JP2910041B2 - スイッチ開閉状態モニター装置 - Google Patents
スイッチ開閉状態モニター装置Info
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- JP2910041B2 JP2910041B2 JP63316664A JP31666488A JP2910041B2 JP 2910041 B2 JP2910041 B2 JP 2910041B2 JP 63316664 A JP63316664 A JP 63316664A JP 31666488 A JP31666488 A JP 31666488A JP 2910041 B2 JP2910041 B2 JP 2910041B2
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、シーケンス回路等に組込まれた各種スイッ
チの開閉状態をモニターするに適したスイッチ開閉状態
モニター装置に関する。
チの開閉状態をモニターするに適したスイッチ開閉状態
モニター装置に関する。
（従来技術） 従来、この種のスイッチ開閉状態モニター装置におい
ては、特開昭61−80061号公報に示されているように、
シーケンス回路等の各種スイッチの開閉状態をその回路
の稼働状態のままで連続的に記録し、事故の発生時に、
その故障発生までに至ったスイッチの開閉動作の履歴を
データとして明らかにするようにしたものがある。
ては、特開昭61−80061号公報に示されているように、
シーケンス回路等の各種スイッチの開閉状態をその回路
の稼働状態のままで連続的に記録し、事故の発生時に、
その故障発生までに至ったスイッチの開閉動作の履歴を
データとして明らかにするようにしたものがある。
（発明が解決しようとする課題） しかし、このような構成においては、上述のように履
歴が明らかなようになっても、この履歴の中から自動的
にスイッチの故障ヶ所を容易には識別しにくかった。
歴が明らかなようになっても、この履歴の中から自動的
にスイッチの故障ヶ所を容易には識別しにくかった。
そこで、本発明は、このようなことに対処すべく、シ
ーケンス回路等の作動中における各種スイッチの開閉状
態の異常ヶ所を自動的にモニターできるようにしたスイ
ッチ開閉状態モニター装置を提供しようとするものであ
る。
ーケンス回路等の作動中における各種スイッチの開閉状
態の異常ヶ所を自動的にモニターできるようにしたスイ
ッチ開閉状態モニター装置を提供しようとするものであ
る。
（課題を解決するための手段） 上記課題の解決にあたり、本発明によれば、第１図に
示すごとく、 シーケンス回路１中の各スイッチ11，12，……，1nの
開閉状態を検出し並列的にそれぞれ各計測データとして
形成する計測データ形成手段2Aと、 前記各計測データのうちの一つがその干渉チェック区
間にて残りの各計測データと干渉するか否かにつき逐次
判定する干渉判定手段８と、 この干渉判定手段による干渉との判定毎に前記干渉チ
ェック区間近傍のデータ又は当該干渉チェック区間を含
むデータを異常データとして表示する異常データ表示手
段4Bとからなるスイッチ開閉状態モニター装置が提供さ
れる。
示すごとく、 シーケンス回路１中の各スイッチ11，12，……，1nの
開閉状態を検出し並列的にそれぞれ各計測データとして
形成する計測データ形成手段2Aと、 前記各計測データのうちの一つがその干渉チェック区
間にて残りの各計測データと干渉するか否かにつき逐次
判定する干渉判定手段８と、 この干渉判定手段による干渉との判定毎に前記干渉チ
ェック区間近傍のデータ又は当該干渉チェック区間を含
むデータを異常データとして表示する異常データ表示手
段4Bとからなるスイッチ開閉状態モニター装置が提供さ
れる。
（発明の作用効果） 上述のように構成したことにより、計測データ形成手
段2Aが、シーケンス回路１中の各スイッチ11，12，…
…，1nの開閉状態を検出し並列的にそれぞれ各計測デー
タとして形成すると、干渉判定手段８が、前記各計測デ
ータのうちの一つがその干渉チェック区間にて残りの各
計測データと干渉するか否かにつき逐次判定する。そし
て、異常データ表示手段4Bは、干渉判定手段による干渉
毎に前記干渉チェック区間近傍のデータ又は当該干渉チ
ェック区間を含むデータを異常データとして表示する。
段2Aが、シーケンス回路１中の各スイッチ11，12，…
…，1nの開閉状態を検出し並列的にそれぞれ各計測デー
タとして形成すると、干渉判定手段８が、前記各計測デ
ータのうちの一つがその干渉チェック区間にて残りの各
計測データと干渉するか否かにつき逐次判定する。そし
て、異常データ表示手段4Bは、干渉判定手段による干渉
