JPH02108234A - 磁気ディスク - Google Patents
磁気ディスクInfo
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- JPH02108234A JPH02108234A JP26227788A JP26227788A JPH02108234A JP H02108234 A JPH02108234 A JP H02108234A JP 26227788 A JP26227788 A JP 26227788A JP 26227788 A JP26227788 A JP 26227788A JP H02108234 A JPH02108234 A JP H02108234A
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Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、例えば磁気ディスク装置に使用される磁気
ディスクに関するものである。
ディスクに関するものである。
近年、コンピュータシステムにおける磁気ディスク装置
などの外部記憶装置の重要性が増大し、高記録密度に対
する要求がますます高まっている。
などの外部記憶装置の重要性が増大し、高記録密度に対
する要求がますます高まっている。
磁気ディスク装置は記録再生ヘッドおよび磁気ディスク
の主構成部から構成され、磁気ディスクは高速で回転し
記録再生ヘッドすなわち、磁気ヘッドは[気ディスクよ
り微小間隔浮上している。磁気ディスクの高記録密度化
、高性能化を図るためには、磁気記録媒体の薄層化、均
−一様化、磁気特性の改良(保磁力、角形比の向上)、
磁気ヘッドの低浮上化などが挙げられる。
の主構成部から構成され、磁気ディスクは高速で回転し
記録再生ヘッドすなわち、磁気ヘッドは[気ディスクよ
り微小間隔浮上している。磁気ディスクの高記録密度化
、高性能化を図るためには、磁気記録媒体の薄層化、均
−一様化、磁気特性の改良(保磁力、角形比の向上)、
磁気ヘッドの低浮上化などが挙げられる。
これまで磁気ディスクは塗布形といい、バインダーなと
の高分子材料とγ−Fe203磁気記録媒体粒子を混合
して塗布して製作していた。この方法では、磁気記録媒
体の薄層化、均−一様化に限界がある。このため最近で
は、磁気記録媒体をスパッタリングなどの方法により連
続薄膜として基材上に設けるようになってきた。γ−F
e2O3を連続薄膜媒体として用いた磁気ディスクの構
成の一例を第11図に示す。第11図は例えば電電公社
研究実用化報告第31巻第9号の1731〜1744頁
に報告された薄膜磁気ディスクの断面を示す図である。
の高分子材料とγ−Fe203磁気記録媒体粒子を混合
して塗布して製作していた。この方法では、磁気記録媒
体の薄層化、均−一様化に限界がある。このため最近で
は、磁気記録媒体をスパッタリングなどの方法により連
続薄膜として基材上に設けるようになってきた。γ−F
e2O3を連続薄膜媒体として用いた磁気ディスクの構
成の一例を第11図に示す。第11図は例えば電電公社
研究実用化報告第31巻第9号の1731〜1744頁
に報告された薄膜磁気ディスクの断面を示す図である。
図において、(1)はディスク状のアルミニウム合金基
板、(2)はアルマイトから成る磁気記録媒体の下地層
、(3)は磁気記録媒体層のγ−Fe203薄膜である
。
板、(2)はアルマイトから成る磁気記録媒体の下地層
、(3)は磁気記録媒体層のγ−Fe203薄膜である
。
現在、磁気ディスク装置では、起動および停止時C,:
磁気ディスクと磁気ヘットが18触するコンタケト・ス
タート・ストップ(C8S)方式を採用しており、起動
および停止時には磁気ヘッドと磁気ヂ、・スフ表面が接
触したまま回転する。この接触摩擁状態における磁気ヘ
ッドと磁気ディスクの間じ生しるR振力は、磁気へ・ラ
ドと磁気ディスク表面を摩耗させ、ついには磁気、ヘッ
トおよび磁気記録媒体膜に傷を作ることがある。磁気記
録媒体に連続薄膜を用いた場合、わずかな傷であっても
記録媒体のケ′如となり、記録信号の消失につながる−
このことは、磁気ディスク装置の外部記憶装置と1.
ての■8頼性に関わる小人な問題である。
磁気ディスクと磁気ヘットが18触するコンタケト・ス
タート・ストップ(C8S)方式を採用しており、起動
および停止時には磁気ヘッドと磁気ヂ、・スフ表面が接
触したまま回転する。この接触摩擁状態における磁気ヘ
ッドと磁気ディスクの間じ生しるR振力は、磁気へ・ラ
ドと磁気ディスク表面を摩耗させ、ついには磁気、ヘッ
トおよび磁気記録媒体膜に傷を作ることがある。磁気記
録媒体に連続薄膜を用いた場合、わずかな傷であっても
記録媒体のケ′如となり、記録信号の消失につながる−
このことは、磁気ディスク装置の外部記憶装置と1.
