JPH0221243A - 原子吸収分光計用電磁石 - Google Patents
原子吸収分光計用電磁石Info
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- JPH0221243A JPH0221243A JP1064008A JP6400889A JPH0221243A JP H0221243 A JPH0221243 A JP H0221243A JP 1064008 A JP1064008 A JP 1064008A JP 6400889 A JP6400889 A JP 6400889A JP H0221243 A JPH0221243 A JP H0221243A
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- G—PHYSICS
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F7/00—Magnets
- H01F7/06—Electromagnets; Actuators including electromagnets
- H01F7/20—Electromagnets; Actuators including electromagnets without armatures
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- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/74—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、原子化された試料の配置箇所に磁界馨形成す
る之めの原子吸収分光計用′電磁石であって、該分光計
ではゼーマン効果に基づく磁界によって試料内の探査元
素の原子の吸収ラインが、該元素の放出ラインに対し相
対的に、原子化し几試料を通過する測光束内でずらされ
るもやであり、ざらに、 （ａ） その間に空隙の設けられた磁極片対と、（ｂ
） 磁極片を連絡する磁気帰路部材と、（ｃ１磁極片
、空隙および磁気帰路部材７介して磁束を発生するため
の磁気コイルとを有し、ここで原子化装置が試料を前記
空隙内で原子化するものである原子吸収分光計用電磁石
に関する。
る之めの原子吸収分光計用′電磁石であって、該分光計
ではゼーマン効果に基づく磁界によって試料内の探査元
素の原子の吸収ラインが、該元素の放出ラインに対し相
対的に、原子化し几試料を通過する測光束内でずらされ
るもやであり、ざらに、 （ａ） その間に空隙の設けられた磁極片対と、（ｂ
） 磁極片を連絡する磁気帰路部材と、（ｃ１磁極片
、空隙および磁気帰路部材７介して磁束を発生するため
の磁気コイルとを有し、ここで原子化装置が試料を前記
空隙内で原子化するものである原子吸収分光計用電磁石
に関する。
従来の技術
原子吸収分光計は、試料内の探査元素の量または濃度を
測定するのに用いられる。この目的のためにラインを放
出する光源、例えば中空カッ−トランプから測光束が光
電検出器に導かれる。この測光束のビーム路に原子化装
置が配置されている。この原子化装置内で探査元素が原
子化され、その元素の構成成分は原子状態で存在する。
測定するのに用いられる。この目的のためにラインを放
出する光源、例えば中空カッ−トランプから測光束が光
電検出器に導かれる。この測光束のビーム路に原子化装
置が配置されている。この原子化装置内で探査元素が原
子化され、その元素の構成成分は原子状態で存在する。
測光束は探査元素の共振ライン乞含む。
測光束のこの共振ラインは、探査元素の原子により原子
雲内で吸収される。一方理想例では、試料に含壕れる他
の元素は測光束に影ｆｆＹ与えない。従って測光束は減
衰乞受げ、この減衰が探査元素の、測光束路中に存在す
る原子数に対する尺度となる。その結果、適用される原
子化方法に応じ、試料中の探査元素の濃度または量に対
する尺度が得られる。しかし測光束の受ける吸収は探査
元素の原子によって生じるものだけではない。例えば分
子による光の吸収に基づく０バツクグランド吸収”があ
る。このバックグランド吸収は特に高感度測定の場合補
償しなければならない。
雲内で吸収される。一方理想例では、試料に含壕れる他
の元素は測光束に影ｆｆＹ与えない。従って測光束は減
衰乞受げ、この減衰が探査元素の、測光束路中に存在す
る原子数に対する尺度となる。その結果、適用される原
子化方法に応じ、試料中の探査元素の濃度または量に対
する尺度が得られる。しかし測光束の受ける吸収は探査
元素の原子によって生じるものだけではない。例えば分
子による光の吸収に基づく０バツクグランド吸収”があ
る。このバックグランド吸収は特に高感度測定の場合補
償しなければならない。
原子化装置として炎？用いることができる。
この炎に試料乞溶解液として噴霧する。しかし高感度測
定に対しては電熱式の原子化が有利である。この場合、
試料乞電流の導入流通によって高温に加熱された炉に入
れる。それにより炉内の試料は１ず乾燥し、次に灰にな
って最後に原子化する。
定に対しては電熱式の原子化が有利である。この場合、
試料乞電流の導入流通によって高温に加熱された炉に入
れる。それにより炉内の試料は１ず乾燥し、次に灰にな
って最後に原子化する。
炉内では”原子雲”が形成され、この原子雲内では探査
元素が原子状態で存在する。測光束はこの炉を通過する
。この炉は種々異なる形状にすることかできる。１几通
常はグラファイトから製造される。
元素が原子状態で存在する。測光束はこの炉を通過する
。この炉は種々異なる形状にすることかできる。１几通
常はグラファイトから製造される。
バックグランド補償を行うために゛ゼーマン効果”を利
用する。原子化された試料内の吸収する原子に磁界７加
えると、この原子の共振ラインに分裂とずれが生じる。
用する。原子化された試料内の吸収する原子に磁界７加
えると、この原子の共振ラインに分裂とずれが生じる。
従って原子の共振ラインは測光束のスペクトルラインに
は重ならなくなり、限界状態では原子吸収がもはや生じ
な（なる。−ｆ：ｎにより、磁界を加えた場合に生じる
、原子によらないバックグランド吸収と、磁界を加えな
い場合にはバックグランド吸収に重畳されている真の原
子吸収とが区別される。
は重ならなくなり、限界状態では原子吸収がもはや生じ
な（なる。−ｆ：ｎにより、磁界を加えた場合に生じる
、原子によらないバックグランド吸収と、磁界を加えな
い場合にはバックグランド吸収に重畳されている真の原
子吸収とが区別される。
本発明は原子吸収分光計において、試料の配置箇所にお
いて、バックグランド吸収乞測定するためのゼーマン効
果乞惹起する電磁石に関するものである。
いて、バックグランド吸収乞測定するためのゼーマン効
果乞惹起する電磁石に関するものである。
西独国特許出願公告第１９６４４６９号公報により次の
原子吸収分光計が公知である。丁なわち、ビームがライ
ン放射器として構成されている唯一のビーム源から放射
され、試料を通るこのビーム源のビームが縦方向のゼー
マン効果乞利用して周波数変調される原子吸収分光計が
公知である。この公知の原子吸収分光計では、中空カソ
ードランプが電磁石の磁極片の間に装着されている。磁
極片の１つは、孔部を有し、この孔部を測光束が通過す
る。次に測光束は原子化装置として用いる炎およびモノ