毎に前記干渉チェック区間近傍のデータ又は当該干渉チ
ェック区間を含むデータを異常データとして表示する。
このように、前記一計測データと残りの各計測データ
との干渉チェック区間での干渉成立時に、干渉チェック
区間近傍のデータ又は当該干渉チェック区間を含むデー
タを異常データとして表示するので、シーケンス回路１
中の各スイッチ11，12，……，1nの開閉状態に異常箇所
のみを自動的にかつ明瞭に容易に視認できて便利であ
る。
との干渉チェック区間での干渉成立時に、干渉チェック
区間近傍のデータ又は当該干渉チェック区間を含むデー
タを異常データとして表示するので、シーケンス回路１
中の各スイッチ11，12，……，1nの開閉状態に異常箇所
のみを自動的にかつ明瞭に容易に視認できて便利であ
る。
（実施例） 以下、本発明の一実施例を図面により説明すると、第
２図においては、本発明に係るスイッチ開閉状態モニタ
ー装置をシーケンス回路10に適用した例が示されてい
る。スイッチ開閉状態モニター装置は、シーケンス回路
10の常閉型リレースイッチ101，トランジスタ102，・・
・，常閉型リレースイッチ10nにそれぞれ接続した各検
出回路201，202，・・・，20nを備えており、検出回路2
01は、第２図及び第３図に示すように、リレースイッチ
101に接続した電圧検出器20aと、この電圧検出器20aに
順次カスケード接続した絶対値回路20b及び平滑化回路2
0cと、基準レベル信号発生回路20dと、平滑化回路20c及
び基準レベル信号発生回路20dに接続した比較回路20eと
により構成されている。
２図においては、本発明に係るスイッチ開閉状態モニタ
ー装置をシーケンス回路10に適用した例が示されてい
る。スイッチ開閉状態モニター装置は、シーケンス回路
10の常閉型リレースイッチ101，トランジスタ102，・・
・，常閉型リレースイッチ10nにそれぞれ接続した各検
出回路201，202，・・・，20nを備えており、検出回路2
01は、第２図及び第３図に示すように、リレースイッチ
101に接続した電圧検出器20aと、この電圧検出器20aに
順次カスケード接続した絶対値回路20b及び平滑化回路2
0cと、基準レベル信号発生回路20dと、平滑化回路20c及
び基準レベル信号発生回路20dに接続した比較回路20eと
により構成されている。
電圧検出器20aは、リレースイッチ101の開閉状態をそ
の両固定接点間に生じる電圧として検出する。絶対値回
路20bは、電圧検出器20aの検出電圧を整流して絶対値化
し絶対値電圧として発生する。平滑化回路20cは、絶対
値回路20bからの絶対値電圧を平滑化し平滑電圧として
発生する。基準レベル信号発生回路20dは、平滑化回路2
0cからの平滑電圧を二値化するための基準レベルを基準
レベル信号として発生する。比較回路20eは、平滑化回
路20cからの平滑電圧が前記基準レベル信号のレベルよ
りも高い（又は、低い）とき、ハイレベル（又は、ロー
レベル）にて二値化信号を発生する。
の両固定接点間に生じる電圧として検出する。絶対値回
路20bは、電圧検出器20aの検出電圧を整流して絶対値化
し絶対値電圧として発生する。平滑化回路20cは、絶対
値回路20bからの絶対値電圧を平滑化し平滑電圧として
発生する。基準レベル信号発生回路20dは、平滑化回路2
0cからの平滑電圧を二値化するための基準レベルを基準
レベル信号として発生する。比較回路20eは、平滑化回
路20cからの平滑電圧が前記基準レベル信号のレベルよ
りも高い（又は、低い）とき、ハイレベル（又は、ロー
レベル）にて二値化信号を発生する。
残余の各検出回路202，・・・，20nの回路構成は、検
出回路201のそれと同様である。しかして、各検出回路2
02，・・・，20nは、トランジスタ102の開閉状態，・・
・，リレースイッチ10nの開閉状態にそれぞれ相当する
二値化信号をそれぞれ発生する。操作スイッチSWは、再
度モニターが必要なとき操作されて操作信号を発生す
る。マイクロコンピュータ30は、第４図に示すフローチ
ャートに従い、各検出回路201，202，・・・，20n及び
操作スイッチSWとの協働により、コンピュータプログラ
ムを実行し、この実行中において、表示装置50に接続し
た駆動回路40の駆動制御に必要な演算処理を行う。な
お、コンピュータプログラムはマイクロコンピュータ30
のROMに予め記憶されている。
出回路201のそれと同様である。しかして、各検出回路2
02，・・・，20nは、トランジスタ102の開閉状態，・・
・，リレースイッチ10nの開閉状態にそれぞれ相当する
二値化信号をそれぞれ発生する。操作スイッチSWは、再
度モニターが必要なとき操作されて操作信号を発生す
る。マイクロコンピュータ30は、第４図に示すフローチ
