレゾルシノール、0−およびp
−ベンジルフェノール、o−およ(ip−−yエチルフ
ェノール、0−およびp−フェニルフェノール、0−お
よU p −1−リルフエノー/’%O−およびp−キ
シリルフェノール、0−およびp−シクロヘキシルフェ
ノール、0−およびp−シクロペンチルフェノール、4
−7エネチルレゾルシノール、、4−)リルレゾルシノ
ール、および4−シクロへキシルレゾルシノールなどが
含まれる。
エポキシノボラックの製造用に適した、フェノール−ア
ルデヒド樹脂の製造に際して用いることのできる、種々
の塩素置換フェノールには0−およびp−クロロフェノ
ール、2.5−ジクロロフェノール、2.3−ジクロロ
フェノール、3.4−ジクロロフェノール、2−クロロ
−3−メチルフェノール、2−クロロ−5−メチルフェ
ノール、3−クロロ−2−メチルフェノール、5−クロ
ロ−2−メチルフェノール、3−クロ0−4−メチルフ
ェノール、4−10ロー3−メチルフェノール、4−ク
ロロ−3−エチルフェノール、4−クロロ−3−イソプ
ロビルフェ/−、+1..3−’)クロー4−フェニル
フェノール、3−10ロー4−10ローフエニルフエノ
ール、3.5−ジクロロ−4−メチルフェノール、3.
5−ジクロロ−5−メチルフェノール、3.5−ジクロ
ロ−2−メチルフェノール、2.3−ジクロロ−5−メ
チルフェノール、2.5−ジクロロ−3=メチルフエノ
ール、3−クロロ−4,5−シ)チルフェノール、4−
クロロ−3,4−ジメチルフェノール、2−クロロ−3
,5= ジメチルフェノール、5−クロロ−2,3−ジ
メチルフェノール、5−クロロ−3,5−ジメチルフェ
ノール、2.3.5− トリクロロフェノール、3.4
.5−1−ジクロロフェノール、4−クロロ−レゾルシ
ノール、4.5−シクロローレゾルシノール、4−クロ
ロ−5−メチル−レゾルシノール、5−クロロ−4−メ
チル−レゾルシノールなどが含まれる。
ルデヒド樹脂の製造に際して用いることのできる、種々
の塩素置換フェノールには0−およびp−クロロフェノ
ール、2.5−ジクロロフェノール、2.3−ジクロロ
フェノール、3.4−ジクロロフェノール、2−クロロ
−3−メチルフェノール、2−クロロ−5−メチルフェ
ノール、3−クロロ−2−メチルフェノール、5−クロ
ロ−2−メチルフェノール、3−クロ0−4−メチルフ
ェノール、4−10ロー3−メチルフェノール、4−ク
ロロ−3−エチルフェノール、4−クロロ−3−イソプ
ロビルフェ/−、+1..3−’)クロー4−フェニル
フェノール、3−10ロー4−10ローフエニルフエノ
ール、3.5−ジクロロ−4−メチルフェノール、3.
5−ジクロロ−5−メチルフェノール、3.5−ジクロ
ロ−2−メチルフェノール、2.3−ジクロロ−5−メ
チルフェノール、2.5−ジクロロ−3=メチルフエノ
ール、3−クロロ−4,5−シ)チルフェノール、4−
クロロ−3,4−ジメチルフェノール、2−クロロ−3
,5= ジメチルフェノール、5−クロロ−2,3−ジ
メチルフェノール、5−クロロ−3,5−ジメチルフェ
ノール、2.3.5− トリクロロフェノール、3.4
.5−1−ジクロロフェノール、4−クロロ−レゾルシ
ノール、4.5−シクロローレゾルシノール、4−クロ
ロ−5−メチル−レゾルシノール、5−クロロ−4−メ
チル−レゾルシノールなどが含まれる。
アルデヒド縮合に有効なフェノール性水酸基に対してオ
ルトまたはパラの2つの位置以外に置換基をもち、かつ
アルデヒド縮合に使用することのできる代表的フェノー
ルはフェノール、m−クレゾール、3.5−キシレノー
ル、m−エチルおよびm−イソプロピルフェノール、m
、m’−ジエチルおよびジイソプロピルフェノール、m
−ブチルフェノール、m−アミルフェノール、m−オク
チルフェノール、m〜ノニルフェノール1、レゾルシノ
ール、5−メチルレゾルシノール、5−エチルレゾルシ
ノールなどである。
ルトまたはパラの2つの位置以外に置換基をもち、かつ
アルデヒド縮合に使用することのできる代表的フェノー
ルはフェノール、m−クレゾール、3.5−キシレノー
ル、m−エチルおよびm−イソプロピルフェノール、m
、m’−ジエチルおよびジイソプロピルフェノール、m
−ブチルフェノール、m−アミルフェノール、m−オク
チルフェノール、m〜ノニルフェノール1、レゾルシノ
ール、5−メチルレゾルシノール、5−エチルレゾルシ
ノールなどである。
多核ジヒドロキシフェノールは次の式をもつものである
: ここでArはす7チレンおよび好ましくはフェニレンの
ような芳香族の2価炭化水素であり:AとAtとは同じ
であっても異なっていても良い、好ましくは1〜4個の
炭素原子をもつアルキル基、フッ素、塩素、臭素、およ
びヨウ素などのハロゲン原子、好ましくは1〜4個の炭
素厚子をもつアルコキシ基;xl!l:yとは0から置
換基で置換することのできる芳香族基(Ar)上の水素
原子の数に対応する最高値をもつ整数であり、モしてR
・はジヒドロキシジフェニルのときには隣接する炭素原
子間の結合手で、または例えば以下の2価の基ニ ーC−1−〇−1−S−5−S 0−1−3O1−5お
よび−5−S−およびアルキレン、アルキリデン、環式
脂肪族基、例えばシクロアルキレンおよびシクロアルキ
