JPH02212351A - 超電導セラミックス膜形成用ターゲット材 - Google Patents
超電導セラミックス膜形成用ターゲット材Info
- Publication number
- JPH02212351A JPH02212351A JP1031911A JP3191189A JPH02212351A JP H02212351 A JPH02212351 A JP H02212351A JP 1031911 A JP1031911 A JP 1031911A JP 3191189 A JP3191189 A JP 3191189A JP H02212351 A JPH02212351 A JP H02212351A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- target material
- based superconducting
- metallic
- metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 13
- 239000013077 target material Substances 0.000 title claims description 55
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 25
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 25
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 14
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 25
- 238000007731 hot pressing Methods 0.000 abstract description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 9
- 229910008649 Tl2O3 Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 abstract 1
- BERDEBHAJNAUOM-UHFFFAOYSA-N copper(I) oxide Inorganic materials [Cu]O[Cu] BERDEBHAJNAUOM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- KRFJLUBVMFXRPN-UHFFFAOYSA-N cuprous oxide Chemical compound [O-2].[Cu+].[Cu+] KRFJLUBVMFXRPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000011224 oxide ceramic Substances 0.000 abstract 1
- 229910052574 oxide ceramic Inorganic materials 0.000 abstract 1
- QTQRFJQXXUPYDI-UHFFFAOYSA-N oxo(oxothallanyloxy)thallane Chemical compound O=[Tl]O[Tl]=O QTQRFJQXXUPYDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 31
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 31
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 12
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 10
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 10
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 6
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 2
- 241000282994 Cervidae Species 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B12/00—Superconductive or hyperconductive conductors, cables, or transmission lines
- H01B12/02—Superconductive or hyperconductive conductors, cables, or transmission lines characterised by their form
- H01B12/06—Films or wires on bases or cores