ャートに従い、各検出回路201，202，・・・，20n及び
操作スイッチSWとの協働により、コンピュータプログラ
ムを実行し、この実行中において、表示装置50に接続し
た駆動回路40の駆動制御に必要な演算処理を行う。な
お、コンピュータプログラムはマイクロコンピュータ30
のROMに予め記憶されている。
以上のように構成した本実施例において、シーケンス
回路10の作動下にて本発明装置を作動状態におけば、マ
イクロコンピュータ30が第４図のフローチャートに従い
ステップ60aにてコンピュータプログラムの実行を開始
し、ステップ61にて初期化処理をすると共に異常フラグ
ＦをＦ＝０とセットし、かつステップ62において、ROM
内のシーケンス回路10の各スイッチの正常な開閉状態を
表す基準データを読出して記憶する。また、シーケンス
回路10の作動下において、検出回路201においては、リ
レースイッチ101の両固定接点間に生じる電圧が電圧検
出器20aにより検出電圧として検出され、この検出電圧
が絶対値回路20bにより絶対値電圧として発生され、こ
の絶対値電圧が平滑化回路20cにより平滑電圧として発
生される。
回路10の作動下にて本発明装置を作動状態におけば、マ
イクロコンピュータ30が第４図のフローチャートに従い
ステップ60aにてコンピュータプログラムの実行を開始
し、ステップ61にて初期化処理をすると共に異常フラグ
ＦをＦ＝０とセットし、かつステップ62において、ROM
内のシーケンス回路10の各スイッチの正常な開閉状態を
表す基準データを読出して記憶する。また、シーケンス
回路10の作動下において、検出回路201においては、リ
レースイッチ101の両固定接点間に生じる電圧が電圧検
出器20aにより検出電圧として検出され、この検出電圧
が絶対値回路20bにより絶対値電圧として発生され、こ
の絶対値電圧が平滑化回路20cにより平滑電圧として発
生される。
ついで、この平滑電圧が比較回路20eにより基準レベ
ル信号発生回路20dからの基準レベル信号と比較されて
ハイレベル（又はローレベル）の二値化信号として発生
される。かかる場合、前記平滑電圧＞前記基準レベル信
号のレベルのとき前記二値化信号がハイレベル（即ち、
リレースイッチ101の開状態）になり、一方、前記平滑
電圧＜前記基準レベル信号のレベルのとき前記二値化信
号がローレベル（即ち、リレースイッチ101の閉状態）
になるものとする。また、残余の各検出回路202，・・
・20nも、実質的に同様に、トランジスタ102のエミツタ
・コレクタ間に生じる電圧，・・・，リレースイッチ10
nの両固定接点間に生じる電圧をそれぞれ二値化信号と
して発生する。
ル信号発生回路20dからの基準レベル信号と比較されて
ハイレベル（又はローレベル）の二値化信号として発生
される。かかる場合、前記平滑電圧＞前記基準レベル信
号のレベルのとき前記二値化信号がハイレベル（即ち、
リレースイッチ101の開状態）になり、一方、前記平滑
電圧＜前記基準レベル信号のレベルのとき前記二値化信
号がローレベル（即ち、リレースイッチ101の閉状態）
になるものとする。また、残余の各検出回路202，・・
・20nも、実質的に同様に、トランジスタ102のエミツタ
・コレクタ間に生じる電圧，・・・，リレースイッチ10
nの両固定接点間に生じる電圧をそれぞれ二値化信号と
して発生する。
ステップ62における演算処理後、マイクロコンピュー
タ30が、ステップ63にて、各検出回路201，202，・・・
20nからの二値化信号のレベルを計測データとしてRAMの
計測データエリアに記憶しステップ64での判別を実行す
る。しかして、前記計測データが前記基準データと比較
される。かかる場合、前記計測データと前記基準データ
との間に一致部分が生じるとマイクロコンピュータ30が
コンピュータプログラムをステップ65に進め、一方、前
記計測データと前記基準データとの間に不一致部分が生
じる場合には、マイクロコンピュータ30が、コンピュー
タプログラムをステップ64aに進めて前記不一致部分を
第１異常表示信号として発生し、かつステップ64bにて
Ｆ＝１とセットしてステップ65での判別に移行する。以
後、ステップ65の判別がYESとなるまで、ステップ63乃
至ステップ65を通る処理が繰り返される。
タ30が、ステップ63にて、各検出回路201，202，・・・
20nからの二値化信号のレベルを計測データとしてRAMの
計測データエリアに記憶しステップ64での判別を実行す
る。しかして、前記計測データが前記基準データと比較
される。かかる場合、前記計測データと前記基準データ
との間に一致部分が生じるとマイクロコンピュータ30が
コンピュータプログラムをステップ65に進め、一方、前