リデンのような2価の炭化水素基、ハロゲン化されたか
、アルコキシ基またはアリールオキシ基で置換されたア
ルキレン、アルキリデンオよび環式脂肪族基、同じくハ
ロゲン化されたかアルキル基、アルコキシ基またはアリ
ールオキシ基で置換された芳香族基を含むアルクアリー
レンおよび芳香族基のような2価の基およびAr基に縮
合した環よりなる2価の基;またR6はポリアルコキシ
、またはポリシロキシ、または芳香族環により隔てられ
ている2個またはそれ以上のアルキリデン基、第4アミ
ン基、エーテル結合、カルボニル基またはスルホオキシ
ドまたは同様なイオウ含有基などである。
: ここでArはす7チレンおよび好ましくはフェニレンの
ような芳香族の2価炭化水素であり:AとAtとは同じ
であっても異なっていても良い、好ましくは1〜4個の
炭素原子をもつアルキル基、フッ素、塩素、臭素、およ
びヨウ素などのハロゲン原子、好ましくは1〜4個の炭
素厚子をもつアルコキシ基;xl!l:yとは0から置
換基で置換することのできる芳香族基(Ar)上の水素
原子の数に対応する最高値をもつ整数であり、モしてR
・はジヒドロキシジフェニルのときには隣接する炭素原
子間の結合手で、または例えば以下の2価の基ニ ーC−1−〇−1−S−5−S 0−1−3O1−5お
よび−5−S−およびアルキレン、アルキリデン、環式
脂肪族基、例えばシクロアルキレンおよびシクロアルキ
リデンのような2価の炭化水素基、ハロゲン化されたか
、アルコキシ基またはアリールオキシ基で置換されたア
ルキレン、アルキリデンオよび環式脂肪族基、同じくハ
ロゲン化されたかアルキル基、アルコキシ基またはアリ
ールオキシ基で置換された芳香族基を含むアルクアリー
レンおよび芳香族基のような2価の基およびAr基に縮
合した環よりなる2価の基;またR6はポリアルコキシ
、またはポリシロキシ、または芳香族環により隔てられ
ている2個またはそれ以上のアルキリデン基、第4アミ
ン基、エーテル結合、カルボニル基またはスルホオキシ
ドまたは同様なイオウ含有基などである。
ジヒドロキシ多核フェノール類の例としては特に2.2
′−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2.
4’−ジヒドロキシジフェニルメタン、ビス−(2−ヒ
ドロキシフェニル)メタン、ビス−(4−ヒドロキシフ
ェニル)メタン、ビス−(4−ヒドロキシ−2,6−シ
メチルー3−メトキシフェニル)メタン、1.1’−ビ
ス−(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1.2’−t
:” ス−(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1.1
’−ビス−(4−ヒドロキシ−2−クロロフェニル)エ
タン、1,1′−ビス−(3−メチル−4−ヒドロキシ
フェニル)エタン、1.3’−ビス−(3−メチル−4
−ヒドロキシフェニル)プロパン、2.2′−ビス−(
3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2
.2’−ビス=(3−イソプロピル−4−ヒドロキシフ
ェニル)プロパン、2.2′−ビス−(2−イソプロピ
ル−4−ヒドロキシフェニル)ペンタン、2.2’−ヒ
ス−(4−ヒドロキシフェニル)へブタン、ビス−(4
−ヒドロキシフェニル)フェニルメタン、ビス−(4−
ヒドロキシフェニル)シクロヘキシルメタン、l、2′
−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)−1,2’−ビス
−(フェニル)フロパンおよび2.2′−ビス−(4−
ヒドロキシフェニル)−1−フェニル−プロパンなどの
ような為ビス−(ヒドロキシフェニル)アルカン類;ビ
ス−(4−ヒドロキシフェニル)スルホン、2.4′−
ジヒドロキシジフェニルスルホン、5′−クロロ−2,
4’−ジヒドロキシジフェニルスルホンおよび5′−ク
ロロ−4,4’−ジヒドロキシジフェニルスルホンのよ
うなジ(ヒドロキシフェニル)スルホン類;ビス−(4
−ヒドロキシフェニル)エーテル、4.4’−14,2
’−12,2’−12,3′−などのジヒドロキシジフ
ェニルエーテル類、4.4’−ジヒF Oキシ−’l
、 5− ジメチル−ジフェニルエーテル、ビス−(4
−ヒドロキシ−3−イソブチルフェニル)エーテル、ビ
ス−(4−ヒドロキシ−3−イソプロピルフェニル)エ
ーテル、ビス−(4−ヒ)’ロキ’1−3−クロロフェ
ニル)エーテル、ビス−(4−ヒドロキシ−3−フルオ
ロフェニル)エーテル、ビス−(4−ヒドロキシ−3−
ブロモフェニル)エーテル、ビス−(4−ヒドロキシナ
フチル)エーテル、ビス=(4−ヒドロキシ−3−クロ
ロナフチル)エーテル、ビス−(2−ヒドロキシジフェ
ニル)エーテル、4,4′−ジヒドロキシ−2,6−シ
メトキシジフエニルエーテル、および4.4′−ジヒド
ロキシ−2,5−ジェトキシジフェニルエーテルなどの
ようなジ(ヒドロキシフェニル)エーテル類などが含ま
れる。
′−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2.