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/01—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
- C04B35/45—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on copper oxide or solid solutions thereof with other oxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/08—Oxides
- C23C14/087—Oxides of copper or solid solutions thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/01—Manufacture or treatment
- H10N60/0268—Manufacture or treatment of devices comprising copper oxide
- H10N60/0296—Processes for depositing or forming superconductor layers
- H10N60/0408—Processes for depositing or forming superconductor layers by sputtering
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S505/00—Superconductor technology: apparatus, material, process
- Y10S505/725—Process of making or treating high tc, above 30 k, superconducting shaped material, article, or device
- Y10S505/73—Vacuum treating or coating
- Y10S505/731—Sputter coating
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S505/00—Superconductor technology: apparatus, material, process
- Y10S505/725—Process of making or treating high tc, above 30 k, superconducting shaped material, article, or device
- Y10S505/736—From free metal precursors
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、多元スパッタリング法により基板表面に超
電導セ・ラミックス膜を形成する際に用いられるターゲ
ット材に関するものである。
電導セ・ラミックス膜を形成する際に用いられるターゲ
ット材に関するものである。
近年、多元スパッタリング法にて、基板表向にY−Ba
−Cu−0系超電導セラミツクス膜(以下Y系超電導膜
という) 、Bi −Sr −Ca −Cu −0系超
電導セラミツクス膜(以下、Bi系超超電導膜いう)。
−Cu−0系超電導セラミツクス膜(以下Y系超電導膜
という) 、Bi −Sr −Ca −Cu −0系超
電導セラミツクス膜(以下、Bi系超超電導膜いう)。
Tt−8a −Ca −Cu −0系超電導セラミツク
ス膜(以下、 Tt系超超電導膜いう)等を形成する試
みがなされている。
ス膜(以下、 Tt系超超電導膜いう)等を形成する試
みがなされている。
例えば、多元スパッタリング法により基板表面にY系超
電導膜を形成するには、金属Cuターゲット材* Y2
O3ターゲット材およびBa Cu 02 ターゲット
材を作製し、これら5fIt類のターゲット材を三元ス
パッタリング装置に装入し、各ターゲット材のパワーを
個別にコントロールすることにより上記三元スパッタリ
ング装置内に設置されている基板表面に、金属成分比を
コントロールしながらY系超電導膜を形成するのである
。
電導膜を形成するには、金属Cuターゲット材* Y2
O3ターゲット材およびBa Cu 02 ターゲット
材を作製し、これら5fIt類のターゲット材を三元ス
パッタリング装置に装入し、各ターゲット材のパワーを
個別にコントロールすることにより上記三元スパッタリ
ング装置内に設置されている基板表面に、金属成分比を
コントロールしながらY系超電導膜を形成するのである
。
同様にして、多元スパッタリング法により81系超電導
膜を形成するには、金[Cuターゲット材。
膜を形成するには、金[Cuターゲット材。
金1ABiターゲット材およびSr Ca Cu2 o
4ターゲット材を用意し、これら3f!1類のターゲッ
ト材を三元スパッタリング装置に装入し、基板表面にB
i系超超電導膜形成し。
4ターゲット材を用意し、これら3f!1類のターゲッ
ト材を三元スパッタリング装置に装入し、基板表面にB
i系超超電導膜形成し。
さらに、 Tt系超超電導膜形成するには、金[Cuタ