記計測データと前記基準データとの間に不一致部分が生
じる場合には、マイクロコンピュータ30が、コンピュー
タプログラムをステップ64aに進めて前記不一致部分を
第１異常表示信号として発生し、かつステップ64bにて
Ｆ＝１とセットしてステップ65での判別に移行する。以
後、ステップ65の判別がYESとなるまで、ステップ63乃
至ステップ65を通る処理が繰り返される。
しかして、ステップ64aにおいて第１異常表示信号が
マイクロコンピュータ30から生じる毎に、表示装置50が
駆動回路40により駆動されて各第１異常表示信号の内容
を順次表示してゆく。このため、前記各計測データの各
異常部分、即ちシーケンス回路10の各スイッチの開閉状
態中の異常ヶ所部分のみが逐次表示されるので、シーケ
ンス回路10中の各スイッチの開閉状態の異常部分のみを
逐次タイミングよく視認できる。このような演算処理過
程を経て、前記各計測データの前記基準データとの比較
が１シーケンス分終了すると、マイクロコンピュータ30
が、ステップ65にて、「YES」と判別する。
マイクロコンピュータ30から生じる毎に、表示装置50が
駆動回路40により駆動されて各第１異常表示信号の内容
を順次表示してゆく。このため、前記各計測データの各
異常部分、即ちシーケンス回路10の各スイッチの開閉状
態中の異常ヶ所部分のみが逐次表示されるので、シーケ
ンス回路10中の各スイッチの開閉状態の異常部分のみを
逐次タイミングよく視認できる。このような演算処理過
程を経て、前記各計測データの前記基準データとの比較
が１シーケンス分終了すると、マイクロコンピュータ30
が、ステップ65にて、「YES」と判別する。
然る後、ステップ64bにおける異常フラグＦ＝１との
セット状態が存在する場合には、マイクロコンピュータ
30が、ステップ66にて「YES」と判別し、ステップ66aに
て、ステップ63における計測データ中の各異常部分又は
異常部分を含む１シーケンス分を異常データとしてRAM
の異常データエリアに記憶する。しかして、現段階にお
いてRAMの異常データエリアが満杯でなければ、マイク
ロコンピュータ30が、ステップ67にて「NO」と判別し、
ステップ67aにて、ステップ63にてRAMの計測データエリ
アに記憶済みの計測データをクリアし、ステップ67bに
て異常フラグＦ＝０とセットする、以下、各ステップ63
〜67bを通る演算処理が上述と同様に繰返えし行なわれ
る。かかる場合、RAMの異常データエリアには、ステッ
プ63での各計測データ中の異常部分のみが常に記憶され
るので、RAMのデータエリアを最小限に抑制できる。
セット状態が存在する場合には、マイクロコンピュータ
30が、ステップ66にて「YES」と判別し、ステップ66aに
て、ステップ63における計測データ中の各異常部分又は
異常部分を含む１シーケンス分を異常データとしてRAM
の異常データエリアに記憶する。しかして、現段階にお
いてRAMの異常データエリアが満杯でなければ、マイク
ロコンピュータ30が、ステップ67にて「NO」と判別し、
ステップ67aにて、ステップ63にてRAMの計測データエリ
アに記憶済みの計測データをクリアし、ステップ67bに
て異常フラグＦ＝０とセットする、以下、各ステップ63
〜67bを通る演算処理が上述と同様に繰返えし行なわれ
る。かかる場合、RAMの異常データエリアには、ステッ
プ63での各計測データ中の異常部分のみが常に記憶され
るので、RAMのデータエリアを最小限に抑制できる。
このような状態において、ステップ67における判別が
「YES」になると、マイクロコンピュータ30が、ステッ
プ67cにて、RAMの異常データエリアに記憶済みの全異常
データを第２異常表示信号として発生し、これに応答し
て表示装置50が駆動回路40との協働により第２異常表示
信号の内容を一度に表示する。これにより、RAMの異常
データエリアが満杯になるまでの全異常データのみが一
度に視認され得る。ついで、操作スイッチSWが未操作で
あれば、マイクロコンピュータ30がステップ68にて「N
O」と判別と、ステップ60bにて、コンピュータプログラ
ムの実行を終了する。一方、操作スイッチSWが操作信号
を生じておれば、マイクロコンピュータ30がステップ68
にて「YES」と判別し、ステップ68aにて、RAMの異常デ
ータエリア中の全異常データをクリアして再度ステップ
64以後の実行に入る。
「YES」になると、マイクロコンピュータ30が、ステッ
プ67cにて、RAMの異常データエリアに記憶済みの全異常
データを第２異常表示信号として発生し、これに応答し
て表示装置50が駆動回路40との協働により第２異常表示
信号の内容を一度に表示する。これにより、RAMの異常
データエリアが満杯になるまでの全異常データのみが一
