JPH02189996A - 多層セラミック回路基板の製造方法 - Google Patents

多層セラミック回路基板の製造方法

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JPH02189996A
JPH02189996A JP851189A JP851189A JPH02189996A JP H02189996 A JPH02189996 A JP H02189996A JP 851189 A JP851189 A JP 851189A JP 851189 A JP851189 A JP 851189A JP H02189996 A JPH02189996 A JP H02189996A
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JP
Japan
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circuit board
laminate
ceramic circuit
binder
multilayer ceramic
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Application number
JP851189A
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English (en)
Inventor
Toyosaku Sato
佐藤 豊作
Yoichi Nishioka
洋一 西岡
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、高速信号伝播及び高密度実装が出来る多層セ
ラミック回路基板の製造方法に関するものである。
[従来の技術] 大型コンピュータなどの高密度実装に用いたり、高速動
作の部品を搭載するための多層セラミック回路基板材料
としては、比誘電率ε が小さくて信号を高速伝搬する
ことが必要であり、かつ銅などの低融点金属を導体層と
して一体焼成することが可能なことが望ましい。
従来、この種の材料に関するものとして、ムライト5〜
75重量%、石英ガラス0〜70重量%、およびはうけ
い酸ガラス25〜95重量%からなるガラスセラミック
焼結体を絶縁材料とする多層セラミック回路基板が特開
昭63− ]、 07095号公報に開示されている。
ただし、この基板材料の比誘電率ε は4.6であった
[発明が解決しようとする課題] しかし、上記の多層セラミック回路基板の基板材料とし
ての比誘電率ε は4.6であり、十分に小さな値のも
のは得られてなかった。
本発明は、上記の高速信号伝搬及び高密度実装か出来る
多層セラミック回路基板の問題点を解決するためになさ
れたものであり、比誘電率が太きいという従来の欠点を
除去し、比誘電率の小さな基板材料の多層セラミック回
路基板を提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段] 以上の課題を解決するために、本発明者は、次に述べる
ような発明を行った。即ち、 第1の発明は、 多層セラミック回路基板の製造方法において、媒液及び
バインダー等を含む酸化物超微粉末のペースト状物を、
スピンコート又はスクリーン印刷により基板」二に絶縁
層を形成する工程、前記絶縁層」二に導体層を形成し繰
り返すことによって絶縁層と導体層を多層に積層する工
程、前記積層体中の媒液を蒸発させる工程、前記積層体
中のバインダーを除去する工程及び前記積層体を焼成す
る工程 からなることを特徴とする多層セラミック回路基板の製
造方法である。
第2の発明は、 多層セラミック回路基板の製造方法において、媒液及び
バインダー等を含む酸化物超微粉末のペースト状物を、
ドクターブレードによりグリンシートを形成する工程、 前記グリーンシート」二に導体層を介して多層に積層す
る工程、 前記積層体中の媒液を蒸発させる工程、前記積層体中の
バインダーを除去する工程及び前記積層体を焼成する工
程焼成工程 からなることを特徴とする多層セラミック回路基板の製
造方法である。
さらに、前記第1及び第2の発明において、酸化物超微
粉末がSiO,Ag2O3又はSi0 とAg2O3の
混合物であることを特徴とする多層セラミック回路基板
の製造方法である。
[作用] 本発明の多層セラミック回路基板の製造方法は、媒液及
びバインダー等を含むSiO,Aρ203又はSiOと
Ag2O3の混合物の酸化物超微粉末のペースト状物を
用い、媒液蒸発法によって形成しているために、空孔率
が高く、空孔径の小さい、比誘電率ε の小さな多孔質
の多層セラミック回路基板が得られ、高密度実装あるい
は高速素子用多層回路基板として用いられるものである
次に本発明の実施例について述べる。
[実施例] 第1図は本発明の実施例を示す多層セラミック回路基板
の積層後の断面模式図である。
図に基づいて説明する。図において、]はグリンシート
、2,3.4は第2層、第3層、第4層のグリーンシー
ト、6,7.8は配線導体である。
[実施例1] 平均粒径0.0BIJmのδ−AΩ203超微粉末[仕
入セメント■製]1gに対して1gのα−オレフィン・
オリゴマー[ライオン■製のLIPOLtJBE60]
媒液を加え、さらにバインダーとして3wt%のエチル
セルロース溶液20gを加え、十分に混合した後ドクタ
ーブレード法によりシート化した。
次に50°C250〜70%RHで5〜10時間乾燥し
グリンンートを得た。得られたグリーンシートは金型を
用いて所定の寸法に打ち抜いた。
次にタングステンW又はモリブデンMo系導体をスクリ
ーン印刷し、乾燥後シート層間の位置合せを行い加熱下
で加圧し積層体を得た。
成形積層体は、大気中200〜300°C,2時間で成
形積層体中の媒液を蒸発させ、次に400〜500°C
12時間で積層体中のバインダを除去し、引続き還元性
雰囲気で1000〜1100°C,1時間焼成し、多層
セラミック回路基板を得た。
本材料の空孔率は85%て比誘電率ε は2.2〜3.