ーゲット材* Tt203t−ゲット材およびsa
Ca Cu2 o4 ターゲット材を三元スパッタリ
ング装置に装入して基板表面にTL系超超電導膜形成す
るのである。
ーゲット材* Tt203t−ゲット材およびsa
Ca Cu2 o4 ターゲット材を三元スパッタリ
ング装置に装入して基板表面にTL系超超電導膜形成す
るのである。
上記Y系超電導膜を形成するためのBa Cu O2タ
ーゲット材、 Bi系超超電導膜形成するためのSr
Ca Cu204ターゲット材、およびTt系超超電導
膜形成するためのBa Ca Cu204ターゲット材
は、それぞれ下記の如き方法により作製される。
ーゲット材、 Bi系超超電導膜形成するためのSr
Ca Cu204ターゲット材、およびTt系超超電導
膜形成するためのBa Ca Cu204ターゲット材
は、それぞれ下記の如き方法により作製される。
まず、原料粉末として、いずれも10μ翼以下。
の平均粒径を有するBa炭酸塩粉末、 Sr炭酸塩粉末
。
。
Ca炭酸塩粉末、およびCu酸化物粉末を用意し、これ
ら粉末のうち、 (1) Ba炭酸塩粉末およびCu酸化物粉末を所定
の割合に配合し、混合した後、この混合粉末に、温度二
850〜950℃の範囲内の温度に10時間保持の焼成
処理と粉砕を2〜3回繰り返し施してBa Cu O□
扮末を形成し。
ら粉末のうち、 (1) Ba炭酸塩粉末およびCu酸化物粉末を所定
の割合に配合し、混合した後、この混合粉末に、温度二
850〜950℃の範囲内の温度に10時間保持の焼成
処理と粉砕を2〜3回繰り返し施してBa Cu O□
扮末を形成し。
ついで、このBa Cu O2粉末に。
雰囲気、1OTorr以下の真空。
加熱温度=600〜900℃。
圧カニ 50〜300 k19f/cm2゜加熱保持時
間二2〜10時間。
間二2〜10時間。
の条件で真空ホットプレスを施すことによってBa C
u O□ターゲット材を作製し。
u O□ターゲット材を作製し。
(2)Sr炭酸塩粉末、 Ca炭酸塩粉末、およびCu
酸化物粉末を所定の割合に配合し、混合した後、この混
合粉末に、温度=850〜950’Cの範囲内の温度に
所定時間保持の焼成処理・と粉砕を2〜3回繰り返し施
して、 Sr Ca cu2o4 粉末を形成し。
酸化物粉末を所定の割合に配合し、混合した後、この混
合粉末に、温度=850〜950’Cの範囲内の温度に
所定時間保持の焼成処理・と粉砕を2〜3回繰り返し施
して、 Sr Ca cu2o4 粉末を形成し。
ついでこのSr Ca Cu204粉末を。
雰囲気、1OTorrの真空。
温度=600〜900℃。
圧力=50〜300ゆf/crn2゜
保持時間:2〜10時間。
の条件でホットプレスすることKよって5rCaCu2
04ターゲット材を作製し、さらに。
04ターゲット材を作製し、さらに。
(3) Ba炭酸塩粉末、 Ba炭酸塩粉末、および
Cu酸化物粉末を所定の割合に配合し、混合した後、こ
の混合粉末に、温度二850〜950℃の範囲内の温度
に所定時間保持の焼成処理と粉砕ft2〜3回繰り返し
施して、BaCaCu204粉末を形成し、ついで、こ
のBa Ca Cu204粉末を上記(2)と同一条件
でホットプレスすることKよってBaCaCu204タ
ーゲット材を作製していた。
Cu酸化物粉末を所定の割合に配合し、混合した後、こ
の混合粉末に、温度二850〜950℃の範囲内の温度
に所定時間保持の焼成処理と粉砕ft2〜3回繰り返し
施して、BaCaCu204粉末を形成し、ついで、こ
のBa Ca Cu204粉末を上記(2)と同一条件
でホットプレスすることKよってBaCaCu204タ
ーゲット材を作製していた。
しかし、上記Y系超電導膜を形成するためのBa Cu
O2ターゲット材、 Bi系超超電導膜形成するた
めの8rCaCu204ターゲット材、およびTt系超
超電導膜形成するためのBaCaCu204ターゲット
材は、いずれも複合酸化物のみから構成されているため
に。
O2ターゲット材、 Bi系超超電導膜形成するた
めの8rCaCu204ターゲット材、およびTt系超
超電導膜形成するためのBaCaCu204ターゲット
材は、いずれも複合酸化物のみから構成されているため
に。
熱伝導率が低く、シたがって冷却効率が低いために。
スノぞツタ時のターゲット材のスパッタ表面と冷却底面
の温度差が大きくなることから、ターゲット材に熱応力
による割れが発生し易く、また抵抗も高いので、比較的
装置が安価な直流2極スパツタリング装置を用いること
ができず1通常^価な高周波スパッタリング装置を必要
とし、さらに機械的強度が低く。
の温度差が大きくなることから、ターゲット材に熱応力
による割れが発生し易く、また抵抗も高いので、比較的
装置が安価な直流2極スパツタリング装置を用いること
ができず1通常^価な高周波スパッタリング装置を必要
とし、さらに機械的強度が低く。
きわめて脆いので、その取扱いには細心の注意をはられ
なければならないなどの問題点がある。
なければならないなどの問題点がある。
そこで、本発明者等は、上述のような観点から、上記タ
ーゲット材のもつ問題点を解決すべく研究を行なった結
果。
ーゲット材のもつ問題点を解決すべく研究を行なった結
果。
(a) BaCuO2粉末に、金属Cu粉末を5〜4
0容量チの割合で配合し、混合した混合粉末を、真空雰
囲気中、温度: 600〜900℃、圧力;50〜30
0 kl?f /cm2の条件で真空ホットプレスして
得られたターゲット材は、金属Cu素地に、 BaCu
O2が分散した組織を有し。
0容量チの割合で配合し、混合した混合粉末を、真空雰
囲気中、温度: 600〜900℃、圧力;50〜30
0 kl?f /cm2の条件で真空ホットプレスして
得られたターゲット材は、金属Cu素地に、 BaCu
O2が分散した組織を有し。
(b) 8rCaCu204粉末に、金属Cu粉末t
−5〜40容XSの割合で配合し、混合した混合粉末を
真空雰囲気中、温度=600〜900℃、圧カニ50〜
300 kgf /CI!2の条件で真空ホットプレス
して得られたターゲット材は、金属Cu素地に8rCa
Cu204が分散した組織を有し、さらに。
−5〜40容XSの割合で配合し、混合した混合粉末を
真空雰囲気中、温度=600〜900℃、圧カニ50〜
300 kgf /CI!2の条件で真空ホットプレス
して得られたターゲット材は、金属Cu素地に8rCa
Cu204が分散した組織を有し、さらに。
(0) Ba Ca Cu 204粉末に、金[Cu
粉末1に5〜40容1ksの割合で配合し、混合した混
合粉末を真空雰囲気中、温度=600〜900℃、圧カ
ニ60〜300 k&f /cm2の条件で真空ホット
プレスして得られたターゲット材は、金属Cu素地に8
aCaCu204が分散した組織を有し。
粉末1に5〜40容1ksの割合で配合し、混合した混
合粉末を真空雰囲気中、温度=600〜900℃、圧カ
ニ60〜300 k&f /cm2の条件で真空ホット
プレスして得られたターゲット材は、金属Cu素地に8
aCaCu204が分散した組織を有し。
これら@ 捕Cu素地に複合酸化物が分散したターゲッ
ト材は、いずれも熱伝導率および機械的強度が高く、シ
かも電気抵抗が低いという知見を得たのである。
ト材は、いずれも熱伝導率および機械的強度が高く、シ
かも電気抵抗が低いという知見を得たのである。
この発明は、かかる知見にもとづいてなされたものであ
って。
って。
+11 金属Cuの素地に、 BaとCuの複合酸化
物が分散し九組織を有し。
物が分散し九組織を有し。
その組成は、金属Cu:5〜40容量チと、残りが上記
BaとCuの複合酸化物からなる超電導セラミックス膜
形成用ターゲット材。
BaとCuの複合酸化物からなる超電導セラミックス膜
形成用ターゲット材。
(2) 金属Cuの素地に、SrとCaとCUの複合
酸化物が分散した組織を有し。
酸化物が分散した組織を有し。
その組成は、金属Cu:5〜40容量−と、残りが上記
SrとCaとCuの複合酸化物からなる超電導セラミッ
クス膜形成用ターゲット材、および。
SrとCaとCuの複合酸化物からなる超電導セラミッ
クス膜形成用ターゲット材、および。
(3)金属Cuの素地に、 BaとCaとCuの複合酸
化物が分散した組織を有し。
化物が分散した組織を有し。
その組織は、金属Cu:5〜40容量チと、残9が上記
BaとCaとCuの複合酸化物からなる超電導セラミッ
クス膜形成用ターゲット材。
BaとCaとCuの複合酸化物からなる超電導セラミッ
クス膜形成用ターゲット材。
K特徴を有するものである。
つぎに、この発明のターゲット材を実施例にもとづいて
具体的に説明する。
具体的に説明する。
(1) 実施例1〜7
上記従来の技術で述べた方法により製造された平均粒径
:5μmのBa Cu O2粉末を用意し、さらに平均
粒径:lB、Oμ票の金属Cu粉末(純度=99、99
9チ)を用意した。
:5μmのBa Cu O2粉末を用意し、さらに平均
粒径:lB、Oμ票の金属Cu粉末(純度=99、99
9チ)を用意した。
これら粉末を、第1表の実施例1〜7に示される割合に
それぞれ配合し1回転ボールミルにて30分間混合し、
この混合粉末を、直径:5cynX厚さ:3.0cIf
tの寸法を有するモールドに充填し。
それぞれ配合し1回転ボールミルにて30分間混合し、
この混合粉末を、直径:5cynX厚さ:3.0cIf
tの寸法を有するモールドに充填し。
雰囲気、 l OTorrの真空。
温度−850℃。
圧カニ 200 kgf /an2゜
保持時間:4時間、
の条件でホットプレスすることにより、直径:5αX厚
さ:0.4cy+の寸法を有するターゲット材を作製し
た。
さ:0.4cy+の寸法を有するターゲット材を作製し
た。
ついで、これらターゲット材の冷却効率を評価する目的
で熱伝導率を測定し、抵抗率も測定し。
で熱伝導率を測定し、抵抗率も測定し。
さらに機械的強度を評価する目的で抵抗力t−測測定、
これらの結果を第1表に示した。
これらの結果を第1表に示した。
引続いて、上記ターゲット材の組織−t−調べるために
、実施例4で得られたターゲット材の表面をパフ研磨し
、その組織を光学顕微鏡で観察したところ、第1図に示
される組織を有してい鹿。上記第1図において、1は3
aCu02粒子、2は金B4cuを示し、上記Ba C
u 02粒子1は、金属Cu2の素地に均一に分散した
組織となっていた。
、実施例4で得られたターゲット材の表面をパフ研磨し