度に視認され得る。ついで、操作スイッチSWが未操作で
あれば、マイクロコンピュータ30がステップ68にて「N
O」と判別と、ステップ60bにて、コンピュータプログラ
ムの実行を終了する。一方、操作スイッチSWが操作信号
を生じておれば、マイクロコンピュータ30がステップ68
にて「YES」と判別し、ステップ68aにて、RAMの異常デ
ータエリア中の全異常データをクリアして再度ステップ
64以後の実行に入る。
なお、本発明の実施にあたっては、マイクロコンピュ
ータ30のROMに記憶済みの基準データをステップ62にてR
AMに移す場合に限ることなく、各種シーケンス回路のた
めの各基準データを予め記憶した外部記憶素子を採用
し、この外部記憶素子内の各基準データのいずれかをス
テップ62にてRAMに移すようにしてもよい。
ータ30のROMに記憶済みの基準データをステップ62にてR
AMに移す場合に限ることなく、各種シーケンス回路のた
めの各基準データを予め記憶した外部記憶素子を採用
し、この外部記憶素子内の各基準データのいずれかをス
テップ62にてRAMに移すようにしてもよい。
次に、前記実施例の変形例につき第５図及び第６図を
参照して説明すると、この変形例においては、第４図の
フローチャートにおいてその一部を第５図の示すように
変更したフローチャートに従うコンピュータプログラム
（以下、第２コンピュータプログラムという）が、前記
実施例で述べたコンピュータプログラムに代えて、マイ
クロコンピュータコンピュータ30のROMに予め記憶され
ていることにその構成上の特徴がある。その他の構成は
前記実施例と同様である。
参照して説明すると、この変形例においては、第４図の
フローチャートにおいてその一部を第５図の示すように
変更したフローチャートに従うコンピュータプログラム
（以下、第２コンピュータプログラムという）が、前記
実施例で述べたコンピュータプログラムに代えて、マイ
クロコンピュータコンピュータ30のROMに予め記憶され
ていることにその構成上の特徴がある。その他の構成は
前記実施例と同様である。
このように構成した本変形例においては、前記実施例
と同様にステップ65におけるNOとの判別毎にステップ63
における計測データの記憶が終了すると、マイクロコン
ピュータ30が、ステップ63aにて、前記基準データの各
変化点M1，M2，M3，M4，・・・（第６図参照）を捜しそ
れぞれ変化点データとしてRAMの変化点データエリアに
記憶し、ステップ63bにて、前記計測データの各変化点S
1，S2，S3，S4，・・・（第６図参照）を各変化点M1，M
2，M3，M4，・・・に対応させるようにして捜しそれぞ
れ変化点データとしてRAMの変化点データエリアに記憶
する。ついで、マイクロコンピュータ30が、第２コンピ
ュータプログラムをステップ63cに進め、両ステップ63
a,63bでの対応する一対の変化点データにおける両変化
点M1とS1の位相差T1を求め、かつこれら両変化点M1,S1
の各変化点データをRAMの変化点データエリアからクリ
アし、ステップ64Aでの判別を実行する。
と同様にステップ65におけるNOとの判別毎にステップ63
における計測データの記憶が終了すると、マイクロコン
ピュータ30が、ステップ63aにて、前記基準データの各
変化点M1，M2，M3，M4，・・・（第６図参照）を捜しそ
れぞれ変化点データとしてRAMの変化点データエリアに
記憶し、ステップ63bにて、前記計測データの各変化点S
1，S2，S3，S4，・・・（第６図参照）を各変化点M1，M
2，M3，M4，・・・に対応させるようにして捜しそれぞ
れ変化点データとしてRAMの変化点データエリアに記憶
する。ついで、マイクロコンピュータ30が、第２コンピ
ュータプログラムをステップ63cに進め、両ステップ63
a,63bでの対応する一対の変化点データにおける両変化
点M1とS1の位相差T1を求め、かつこれら両変化点M1,S1
の各変化点データをRAMの変化点データエリアからクリ
アし、ステップ64Aでの判別を実行する。
しかして、位相差T1がその正常最大値T0よりも大きけ
れば、マイクロコンピュータ30がステップ64Aにて「YE
S」と判別し、ステップ64aにて、位相差T1を第１異常表
示信号として発生し、これに応答して表示装置50が駆動
回路40との協働により位相差T1を異常データとして表示
する。但し、正常最大値T0はマイクロコンピュータ30の
ROMに予め記憶されている。一方、T1＞T0が不成立なら
ば、マイクロコンピュータ30がステップ64Aにて「NO」
と判別する。
れば、マイクロコンピュータ30がステップ64Aにて「YE
S」と判別し、ステップ64aにて、位相差T1を第１異常表
