JPH02161365A - スイッチ開閉状態モニター装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、シーケンス回路等に組込まれた各種スイッチ
の開閉状態をモニターするに適したスイッチ開閉状態モ
ニター装置に関する。

（従来技術） 従来、この種のスイッチ開閉状態モニター装置において
は、特開昭６１−８００６１号公報に示されているよう
に、シーケンス回路等の各種スイッチの開閉状態をその
回路の稼働状態のままで連続的に記録し、事故、の発生
時に、その故障発生までに至ったスイッチの開閉動作の
履歴をデータとして明らかにするようにしたものがある
。

（発明が解決しようとする課題） しかし、このような構成においては、上述のように履歴
が明らかなようになっても、この履歴の中から自動的に
スイッチの故障ケ所を容易には識別しにくかった。

そこで、本発明は、このようなことに対処すべく、シー
ケンス回路等の作動中におれる各種スイッチの開閉状態
の異常ケ所を自動的にモニターできるようにしたスイッ
チ開閉状態モニター装置を提供しようとするものである
。

（課題を解決するための手段） かかる課題の解決にあたり、本発明の構成は、シーケン
ス回路１中の各種スイッチ１０，１□。

、１．の開閉状態をそれぞれ検出し計測データとして形
成する計測データ形成手段２と、前記計測データを、各
種スイッチ１１　＋　１２　。

、１ｎの正常な開閉状態を表わす基準データと逐次比較
する逐次比較手段３と、この逐次比較手段３の比較過程
にて不一致部分が生じる毎に、これら各不一致部分を、
順次、異常表示信号として発生する異常表示信号発生手
段４と、前記各異常表示信号に順次応答して前記各不一
致部分を異常データとして表示する表示手段５とを設け
るようにしたことにある。

（作用） このように本発明を構成したことにより、計測データ形
成手段２が各種スイッチ１１＋１２＋、１．の開閉状態
をそれぞれ検出し計測データとして形成すると、逐次比
較手段３が前記計測データを前記基準データと逐次比較
し、この比較過程にて不一致部分が生じる毎に、異常表
示信号発生手段４が同各不一致部分を異常表示信号とし
て順次発生し、かつ表示手段５が同異常表示信号の内容
を異常データとして順次表示する。

（効果） 従って、シーケンス回路１の各種スイッチ１１１２、・
・・、１ｎの開閉状態に異常が生じた場合には、この異
常開閉状態が上記各不一致部分に相当する異常データと
して前記計測データの一致部分から分離されて表示され
ることとなり、その結果、シーケンス回路１の各種スイ
ッチ１１，１２、・・・＋１ｆｉの開閉状態の異常ケ所
のみを自動的にかつ明瞭に容易に視認できて便利である
。

（実施例） 以下、本発明の一実施例を図面により説明すると、第２
図においては、本発明に係るスイッチ開閉状態モニター
装置をシーケンス回路１０に適用した例が示されている
。スイッチ開閉状態モニター装置は、シーケンス回路１
０の常閉型リレースイッチ１０１．ｈランジメタ１０２
．・・・、常閉型リレースイッチ１０．にそれぞれ接続
した各検出回路２０１，２０□、・・・、２０ｆｌを備
えており、検出回路２０１は、第２図及び第３図に示す
ように、リレースイッチ１０１に接続した電圧検出器２
０ａと、この電圧検出器２０ａに順次カスケード接続し
た絶対値回路２０ｂ及び平滑化回路２０ｃと、基準レベ
ル信号発生回路２０ｄと、平滑化回路２０ｃ及び基準レ
ベル信号発生回路２０ｄに接続した比較回路２０ｅとに
より構成されている。

電圧検出器２０ａは、リレースイッチ１０、の開閉状態
をその再固定接点間に生じる電圧として検出する。絶対
値回路２０ｂは、電圧検出器２０ａの検出電圧を整流し
て絶対値化し絶対値電圧として発生する。平滑化回路２
０ｃは、絶対値回路２０ｂからの絶対値電圧を平滑化し
平滑電圧として発生する。基準レベル信号発生回路２０
ｄは、平滑化回路２０ｃからの平滑電圧を二値化するた
めの基準レベルを基準レベル信号として発生する。