ての■8頼性に関わる小人な問題である。
このため、磁気ディスクの表面に、磁気ヘッド581λ
記録媒体との接触N擦および接触破壊から待′λ記録媒
体をI^jずろために、5i02膜、力−ホ7ソ膜、へ
l +、 03膜のような保護膜を設けることが考案さ
れている(例えは、I(1子章男ら、第8回目本応用磁
気学会学術講演概要隼(+984)、222頁;木町良
弘ら、昭和61年度電子通13学会総合全国大会予稿集
(+986)、1166頁: 刈木博保ら、日本潤滑学
会第30期春ll11研究発表会そ稿集(1986)1
41頁なとに発表されている。)。また、磁気記録媒体
が金属の場合−この保護膜は金属膜の腐食を防ぐ保護も
兼ねる役目がある。
記録媒体との接触N擦および接触破壊から待′λ記録媒
体をI^jずろために、5i02膜、力−ホ7ソ膜、へ
l +、 03膜のような保護膜を設けることが考案さ
れている(例えは、I(1子章男ら、第8回目本応用磁
気学会学術講演概要隼(+984)、222頁;木町良
弘ら、昭和61年度電子通13学会総合全国大会予稿集
(+986)、1166頁: 刈木博保ら、日本潤滑学
会第30期春ll11研究発表会そ稿集(1986)1
41頁なとに発表されている。)。また、磁気記録媒体
が金属の場合−この保護膜は金属膜の腐食を防ぐ保護も
兼ねる役目がある。
一方、磁気、ヘッドの低浮丘化も進められている。
低77 k、 lにおける安定したヘッド浮1状態を確
保し、磁気ヘッドと@気ディスクの衝突(ヘッドクラッ
シュ)を防止するためのディスク表面精度の向上、耐ヘ
ツドクラツシユ性の向上が検討されている。特にディス
ク表面精度の向上は著しく、従来のディスクのRraa
xは2000Å以上あったのが、現在ではRmaxが1
00人前後と1桁以上小さくなっている。このようにデ
ィスクの表面精度が年々向上するので、磁気ヘッドが磁
気ディスク表面に吸青し、磁気:1−1′ス′iが回転
を始めても磁気ヘットが浮りできず磁気ハ、ットなとが
破損する問題が起きてきたく例えば、E −M 、 R
ossi他、ジャーナル・オプ・アプライド・フィジッ
クス(J 、 A ppl。
保し、磁気ヘッドと@気ディスクの衝突(ヘッドクラッ
シュ)を防止するためのディスク表面精度の向上、耐ヘ
ツドクラツシユ性の向上が検討されている。特にディス
ク表面精度の向上は著しく、従来のディスクのRraa
xは2000Å以上あったのが、現在ではRmaxが1
00人前後と1桁以上小さくなっている。このようにデ
ィスクの表面精度が年々向上するので、磁気ヘッドが磁
気ディスク表面に吸青し、磁気:1−1′ス′iが回転
を始めても磁気ヘットが浮りできず磁気ハ、ットなとが
破損する問題が起きてきたく例えば、E −M 、 R
ossi他、ジャーナル・オプ・アプライド・フィジッ
クス(J 、 A ppl。
P t+ys、)55巻、 6号、2254頁)。 こ
のため、 −旦鏡面のように仕上げられた基板表面ζこ
微粉末を塗イσする、再度研磨あるいはエツチングして
微小な突起を表面に設けるといった手法が考えられてい
る(例えば特開昭59−117735.6 (1−38
720,60−40528、旧−29418,61−2
03259,61261820号公報参照)。
のため、 −旦鏡面のように仕上げられた基板表面ζこ
微粉末を塗イσする、再度研磨あるいはエツチングして
微小な突起を表面に設けるといった手法が考えられてい
る(例えば特開昭59−117735.6 (1−38
720,60−40528、旧−29418,61−2
03259,61261820号公報参照)。
〔発明が解決しようとする課題]
保護膜として酸化膜を設ける例に簡便な方法とLノで、
溶液から成膜することが知られている。ゾルゲル法なと
のように溶液から5102膜、Al201膜などを成膜
ずろ場合熱処理を行うが、磁気記録媒体の特性を変質さ
せない程度の熱処理(約400°C以下)では、十分ガ
ラス化せず、通常のセラミックに比べて硬度、強度など
がかなり劣る(柳沢雅弘、日本潤滑学会創立30周年記
念全国大会予稿集(1985)、45頁)。例えば、金
属アルコキシドからガラスを合成する場合、金属アルコ
キシドを加水分解させたゲルをガラス化させるのに必要