、その組織を光学顕微鏡で観察したところ、第1図に示
される組織を有してい鹿。上記第1図において、1は3
aCu02粒子、2は金B4cuを示し、上記Ba C
u 02粒子1は、金属Cu2の素地に均一に分散した
組織となっていた。
上記測定および観察を行なったのち、これらターゲット
材を、同一寸法の金pJCuターゲット材およびY2O
,ターゲット材とともに三元スパッタリング装置に装入
セットし、下記の条件で三元スパッタリングを行なった
。
材を、同一寸法の金pJCuターゲット材およびY2O
,ターゲット材とともに三元スパッタリング装置に装入
セットし、下記の条件で三元スパッタリングを行なった
。
雰囲気全圧カニ 20 mTorr 。
雰囲気:Arガス、02ガx 、Ar 102” ”/
1*供給電力ニ50W% 基板材質: MgO単結晶板。
1*供給電力ニ50W% 基板材質: MgO単結晶板。
基板加熱温度ニア00’C。
スパッタリング時間:2時間。
かかる条件でスパッタリングを行ない、形成されたY系
列電導薄膜(厚さ二0.7μm)に対して。
列電導薄膜(厚さ二0.7μm)に対して。
大気中、温度=850℃に1.0時間保持の後炉冷の条
件で焼鈍処理を施し、ついで4端子法により臨界温度(
Tc )を測定し、この結果も第上表に示した。
件で焼鈍処理を施し、ついで4端子法により臨界温度(
Tc )を測定し、この結果も第上表に示した。
第1表の結果から、金属Cuの含有量が5容i−チ未満
では、所望の冷却効率、抵抗率および機械的強度を確保
することができず、一方、その含有量が40容itチを
越えるとCuの量が多くなりすぎ。
では、所望の冷却効率、抵抗率および機械的強度を確保
することができず、一方、その含有量が40容itチを
越えるとCuの量が多くなりすぎ。
このCU過剰のターゲットを用いて形成したY系超電導
膜は所定組成のY系超電導膜を形成することができず、
臨界温度の低下金もたらすことがわかる。
膜は所定組成のY系超電導膜を形成することができず、
臨界温度の低下金もたらすことがわかる。
(2) 実施例8〜14
上記従来の技術で述べた方法により製造された平均粒径
二5μm・のSr Ca Cu204粉末と、実施例1
〜フで用意した平均粒径:lB、0μmの金[Cu粉末
を、第2表の実施例8〜14に示される割合に配合し1
回転ボールミルにて30分間混合したのち、実施例1〜
)に示した条件と同一条件にてホットプレスすることに
より、直径:5cmX厚さ=0.4cIrLの寸法を有
するターゲット材を作製した。
二5μm・のSr Ca Cu204粉末と、実施例1
〜フで用意した平均粒径:lB、0μmの金[Cu粉末
を、第2表の実施例8〜14に示される割合に配合し1
回転ボールミルにて30分間混合したのち、実施例1〜
)に示した条件と同一条件にてホットプレスすることに
より、直径:5cmX厚さ=0.4cIrLの寸法を有
するターゲット材を作製した。
ついで、これらターゲット材の熱伝導率、抵抗率および
抗折力を測定して、これらの測定結果を第2表に示すと
ともに、第2表の実施例11で得られたターゲット材の
表面組織を光学顕微鏡で観察したところ、第1図と類似
の金属Cu素地に5rCaCu204粒子が分散した組
織となっていた。
抗折力を測定して、これらの測定結果を第2表に示すと
ともに、第2表の実施例11で得られたターゲット材の
表面組織を光学顕微鏡で観察したところ、第1図と類似
の金属Cu素地に5rCaCu204粒子が分散した組
織となっていた。
上記測定および観察を行なったのち、実施例8〜14の
ターゲット材を、それぞれ、金Mcuターゲット材およ
び金属B1ターケ゛ット材とともに三元スパッタリング
装置に装入セットし、先の実施例1〜フと全く同一条件
でスパッタリングを行ない。
ターゲット材を、それぞれ、金Mcuターゲット材およ
び金属B1ターケ゛ット材とともに三元スパッタリング
装置に装入セットし、先の実施例1〜フと全く同一条件
でスパッタリングを行ない。
厚さ二〇、7pmの81系超電導WI膜を形成し、この
Bi系超超電導薄膜対して、大気中、2fi度二850
℃、100時間保持の条件で焼鈍処理し、ついで4端子
法により臨界温度(Tc )を測定し、この結果も第2
表に示した。
Bi系超超電導薄膜対して、大気中、2fi度二850
℃、100時間保持の条件で焼鈍処理し、ついで4端子
法により臨界温度(Tc )を測定し、この結果も第2
表に示した。
第2表の結果から、金属Cuの含有量が5容量−未満で
は、所望の冷却効率、抵抗率および機械的強度を確保す
ることができず、一方、その含有量が40容量チを越え
るとCuの量が多くなりすぎ。
は、所望の冷却効率、抵抗率および機械的強度を確保す
ることができず、一方、その含有量が40容量チを越え
るとCuの量が多くなりすぎ。
このCu過剰のターゲットt−用いて形成したBi系超
超電導膜所定組成のB1系超電導膜を形成することがで
きず、臨界温度の低下をもたらすことがわかる。
超電導膜所定組成のB1系超電導膜を形成することがで
きず、臨界温度の低下をもたらすことがわかる。
(3) 実施例15〜21
上記従来の技術で述べた方法により製造された平均粒径
:5μmの9aCaCu20a粉末と平均粒径:18.