クロメータ７通り、光電検出器に入射する。電磁石はオ
ン・オフ可能であり、その際電磁石が投入接続されてい
る場合と遮断されている場合との信号の差から、バンク
グラウンド吸収に関して補償された、試料原子の原子吸
収分光計することができる。ここでは電磁石の巻線は磁
極片に装着されている。
原子吸収分光計が公知である。丁なわち、ビームがライ
ン放射器として構成されている唯一のビーム源から放射
され、試料を通るこのビーム源のビームが縦方向のゼー
マン効果乞利用して周波数変調される原子吸収分光計が
公知である。この公知の原子吸収分光計では、中空カソ
ードランプが電磁石の磁極片の間に装着されている。磁
極片の１つは、孔部を有し、この孔部を測光束が通過す
る。次に測光束は原子化装置として用いる炎およびモノ
クロメータ７通り、光電検出器に入射する。電磁石はオ
ン・オフ可能であり、その際電磁石が投入接続されてい
る場合と遮断されている場合との信号の差から、バンク
グラウンド吸収に関して補償された、試料原子の原子吸
収分光計することができる。ここでは電磁石の巻線は磁
極片に装着されている。
この公知の原子吸収分光計において、ラインを放出する
光源の放出ラインはゼーマン効果によって周期的にずら
され、それにより放出されたラインは周波数変調さルる
。しかし試料の吸収ラインは周波数変調されない。光源
として中空カソードランプを使用すると、問題の生じる
ことがある。なぜなら、中空カッ−トランプの放電は磁
界によって影響７受けるからである。
光源の放出ラインはゼーマン効果によって周期的にずら
され、それにより放出されたラインは周波数変調さルる
。しかし試料の吸収ラインは周波数変調されない。光源
として中空カソードランプを使用すると、問題の生じる
ことがある。なぜなら、中空カッ−トランプの放電は磁
界によって影響７受けるからである。
この点については既に西独国特許出願公告第１９６４４
６９号公報にも指摘されている。
６９号公報にも指摘されている。
西独国特許第２１６５１０６号明細書によって、オン・
オフ可能な電磁石の磁界を光源にではな（、原子化装置
に加えることが公知である。
オフ可能な電磁石の磁界を光源にではな（、原子化装置
に加えることが公知である。
丁なわち原子化された試料に加えることが公知である。
その際、原子化装置は炎である。磁界は測光束の走行方
向に対して垂直に加えられる。
向に対して垂直に加えられる。
ここで゛横方向の”ゼーマン効果により吸収ラインの分
割が生じる。これによってこの場合も、測光束の放出ラ
インと試料の吸収ラインとの間に相対的なずれが生じる
。磁界のオン・オフによってこの場合も、探査元素の原
子による原子吸収と非特定のバックグラウンド吸収と？
区別することができる。
割が生じる。これによってこの場合も、測光束の放出ラ
インと試料の吸収ラインとの間に相対的なずれが生じる
。磁界のオン・オフによってこの場合も、探査元素の原
子による原子吸収と非特定のバックグラウンド吸収と？
区別することができる。
横方向のゼーマン効果乞使用する場合、スペクトルライ
ンは、中央ラインと、これに対して高い方と低い方の波
長にずらされた２つのサイドラインに分割される。ここ
で中央ラインの波長は磁界が遮断されている場合の当該
ラインのずらされていない波長に相応する。中央ライン
およびサイドラインは異なって偏光されている。
ンは、中央ラインと、これに対して高い方と低い方の波
長にずらされた２つのサイドラインに分割される。ここ
で中央ラインの波長は磁界が遮断されている場合の当該
ラインのずらされていない波長に相応する。中央ライン
およびサイドラインは異なって偏光されている。
従って中央ラインの影ｇを偏光子によって除去すること
ができる。
ができる。
原子化装置として試料を電熱式に原子化するための炉が
公知である。このような原子化装置として例えばグラフ
ァイト管が用いられる。Ｃのグラファイト管はリング状
の接点の間に保持さｎており、この管を通って測光束が
長平方向に走行する。リング状の接点７介して強い電流
がグラファイト管を通して導かれる。これによりグラフ
ァイト管に収容された試料は原子化され、グラファイト
管内に“原子雲“′乞形成する。
公知である。このような原子化装置として例えばグラフ
ァイト管が用いられる。Ｃのグラファイト管はリング状
の接点の間に保持さｎており、この管を通って測光束が
長平方向に走行する。リング状の接点７介して強い電流
がグラファイト管を通して導かれる。これによりグラフ
ァイト管に収容された試料は原子化され、グラファイト
管内に“原子雲“′乞形成する。
この原子雲内では、探査元素が原子状態で存在する。グ
ラファイト管によって動作するこのような原子化装置は
例えば、西独国特許第２３１４２０７号明細書および西
独国特許第２１４８７８３号明細書から公知である。
ラファイト管によって動作するこのような原子化装置は
例えば、西独国特許第２３１４２０７号明細書および西
独国特許第２１４８７８３号明細書から公知である。
長手方向に電流が導通するグラファイト管によって動作
するこの種の原子化装置においてゼーマン効果を利用し
てパックグラウンド吸収の補償２行うことも公知である
。この目的のために電磁石によって、測光束の走行方向
に対し横方向の交番磁界がグラファイト管に加えられる
。
するこの種の原子化装置においてゼーマン効果を利用し
てパックグラウンド吸収の補償２行うことも公知である
。この目的のために電磁石によって、測光束の走行方向
に対し横方向の交番磁界がグラファイト管に加えられる
。
原子吸収分光計における試料の電熱式原子化のための炉
が公知である。この炉では、電流がグラファイト管乞通
って長手方向ではなくて、周囲方向に導通される。この
例としては、米国特許第４４０７５８２号明細書および
西独国特許公開第３５３４４１７号公報並びに実質的に
内容の等しい刊行物″Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ Ｃｈｅｍ
ｉｓｔｒｙ５８（１９８６）、１９７３がある。
が公知である。この炉では、電流がグラファイト管乞通
って長手方向ではなくて、周囲方向に導通される。この
例としては、米国特許第４４０７５８２号明細書および
西独国特許公開第３５３４４１７号公報並びに実質的に
内容の等しい刊行物″Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ Ｃｈｅｍ
ｉｓｔｒｙ５８（１９８６）、１９７３がある。
発明が解決しようとする課題
本発明の課題は冒頭に述べた電磁石２次のように構成す
ることである。丁なわち、試料の配置箇所では可能な限
り磁界が強力であυ、かっ可能な限り漂遊磁界が小で（
、電磁石の寸法も小さいＸうに構成することである。
ることである。丁なわち、試料の配置箇所では可能な限
り磁界が強力であυ、かっ可能な限り漂遊磁界が小で（
、電磁石の寸法も小さいＸうに構成することである。
課題を解決するための手段
上述の課題は次のように構成して解決でれる。
丁なわち、
［ｄ） 磁気コイルを磁極片上で、空隙の直ぐ近傍に
配置し、 （ｅ） 磁気コイルの巻き線を、冷却流体の流過する
ことのでさる管によって構成されるようにして解決され
る。
配置し、 （ｅ） 磁気コイルの巻き線を、冷却流体の流過する
ことのでさる管によって構成されるようにして解決され
る。
磁気コイルは磁極片上に配置される。それにより漂遊磁
界が減少する。従って、所定の電力で比較的強い磁界が