4’−ジヒドロキシジフェニルメタン、ビス−(2−ヒ
ドロキシフェニル)メタン、ビス−(4−ヒドロキシフ
ェニル)メタン、ビス−(4−ヒドロキシ−2,6−シ
メチルー3−メトキシフェニル)メタン、1.1’−ビ
ス−(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1.2’−t
:” ス−(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1.1
’−ビス−(4−ヒドロキシ−2−クロロフェニル)エ
タン、1,1′−ビス−(3−メチル−4−ヒドロキシ
フェニル)エタン、1.3’−ビス−(3−メチル−4
−ヒドロキシフェニル)プロパン、2.2′−ビス−(
3−フェニル−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2
.2’−ビス=(3−イソプロピル−4−ヒドロキシフ
ェニル)プロパン、2.2′−ビス−(2−イソプロピ
ル−4−ヒドロキシフェニル)ペンタン、2.2’−ヒ
ス−(4−ヒドロキシフェニル)へブタン、ビス−(4
−ヒドロキシフェニル)フェニルメタン、ビス−(4−
ヒドロキシフェニル)シクロヘキシルメタン、l、2′
−ビス−(4−ヒドロキシフェニル)−1,2’−ビス
−(フェニル)フロパンおよび2.2′−ビス−(4−
ヒドロキシフェニル)−1−フェニル−プロパンなどの
ような為ビス−(ヒドロキシフェニル)アルカン類;ビ
ス−(4−ヒドロキシフェニル)スルホン、2.4′−
ジヒドロキシジフェニルスルホン、5′−クロロ−2,
4’−ジヒドロキシジフェニルスルホンおよび5′−ク
ロロ−4,4’−ジヒドロキシジフェニルスルホンのよ
うなジ(ヒドロキシフェニル)スルホン類;ビス−(4
−ヒドロキシフェニル)エーテル、4.4’−14,2
’−12,2’−12,3′−などのジヒドロキシジフ
ェニルエーテル類、4.4’−ジヒF Oキシ−’l
、 5− ジメチル−ジフェニルエーテル、ビス−(4
−ヒドロキシ−3−イソブチルフェニル)エーテル、ビ
ス−(4−ヒドロキシ−3−イソプロピルフェニル)エ
ーテル、ビス−(4−ヒ)’ロキ’1−3−クロロフェ
ニル)エーテル、ビス−(4−ヒドロキシ−3−フルオ
ロフェニル)エーテル、ビス−(4−ヒドロキシ−3−
ブロモフェニル)エーテル、ビス−(4−ヒドロキシナ
フチル)エーテル、ビス=(4−ヒドロキシ−3−クロ
ロナフチル)エーテル、ビス−(2−ヒドロキシジフェ
ニル)エーテル、4,4′−ジヒドロキシ−2,6−シ
メトキシジフエニルエーテル、および4.4′−ジヒド
ロキシ−2,5−ジェトキシジフェニルエーテルなどの
ようなジ(ヒドロキシフェニル)エーテル類などが含ま
れる。
好ましい二価多核フェノールは次式により示される:
ここでAとA、とは前に定義した通りであり、Xとyと
はOから4を含めた値を有し、モしてR6は2価の飽和
脂肪族炭化水素基、特に1〜3個の炭素原子をもつアル
キレン基とアルキリデン基、および10個までの炭素原
子をもつシクロアルキレン基である。もつとも好ましい
二価フェノールはビスフェノールA1すなわち2.2′
−ビス−(p−ヒドロキシフェニル)プロパンである。
はOから4を含めた値を有し、モしてR6は2価の飽和
脂肪族炭化水素基、特に1〜3個の炭素原子をもつアル
キレン基とアルキリデン基、および10個までの炭素原
子をもつシクロアルキレン基である。もつとも好ましい
二価フェノールはビスフェノールA1すなわち2.2′
−ビス−(p−ヒドロキシフェニル)プロパンである。
縮合剤としては、用いられた特定の7エノールと縮合す
るなら、どんなアルデヒドを使用してもよく、これらに
はホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンア
ルデヒド、ブチルアルデヒド、ヘプタアルデヒド、シク
ロヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、シクロペンタ
ノン、ベンズアルデヒド、およびトルイルアルデヒドの
ようなアルキル核置換べ/ズアルデヒド、ナフトアルデ
ヒド、フルフラアルデヒド、グリオキサール、アクロレ
イン、あるいはバラホルムアルデヒド、ヘキサメチレン
テトラミンのようなアルデヒドを発生しうる化合物など
がある。アルデヒド類はまた市販のホルマリンのような
水溶液の形で用いることができる。好ましいアルデヒド
はホルムアルデヒドである。
るなら、どんなアルデヒドを使用してもよく、これらに
はホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンア
ルデヒド、ブチルアルデヒド、ヘプタアルデヒド、シク
ロヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、シクロペンタ