示信号として発生し、これに応答して表示装置50が駆動
回路40との協働により位相差T1を異常データとして表示
する。但し、正常最大値T0はマイクロコンピュータ30の
ROMに予め記憶されている。一方、T1＞T0が不成立なら
ば、マイクロコンピュータ30がステップ64Aにて「NO」
と判別する。
このような実行後、第２コンピュータプログラムがス
テップ64Bに進むと、マイクロコンピュータ30が、RAMの
変化データエリアにおける残余の変化点データの存在に
基き「NO」と判別し、以後、各位相差T2，T3，・・・に
つき、ステップ63c〜64Bを通る第２コンピュータプログ
ラムの実行を繰返す。然る後、ステップ64Bでの判別が
「YES」になると、マイクロコンピュータ30が第２コン
ピュータプログラムをステップ65以後に進める。なお、
T1＞T0の場合の各位相差T1及び異常部分又は異常部分を
含む１シーケンス分がステップ66aにて異常データとしR
AMの異常データエリアに記憶される。
テップ64Bに進むと、マイクロコンピュータ30が、RAMの
変化データエリアにおける残余の変化点データの存在に
基き「NO」と判別し、以後、各位相差T2，T3，・・・に
つき、ステップ63c〜64Bを通る第２コンピュータプログ
ラムの実行を繰返す。然る後、ステップ64Bでの判別が
「YES」になると、マイクロコンピュータ30が第２コン
ピュータプログラムをステップ65以後に進める。なお、
T1＞T0の場合の各位相差T1及び異常部分又は異常部分を
含む１シーケンス分がステップ66aにて異常データとしR
AMの異常データエリアに記憶される。
以上説明したように、この変形例では、T1＞T0の成立
時の場合にT1を異常データとして表示しRAMの異常デー
タエリアに記憶するようにしたので、前記計測データと
前記基準データとの各対応部分の位相差にバラツキがあ
っても、異常データとしての精度の向上を確保できる。
時の場合にT1を異常データとして表示しRAMの異常デー
タエリアに記憶するようにしたので、前記計測データと
前記基準データとの各対応部分の位相差にバラツキがあ
っても、異常データとしての精度の向上を確保できる。
次に、前記実施例の他の変形例について第７図を参照
して説明すると、この変形例においては、第４図のフロ
ーチャートにおいてその一部を第７図に示すように変更
したフローチャートに従うコンピュータプログラム（以
下、第３コンピュータプログラムという）が、前記実施
例にてのべたコンピュータプログラムに代えて、マイク
ロコンピュータ30のROMに予め記憶されていることにそ
り構成上の特徴がある。その他の構成は前記実施例と同
様である。
して説明すると、この変形例においては、第４図のフロ
ーチャートにおいてその一部を第７図に示すように変更
したフローチャートに従うコンピュータプログラム（以
下、第３コンピュータプログラムという）が、前記実施
例にてのべたコンピュータプログラムに代えて、マイク
ロコンピュータ30のROMに予め記憶されていることにそ
り構成上の特徴がある。その他の構成は前記実施例と同
様である。
このように構成した本変形例において、前記実施例と
同様にステップ61における処理が終了すると、マイクロ
コンピュータ30が、第３コンピュータプログラムのステ
ップ63Aにて、チャンネルデータＮ＝１とセットし、ス
テップ63Bにて、各検出回路201，・・・，20nからの二
値化信号を並列的に各計測データ（以下、第1,・・・，
第ｎの計測データという）としてRAMの計測データエリ
アに記憶し、かつステップ70にて「YES」と判別する。
但し、Ｎ＝1,2,・・・,nが前記第1,第2,・・・，第ｎの
計測データにそれぞれ対応する。ついで、マイクロコン
ピュータ30が、ステップ71にて、Ｎ＝１に基き前記第１
計測データが干渉チェック区間のものか否かにつき判別
する。
同様にステップ61における処理が終了すると、マイクロ
コンピュータ30が、第３コンピュータプログラムのステ
ップ63Aにて、チャンネルデータＮ＝１とセットし、ス
テップ63Bにて、各検出回路201，・・・，20nからの二
値化信号を並列的に各計測データ（以下、第1,・・・，
第ｎの計測データという）としてRAMの計測データエリ
アに記憶し、かつステップ70にて「YES」と判別する。
但し、Ｎ＝1,2,・・・,nが前記第1,第2,・・・，第ｎの
計測データにそれぞれ対応する。ついで、マイクロコン
ピュータ30が、ステップ71にて、Ｎ＝１に基き前記第１
計測データが干渉チェック区間のものか否かにつき判別
する。
干渉チェック区間ならば、マイクロコンピュータ30が
同ステップ71にて「YES」と判別し、ステップ72にて、
チェックフラグFc＝１とセットする。一方、ステップ71