空隙で形成される。漂遊磁界が強いという欠点が回避さ
れる。磁極片乞原子化装置に密に接近させることができ
る。このときに原子化装置の熱、例えば試料を電熱式に
原子化する之めの炉熱によって、励磁電流により既に熱
負荷の加わっている電磁コイルが許容さｎない程加熱さ
れることはない。反対に、冷却流体が熱を放出する。磁
極片馨原子化装置に接近させることは同様に、磁界の均
一化と所望電力の減少に作用する。電磁石の寸法を比較
的小さ（保持することができる。
界が減少する。従って、所定の電力で比較的強い磁界が
空隙で形成される。漂遊磁界が強いという欠点が回避さ
れる。磁極片乞原子化装置に密に接近させることができ
る。このときに原子化装置の熱、例えば試料を電熱式に
原子化する之めの炉熱によって、励磁電流により既に熱
負荷の加わっている電磁コイルが許容さｎない程加熱さ
れることはない。反対に、冷却流体が熱を放出する。磁
極片馨原子化装置に接近させることは同様に、磁界の均
一化と所望電力の減少に作用する。電磁石の寸法を比較
的小さ（保持することができる。
本発明の別の実施例はその他の従属請求項に記載されて
いる。
いる。
実施例
次に本発明乞図示の実施例につき図面７用いて詳細に説
明する。
明する。
第１図には、原子吸収分光計全体が啓示されている。
原子吸収分光計はケーシング１０乞有し、その中にラン
プ、光学系および光電検出器が収容式れている。ケーシ
ング１０は試料室１２乞形成する。試料室１２には原子
化装置１４が配置さｎている。
プ、光学系および光電検出器が収容式れている。ケーシ
ング１０は試料室１２乞形成する。試料室１２には原子
化装置１４が配置さｎている。
原子吸収分光計は光源１６として中空カソードランプ１
６を有している。光源１６はラインスペクトル乞放出す
る。このラインスペクトルは探査元素の共撮ラインに相
応する。光源１６から測光束１８が放射される。測光束
１８は乎面憶２０によって方向変換され、凹面鏡２２に
よつでケーシング１０の開口部２４を通って試料室の中
央に集光される。それから測掌束は開口部２４と一列乞
成す、ケーシング１０の開口部２６を通り、第２の凹面
鏡２８に入射する。
６を有している。光源１６はラインスペクトル乞放出す
る。このラインスペクトルは探査元素の共撮ラインに相
応する。光源１６から測光束１８が放射される。測光束
１８は乎面憶２０によって方向変換され、凹面鏡２２に
よつでケーシング１０の開口部２４を通って試料室の中
央に集光される。それから測掌束は開口部２４と一列乞
成す、ケーシング１０の開口部２６を通り、第２の凹面
鏡２８に入射する。
この第２の凹面鏡２８から測光束１８は平面鏡３０を介
してモノクロメータ３４の入口スリット３２にフォーカ
シングされる。モノクロメータ３４の出口スリット３６
の後方に光電検出器３８が配設されている。光電検出器
３８の信号は信号処理回路４０に印加される。
してモノクロメータ３４の入口スリット３２にフォーカ
シングされる。モノクロメータ３４の出口スリット３６
の後方に光電検出器３８が配設されている。光電検出器
３８の信号は信号処理回路４０に印加される。
原子化装置１４は、電熱式の原子化のための炉、および
試料の配置箇所に磁界乞発生する几めオン・オフ可能な
電磁石４４を有している。
試料の配置箇所に磁界乞発生する几めオン・オフ可能な
電磁石４４を有している。
第１図には本来の炉体４２しか図示きれていない。電磁
石４４は２つの整列した磁極片４６および４８乞有して
おり、両磁極片の間に炉体４２が配置されている。磁極
片４６および４８には一列を成している孔部５０および
５２が設けられている。孔部５０および５２は炉体４２
の長手孔部５４と一列を成している。測光束１８は孔部
５０．５２および炉体４２の長手孔部５４を通過してい
る。磁極片５０および５２にコイル保持体５６ないし５
８が装着されている。このコイル保持体５６および５８
に、電磁石４４の電磁コイル６０ないし６２が巻き付け
られている。６４は、炉体４２乞流れる電流を制御する
電源部である。図かられかるように、電流レエ測光束１
８の走行方向に対し横方向に供給され、管状の炉体４２
を周囲方向で導通する。
石４４は２つの整列した磁極片４６および４８乞有して
おり、両磁極片の間に炉体４２が配置されている。磁極
片４６および４８には一列を成している孔部５０および
５２が設けられている。孔部５０および５２は炉体４２
の長手孔部５４と一列を成している。測光束１８は孔部
５０．５２および炉体４２の長手孔部５４を通過してい
る。磁極片５０および５２にコイル保持体５６ないし５
８が装着されている。このコイル保持体５６および５８
に、電磁石４４の電磁コイル６０ないし６２が巻き付け
られている。６４は、炉体４２乞流れる電流を制御する
電源部である。図かられかるように、電流レエ測光束１
８の走行方向に対し横方向に供給され、管状の炉体４２
を周囲方向で導通する。
電磁石４４は磁石制御部６６によって、磁界が交互にオ
ン・オフされるように制御される。電磁石４４の磁界は
炉体内の試料の配置箇所を測光束１８の走行方向で通過
する。従って磁界が投入されているときは、試料原子に
縦方向のゼーマン効果が発生される。丁なわち、試料原
子の吸収ラインはそれぞれ２つのラインに分割される。
ン・オフされるように制御される。電磁石４４の磁界は
炉体内の試料の配置箇所を測光束１８の走行方向で通過
する。従って磁界が投入されているときは、試料原子に
縦方向のゼーマン効果が発生される。丁なわち、試料原
子の吸収ラインはそれぞれ２つのラインに分割される。
このラインは障害を受けていない本来の吸収ラインに対
してずれている。本来の吸収ラインの波長においてもは
や試料での原子吸収が生じない。従って、探査元素の原
子も測光束１８をもはや吸収しない。なぜなら、この測
光束は元素を特徴付ける、ずれていない共振ラインしか
含んでいないからである。つ１り磁界が投入されている
ときにはバックグラウンド吸収のみが測定される。磁界
の投入時および遮断時の測定から、パックグラウンド吸
収に関して補正された真の原子吸収の成分を検出するこ
とができる。この之めに電磁石４４乞オン・オフするク
ロックが、線６８によって図示されているように、信号
評価回路４０に供給される。
してずれている。本来の吸収ラインの波長においてもは
や試料での原子吸収が生じない。従って、探査元素の原
子も測光束１８をもはや吸収しない。なぜなら、この測
光束は元素を特徴付ける、ずれていない共振ラインしか
含んでいないからである。つ１り磁界が投入されている
ときにはバックグラウンド吸収のみが測定される。磁界
の投入時および遮断時の測定から、パックグラウンド吸
収に関して補正された真の原子吸収の成分を検出するこ
とができる。この之めに電磁石４４乞オン・オフするク
ロックが、線６８によって図示されているように、信号
評価回路４０に供給される。
電磁石４４および炉を有する原子化装置の構造は第２図
および第３図に詳細に図示されている。
および第３図に詳細に図示されている。
電磁石４４は、成層鉄心から成るＵ字形の磁気帰路部材
７６および一列を成す磁極片４６゜４８乞有している。
７６および一列を成す磁極片４６゜４８乞有している。
磁極片４６および４８は円筒形であり、相互に向き合う
端面にて円錐台形状に先細になっている。
端面にて円錐台形状に先細になっている。
磁極片は、接着てれた金属粉、複合材料から製造される