ノン、ベンズアルデヒド、およびトルイルアルデヒドの
ようなアルキル核置換べ/ズアルデヒド、ナフトアルデ
ヒド、フルフラアルデヒド、グリオキサール、アクロレ
イン、あるいはバラホルムアルデヒド、ヘキサメチレン
テトラミンのようなアルデヒドを発生しうる化合物など
がある。アルデヒド類はまた市販のホルマリンのような
水溶液の形で用いることができる。好ましいアルデヒド
はホルムアルデヒドである。
ハローエポキシアルカンは次の式で表わすことができる
: ここでXはハロゲン原子、例えば塩素、臭素などであり
、pは1〜8の整数であり、それぞれのR3は独立して
水素または7個までの炭素原子のアルキル基であり、こ
こでエポキシのアルキル基中の炭素原子の総数は10個
より大きくないものである。
: ここでXはハロゲン原子、例えば塩素、臭素などであり
、pは1〜8の整数であり、それぞれのR3は独立して
水素または7個までの炭素原子のアルキル基であり、こ
こでエポキシのアルキル基中の炭素原子の総数は10個
より大きくないものである。
エピクロロヒドリンから導かれるような、グリシジルエ
ーテルが本発明の実施に特に好ましいのであるが、炭素
原子数がより大きいエポキシ−アルコキシ基を含むエポ
キシポリマもまた適しでいる。これらはエピクロロヒド
リンの代りに、相当するモノヒドロキシエポキシアルカ
ンの塩化物または臭化物例えば1−クロロ−2,3−エ
ポキシブタン、1−クロロ−3,4−エポキシブタン、
2−クロロ−3,4−エポキシブタン、1−クロロ−2
−メチル−2,3−エポキシプロパン、l−ブロモ−2
,3−エポキシペンタン、2−クロロメチル−1,2−
エポキシブタン、■−ブロモー4−メチルー3.4−二
ポキシペンタン、l−ブロモ−4−エチル−2,3−エ
ポキシペンタン、4−クロロ−2−メチル−2,3−エ
ポキシペンタン、1−クロロ−2,3−エポキシオクタ
ン、1−クロロ−2−メチル−2,3−エポキシオクタ
ン、または1−クロロ−2,3−エポキシデカンなどで
置き変えることにより作られる。前述のものよりも炭素
原子数の大きい、ハロエポキシアルカンを用いることも
できるけれども、総数で10個より多い炭素原子をもつ
ものを使用する利点は一般的にない。
ーテルが本発明の実施に特に好ましいのであるが、炭素
原子数がより大きいエポキシ−アルコキシ基を含むエポ
キシポリマもまた適しでいる。これらはエピクロロヒド
リンの代りに、相当するモノヒドロキシエポキシアルカ
ンの塩化物または臭化物例えば1−クロロ−2,3−エ
ポキシブタン、1−クロロ−3,4−エポキシブタン、
2−クロロ−3,4−エポキシブタン、1−クロロ−2
−メチル−2,3−エポキシプロパン、l−ブロモ−2
,3−エポキシペンタン、2−クロロメチル−1,2−
エポキシブタン、■−ブロモー4−メチルー3.4−二
ポキシペンタン、l−ブロモ−4−エチル−2,3−エ
ポキシペンタン、4−クロロ−2−メチル−2,3−エ
ポキシペンタン、1−クロロ−2,3−エポキシオクタ
ン、1−クロロ−2−メチル−2,3−エポキシオクタ
ン、または1−クロロ−2,3−エポキシデカンなどで
置き変えることにより作られる。前述のものよりも炭素
原子数の大きい、ハロエポキシアルカンを用いることも
できるけれども、総数で10個より多い炭素原子をもつ
ものを使用する利点は一般的にない。
本発明で用いられる好ましいエポキシ化されたノボラッ
クは以下の式で表わされる:、: レバEPI−REZ
5uso 8 ヨヒINTEREZ CMD2510
@の商品名で市販品として入手することができる。
クは以下の式で表わされる:、: レバEPI−REZ
5uso 8 ヨヒINTEREZ CMD2510
@の商品名で市販品として入手することができる。
前述の形式のハローエポキシアルカンのポリエポキシド
と、前記の多核二価フェノールに加えて、他のものも用
いることができる。この群の好ましいポリエポキシドは
、エビクロロヒドリンとビスフェノールA1すなわち2
.2−ビス−(p−ヒドロキシフェニル)プロパンとの
ポリエポキシドである。
と、前記の多核二価フェノールに加えて、他のものも用
いることができる。この群の好ましいポリエポキシドは
、エビクロロヒドリンとビスフェノールA1すなわち2
.2−ビス−(p−ヒドロキシフェニル)プロパンとの
ポリエポキシドである。
フォトレジスト組成物はまた通常光開始剤を含んでおり
、一般に約C、1〜約lO重量%、好ましくは約C、5
〜約5重量%の量である。適当な光開始剤は良く知られ
ており、そしてオニウム塩特にビリリウム、セレノニウ
ム、スルホニウムおよびヨードニウムのような第VIA
族と第■A族塩が含まれる。適当な各種の光開始剤が米
国特許第4,161.478号;同第4.442.19
7号;同第4.139,655号;同第4,40C、5
41号;同第4.197.174号−同第4,173.