比較回路２０ｅは、平滑化回路２０ｃからの平滑電圧が
前記基準レベル信号のレベルよりも高い（又は、低い）
とき、ハイレベル（又は、ローレベル）にて二値化信号
を発生する。

残余の各検出回路２０２．・・・、２０．の回路構成は
、検出回路２０！のそれと同様である。

しか゛して、各検出回路２０２．・・・、２０ｆｌは、
トランジスタ１０２の開閉状態、・・・、リレースイッ
チ１０゜の開閉状態にそれぞれ相当する二値化信号をそ
れぞれ発生する。操作スイッチＳＷは、再度モニターが
必要なとき操作されて操作信号を発生する。マイクロコ
ンピュータ３０は、第４図に示すフローチャートに従い
、各検出回路２０１．２０−２．　　・・・、２０ｆｉ
及び操作スイッチＳＷとの協働により、コンピュータプ
ログラムを実行し、この実行中において、表示装置５０
に接続した駆動回路４０の駆動制御に必要な演算処理を
行う、なお、コンピュータプログラムはマイクロコンピ
ュータ３０のＲＯＭに予め記憶されている。

以上のように構成した本実施例において、シーケンス回
路１０の作動下にて本発明装置を作動状態におけば、マ
イクロコンピュータ３ｏが第４図のフローチャートに従
いステップ６０ａにてコンピュータプログラムの実行を
開始し、ステップ６１にて初期化処理をすると共に異常
フラグＦをＦ＝０とセットし、かつステップ６２におい
て、ＲＯＭ内の基準データを読出して記憶する。また、
シーケンス回路１０の作動下において、検出回路２０１
においては、リレースイッチ１０１の再固定接点間に生
じる電圧が電圧検出器２０ａにより検出電圧として検出
され、この検出電圧が絶対値回路２０ｂにより絶対値電
圧として発生され、この絶対値電圧が平滑化回路２０ｃ
により平滑電圧として発生される。

ついで、この平滑電圧が比較回路２０ｅにより基準レベ
ル信号発生回路２０ｄからの基準レベル信号と比較され
てハイレベル（又はローレベル）の二値化信号として発
生される。かかる場合、前記平滑電圧〉前記基準レベル
信号のレベルのとき前記二値化信号がハイレベル（即ち
、リレースイッチ１０１の開状態）になり、一方、前記
平滑電圧く前記基準レベル信号のレベルのとき前記二値
化信号がローレベル（即ち、リレースイッチ１０１の閉
状態）になるものとする、また、残余の各検出回路２０
２．・・・、２０．も、実質的に同様に、トランジスタ
１０２のエミッタ・コレクタ間に生じる電圧、゛・・・
、リレースイッチ１０Ｉｌの再固定接点間に生じる電圧
をそれぞれ二値化電圧として発生する。

ステップ６２における演算処理後、マイクロコンピュー
タ３０が、ステップ６３にて、各検出回路２０１，２０
２　、　　・・・、２０．からの二値化信号のレベルを
計測データとしてＲＡＭの計測データエリアに記憶しス
テップ６４での判別を実行する。しかして、前記計測デ
ータが前記基準データと逐次比較されてゆく、かかる場
合、前記計測データと前記基準データとの間に一致部分
が生じる毎にマイクロコンピュータ３０がコンピュータ
プログラムをステップ６５に進め、一方、前記計測デー
タと前記基準データとの間に不一致８部分が生じる場合
にはこの不一致部分毎に、マイクロコンピュータ３０が
、コンピュータプログラムをステップ６４ａに進めて前
記不一致部分を第１異常表示信号として発生し、かつス
テップ６４ｂにてＦ＝１とセットしてステップ６５での
判別に移行する。