。この材料は有利な磁気特性を有し、容易に加工するこ
とができる。磁極片４６．４８の円錐台形状断面の表面
線は磁極片の軸線と６６０の角をな丁。相互に対向する
磁極面４７ないし４９は、磁極面の領域に飽和磁気誘導
度の生じるように構成されている。それにより磁界の理
想的な集束が生じる。磁極片傾斜の角度は、磁界ができ
るだけ均一に留でるように選択される。
。この材料は有利な磁気特性を有し、容易に加工するこ
とができる。磁極片４６．４８の円錐台形状断面の表面
線は磁極片の軸線と６６０の角をな丁。相互に対向する
磁極面４７ないし４９は、磁極面の領域に飽和磁気誘導
度の生じるように構成されている。それにより磁界の理
想的な集束が生じる。磁極片傾斜の角度は、磁界ができ
るだけ均一に留でるように選択される。
磁極片４６と４８は、同様に一列を成す端部材７８ない
し８０に装着される。これら端部材はＵ字形の磁気帰路
部材７６の脚部から中へ突出している。磁極片４６．４
８および端部材７８．８０を通って一列乞成す孔部５０
ないし５２が延在する。磁極片４６および４８内で孔部
５０ないし５２はテーパ状の内壁面を有し、それにより
測光束の炉体４２中央へのフォーカシングが容易になる
が、鉄からは最小限しか離間しない。端部材７日と８０
の領域では孔部５０ないし５２が肩８２乞形成している
。孔部５０と５２へ密に窓フレーム８４ないし８６が装
着、され、０リング８８により密閉される。窓フレーム
８４と８６には窓９０が設けられ、窓は反射を避けるた
めに斜めに配置されており、密閉リング９２により保持
される。
し８０に装着される。これら端部材はＵ字形の磁気帰路
部材７６の脚部から中へ突出している。磁極片４６．４
８および端部材７８．８０を通って一列乞成す孔部５０
ないし５２が延在する。磁極片４６および４８内で孔部
５０ないし５２はテーパ状の内壁面を有し、それにより
測光束の炉体４２中央へのフォーカシングが容易になる
が、鉄からは最小限しか離間しない。端部材７日と８０
の領域では孔部５０ないし５２が肩８２乞形成している
。孔部５０と５２へ密に窓フレーム８４ないし８６が装
着、され、０リング８８により密閉される。窓フレーム
８４と８６には窓９０が設けられ、窓は反射を避けるた
めに斜めに配置されており、密閉リング９２により保持
される。
磁極片４６および４８に、アルミニウムのような非磁性
材料から成る統合ユニット９４が設けられている。この
ユニットは一方で、磁気コイル６０ないし６２が巻き付
けられているコイル保持体５６および５８暑形成し、他
方でその間に炉乞保持てる接点部材のうち１つ乞支持す
る接点支持体９６を形成する。
材料から成る統合ユニット９４が設けられている。この
ユニットは一方で、磁気コイル６０ないし６２が巻き付
けられているコイル保持体５６および５８暑形成し、他
方でその間に炉乞保持てる接点部材のうち１つ乞支持す
る接点支持体９６を形成する。
コイル保持体５６および５８は、２つのフランジ９８お
よび１００ないし１０２および１０４およびボス部１０
６ないし１０８Ｙ有Ｔるコイル形状の部材によって形成
されている。ボス部１０６および１０８は磁極片４６な
いし４８の形状に適合てれている。従って、空隙に続く
円錐台形状の断面１０７ないし１０９乞有する。
よび１００ないし１０２および１０４およびボス部１０
６ないし１０８Ｙ有Ｔるコイル形状の部材によって形成
されている。ボス部１０６および１０８は磁極片４６な
いし４８の形状に適合てれている。従って、空隙に続く
円錐台形状の断面１０７ないし１０９乞有する。
２つのコイル保持体５６．５８の相互に向き合つている
フランジ１００および１０２の間に、孔部１１２をＮす
るブロック１１０が装着されている。孔部１１２におい
て、その外面にＵ字形の溝１１６を有する挿入体１１４
がその外面に装着されており、その除滴は孔部１１２の
内面とともに冷却通路Ｚ形成している。この冷却通路は
冷却流体に対する入口１１８および出口１２０に接続さ
れている。挿入体は、保護ガス用人口１２４の設けられ
ているヘッド部１２２を有している。挿入体１１４を通
って中央の軸線孔部１２６が延在している。この孔部は
第６図では左側の端部で閉鎖てれている。この軸線孔部
に接点１２８が装着されており、この接点部材によって
電熱式の原子化のための炉１３０が一方の側で保持され
、かつ接点部材乞介して炉１３０に対する電流供給も行
われる。
フランジ１００および１０２の間に、孔部１１２をＮす
るブロック１１０が装着されている。孔部１１２におい
て、その外面にＵ字形の溝１１６を有する挿入体１１４
がその外面に装着されており、その除滴は孔部１１２の
内面とともに冷却通路Ｚ形成している。この冷却通路は
冷却流体に対する入口１１８および出口１２０に接続さ
れている。挿入体は、保護ガス用人口１２４の設けられ
ているヘッド部１２２を有している。挿入体１１４を通
って中央の軸線孔部１２６が延在している。この孔部は
第６図では左側の端部で閉鎖てれている。この軸線孔部
に接点１２８が装着されており、この接点部材によって
電熱式の原子化のための炉１３０が一方の側で保持され
、かつ接点部材乞介して炉１３０に対する電流供給も行
われる。
接点部材１２８はシャフト１３２とヘッド部１３４乞有
する。このシャフト１３２は軸線孔部１２６に装着され
ている。ヘッド部１３４はその端面において切欠部１３
６を有している。
する。このシャフト１３２は軸線孔部１２６に装着され
ている。ヘッド部１３４はその端面において切欠部１３
６を有している。
この切欠部１３６は端面に接しているところで、壕ず横
餅面１３８では円筒形であり、それから横断面１４０で
は円錐形に先細になってい（。
餅面１３８では円筒形であり、それから横断面１４０で
は円錐形に先細になってい（。
シャフト１３２には中央の軸線孔部１４２が延在してい
る。この軸線孔部１４２は切欠部１３６の底部で開口す
る。円筒形状の横断面１３８において第３図の上側のヘ
ッド部１３４に、半径方向の供給用開口部１４４が形成
されている。
る。この軸線孔部１４２は切欠部１３６の底部で開口す
る。円筒形状の横断面１３８において第３図の上側のヘ
ッド部１３４に、半径方向の供給用開口部１４４が形成
されている。
この開口部１４４により炉に試料を供給することができ
る。
る。
電磁石４４の磁気帰路部材７６は、横断面がＵ字形の薄
板部材１４６によって取り四重れている。この薄板部材
内に支承部材１４８がボルト１５０によって保持きれて
いる。支承部材のビン１５２にて、旋回アーム１５４が
軸受プッ７ユ１５６乞介して旋回可能に支承部れている
。
板部材１４６によって取り四重れている。この薄板部材
内に支承部材１４８がボルト１５０によって保持きれて
いる。支承部材のビン１５２にて、旋回アーム１５４が
軸受プッ７ユ１５６乞介して旋回可能に支承部れている
。
旋回アーム１５４に可動のブロック１５８が装着されて
いる。このブロック１５８はブロック１１０と同様に孔
部１６０を有している。この孔部１６０には挿入体１１
４と同様の挿入体１６２が装着されている。この挿入体
１６２はその外面にＵ字形の溝１６４χ有する。この溝
は孔部１６０の内面とともに冷却通路を形成する。この
冷却通路はその端部にて冷却流体に対する入口接続部１
６６および出口接続部１６８に連結されている。挿入体
１６２はヘッド部１７０を有している。中央の軸線孔部
１７２は挿入体１６２およびヘッド部１７０２通って延