5と極めて小さい値を示した。
「実施例2」 平均粒径0.025μmの8102超微粉末1gに対し
て1gのα−オレフィン・オリゴマー[ライオン■製の
LIPOLLIBE−[i0]媒液を加え、さらにバイ
ンダーとして3wt%のエチルセルロース溶液20gを
加え、十分に混合した後ドクターブレード法によりシー
ト化した。
次に50°C950〜60%R1+で5〜10時間乾燥
しグリンシートを得た。得られたグリーンシートは金型
を用いて所定の寸法に打ち抜いた。
次にAu又はAg−Pdの導体をスクリーン印刷し、乾
燥後シート層間の位置合せを行い加熱下で加圧し積層体
を得た。
成形積層体は、大気中200〜300℃、2時間で成形
積層体中の媒液を蒸発させ、次に400〜500℃、2
時間で積層体中のバインダを除去した。弓続き 700
〜950°C,1時間焼成し、多層セラミック回路基板
を得た。
本材料の空孔率は88%で比誘電率ε は1.3〜2.
5と極めて小さい値を示した。
[実施例3] 酸化物超微粉末として、実施例1及び実施例2と同じ平
均粒径のAg2O3と5i02の2成分を用い、実施例
1及び実施例2と同様の工程、手順但し、導体は、実施
例2と同じAu又はAgPdにてスクリーン印刷し、焼
成を700〜1000℃。
1時間熱処理することにより、多層セラミック回路基板
を得た。
Af1203とSiO3の混合比が1・1の場合、本材
料の空孔率は86%で比誘電率ε は1.8〜2.5と
極めて小さい値を示した。
さらに、実施例1〜3においては、成形積層体中の媒液
及びバインダー等を含む酸化物超微粉末のペースト状物
を、ドクターブレード法によりシト化しグリンシートを
形成したが、スピンコトやスクリーン印刷により、基板
上に絶縁層を形成し、前記絶縁層上に導体層を形成しこ
れを繰り返すことによって絶縁層と導体層を多層に積層
し、以下同様の工程で多層セラミック回路基板を得ても
良い。
[発明の効果] 以上述べた本発明の多層セラミック回路基板の製造方法
によれば、空孔率が高く、空孔径の小さい、比誘電率の
小さな多孔質の多層セラミック回路基板が得られ、比誘
電率か極めて小さいため、回路基板を形成した場合、高
速信号伝搬および高密度実装が可能となる等の効果を奏
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す多層セラミック回路基板
の積層後の断面模式図である。 図において、1ニゲリーンシート、2,3,4:夫々第
2層、第3層、第4層のグリーンシート。 6.7,3:配線導体。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)媒液及びバインダー等を含む酸化物超微粉末のペ
    ースト状物を、スピンコート又はスクリーン印刷により
    基板上に絶縁層を形成する工程、前記絶縁層上に導体層
    を形成し繰り返すことによって絶縁層と導体層を多層に
    積層する工程、前記積層体中の媒液を蒸発させる工程、 前記積層体中のバインダーを除去する工程及び前記積層
    体を焼成する工程 からなることを特徴とする多層セラミック回路基板の製
    造方法。
  2. (2)媒液及びバインダー等を含む酸化物超微粉末のペ
    ースト状物を、ドクターブレードによりグリーンシート
    を形成する工程、 前記グリーンシート上に導体層を介して多層に積層する
    工程、 前記積層体中の媒液を蒸発させる工程、 前記積層体中のバインダーを除去する工程及び前記積層
    体を焼成する工程焼成工程 からなることを特徴とする多層セラミック回路基板の製
    造方法。
  3. (3)酸化物超微粉末がSiO_2であることを特徴と
    する請求項1又は2記載の多層セラミック回路基板の製
    造方法。
  4. (4)酸化物超微粉末がAl_2O_3であることを特
    徴とする請求項1又は2記載の多層セラミック回路基板
    の製造方法。
  5. (5)酸化物超微粉末がSiO_2とAl_2O_3の
    混合物であることを特徴とする請求項1又は2記載の多
    層セラミック回路基板の製造方法。
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