476号;および同第4.299.938号そして欧州
特許出願第84/ 0094914号および同第841
0126712号中に述べられており、この記述を参考
にここに挙げておく。
、一般に約C、1〜約lO重量%、好ましくは約C、5
〜約5重量%の量である。適当な光開始剤は良く知られ
ており、そしてオニウム塩特にビリリウム、セレノニウ
ム、スルホニウムおよびヨードニウムのような第VIA
族と第■A族塩が含まれる。適当な各種の光開始剤が米
国特許第4,161.478号;同第4.442.19
7号;同第4.139,655号;同第4,40C、5
41号;同第4.197.174号−同第4,173.
476号;および同第4.299.938号そして欧州
特許出願第84/ 0094914号および同第841
0126712号中に述べられており、この記述を参考
にここに挙げておく。
またWatt氏他の「カチオン性重合の新規な光開始剤
:ビス(4−(ジフェニルスルホニオ)フェニルツース
ルフィド−ビス−へキサフルオロホスフェートの調製と
特性J 、Journal ofPolymerSc
ience二PoiymerChemistryEdi
tion箆、 p、1789.1980を参照されたい
。
:ビス(4−(ジフェニルスルホニオ)フェニルツース
ルフィド−ビス−へキサフルオロホスフェートの調製と
特性J 、Journal ofPolymerSc
ience二PoiymerChemistryEdi
tion箆、 p、1789.1980を参照されたい
。
スルホニウム塩とヨードニウム塩に関する別の論文は、
例えばPappas氏他の「カチオン性重合の光開始、
第■報シフ゛エニルヨードニウムとトリフェニルスルホ
ニウム塩の光増感性」、Journal of P
olymer 5cier+ce : Polym
er Cbemi−stry Edition、
22. pp、77−84. 1984 ; Cr1
vell。
例えばPappas氏他の「カチオン性重合の光開始、
第■報シフ゛エニルヨードニウムとトリフェニルスルホ
ニウム塩の光増感性」、Journal of P
olymer 5cier+ce : Polym
er Cbemi−stry Edition、
22. pp、77−84. 1984 ; Cr1
vell。
氏他の「トリアリールスルホニウム塩により光開始され
たカチオン性重合J 、Journal ofPol
ymer 5cience : Polymer Ch
emistry Edition。
たカチオン性重合J 、Journal ofPol
ymer 5cience : Polymer Ch
emistry Edition。
f7. pp、977−999.1979; Crlv
ello氏他の[トリアリールスルホニウム錯塩光開始
剤、■、新規なトリアリ・−ルスルホニウム塩光開始剤
の合成および同定と定性J 、Journal of
PolymerScience : Polymer
Chemistry Edition、 18. H
)、2677−2695.198C、8よびCrlve
lio氏の「カチオン性重合−ヨードニウムおよびスル
ホニウム塩光開始剤J 、Advances in
Pot)+mar 5cience。
ello氏他の[トリアリールスルホニウム錯塩光開始
剤、■、新規なトリアリ・−ルスルホニウム塩光開始剤
の合成および同定と定性J 、Journal of
PolymerScience : Polymer
Chemistry Edition、 18. H
)、2677−2695.198C、8よびCrlve
lio氏の「カチオン性重合−ヨードニウムおよびスル
ホニウム塩光開始剤J 、Advances in
Pot)+mar 5cience。
#62. pp、1−48などで知ることができる。
スルホニウム塩の例はアリールアシルジアルキルスルホ
ニウム塩とヒドロキシアリールジアルキルスルホニウム
塩であり、以下の式で表わされる: I (RCC(Rつ、S(Rすz)”MQd−(1)(R’
)d ここでRはC7〜1.の1価芳香族有機基または置換さ
れてたC5〜9.の1価芳香族有機基であり、R1は水
素s C1−aのアルキルおよびこれらの混合物から選
ばれた1価の基、R2はC,〜4.の1個有機基、R3
は01〜.のアルキル、ヒドロキシ、01〜。
ニウム塩とヒドロキシアリールジアルキルスルホニウム
塩であり、以下の式で表わされる: I (RCC(Rつ、S(Rすz)”MQd−(1)(R’
)d ここでRはC7〜1.の1価芳香族有機基または置換さ
れてたC5〜9.の1価芳香族有機基であり、R1は水
素s C1−aのアルキルおよびこれらの混合物から選
ばれた1価の基、R2はC,〜4.の1個有機基、R3
は01〜.のアルキル、ヒドロキシ、01〜。