在する。軸線孔部１７２は第６図の右側において窓によ
って閉鎖されている。この軸線孔部１７２へ保護ガス接
続部１７４が開口する。軸線孔部１７２には接点１７６
が装着されている。
いる。このブロック１５８はブロック１１０と同様に孔
部１６０を有している。この孔部１６０には挿入体１１
４と同様の挿入体１６２が装着されている。この挿入体
１６２はその外面にＵ字形の溝１６４χ有する。この溝
は孔部１６０の内面とともに冷却通路を形成する。この
冷却通路はその端部にて冷却流体に対する入口接続部１
６６および出口接続部１６８に連結されている。挿入体
１６２はヘッド部１７０を有している。中央の軸線孔部
１７２は挿入体１６２およびヘッド部１７０２通って延
在する。軸線孔部１７２は第６図の右側において窓によ
って閉鎖されている。この軸線孔部１７２へ保護ガス接
続部１７４が開口する。軸線孔部１７２には接点１７６
が装着されている。
接点１７６は円筒形のシャフト１７８および偏平なヘッ
ド部１８０を有している。ヘッド部１８０の端面におい
てテーパ状の（ぼみ１８２が形成されている。この（ぼ
み１８２は（ぼみ１４０にほぼ相応する。接点１７６の
シャフト１７８に、孔部１４２に類似する中央の軸線孔
部１８４が延在している。
ド部１８０を有している。ヘッド部１８０の端面におい
てテーパ状の（ぼみ１８２が形成されている。この（ぼ
み１８２は（ぼみ１４０にほぼ相応する。接点１７６の
シャフト１７８に、孔部１４２に類似する中央の軸線孔
部１８４が延在している。
第３図に図示されているように、旋回アーム１５４の動
作箇所において、炉１３０は円錐形の接触面１８６およ
び１８８によって接点１２８と１７６との間に保持され
る。その際接点１２８および１７６の軸線は一列乞成し
ている。ぼた、ブロック１１０．１５８、挿入体１１４
．１６２および接点１２８．１７６を介して電流が炉１
３０に導通される。そのためにブロック１１０および挿
入体１６２は、高電流ケーブルに対する差し込み接続部
１９０ないし１９２乞備えている。
作箇所において、炉１３０は円錐形の接触面１８６およ
び１８８によって接点１２８と１７６との間に保持され
る。その際接点１２８および１７６の軸線は一列乞成し
ている。ぼた、ブロック１１０．１５８、挿入体１１４
．１６２および接点１２８．１７６を介して電流が炉１
３０に導通される。そのためにブロック１１０および挿
入体１６２は、高電流ケーブルに対する差し込み接続部
１９０ないし１９２乞備えている。
炉１３０は、第２図にもつとも良（示された本来の炉体
４２を有する。炉体４２に沿って、（第３図かられかる
ように）正反対に対向する接点リブ１９４および１９６
が延在している。
４２を有する。炉体４２に沿って、（第３図かられかる
ように）正反対に対向する接点リブ１９４および１９６
が延在している。
これら接点リブ１９４および１９６に、実質的に円筒形
の接点部材１９８および２００が接続されている。これ
ら接点部材は、円錐形の接触面１８６および１８８が接
点１２８および１７６の間で保持されている。従ってこ
れら接点部材１９８および２００の軸線は、第３図の平
面において接点１２８および１７６の軸線と一線乞成し
ており、かつ炉体４２の軸線に対して垂直方向に位置し
ている。炉体の軸線は測光束１８と一列な成す。第２図
および第３図の上側にあるこれら２つの軸線に対して垂
直に炉体４２中に供給用開口部１４４が設けられている
。この開口部により試料７炉１３０に供給することかで
きる。
の接点部材１９８および２００が接続されている。これ
ら接点部材は、円錐形の接触面１８６および１８８が接
点１２８および１７６の間で保持されている。従ってこ
れら接点部材１９８および２００の軸線は、第３図の平
面において接点１２８および１７６の軸線と一線乞成し
ており、かつ炉体４２の軸線に対して垂直方向に位置し
ている。炉体の軸線は測光束１８と一列な成す。第２図
および第３図の上側にあるこれら２つの軸線に対して垂
直に炉体４２中に供給用開口部１４４が設けられている
。この開口部により試料７炉１３０に供給することかで
きる。
接点１２８および１７６はそれらのくぼみ１３６および
１６８で、炉１３０乞収容する中空室乞形成している。
１６８で、炉１３０乞収容する中空室乞形成している。
その際、接点１２８および１７６は比較的狭い分離スリ
ット２０２によってのみ相互に分離されている。（図示
されていない）気力学的旋回装置によって旋回アーム１
５４は、第６図において時計回りに旋回することができ
る。これは第３図には矢印によって示されている。これ
により挿入体１６２および接点１７６’ｋＷするブロッ
ク１５８が戻り方向に旋回され、炉１３０乞操作するこ
とができる。
ット２０２によってのみ相互に分離されている。（図示
されていない）気力学的旋回装置によって旋回アーム１
５４は、第６図において時計回りに旋回することができ
る。これは第３図には矢印によって示されている。これ
により挿入体１６２および接点１７６’ｋＷするブロッ
ク１５８が戻り方向に旋回され、炉１３０乞操作するこ
とができる。
このようにして炉１３０の交換７行うことができる。保
護ガス接続部１２４および１７４’に介して保繕がスが
供給される。この保護がスは孔部１２６．１７２および
軸線孔部１４２．１８４を介して炉１３０の接点部材１
９８．２００に導通する。次いで、保護がスは後で説明
する通路？介して炉１３０内で分配される。接点１２８
．１７６および炉１３０はグラファイトから製造される
。保護ガスは、炉１３０の加熱時に、つ１り炉の燃焼の
際に炉１３０に空気中の酸素が入り込むことを阻止する
。
護ガス接続部１２４および１７４’に介して保繕がスが
供給される。この保護がスは孔部１２６．１７２および
軸線孔部１４２．１８４を介して炉１３０の接点部材１
９８．２００に導通する。次いで、保護がスは後で説明
する通路？介して炉１３０内で分配される。接点１２８
．１７６および炉１３０はグラファイトから製造される
。保護ガスは、炉１３０の加熱時に、つ１り炉の燃焼の
際に炉１３０に空気中の酸素が入り込むことを阻止する
。
第２図かられかるように、接点１２８と磁極片４８の端
面との間に、測光束１８に対する中央貫通孔部２有する
遮蔽板２０４が装着きれている。遮蔽板２０４は、その
平面において高い熱伝導率ヲ有し、かつこの平面に対し
て垂直方向において低い熱伝導率’ａｊＮする熱分解性
の炭素から成る。このようにして磁極片４８は炉１３０
および接点１２８の高い温度に対して遮蔽される。
面との間に、測光束１８に対する中央貫通孔部２有する
遮蔽板２０４が装着きれている。遮蔽板２０４は、その
平面において高い熱伝導率ヲ有し、かつこの平面に対し
て垂直方向において低い熱伝導率’ａｊＮする熱分解性
の炭素から成る。このようにして磁極片４８は炉１３０
および接点１２８の高い温度に対して遮蔽される。
挿入体１６２および接点１７６における軸線孔部１７２
．１８４ならびに接点部材２００および接点条片１９６
内の保護がス通路２０６は同時に、パイロメータ光路２
０８乞収容するために用いられる。この光路においてビ
ーム検出器２１０により結像系２１２を用いて炉体４２
の壁の一部が観察される。ビーム検出器２１０の信号は
、炉体４２の温度に対する尺度であり、それにより炉温
度の調整を行うことができる。
．１８４ならびに接点部材２００および接点条片１９６
内の保護がス通路２０６は同時に、パイロメータ光路２