での判別が「NO」ならば、マイクロコンピュータ30がス
テップ73にてFc＝０とセットする。ついで、マイクロコ
ンピュータ30が、ステップ77にて、Ｎ＝１＜ｎに基き
「NO」と判別し、ステップ78にて、Ｎ＝２と更新し、ス
テップ70にて、Ｎ＝２に基き「NO」と判別してステップ
74での判別を実行する。
同ステップ71にて「YES」と判別し、ステップ72にて、
チェックフラグFc＝１とセットする。一方、ステップ71
での判別が「NO」ならば、マイクロコンピュータ30がス
テップ73にてFc＝０とセットする。ついで、マイクロコ
ンピュータ30が、ステップ77にて、Ｎ＝１＜ｎに基き
「NO」と判別し、ステップ78にて、Ｎ＝２と更新し、ス
テップ70にて、Ｎ＝２に基き「NO」と判別してステップ
74での判別を実行する。
現段階で、Fc＝０ならば、マイクロコンピュータ30が
同ステップ74にて「NO」と判別する。一方、ステップ74
での判別が「YES」ならば、マイクロコンピュータ30が
次のステップ75にて、Ｎ＝２に基き第２計測データの第
１計測データとの干渉の有無を判別する。第８図に示す
ように、ステップ71での干渉チェック区間を斜線領域Ａ
としたとき、Ｎ＝１に基く第１計測データと、Ｎ＝２に
基く第２計測データとが斜線領域Ａ内にて共にハイレベ
ルにはならなければ、干渉していないとしてステップ75
での判別が「NO」となる。
同ステップ74にて「NO」と判別する。一方、ステップ74
での判別が「YES」ならば、マイクロコンピュータ30が
次のステップ75にて、Ｎ＝２に基き第２計測データの第
１計測データとの干渉の有無を判別する。第８図に示す
ように、ステップ71での干渉チェック区間を斜線領域Ａ
としたとき、Ｎ＝１に基く第１計測データと、Ｎ＝２に
基く第２計測データとが斜線領域Ａ内にて共にハイレベ
ルにはならなければ、干渉していないとしてステップ75
での判別が「NO」となる。
同様にしてステップ78におけるＮ＝３との更新後、ス
テップ74での判別が「YES」となったとき、マイクロコ
ンピュータ30が、ステップ75にて、上述と実質的に同様
に前記第３計測データと前記第１計測データとの干渉の
有無を判別する。しかして、両第１及び第３の計測デー
タが斜線領域Ａ内で共にハイレベルにあれば、干渉して
いるとしてステップ75での判別が「YES」になる。つい
で、マイクロコンピュータ30が、ステップ64aにて、同
干渉部分を第１異常表示信号として発生し、ステップ64
bにてＦ＝１とセットする。以下、同様の繰返しのもと
にステップ77での判別がＮ＝ｎに基き「YES」になる
と、マイクロコンピュータ30が、ステップ65以後の実行
に移行する。
テップ74での判別が「YES」となったとき、マイクロコ
ンピュータ30が、ステップ75にて、上述と実質的に同様
に前記第３計測データと前記第１計測データとの干渉の
有無を判別する。しかして、両第１及び第３の計測デー
タが斜線領域Ａ内で共にハイレベルにあれば、干渉して
いるとしてステップ75での判別が「YES」になる。つい
で、マイクロコンピュータ30が、ステップ64aにて、同
干渉部分を第１異常表示信号として発生し、ステップ64
bにてＦ＝１とセットする。以下、同様の繰返しのもと
にステップ77での判別がＮ＝ｎに基き「YES」になる
と、マイクロコンピュータ30が、ステップ65以後の実行
に移行する。
以上説明したように、この変形例では、第２〜第ｎの
計測データの第１計測データとの干渉チェック区間での
干渉成立時に、干渉成立部分近傍又はそれを含む１シー
ケンス分を異常データとして表示しRAMの異常データエ
リアに記憶するようにしたので、前記実施例の場合と実
質的に同様の効果を達成できる。
計測データの第１計測データとの干渉チェック区間での
干渉成立時に、干渉成立部分近傍又はそれを含む１シー
ケンス分を異常データとして表示しRAMの異常データエ
リアに記憶するようにしたので、前記実施例の場合と実
質的に同様の効果を達成できる。
第１図は特許請求の範囲の記載に対する対応図、第２図
は本発明の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図
における各検出回路の詳細回路図、第４図は第２図のマ
イクロコンピュータの作用を示すフローチャート、第５
図は同フローチャートの変形例を示す要部フローチャー
ト、第６図は、基準データ及び計測データの各変化点を
示すタイムチャート、第７図は第４図のフローチャート
の他の変形例を示す要部フローチャート、及び第８図
は、各計測データの干渉状態説明図である。 符号の説明 10……シーケンス回路、201〜20n……検出回路、30……
マイクロコンピュータ、50……表示装置。