0μmの金属Cu粉末を、第3表の実施例15〜21に
示される割合に配合し1回転ボールミルにて30分間混
合したのち、実施例1〜マと−J −条件にてホットプ
レスし、直径:5cI!L×厚さ二0.41の寸法を有
するターゲット材を作製した。
:5μmの9aCaCu20a粉末と平均粒径:18.
0μmの金属Cu粉末を、第3表の実施例15〜21に
示される割合に配合し1回転ボールミルにて30分間混
合したのち、実施例1〜マと−J −条件にてホットプ
レスし、直径:5cI!L×厚さ二0.41の寸法を有
するターゲット材を作製した。
ついで、これら実施例15〜2ユのターゲット材の熱伝
導率、抵抗率および抗折力e ft111定し、これら
の測定結果を第3表に示すとともに、第3表の実施例1
日のターゲット材の組織を光学顕微鏡で観察したところ
、金属CU素地にBa Ca Cu204粒子が分散し
た組織となっており、第1図と類似の組織となっている
ことがわかった。
導率、抵抗率および抗折力e ft111定し、これら
の測定結果を第3表に示すとともに、第3表の実施例1
日のターゲット材の組織を光学顕微鏡で観察したところ
、金属CU素地にBa Ca Cu204粒子が分散し
た組織となっており、第1図と類似の組織となっている
ことがわかった。
上記測定および観察を行なったのち、実施例15〜21
のターゲット材を、それぞれ、金ICuターゲットおよ
び’rz2o、ターゲットとともに三元スバ。
のターゲット材を、それぞれ、金ICuターゲットおよ
び’rz2o、ターゲットとともに三元スバ。
ツタリング装置に装入セットし、先の実施例1〜7と全
く同一条件でスパッタリングを行ない、厚さ二0.7μ
mのT/、系超電導薄膜を形成し、このTA系超超電導
薄膜Tt蒸気の雰囲気中、温度二850C,1,0時間
保持の条件で焼鈍処理し、ついで4端子法により臨界温
度t−測測定、この結果も第3我に示した。
く同一条件でスパッタリングを行ない、厚さ二0.7μ
mのT/、系超電導薄膜を形成し、このTA系超超電導
薄膜Tt蒸気の雰囲気中、温度二850C,1,0時間
保持の条件で焼鈍処理し、ついで4端子法により臨界温
度t−測測定、この結果も第3我に示した。
第3表の結果から、金属Cuの含有量が5容量チ未満で
は、所望の冷却効率、抵抗率および機械的強度を確保す
ることができず、一方、その含有量が40容量チを越え
るとCUの量が多くなりすぎ。
は、所望の冷却効率、抵抗率および機械的強度を確保す
ることができず、一方、その含有量が40容量チを越え
るとCUの量が多くなりすぎ。
とのCu過剰のターゲットを用いて形成したTt系超超
電導膜所定組成のTt系超超電導膜形成することができ
ず、臨界温度の低下をもたらすことがわかる。
電導膜所定組成のTt系超超電導膜形成することができ
ず、臨界温度の低下をもたらすことがわかる。
第1〜3表に示される結果から、金属Cu:5〜40容
量チを含有するこの発明の超電導セラミックス膜形成用
ターゲット材は1.超電導膜形成に組成的問題はなく、
すぐれた冷却効率を有するので高速スパッタを行なって
も熱応力による割れの発生がなく、かつ抵抗率が著しく
低いので、高周波スパッタリングは勿論のこと、直流2
極スノくツタリングによる薄膜形成も可能であり、さら
に機械的強度も高いので、収扱いが容易であるなど工業
上有用な特性を有するものである。
量チを含有するこの発明の超電導セラミックス膜形成用
ターゲット材は1.超電導膜形成に組成的問題はなく、
すぐれた冷却効率を有するので高速スパッタを行なって
も熱応力による割れの発生がなく、かつ抵抗率が著しく
低いので、高周波スパッタリングは勿論のこと、直流2
極スノくツタリングによる薄膜形成も可能であり、さら
に機械的強度も高いので、収扱いが容易であるなど工業
上有用な特性を有するものである。
第1図は、実施例4で作製され九ターゲット材の組織の
顕微鏡観察写生図である。 1 =−Ba cuo2粒子、 2・・・金属Cu。
顕微鏡観察写生図である。 1 =−Ba cuo2粒子、 2・・・金属Cu。
Claims (3)
- (1) 金属Cuの素地に、BaとCuの複合酸化物が
分散した組織を有し、 その組成は、金属Cu:5〜40容量%と、残りが上記
BaとCuの複合酸化物からなることを特徴とする超電
導セラミックス膜形成用ターゲット材。 - (2) 金属Cuの素地に、SrとCaとCuの複合酸
化物が分散した組織を有し、 その組成は、金属Cu:5〜40容量%と、残りが上記
SrとCaとCuの複合酸化物からなることを特徴とす
る超電導セラミックス膜形成用ターゲット材。 - (3) 金属Cuの素地に、BaとCaとCuの複合酸
化物が分散した組織を有し、 その組織は、金属Cu:5〜40容量%と、残りが上記
BaとCaとCuの複合酸化物からなることを特徴とす
る超電導セラミックス膜形成用ターゲット材。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890010108A KR950011339B1 (ko) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 초전도 세라믹스막 형성용 타아겟재 |
JP1031911A JPH02212351A (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 超電導セラミックス膜形成用ターゲット材 |
EP19890110308 EP0381804A3 (en) | 1989-02-10 | 1989-06-07 | Target used for formation of superconductive oxide film, process of producing thereof, and process of forming superconductive oxide film on substrate using the same |
US07/363,010 US4968665A (en) | 1989-02-10 | 1989-06-08 | Target used for formation of superconductive oxide film, process of producing thereof, and process of forming superconductive oxide film on substrate using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1031911A JPH02212351A (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 超電導セラミックス膜形成用ターゲット材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02212351A true JPH02212351A (ja) | 1990-08-23 |
Family
ID=12344164
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1031911A Pending JPH02212351A (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 超電導セラミックス膜形成用ターゲット材 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4968665A (ja) |
EP (1) | EP0381804A3 (ja) |
JP (1) | JPH02212351A (ja) |
KR (1) | KR950011339B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6461484B2 (en) | 2000-09-13 | 2002-10-08 | Anelva Corporation | Sputtering device |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0377073A3 (en) * | 1988-12-07 | 1990-11-07 | Mitsubishi Materials Corporation | Sputtering target used for forming quinary superconductive oxide |
US5182256A (en) * | 1990-06-21 | 1993-01-26 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Process and apparatus for preparing superconducting thin films |
US5196400A (en) * | 1990-08-17 | 1993-03-23 | At&T Bell Laboratories | High temperature superconductor deposition by sputtering |
US5145713A (en) * | 1990-12-21 | 1992-09-08 | Bell Communications Research, Inc. | Stoichiometric growth of compounds with volatile components |
US5087297A (en) * | 1991-01-17 | 1992-02-11 | Johnson Matthey Inc. | Aluminum target for magnetron sputtering and method of making same |
EP0630422B1 (en) * | 1992-03-13 | 1996-05-08 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Process for producing thin films of inorganic oxides of controlled stoichiometry |
DE69930859T2 (de) * | 1998-09-11 | 2007-05-16 | Tosoh SMD, Inc., Grove City | Verbindungsverfahren für ein niedrigtemperatursputtertarget und so hergestelltes niedrigtemperatursputtertarget |
US6749103B1 (en) | 1998-09-11 | 2004-06-15 | Tosoh Smd, Inc. | Low temperature sputter target bonding method and target assemblies produced thereby |