０８乞収容するために用いられる。この光路においてビ
ーム検出器２１０により結像系２１２を用いて炉体４２
の壁の一部が観察される。ビーム検出器２１０の信号は
、炉体４２の温度に対する尺度であり、それにより炉温
度の調整を行うことができる。
第２図から良（わかるように、磁気コイル６０．６２の
巻き線は、縦方向管路２１６乞有する銅管２１４と絶縁
体２１８から成る。銅管２１４は電流に対し比較的に大
きな横断面を有する。従って、比較的に僅かな巻き線で
も強い電流が磁界馨形成するために流れる。縦方向管路
２１６を冷却流体が流れる。冷却流体は、磁気コイル６
０および６２で電流により発生されたジュール熱、およ
び炉１３０から磁気コイルに伝導された熱暑放出する。
巻き線は、縦方向管路２１６乞有する銅管２１４と絶縁
体２１８から成る。銅管２１４は電流に対し比較的に大
きな横断面を有する。従って、比較的に僅かな巻き線で
も強い電流が磁界馨形成するために流れる。縦方向管路
２１６を冷却流体が流れる。冷却流体は、磁気コイル６
０および６２で電流により発生されたジュール熱、およ
び炉１３０から磁気コイルに伝導された熱暑放出する。
それにより磁極片４６．４８上の磁気コイル６０および
６２が、炉１３０に密に接近することができるようにな
る。空隙は実質的に、炉体４２の長さ乞収容するのにち
ょうど必要な大きさである。
６２が、炉１３０に密に接近することができるようにな
る。空隙は実質的に、炉体４２の長さ乞収容するのにち
ょうど必要な大きさである。
磁気コイル６０と６２の巻き線は、磁極片４６．４８の
円錐台形状の先細領域およびフランジ１００ないし１０
２とボス部１０６ないし１０８の円錐台形状断面部との
間で形成され、横断面がＶ字形の外周くぼみ２２０およ
び４７ないし４９に敷設される。従って巻き線は有利に
は磁険片６０ないし６２の磁極面４７ないし４９の直接
近傍に敷設される。このような構成は漂遊磁界形成に反
対に作用し、形成される磁界の均一性に有利に作用する
。
円錐台形状の先細領域およびフランジ１００ないし１０
２とボス部１０６ないし１０８の円錐台形状断面部との
間で形成され、横断面がＶ字形の外周くぼみ２２０およ
び４７ないし４９に敷設される。従って巻き線は有利に
は磁険片６０ないし６２の磁極面４７ないし４９の直接
近傍に敷設される。このような構成は漂遊磁界形成に反
対に作用し、形成される磁界の均一性に有利に作用する
。
以上のことは巻き線を強制冷却することにより可能とな
る。磁気フィル６０および６２の巻き線は磁極片４６な
いし４８ンも冷却する。丁なわち、磁極片が炉に強く近
接する磁極面４７ないし４９の領域も冷却する。
る。磁気フィル６０および６２の巻き線は磁極片４６な
いし４８ンも冷却する。丁なわち、磁極片が炉に強く近
接する磁極面４７ないし４９の領域も冷却する。
第１図かられかるように、冷却流体は冷却流体用入口２
２６から供給きれ、冷却流体用出口２２８乞介して流出
する。
２６から供給きれ、冷却流体用出口２２８乞介して流出
する。
第３図かられかるように、コイル保持体５６と５８およ
び接点支持体９６には半径方向のスリット２２４が設け
られている。この部材はアルミニウムのような熱伝導率
の高い材料から製造され、良好な熱放出乞保証する。し
かしこのような熱伝導率の高い材料は通常、導電率も高
い。従って、磁界はコイル保持体５６．５８および接点
支持体内でうず電流を誘導する。これを回避するために
、図示のようにこの部材は長手方向に溝が刻でれている
。
び接点支持体９６には半径方向のスリット２２４が設け
られている。この部材はアルミニウムのような熱伝導率
の高い材料から製造され、良好な熱放出乞保証する。し
かしこのような熱伝導率の高い材料は通常、導電率も高
い。従って、磁界はコイル保持体５６．５８および接点
支持体内でうず電流を誘導する。これを回避するために
、図示のようにこの部材は長手方向に溝が刻でれている
。
発明の効果
本発明により、試料の配置箇所では磁界が強力であり、
かつ漂遊磁界が少なく、寸法のちいさな電磁石が得られ
る。
かつ漂遊磁界が少なく、寸法のちいさな電磁石が得られ
る。
第１図はバックグラウンド吸収が、縦方向のゼーマン効
果乞利用して補償される原子吸収分光計の構成を示すブ
ロック線図、第２図は縦方向のゼーマン効果が発生嘔ｎ
る電磁石と、その電磁石の空隙にて試料を電熱式に原子
化するための炉を一部断面にて示す側面図、第３図は第
２図の線■−■に沿って切断して見た断面図である。 １０・・・ケーシング、１２・・・試料室、１４・・・
原子化装置、１６・・・光源、１８・・・測光束、２０
゜３０・・・平面鏡、２２．２８・・・凹面鏡、２４゜
２６・・・開口部、３２・・・入口スリット、３４・・
・モノクロメータ、３６・・・出口スリット、３８・・
・光電検出器、４０・・・信号処理回路、４２・・・炉
体、４４・・・電磁石、４６．４８・・・磁極片、５０
゜５２．５４・・・孔部、５６．５８・・・コイル保持
体、６０．６２・・・電磁コイル、６４・・・電源部、
６６・・・制御部、４７．４９・・・磁極面、７６・・
磁気帰路部材 手 続 補 正 書 （方式） １、事件の表示 平成 １ 、発明の名称 年 特許願 第 号 原子吸収分光計用電磁石 ３゜ 補正をする者 事件との関係
果乞利用して補償される原子吸収分光計の構成を示すブ
ロック線図、第２図は縦方向のゼーマン効果が発生嘔ｎ
る電磁石と、その電磁石の空隙にて試料を電熱式に原子
化するための炉を一部断面にて示す側面図、第３図は第
２図の線■−■に沿って切断して見た断面図である。 １０・・・ケーシング、１２・・・試料室、１４・・・
原子化装置、１６・・・光源、１８・・・測光束、２０
゜３０・・・平面鏡、２２．２８・・・凹面鏡、２４゜
２６・・・開口部、３２・・・入口スリット、３４・・
・モノクロメータ、３６・・・出口スリット、３８・・
・光電検出器、４０・・・信号処理回路、４２・・・炉
体、４４・・・電磁石、４６．４８・・・磁極片、５０
゜５２．５４・・・孔部、５６．５８・・・コイル保持
体、６０．６２・・・電磁コイル、６４・・・電源部、
６６・・・制御部、４７．４９・・・磁極面、７６・・
磁気帰路部材 手 続 補 正 書 （方式） １、事件の表示 平成 １ 、発明の名称 年 特許願 第 号 原子吸収分光計用電磁石 ３゜ 補正をする者 事件との関係
Claims (8)
- １．原子化された試料の配置箇所に磁界を形成するため
の原子吸収分光計用電磁石であつて、該分光計ではゼー
マン効果に基づく磁界によつて試料内の探査元素の原子
の吸収ラインが、該元素の放出ラインに対し相対的に、
原子化した試料を通過する測光束内でずらされるもので
あり、さらに、 （ａ） その間に空隙の設けられた磁極片対（４６，４
８）と、 （ｂ） 磁極片（４６，４８）を連絡する磁気帰路部材
（７６）と、 （ｃ） 磁極片（４６，４８）、空隙および磁気帰路部
材（７６）を介して磁束を発生するための磁気コイル（
６０，６２）とを有し、ここで原子化装置は試料を前記
空隙内で原子化するものである原子吸収分光計用電磁石
において、 （ｄ） 磁気コイル（６０，６２）は磁極片（４６，４
８）上で、空隙の直ぐ近傍に配置されており、 （ｅ） 磁気コイル（６０，６２）の巻き線は管（２１
４）によつて構成され、該管を冷却流体が流過可能であ
ることを特徴とする原子吸収分光計用電磁石。 - ２．（ａ） 磁極片（４６，４８）に測光束（１８）を
通過させるため、一列を成す孔部（５０，５２）が設け
られており、 （ｂ） 磁極片（４６，４８）上に接点支持体が配置さ
れており、該接点支持体には横方向で加熱される炉（１
３０）を保持し、かつ該炉（１３０）に電流を供給する
ための接点部材が支持されており、該接点部材の軸線は
測光束（１８）の軸線に対して垂直に経過し、また前記
炉（１３０）は電磁石（４４）の空隙内で試料を電熱式
に原子化するためのものである請求項１記載の電磁石。 - ３．コイル保持体（５６，５８）を有する接点支持体が
統合ユニットを形成し、前記コイル保持体は磁気コイル
（６０，６２）を保持し、前記統合ユニットはコイル保
持体（５６， ５８）と共に２つの磁極片（４６，４８）へ装着されて
いる請求項２記載の電磁石。 - ４．磁極片（４６，４８）は相互に向き合つた端部にて
円錐台形状に先細になつている請求項１から３いずれか
１項記載の電磁石。 - ５．円錐台形状の先細部により構成された磁極面（４７
ないし４９）は飽和磁気誘導度に相応する請求項４記載
の電磁石。 - ６．磁極片（４６，４８）の円錐台形状の先細断面の表
面線は磁極片の軸線と６３゜の角を成す請求項１から７
いずれか１項記載の電磁石。 - ７．（ａ） 磁極片（４６，４８）にコイル保持体（５
６，５８）が装着されており、該コイル保持体は磁極片
（４６，４８）の形状に適合したボス部（１０６，１０
８）と保持体端部にて半径方向に突出するフランジ（９
８， １００；１０２，１０４）とから成り、 （ｂ） 磁気コイル（６０，６２）の巻き線は先細の断
面領域で磁極面（４７ないし４９）に密に接近してコイ
ル保持体（１０６， １０８）に巻き付けられている請求項４から６いずれか
１項記載の電磁石。 - ８．磁極片（４６，４８）は接着された金属粉、複合材
料から成る請求項１から７いずれか１項記載の電磁石。 ９ 磁気コイル（６０，６２）の巻き線は、熱の良伝導
体材料から成る、溝の刻まれたコイル保持体（５６，５
８）に巻き付けられている請求項１から８いずれか１項
記載の電磁石。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3809215.8 | 1988-03-18 | ||
| DE3809215A DE3809215A1 (de) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | Elektromagnet fuer ein atomabsorptions-spektrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0221243A true JPH0221243A (ja) | 1990-01-24 |
| JP2823584B2 JP2823584B2 (ja) | 1998-11-11 |
Family
ID=6350144
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1064008A Expired - Lifetime JP2823584B2 (ja) | 1988-03-18 | 1989-03-17 | 原子吸収分光計用電磁石 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5015093A (ja) |
| EP (1) | EP0363457B1 (ja) |
| JP (1) | JP2823584B2 (ja) |
| AU (1) | AU612472B2 (ja) |
| DE (2) | DE3809215A1 (ja) |
| WO (1) | WO1989008922A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03267742A (ja) * | 1990-03-16 | 1991-11-28 | Hitachi Ltd | ゼーマン原子吸光光度計 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19940095A1 (de) | 1999-08-24 | 2001-03-01 | Analytik Jena Ag | Zeeman-Atomisiereinrichtung für gelöste und feste Proben |
| RU2497101C1 (ru) * | 2012-06-18 | 2013-10-27 | Общество с ограниченной ответственностью "ВИНТЕЛ" | Атомно-абсорбционный спектрометр, основанный на эффекте зеемана |
| DE102017119631A1 (de) | 2017-08-28 | 2019-02-28 | Analytik Jena Ag | Anordnung zur elektrothermischen Atomisierung und Atom-Absorptions-Spektrometer |
| DE102019103035A1 (de) | 2019-02-07 | 2020-08-13 | Analytik Jena Ag | Atomabsorptionsspektrometer |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5049698A (ja) * | 1973-09-05 | 1975-05-02 | ||
| JPS527665A (en) * | 1975-07-09 | 1977-01-20 | Hitachi Ltd | Magnetron |
| JPS5516718A (en) * | 1978-07-19 | 1980-02-05 | Nisshin Steel Co Ltd | Process and apparatus for degassing and casting steel ingot |
| JPS5835440A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Hitachi Ltd | スペクトル線測定装置 |
| JPS58136256A (ja) * | 1982-02-08 | 1983-08-13 | Hitachi Ltd | 誘導子型交流発電機の界磁コイル保持部材とその製法 |
| JPS58202508A (ja) * | 1982-05-21 | 1983-11-25 | Hitachi Ltd | 電磁石コイル |
| JPS6042601A (ja) * | 1983-08-19 | 1985-03-06 | Sony Corp | 位置検出装置 |
| JPS6334904A (ja) * | 1986-07-29 | 1988-02-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マグネツトロ−ル |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1964469C3 (de) * | 1969-12-23 | 1974-05-02 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Vorrichtung zur Atomabsorptionsanalyse einer Probe |
| DE2165106C2 (de) * | 1971-01-05 | 1984-02-09 | Varian Techtron Proprietary Ltd., North Springvale, Victoria | Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Atomspektren |
| DE2148783C3 (de) * | 1971-09-30 | 1974-05-09 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen | Graphitrohrküvette |
| US4035083A (en) * | 1972-05-30 | 1977-07-12 | Woodriff Ray A | Background correction in spectro-chemical analysis |
| DE2314207C3 (de) * | 1973-03-22 | 1979-11-15 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen | Atomisierungsvorrichtung zum Atomisieren einer Probe für flammenlose Atomabsorptionsmessungen |
| DE3032118C2 (de) * | 1980-08-26 | 1983-03-17 | Aisa Automation Industrielle S.A., Vouvry | Matrizenschweißspule |
| JPS6051054B2 (ja) * | 1980-09-24 | 1985-11-12 | 株式会社日立製作所 | ゼ−マン原子吸光光度計 |
| US4407582A (en) * | 1981-01-12 | 1983-10-04 | The Research And Development Institute, Inc. At Montana State University | Method and apparatus for reduction of matric interference in electrothermal atomizer for atomic absorption spectroscopy |
| US4457623A (en) * | 1981-02-23 | 1984-07-03 | The Perkin-Elmer Corporation | Atomic absorption spectrophotometer providing background correction using the Zeeman effect |
| DE3534417A1 (de) * | 1985-09-27 | 1987-04-02 | Ringsdorff Werke Gmbh | Kuevette fuer die flammenlose atomabsorptions-spektroskopie |
-
1988
- 1988-03-18 DE DE3809215A patent/DE3809215A1/de not_active Withdrawn
-
1989
- 1989-03-13 EP EP89903143A patent/EP0363457B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-03-13 WO PCT/EP1989/000259 patent/WO1989008922A1/de active IP Right Grant
- 1989-03-13 DE DE8989903143T patent/DE58903398D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-03-17 AU AU31441/89A patent/AU612472B2/en not_active Ceased
- 1989-03-17 JP JP1064008A patent/JP2823584B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-07 US US07/435,431 patent/US5015093A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5049698A (ja) * | 1973-09-05 | 1975-05-02 | ||
| JPS527665A (en) * | 1975-07-09 | 1977-01-20 | Hitachi Ltd | Magnetron |
| JPS5516718A (en) * | 1978-07-19 | 1980-02-05 | Nisshin Steel Co Ltd | Process and apparatus for degassing and casting steel ingot |
| JPS5835440A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Hitachi Ltd | スペクトル線測定装置 |
| JPS58136256A (ja) * | 1982-02-08 | 1983-08-13 | Hitachi Ltd | 誘導子型交流発電機の界磁コイル保持部材とその製法 |
| JPS58202508A (ja) * | 1982-05-21 | 1983-11-25 | Hitachi Ltd | 電磁石コイル |
| JPS6042601A (ja) * | 1983-08-19 | 1985-03-06 | Sony Corp | 位置検出装置 |
| JPS6334904A (ja) * | 1986-07-29 | 1988-02-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マグネツトロ−ル |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03267742A (ja) * | 1990-03-16 | 1991-11-28 | Hitachi Ltd | ゼーマン原子吸光光度計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU3144189A (en) | 1989-09-21 |
| AU612472B2 (en) | 1991-07-11 |
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| WO1989008922A1 (en) | 1989-09-21 |
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| DE58903398D1 (de) | 1993-03-11 |
| DE3809215A1 (de) | 1989-10-05 |
| JP2823584B2 (ja) | 1998-11-11 |
| EP0363457B1 (de) | 1993-01-27 |
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