な熱処理温度は600〜1000℃であり、溶融法によ
るシリカガラスと同一の性質を示すのは900〜100
0℃の熱処理をした場合であると言われている(作花済
夫「ガラス非晶質の科学」、内田老鶴圃(1983)、
147〜164頁)。このため、溶i夜から作成した酸
化膜では硬度、強度共に上針ではなかった。
溶液から成膜することが知られている。ゾルゲル法なと
のように溶液から5102膜、Al201膜などを成膜
ずろ場合熱処理を行うが、磁気記録媒体の特性を変質さ
せない程度の熱処理(約400°C以下)では、十分ガ
ラス化せず、通常のセラミックに比べて硬度、強度など
がかなり劣る(柳沢雅弘、日本潤滑学会創立30周年記
念全国大会予稿集(1985)、45頁)。例えば、金
属アルコキシドからガラスを合成する場合、金属アルコ
キシドを加水分解させたゲルをガラス化させるのに必要
な熱処理温度は600〜1000℃であり、溶融法によ
るシリカガラスと同一の性質を示すのは900〜100
0℃の熱処理をした場合であると言われている(作花済
夫「ガラス非晶質の科学」、内田老鶴圃(1983)、
147〜164頁)。このため、溶i夜から作成した酸
化膜では硬度、強度共に上針ではなかった。
この点では、スパッタリングなどによって成膜される酸
化膜やカーボン膜は、上記ゾルゲル膜に比べて強度的に
は優れたものができる(例えば、本町良弘ら、昭和61
年度電子通信学会総合全国大会予稿集(1986)、l
−166頁)。しかし、現在のように表面に微小な突起
を設けである基材においては、多くの学会発表例にみら
れろような 5i02膜、Al2O3膜、カーボン膜な
どの保護膜では硬いが脆いという欠点があった。すなわ
ち、微小な突起の上を磁気ヘッドが接触するため、突起
部に相当する7護膜部が脆いために折れて削り取られて
しまう。この性質については、薄膜酸化物であってもバ
ルクのセラミックと同様である。また、磁気記録媒体層
にまで損傷が及ばなくとも、表面の微小な突起が消失す
るために磁気ヘッドが吸着して。
化膜やカーボン膜は、上記ゾルゲル膜に比べて強度的に
は優れたものができる(例えば、本町良弘ら、昭和61
年度電子通信学会総合全国大会予稿集(1986)、l
−166頁)。しかし、現在のように表面に微小な突起
を設けである基材においては、多くの学会発表例にみら
れろような 5i02膜、Al2O3膜、カーボン膜な
どの保護膜では硬いが脆いという欠点があった。すなわ
ち、微小な突起の上を磁気ヘッドが接触するため、突起
部に相当する7護膜部が脆いために折れて削り取られて
しまう。この性質については、薄膜酸化物であってもバ
ルクのセラミックと同様である。また、磁気記録媒体層
にまで損傷が及ばなくとも、表面の微小な突起が消失す
るために磁気ヘッドが吸着して。
磁気ヘッドが浮上できなくなるという問題点が生じた。
この発明は上記のような問題点を解決するためのなされ
たもので磁気ヘッドによる磁気ディスクへの損傷を防ぎ
、保護膜の剥離を防止して、磁気ヘッドの磁気ディスク
に対する吸着を防止し、信頼性の高い磁気ディスクを得
ることを目的とする。
たもので磁気ヘッドによる磁気ディスクへの損傷を防ぎ
、保護膜の剥離を防止して、磁気ヘッドの磁気ディスク
に対する吸着を防止し、信頼性の高い磁気ディスクを得
ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明の磁気ディスクは保護膜として酸化ジルコニウ
ムを含む酸化アルミニウムの膜を設けたものである。
ムを含む酸化アルミニウムの膜を設けたものである。
[作用1
この発明の磁気ディスクにおける保護膜は、硬度と靭性
に富む酸化ジルコニウムを含む酸化アルミニウム膜を用
いているので、その耐久性が従来の酸化アルミニウムな
ど酸化物膜やカーボン膜に比へ格段に強化され、信頼性
が増加する。
に富む酸化ジルコニウムを含む酸化アルミニウム膜を用
いているので、その耐久性が従来の酸化アルミニウムな
ど酸化物膜やカーボン膜に比へ格段に強化され、信頼性
が増加する。
[実施例]
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例の磁気ディスクを示す断面図で