しかして、上述のようにステップ６４ａにおいて第１異
常表示信号がマイクロコンピュータ３０から生じる毎に
、表示装置５０が駆動回路４０により駆動されて各第１
異常表示信号の内容を順次表示してゆく。このため、前
記計測データの各異常部分、即ちシーケンス回路１０の
各スイッチの開閉状態中の異常ケ所部分のみが逐次表示
されるので、シーケンス回路１０中の各スイッチの開閉
状態の異常部分のみを逐次タイミングよく視認できる。

このような演算処理過程を経て、前記計測データの前記
基準データとの比較が−シーケンス分終了すると、マイ
クロコンピュータ３０が、ステップ６５にて、ｒＹＥＳ
、と判別する。

然る後、ステップ６４ｂにおける異常フラグＦ＝１との
セット状態が存在する場合には、マイクロコンピュータ
３０が、ステップ６６にてｒＹＥＳ」と判別し、ステッ
プ６６ａにて、ステップ６３における計測データ中の各
異常部分又は異常部分を含む一シーケンス分を異常デー
タとしてＲＡＭの゛異常データエリアに記憶する。しか
して、現段階においてＲＡＭの異常データエリアが満杯
でなければ、マイクロコンピュータ３０が、ステップ６
７にてｒＮＯＪと判別し、ステップ６７ａにて、ステッ
プ６３にてＲＡＭの計測データエリアに記憶済みの計測
データをクリアし、ステップ６７ｂにて異常フラグＦ＝
Ｏとセットする。以下、各ステップ６３〜６７ｂを通る
演算処理が上述と同様に繰返えし行なわれる。かかる場
合、ＲＡＭの異常データエリアには、ステップ６３での
各計測データ中の異常部分のみが常に記憶されるので、
ＲＡＭのデータエリアを最小限に抑制できる。

このような状態において、ステップ６７における判別が
ｒＹＥＳＪになると、マイクロコンピュータ３０が、ス
テップ６７ｃにて、ＲＡＭの異常データエリアに記憶済
みの全異常データを第２異零表示信号として発生し、こ
れに応答して表示装置５０が駆動口、路４０との協働に
より第２異常表示信号の内容を一度に表示する。これに
より、ＲＡＭの異常データエリアが満杯になるまでの全
異常データのみが一度に視認され得る。ついで、操作ス
イッチＳＷが未操作であれば、マイクロコンピュータ３
０がステップ６８にてｒＮｏ、と判別と、ステップ６０
ｂにて、コンピュータプログラムの実行を終了する。一
方、操作スイッチＳＷが操作信号を生じておれば、マイ
クロコンピュータ３０がステップ６８にてｒＹＥＳＪと
判別し、ステップ６８ａにて、ＲＡＭの異常データエリ
ア中の全異常データをクリアして再度ステップ６４以後
の実行に入る。

なお、本発明の実施にあたっては、マイクロコンピュー
タ３０のＲＯＭに記憶済みの基準データをステップ６２
にてＲＡＭに移す場合に限ることなく、各種シーケンス
回路のための各基準データを予め記憶した外部記憶素子
を採用し、この外部記憶素子内の各基準データのいずれ
かをステップ６２にてＲＡＭに移すようにしてもよい。

次に、前記実施例の変形例につき第５図及び第６図を参
照して説明すると、この変形例においては、第４図のフ
ローチャートにおいてその一部を第５図の示すように変
更したフローチャートに従うコンピュータプログラム（
以下、第２コンピユータプログラムという）が、前記実
施例で述べたコンピュータプログラムに代えて、マイク
ロコンピュータコンピュータ３０のＲＯＭに予め記憶さ
れていることにその構成上の特徴がある。その他の構成
は前記実施例と同様である。

このように構成した本変形例においては、前記実施例と
同様にステップ６３における計測データの記憶が終了す
ると、マイクロコンピュータ３０が、ステップ６３ａに
て、前記基準データの各変化点Ｍｌ　、　Ｍ２　、　Ｍ
３　、　Ｍ４　、　　・・・（第６図参照）を捜しそれ
ぞれ変化点データとしてＲＡＭの変化点データエリアに
記憶し、ステップ６３ｂにて、前記計測データの各変化
点Ｓ１．Ｓ２．Ｓ、。