は本発明の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図
における各検出回路の詳細回路図、第４図は第２図のマ
イクロコンピュータの作用を示すフローチャート、第５
図は同フローチャートの変形例を示す要部フローチャー
ト、第６図は、基準データ及び計測データの各変化点を
示すタイムチャート、第７図は第４図のフローチャート
の他の変形例を示す要部フローチャート、及び第８図
は、各計測データの干渉状態説明図である。 符号の説明 10……シーケンス回路、201〜20n……検出回路、30……
マイクロコンピュータ、50……表示装置。
Claims (1)
- 【請求項１】シーケンス回路中の各スイッチの開閉状態
を検出し並列的にそれぞれ各計測データとして形成する
計測データ形成手段と、 前記各計測データのうちの一つがその干渉チェック区間
にて残りの各計測データと干渉するか否かにつき逐次判
定する干渉判定手段と、 この干渉判定手段による干渉との判定毎に前記干渉チェ
ック区間近傍のデータ又は当該干渉チェック区間を含む
データを異常データとして表示する異常データ表示手段
とからなるスイッチ開閉状態モニター装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63316664A JP2910041B2 (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | スイッチ開閉状態モニター装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63316664A JP2910041B2 (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | スイッチ開閉状態モニター装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02161365A JPH02161365A (ja) | 1990-06-21 |
| JP2910041B2 true JP2910041B2 (ja) | 1999-06-23 |
Family
ID=18079534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63316664A Expired - Fee Related JP2910041B2 (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | スイッチ開閉状態モニター装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2910041B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3524294B2 (ja) * | 1996-10-14 | 2004-05-10 | アルプス電気株式会社 | スイッチ開閉状態検出回路 |
| JP3388140B2 (ja) * | 1997-07-16 | 2003-03-17 | 三菱電機ビルテクノサービス株式会社 | シーケンス制御回路の監視装置 |
| JP2001202585A (ja) * | 2000-01-18 | 2001-07-27 | Ricoh Elemex Corp | 無線検針システム |
| US7582989B2 (en) * | 2006-09-29 | 2009-09-01 | Fisher-Rosemount Systems, Inc. | Safety relay having independently testable contacts |
| JP4672785B2 (ja) * | 2009-05-27 | 2011-04-20 | 有限会社海栄電気 | 制御盤の故障診断装置 |
| JP6779126B2 (ja) * | 2016-12-28 | 2020-11-04 | 株式会社クボタ | 信号検出装置、及び、通信端末 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61132764U (ja) * | 1985-02-07 | 1986-08-19 |
-
1988
- 1988-12-15 JP JP63316664A patent/JP2910041B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02161365A (ja) | 1990-06-21 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |