JPH02205782A - 電子機器の完成検査用ピンベースの位置決め機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 電子機器の完成テストに使用されるピンベースの位置決
め機構に関し、 簡単な構成で、検査情報の収集ミスの生じない確実なコ
ンタクトピンとコンタクトポイントとの接触を保証する
電子機器の検査ラインにおける位置決め機構を提供する
ことを目的とし、検査情報用基板を具えたパレットに載
ってコンベヤ上を搬送される電子機器を、ラインの所定
個所に設けられたコンタクト装置の位置で停止させ、該
コンタクト装置の下降運動によってこれの下端に設けら
れたピンベースと前記検査情報用基板とを電気的に接触
させて順次に検査する検査ラインにおいて、前記ピンベ
ースをコンタクト装置本体に対して自動調芯可能な取付
は手段を介して結合した構成とする。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、電子機器の完成テストに使用されるピンベー
スの位置決め機構に関する。

〔従来の技術〕

パソコン等の電子機器が組み立てられて完成した場合、
これらの電子機器１は、第４図に示すように、上面の一
部に検査情報用の基板２０を具えたパレット５に載せら
れ、コネクタ２２によって該検査情報用基板２０に接続
された状態で検査ラインのコンベア上を順次に搬送され
、ラインの途中に設けられた図示しないテスタによって
所定の性能検査を受けるようなシステムが採用されてい
る。

第３図に示すように、この検査の際には、コンベヤ８上
をパレット５に載せられて図の矢印の方向（右方）に搬
送されている検査対象の電子機器１は、ストッパ２の作
用によってテスタの下方で停止させられ、次いでテスタ
から多数のコンタクトピン３を下向きに突出させたピン
ベース４を具えたコンタクト装置１３が下降して、パレ
ット５上の検査情報用基板２０のこれに対応するコンタ
クトポイント２１に差し込まれ、これを通じて種々のデ
ータがテスタと電子機器との間で交換されて所定の性能
検査が行われる。

コンタクトピンとコンタクトポイントとの相対位置を正
確に合わせるために、ピンベース４の両側領域には２本
の位置規制用ピン６が設けられ、これに対応してパレッ
ト５の側には位置規制用孔７が設けられ、垂直方向に固
定された経路を下降してきた位置規制用ピン６を位置規
制用孔７に差し込むことによって、位置のずれているパ
レット５を強制的にコンベヤ上で僅かに移動させて位置
合わせを行う。しかし、パレットが太き（ずれている場
合には、ピン６が孔７に係合しない恐れがあるので、こ
れを修正するためにテスタに対応してコンベヤ８の下方
にパレット規制用ピン１０を上向きに具えた押し上げ機
構９を設け、先ずパレット５を下から突き上げてこれに
設けられたパレット規制用孔１１に差し込んで位置決め
を行うと共にコンベヤ８から浮き上がらせ、次に前述の
ピンベース４の位置規制用ピン６による位置合わせを行
うと云う二重の手間を掛けている。

〔発明が解決しようとする課題〕

検査ラインにピンベースコンタクト機構に対応して押し
上げ機構を設けることは、ストッパ等との関係も含んで
寸法的、位置的に種々の困難があり、従来から検査情報
の収集ミスの大きな要因となっていた。

本発明は、このような従来技術の問題点を解決し、簡単
な構成で、検査情報の収集ミスの生じない確実なコンタ
クトピンとコンタクトポイントとの接触を保証する電子
機器の検査ラインにおける位置決め機構を提供すること
を目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

この目的は、検査情報用基板を具えたパレットに載って
コンベヤ上を搬送される電子機器を、ラインの所定個所
に設けられたコンタクト装置の位置で停止させ、該コン
タクト装置の下降運動によってこれの下端に設けられた
コンタクトピンと前記検査情報用基板のコンタクトポイ
ントとを電気的に接触させて順次に検査する検査ライン
において、前記ピンベースをコンタクト装置本体に対し
て自動調芯可能な取付は手段を介して結合したことを特
徴とする電子機器の完成検査用ピンベースの位置決め機
構によって達成される。

以下、図面に示す好適実施例に基づいて、本発明を更に
詳細に説明する。

〔実施例〕

第１図は、本発明の一実施例の概略を示す側面図である
。完成したパソコン等の電子機器１は、パレット５に載
せられてコンベヤ８上を図で矢印の方向（右方）に順次
に搬送されている。そしてこの検査ラインの所定個所に
設けられたテスタ（図示しない）の下方に到達すると、
ストッパ２が作動して一時的に進行を停止させられる。

次いで、テスタから多数のコンタクトピン３を下向きに
突出させたピンベース４を具えたコンタクト装置１３が
下降して、パレット５上の検査情報用基板２０のこれに
対応するコンタクトポイント２１に差し込まれ、これを
通じて種々のデータが図示しないテスタと電子機器１と
の間で交換されて所定の性能検査が行われる。

ピンベース４の下面の両側領域には位置規制用ビン６が
突出して設けられ、コンタクトピン３がコンタクポイン
ト２１に接触する前に、パレット５に設けられたこれに
対応する位置規制用孔７に係合するように構成されてい
る。

ピンベース４は、その四隅に取付けられた取付は機構１
２によってコンタクト装置１３に取付けられている。こ
の取付は機構１２は、第２図に示すように、コンタクト
装置１３に垂直に固定されたシャフト１４と、その先端
に設置された自動調芯型の公知のスライド軸受１５とか
らなっている。

このスライド軸受１５は、シャフト１４に対して所定の
範囲内で水平面内で移動可能であり、これに伴ってピン
ベース４も可動となっている。従って、ピンベース４に
固定されている位置規制用ピン６の中心がパレット５の
位置規制用孔７の中心に対してずれて挿入された場合に
は、孔７の内壁からピン６が受ける横方向の反力によっ
てピンベース４は横にずれ、自動的に無理なく相互の中
心が合致する。

〔発明の効果〕

このように、本発明によれば、従来のようにパレット押
し上げ機構を設けて、二重に位置合わせを行う必要がな
く、−度の操作でピンベースとパレットの基板との正確
な位置決めが可能となり、検査ラインの設計が容易にな
るのみならず、検査情報の収集の際のミスを減少するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例の概略を示す検査ラインの
側面図、 第２図は、これに用いられるピンベースの取付は機構の
詳細断面図、 第３図は、従来の検査ラインの概略を示す側面図、 第４図は、パレットの一部を示す平面図である。 １−電子機器、 ２・・・ストッパ、 ３　コンタクトピン、 ４−　ピンベース、 ５　・・パレット、 ６−・・位置規制用ビン、 ７・−位置規制用孔、 ８　コンベヤ、 ９−押し上げ機構、 １０　　パレット規制用ピン、 １１−パレット規制用孔、 １２　取付は機構、 １３　コンタクト装置、 １４・シャフト、 １５　スライド軸受、 ２０・検査情報用基板、 ２１・　コンタクトポイント、 ２２−　コネクタ。 本発明の一実施例の概略を示す検査ラインの側面図第１
図 本発明に用Ｌ１うれるピンベースの取付は機構の詳細断
面図７・・・位置規制用孔 １２・・・取付は機構 １３・・・コンタクト製雪 ２１・・・コンタクトポイント 従来の検査ラインの概略を示す側面図 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、検査情報用基板（２０）を具えたパレット（５）に
   載ってコンベヤ（８）上を搬送される電子機器（１）を
   、ラインの所定個所に設けられたコンタクト装置の位置
   で停止させ、該コンタクト装置の下降運動によってこれ
   の下端に設けられたコンタクトピン（３）と前記検査情
   報用基板（２０）のコンタクトポイント（２１）とを電
   気的に接触させて順次に検査する検査ラインにおいて、
   前記ピンベース（４）をコンタクト装置本体に対して自
   動調芯可能な取付け手段（１５）を介して結合したこと
   を特徴とする電子機器の完成検査用ピンベースの位置決
   め機構。