US8158096B2 (en) * | 2008-09-19 | 2012-04-17 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy | Barium copper sulfur fluoride transparent conductive thin films and bulk material |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0772349B2 (ja) * | 1987-05-12 | 1995-08-02 | 住友電気工業株式会社 | 大面積化合物薄膜の作製方法および装置 |
JPS63307111A (ja) * | 1987-06-08 | 1988-12-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 導電体の製造方法 |
JPH0717480B2 (ja) * | 1987-06-15 | 1995-03-01 | 古河電気工業株式会社 | 高温超伝導体膜の製造方法 |
JPS644466A (en) * | 1987-06-26 | 1989-01-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Manufacture of thin-film superconductor |
JPH01252573A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-10-09 | Mitsubishi Metal Corp | 超電導膜形成用ターゲット材 |
-
1989
- 1989-02-10 KR KR1019890010108A patent/KR950011339B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1989-02-10 JP JP1031911A patent/JPH02212351A/ja active Pending
- 1989-06-07 EP EP19890110308 patent/EP0381804A3/en not_active Withdrawn
- 1989-06-08 US US07/363,010 patent/US4968665A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6461484B2 (en) | 2000-09-13 | 2002-10-08 | Anelva Corporation | Sputtering device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0381804A3 (en) | 1990-11-07 |
EP0381804A2 (en) | 1990-08-16 |
US4968665A (en) | 1990-11-06 |
KR900013532A (ko) | 1990-09-06 |
KR950011339B1 (ko) | 1995-09-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH02212351A (ja) | 超電導セラミックス膜形成用ターゲット材 | |
Shan et al. | Rapid consolidation of Bi Pb Sr Ca Cu O powders by a plasma activated sintering process | |
KR910004862B1 (ko) | 초전도막 형성용 타아겟재 | |
JPH01270581A (ja) | Bi−Ca−Sr−Cu−O系超電導膜形成用ターゲット材の製造法 | |
KR950007088B1 (ko) | Bi-Sr-Ca-Cu-O계 초전도막형성용 타아겟재 | |
JPS63237314A (ja) | 超伝導性複合材の作製方法 | |
JP3314102B2 (ja) | 酸化物超電導体の製造方法 | |
JPS63255367A (ja) | 酸化物超電導体のスパツタ薄膜製造方法およびスパツタリング用タ−ゲツト | |
JPH06264231A (ja) | 高誘電体薄膜製造用ターゲット材およびその製造法 | |
JPH02156079A (ja) | Tl−Ba−Ca−Cu−O系超電導膜形成用ターゲット材 | |
JPH10204627A (ja) | 高誘電体膜形成用高密度スパッタリングターゲット | |
JPH0238359A (ja) | 超電導体の製造方法 | |
JPH01157008A (ja) | 超電導体薄膜 | |
JP2969221B2 (ja) | 酸化物超電導体の製造方法 | |
JP3164640B2 (ja) | 酸化物超電導体の製造方法 | |
JPH01157009A (ja) | 超電導体薄膜 | |
JPH0248459A (ja) | 複合酸化物超伝導体の製造方法 | |
JPH06264230A (ja) | 高誘電体薄膜製造用ターゲット材およびその製造法 | |
JPS63315573A (ja) | 導電性酸化物の熱処理方法 | |
JPH02116615A (ja) | 酸化物超伝導材料 | |
JPH01270582A (ja) | セラミックス超電導体の導電体接合膜 | |
JPH09263447A (ja) | 超電導前駆体複合粉末及び超電導前駆体複合粉末を用いた超電導体の製造法 | |
JPH09286614A (ja) | 超電導前駆体複合粉末及び超電導体の製造法 | |
JPH02120226A (ja) | 酸化物超伝導材料 | |
JPH06263520A (ja) | 酸化物超電導体の製造方法 |