のアルコキシ、ハロゲンおよびニトロなどから選ばれた
1価の基 R4はCl−8のアルキル基、Mは金属また
は半金属、Qはハロゲン、そしてdは4〜6である。
1価の基 R4はCl−8のアルキル基、Mは金属また
は半金属、Qはハロゲン、そしてdは4〜6である。
ヒ
ドロキシアリールジアルキルスルホニウムアリールアシ
ルジアルキルスルホニウム塩の塩の例は以下である。
ルジアルキルスルホニウム塩の塩の例は以下である。
例は以下である。
CgHi−C−CHt−3(CHs)tsbFi感光性
組成物は乾燥フィルム状で付与することもできるし、 または連発性の稀釈剤を用いて 液体組成物として付与することもできる。
組成物は乾燥フィルム状で付与することもできるし、 または連発性の稀釈剤を用いて 液体組成物として付与することもできる。
本発明の好ま
しい11成物は以下のものを含ん
でいる:
A)
INTEREZ
CMD2510[F](8官能性のビスフ二)−ルAエ
ポキシ) の約69〜約79重量%、 好ま しくは約74重量%; B) 2官能性環状脂肪族エポキシ、 Araldite CY−1798 この他の好適な光開始剤は以下である。
ポキシ) の約69〜約79重量%、 好ま しくは約74重量%; B) 2官能性環状脂肪族エポキシ、 Araldite CY−1798 この他の好適な光開始剤は以下である。
の約15〜約17!!量%、好ましくは約16重量%
: C) 3官能性エポキシ、Tactix742@の約
4〜約6重量%、好ましくは約5重量%。
: C) 3官能性エポキシ、Tactix742@の約
4〜約6重量%、好ましくは約5重量%。
本発明の方法は、セラミック基板のような所望の基板上
に、カチオン性重合可能な組成物の層を準備し、ついで
この組成物をレーザビームにより画像状に露光すること
を含んでいる。適当なレーザはパルス式色素レーザ、周
波数倍加YAGレーザ、窒素レーザ、および好ましくは
アルゴンレーザなどである。アルゴンイオンシステムは
もっとも強力な前記のレーザであり、フォトレジストの
露光のために充分な出力で連続的のモードで作動させら
れる。
に、カチオン性重合可能な組成物の層を準備し、ついで
この組成物をレーザビームにより画像状に露光すること
を含んでいる。適当なレーザはパルス式色素レーザ、周
波数倍加YAGレーザ、窒素レーザ、および好ましくは
アルゴンレーザなどである。アルゴンイオンシステムは
もっとも強力な前記のレーザであり、フォトレジストの
露光のために充分な出力で連続的のモードで作動させら
れる。
例えば、所望の画像は感光性組成物を被着した基板上を
アルゴンレーザビームで走査することにより作られる。
アルゴンレーザビームで走査することにより作られる。
アルゴンレーザビームからの336〜363na+の出
力は、レーザビーム光の方向を変えることにより効果的
にレーザ光を点滅させるs Nevport 0pti
cs社の音響−光字(アコウストーオプチック)変調器
中を通過させられる。アルゴンレーザ光システムはEx
cellon社からエクセロンダイレクトイメージング
システム2000B@の名称のもとに、またGerbe
r科学器具社からGerber LDI −1500シ
ステム■の名称のもとに入手できる。
力は、レーザビーム光の方向を変えることにより効果的
にレーザ光を点滅させるs Nevport 0pti
cs社の音響−光字(アコウストーオプチック)変調器
中を通過させられる。アルゴンレーザ光システムはEx
cellon社からエクセロンダイレクトイメージング
システム2000B@の名称のもとに、またGerbe
r科学器具社からGerber LDI −1500シ
ステム■の名称のもとに入手できる。
レーザ光は回転多面鏡上に反射され、基板を保持してい
る真空プラテン上に出力が指向される。回転多面鏡はレ
ーザ光をy方向に走査し、同時にプラテンはX方向に移
動し、両者の動きは関連させられている。コンピュータ
がボッケルセルが何時開くかを決定し、同時に多面鏡の
回転速度とプラテンの移動の速度も決定される。
る真空プラテン上に出力が指向される。回転多面鏡はレ
ーザ光をy方向に走査し、同時にプラテンはX方向に移
動し、両者の動きは関連させられている。コンピュータ
がボッケルセルが何時開くかを決定し、同時に多面鏡の
回転速度とプラテンの移動の速度も決定される。
アルゴンレーザの代表的な作動条件は以下の通りである
: 作動波長 : 365.351および333n
mレーザ作動出力 :2.5W 光学的通過量 =45% 全プラテン上の露光 エネルギ : 100 mj/cがビーム走査
速度 : 1600インチ/秒(41!/S)単位露
光時間 単位露光エネルギ 単位露光出力 露光プラテン速度 : 6.25X 10axp−’秒/ビクセル: 7.
8X 1oexp−” mj/ビクセル: 125W/
ピクセル : 125W/ビクセル、 4インチ/分(10cm7分) アルゴンイオンレーザは、UVモードで作動さ本発明の
カチオン性重合可能な組成物は、ハンダ用マスクとして
または永久的な誘電体層として用いるだめの優れた緒特
性を有している。
: 作動波長 : 365.351および333n
mレーザ作動出力 :2.5W 光学的通過量 =45% 全プラテン上の露光 エネルギ : 100 mj/cがビーム走査
速度 : 1600インチ/秒(41!/S)単位露
光時間 単位露光エネルギ 単位露光出力 露光プラテン速度 : 6.25X 10axp−’秒/ビクセル: 7.
8X 1oexp−” mj/ビクセル: 125W/
ピクセル : 125W/ビクセル、 4インチ/分(10cm7分) アルゴンイオンレーザは、UVモードで作動さ本発明の
カチオン性重合可能な組成物は、ハンダ用マスクとして
または永久的な誘電体層として用いるだめの優れた緒特
性を有している。
レーザに対する画像状露光講、カチオン性重合可能なフ
ォトレジストの未露光区域は、適当な溶剤に接触させる
ことにより除去または現像することができる。例えばポ
リエポキシドの場合は、ガンマ−ブチロラクトン、プロ
ピレンカーボネート、ジグライム、または前記のものの
混合物、同じ<1.1.1−トリクロロエタンとプロピ
レンカーボネートあるいはガンマ−ブチロラクトンのい
ずれかとの2成分系混合物が適当である。
ォトレジストの未露光区域は、適当な溶剤に接触させる
ことにより除去または現像することができる。例えばポ
リエポキシドの場合は、ガンマ−ブチロラクトン、プロ
ピレンカーボネート、ジグライム、または前記のものの
混合物、同じ<1.1.1−トリクロロエタンとプロピ
レンカーボネートあるいはガンマ−ブチロラクトンのい
ずれかとの2成分系混合物が適当である。
本発明をさらに示すために、以下非限定的の実施例が示
される二 11色 エポキシ−ガラスラミネート体の上に、CMD2510
@(8官能性のビスフェノールAエポキシ)の約74重
量%; Araldite CY−1798の約16重
量%; Tactix7420の約5重量%、 GEL
IVE1014@光開始剤の約4.9%;およびFLO
URAD FC430■フッ素系界面活性剤の約0−i
%を含んでいる、カチオ〉・性重合可能なフィルムをラ
ミネートした。
される二 11色 エポキシ−ガラスラミネート体の上に、CMD2510
@(8官能性のビスフェノールAエポキシ)の約74重
量%; Araldite CY−1798の約16重
量%; Tactix7420の約5重量%、 GEL
IVE1014@光開始剤の約4.9%;およびFLO
URAD FC430■フッ素系界面活性剤の約0−i
%を含んでいる、カチオ〉・性重合可能なフィルムをラ
ミネートした。
フィルムの厚みは約2ミル(0,051111)である
。
。
このフィルムは、エクセロングイレクトイメージングシ
ステム2000E’■を出力2.5ワツトで使用L、約
351nmの波長を用いてアルゴンレーザに対して画像
状露光をした。全プラテン上の露光エネルギは約100
mj/cm”で、ビームの走査速度は約1600インチ
/秒(4m/ s)である。
ステム2000E’■を出力2.5ワツトで使用L、約
351nmの波長を用いてアルゴンレーザに対して画像
状露光をした。全プラテン上の露光エネルギは約100
mj/cm”で、ビームの走査速度は約1600インチ
/秒(4m/ s)である。
このレーザイメージングは優れた解像性を与え、特に厚
さ2ミル(0,05i+m)のフィルム中においてlミ
ル(0,025m+*)の線幅と間隔とが解像された。
さ2ミル(0,05i+m)のフィルム中においてlミ
ル(0,025m+*)の線幅と間隔とが解像された。
エポキシの未露光部はガンマ−ブチロラクトン10重量
%中で現像され、高コントラストの高解像性パターンが
得られた。
%中で現像され、高コントラストの高解像性パターンが
得られた。
以上本発明の詳細な説明したが、本発明はさらに次の実
施態様によってこれを要約して示すことが出来る。
施態様によってこれを要約して示すことが出来る。
(1) フォトレジストをパターン化するために、A
、カチオン性硬化可能なフォトレジストの未硬化フィル
ムを基板上に用意し: B、パターン状のレーザビームに対し前記フォトレジス
トを画像状に露光して、カチオン性重合により前記フォ
トレジストの部分を硬化し;そして C9前記フォトレジストを現像する: ことからなるパターン化方法。
、カチオン性硬化可能なフォトレジストの未硬化フィル
ムを基板上に用意し: B、パターン状のレーザビームに対し前記フォトレジス
トを画像状に露光して、カチオン性重合により前記フォ
トレジストの部分を硬化し;そして C9前記フォトレジストを現像する: ことからなるパターン化方法。
(2) レーザはアルゴンイオンレーザである、前′
1lJl記載の方法。
1lJl記載の方法。
(3)アルゴンイオンレーザは約333〜約365rx
mの範囲で作動されるものである、前項2記載の方法。
mの範囲で作動されるものである、前項2記載の方法。
(4)カチオン性硬化可能なフォトレジストはエポキシ
ポリマを含むものである、前項l記載の方法。
ポリマを含むものである、前項l記載の方法。
(5)フィルムはまた光開始剤を含むものである、前項
4記載の方法。
4記載の方法。
(6)光開始剤はオニウム塩である、前項5記載の方法
。
。
(7)カチオン性硬化可能フォトレジストはエポキシ化
ノボラックポリマ、エビクロロヒドリンとビスフェノー
ルAとからのポリエポキシド、およびこれらの混合物、
からなる群より選ばれt;エポキシを含むものである、
前項1記載の方法。
ノボラックポリマ、エビクロロヒドリンとビスフェノー
ルAとからのポリエポキシド、およびこれらの混合物、
からなる群より選ばれt;エポキシを含むものである、
前項1記載の方法。
(8)カチオン性硬化可能なフォトレジストは8官能性
ビスフェノールAエポキシノボラックを含むものである
、前項1記職の方法。
ビスフェノールAエポキシノボラックを含むものである
、前項1記職の方法。
(9)カチオン性硬化可能フォトレジストのフィルムは
乾燥フィルムのラミネートにより前記基体上に付与され
己ものである、前項l記載の方法。
乾燥フィルムのラミネートにより前記基体上に付与され
己ものである、前項l記載の方法。
(10)カチオン性硬化可能7オトレジストのフィルム
は、 A、 gtM性ビスフェノールAエボキシノポラック
の約69〜約79重量%; B、 2官能性環状脂肪族エポキシの約15〜約17
重量%; 0、 3官能性エポキシの約4〜約6重量%;D、光増
感剤の約2.9〜約6.9重量%;E、界面活性剤の0
〜約C、15重量%;F、 GEVE10140のよ
うな光増感剤の約2.5〜約6.9重量%、好ましくは
約4.9よ量% FLOllRAD FC430[F]、 フッ素系界面活性剤 の0〜約C、15重量%、 好ましくは約C、1重量 を含み、 前記の各分量は感光性層の固体成分 の全重量を基準としたものである、 前項l 記 載の方法。
は、 A、 gtM性ビスフェノールAエボキシノポラック
の約69〜約79重量%; B、 2官能性環状脂肪族エポキシの約15〜約17
重量%; 0、 3官能性エポキシの約4〜約6重量%;D、光増
感剤の約2.9〜約6.9重量%;E、界面活性剤の0
〜約C、15重量%;F、 GEVE10140のよ
うな光増感剤の約2.5〜約6.9重量%、好ましくは
約4.9よ量% FLOllRAD FC430[F]、 フッ素系界面活性剤 の0〜約C、15重量%、 好ましくは約C、1重量 を含み、 前記の各分量は感光性層の固体成分 の全重量を基準としたものである、 前項l 記 載の方法。
前記Bは式
により示されるものである、
法。
前項10記載の方
により示されるものであり、
前記Cは式
%式%
により示されるものであり、
そして前記りは
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)フォトレジストをパターン化するために、A、カチ
オン性硬化可能なフォトレジストの未硬化フィルムを基
板上に用意し; B、パターン状のレーザビームに対し前記フォトレジス
トを画像状に露光して、カチオン性重合により前記フォ
トレジストの部分を硬化し;そして C、前記フォトレジストを現像する; ことからなるパターン化方法。 2)カチオン性硬化可能フォトレジストのフィルムは、 A、8官能性ビスフェノールAエポキシノボラックの約
69〜約79重量%; B、2官能性環状脂肪族エポキシの約15〜約17重量
%; C、3官能性エポキシの約4〜約6重量%;D、光増感
剤の約2.9〜約6.9重量%;E、界面活性剤の0〜
約0.15重量%; F、GEVE1014^■のような光増感剤▲数式、化
学式、表等があります▼および ▲数式、化学式、表等があります▼ の約2.5〜約6.9重量%、好ましくは約4.9重量
% G、FLOURADFC430^■、フッ素系界面活性
剤の0〜約0.15重量%、好ましくは約0.1重量% を含み、前記の各分量は感光性層の固体成分の全重量を
基準としたものである、請求項1記載の方法。 3)前記Bは式 ▲数式、化学式、表等があります▼ により示されるものであり、前記Cは式 ▲数式、化学式、表等があります▼ により示されるものであり、そして前記Dは式 ▲数式、化学式、表等があります▼および ▲数式、化学式、表等があります▼ により示されるものである、請求項2記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US292173 | 1988-12-30 | ||
US07/292,173 US4940651A (en) | 1988-12-30 | 1988-12-30 | Method for patterning cationic curable photoresist |
Publications (1)
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---|---|
JPH02259762A true JPH02259762A (ja) | 1990-10-22 |
Family
ID=23123534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1309434A Pending JPH02259762A (ja) | 1988-12-30 | 1989-11-30 | カチオン性硬化可能なフオトレジストのパターン化方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4940651A (ja) |
EP (1) | EP0375929B1 (ja) |
JP (1) | JPH02259762A (ja) |
DE (1) | DE68927735D1 (ja) |
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