Ｓ４＋　　・・・（第６図参照）を各変化点Ｍ、　、　
Ｍ２、Ｍ３．Ｍ４．　　・・・に対応させるようにして
捜しそれぞれ変化点データとしてＲＡＭの変化点データ
エリアに記憶する。ついで、マイクロコンピュータ３０
が、第２コンピユータプログラムをステップ６３ｃに進
め、両ステップ６３ａ、６３ｂでの対応する一対の変化
点データにおける両変化点Ｍ１とＳｌの位相差Ｔ１を求
め、かつこれら両変化点Ｍ、　　ｓ、の各変化点データ
をＲＡＭの変化点データエリアからクリアし、ステップ
６４Ａでの判別を実行する。

しかして、位相差Ｔ１がその正常最大値Ｔｏよりも大き
ければ、マイクロコンピュータ３０がステップ６４Ａに
てｒＹＥＳＪと判別し、ステップ６４ａにて、位相差Ｔ
１を第１異常表示信号として発生し、これに応答して表
示装置５０が駆動回路４０との協働により位相差Ｔ１を
異常データとして表示する。但し、正常最大値Ｔｏはマ
イクロコンピュータ３０のＲＯＭに予め記憶されている
。

一方、’ｒ、＞’ｒ、が不成立ならば、マイクロコンピ
ュータ３０がステップ６４Ａにて「ＮＯ」と判別する。

このような実行後、第２コンピユータプログラムがステ
ップ６４Ｂに進むと、マイクロコンピュータ３０が、Ｒ
ＡＭの変化データエリアにおける残余の変化点データの
存在に基き「ＮＯ」と判別し、以後、各位相差Ｔ２．Ｔ
、、　　・・・につき、ステップ６３ｃ〜６４Ｂを通る
第２コンピユータプログラムの実行を繰返す。然る後、
ステップ６４Ｂでの判別がｒＹＥＳ、になると、マイク
ロコンピュータ３０が第２コンピユータプログラムをス
テップ６５以後に進める。なお、Ｔ　＋　＞　Ｔ　６の
場合の各位相差ＴＩ及び異常部分又は異常部分を含む一
シーケンス分がステップ６６ａにて異常データとし寺の
異常データエリアに記憶される。

以上説明したように、この変形例では、ＴＩ〉Ｔ、の成
立時の場合にＴ、を異常データとして表示しＲＡＭの異
常データエリアに記憶するようにしたので、前記計測デ
ータと前記基準データとの各対応部分の位相差にバラツ
キがあっても、異常データとしての精度の向上を確保で
きる。

次に、前記実施例の他の変形例について第７図を参照し
て説明すると、この変形例においては、第４図のフロー
チャートにおいてその一部を第７図に示すように変更し
たフローチャートに従うコンピュータプログラム（以下
、第３コンピユータプログラムという）が、前記実施例
にてのべたコンピュータプログラムに代えて、マイクロ
コンピュータ３０のＲＯＭに予め記憶されていることに
そり構成上の特徴がある。その他の構成は前記実施例と
同様である。

このように構成した本変形例において、前記実施例と同
様にステップ６１における処理が終了すると、マイクロ
コンピュータ３０が、第３コンピユータプログラムのス
テップ６３Ａにて、チャンネルデータＮ＝１とセットし
、ステップ６３Ｂにて、各検出回路２０１．・・・、２
０ｎからの二値化信号を並列的に各計測データ（以下、
第１゜、第ｎの計測データという）としてＲＡＭの計測
データエリアに記憶し、かつステップ７０にてｒＹＥＳ
、と判別する。但し、Ｎ＝１．２゜、ｎが前記第１．第
２．・・・、第ｎの計測データにそれぞれ対応する。つ
いで、マイクロコンピュータ３０が、ステップ７１にて
、Ｎ＝１に基き前記第１計測データが干渉チエツク区間
のものか否かにつき判別する。

干渉チエツク区間ならば、マイクロコンピュータ３０が
同ステップ７１にて「ＹＥＳ」と判別し、ステップ７２
にて、チエツクフラグＦｃ＝１とセットする。一方、ス
テップ７１での判別がｒＮＯＪならば、マイクロコンピ
ュータ３０がステップ７３にてＦｃ＝Ｏとセットする。

ついで、マイクロコンピュータ３０が、ステップ７７に
て、Ｎ＝１くｎに基きｒＮＯＪと判別し、ステップ７８
にて、Ｎ＝２と更新し、ステップ７０にて、Ｎ＝２に基
きｒＮｏ、と判別してステップ７４での判別を実行する
。

現段階で、Ｆｃ＝Ｏならば、マイクロコンピュータ３０
が同ステップ７４にてｒＮＯＪと判別する。一方、ステ
ップ７４での判別がｒＹＥＳ、ならば、マイクロコンピ
ュータ３０が次のステップ７５にて、Ｎ＝２に基き第２
計測データの第１計測データとの干渉の有無を判別する
。第８図に示すように、ステップ７１での干渉チエツク
区間を斜線領域Ａとしたとき、Ｎ＝１に基く第１計測デ
ータと、Ｎ＝２に基く第２計測データとが斜線領域Ａ内
にて共にハイレベルにはならなければ、干渉していない
としてステップ７５での判別が「ＮＯ」となる。

同様にしてステップ７８におけるＮ＝３との更新後、ス
テップ７４での判別が「ＹＥＳ」となったとき、マイク
ロコンピュータ３０が、ステップ７５にて、上述と実質
的に同様に前記第３計測データと前記第１計測データと
の干渉の有無を判別する。しかして、画策１及び第３の
計測データが斜線領域Ａ内で共にハイレベルにあれば、
干渉しているとしてステップ７５での判別がｒＹＥｓＪ
になる。ついで、マイクロコンピュータ３０が、ステッ
プ６４ａにて、同干渉部分を第１異常表示信号として発
生し、ステップ６４ｂにてＦ＝１とセットする。以下、
同様の繰返しのちとにステップ７７での判別がＮ＝ｎに
基き「ＹＥＳ」になると、マイクロコンピュータ３０が
、ステップ６５以後の実行に移行する。

以上説明したように、この変形例では、第２〜第ｎの計
測データの第１計測データとの干渉チエツク区間での干
渉成立時に、干渉成立部分近傍又はそれを含む一シーケ
ンス分を異常データとして表示しＲＡＭの異常データエ
リアに記憶するようにしたので、前記実施例の場合と実
質的に同様の効果を達成できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は特許請求の範囲の記載に対する対応図、第２図
は本発明の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図
における各検出回路の詳細回路図、第４図は第２図のマ
イクロコンピュータの作用を示すフローチャート、第５
図は同フローチャートの変形例を示す要部フローチャー
ト、第６図は、基準データ及び計測データの各変化点を
示すタイムチャート、第７図は第４図のフローチャート
の他の変形例を示す要部フローチャート、及び第８図は
、 各計測データの干渉状態説明図である。 符 号 の 説 明 シーケンス回路、 ２０ｔ　　〜２０゜ 検出回路、 ・マイクロコンピュータ、 表示装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. シーケンス回路中の各種スイッチの開閉状態をそれぞれ
   検出し計測データとして形成する計測データ形成手段と
   、前記計測データを、前記各種スイッチの正常な開閉状
   態を表わす基準データと逐次比較する逐次比較手段と、
   この逐次比較手段の比較過程にて不一致部分が生じる毎
   に、これら各不一致部分を、順次、異常表示信号として
   発生する異常表示信号発生手段と、前記各異常表示信号
   に順次応答して前記各不一致部分を異常データとして表
   示する表示手段とからなるスイッチ開閉状態モニター装
   置。