、図において(1)はA I −Mg合金基板、(2)
は磁気記録媒体層の下地層で、この実施例では基材はA
l−Mg合金基板(1)と下地層(2)から構成される
。(3)は磁気記録媒体層、(4)は保護膜の酸化ジル
コニウムを含む酸化アルミニウム膜である。
図はこの発明の一実施例の磁気ディスクを示す断面図で
、図において(1)はA I −Mg合金基板、(2)
は磁気記録媒体層の下地層で、この実施例では基材はA
l−Mg合金基板(1)と下地層(2)から構成される
。(3)は磁気記録媒体層、(4)は保護膜の酸化ジル
コニウムを含む酸化アルミニウム膜である。
以下、実施例を挙げてこの発明を具体的に説明する。
実施例1
A l−Mg合金基板の表面にN1−PあるいはN1−
Cu−Pメツキ膜を成膜し鏡面加工しである基材に対し
て、テープ研MIIを用い、ラッピングテープW A
# 6000、押し圧1 k g、基板回転数200r
pm、テープ送り速度20mm/winの条件でテクス
チャ加工を行った。これによりRmax500人程度の
基材が得られる。この基材上に磁気記録媒体層としてγ
−Fe2O3をスパッタリングにより成膜した。
Cu−Pメツキ膜を成膜し鏡面加工しである基材に対し
て、テープ研MIIを用い、ラッピングテープW A
# 6000、押し圧1 k g、基板回転数200r
pm、テープ送り速度20mm/winの条件でテクス
チャ加工を行った。これによりRmax500人程度の
基材が得られる。この基材上に磁気記録媒体層としてγ
−Fe2O3をスパッタリングにより成膜した。
この磁気記録媒体層の上に部分安定化(単斜晶、正方品
、立方晶の混合物)酸化ジルコニウム20+no I%
金含有酸化アルミニウムのターゲットを用い、スパッタ
リングにより保護膜を成膜し、磁気ディスク得た。スパ
ッタ条件はRFパワー300W /8イシf、Ar圧力
3 mTorrで基板加熱は行わなかった。この部分安
定化酸化ジルコニウムを含む酸化アルミニウム保護膜の
膜厚は500人であった。
、立方晶の混合物)酸化ジルコニウム20+no I%
金含有酸化アルミニウムのターゲットを用い、スパッタ
リングにより保護膜を成膜し、磁気ディスク得た。スパ
ッタ条件はRFパワー300W /8イシf、Ar圧力
3 mTorrで基板加熱は行わなかった。この部分安
定化酸化ジルコニウムを含む酸化アルミニウム保護膜の
膜厚は500人であった。
実施例2
実施例1と同様にして得た基材上に磁気記録媒体層とし
てCo−Ni−Crをスパッタリングにより成膜した。
てCo−Ni−Crをスパッタリングにより成膜した。
この磁気記録媒体層の上に部分安定化(単斜晶、正方晶
、立方晶の混合物)酸化ジルコニウム20m01%含有
の酸化アルミニウムのターゲットを用い、電子ビーム蒸
着により保護膜を成膜し、磁気ディスクを得た。蒸着条
件は加速電圧10kV、電流100mA、 基板温度
150℃、酸素圧力1 mTorrにした。この部分安
定化酸化ジルコニウムを含む酸化アルミニウム保護膜の
膜厚は600人であった。
、立方晶の混合物)酸化ジルコニウム20m01%含有
の酸化アルミニウムのターゲットを用い、電子ビーム蒸
着により保護膜を成膜し、磁気ディスクを得た。蒸着条
件は加速電圧10kV、電流100mA、 基板温度
150℃、酸素圧力1 mTorrにした。この部分安
定化酸化ジルコニウムを含む酸化アルミニウム保護膜の
膜厚は600人であった。
実施例3
実施例1と同様にして作製した81気デイスク上に、フ
ッソ系液体潤滑剤(例えばKRYTOX:デュポン社製
商品名、デムナム:ダイキン社製商品名など)を、この
場合はKRYTOXをスピンコードした。
ッソ系液体潤滑剤(例えばKRYTOX:デュポン社製
商品名、デムナム:ダイキン社製商品名など)を、この
場合はKRYTOXをスピンコードした。
実施例4
実施例1と同様にして作製した磁気ディスク上に、シラ
ンカップリング剤あるいはアルミカップリング剤をスピ
ンコードして、その上に極性基を持つフッソ系液体潤滑
剤、この場合はKRYTOX 157(デュポン社製商
品名)をスピンコードした。
ンカップリング剤あるいはアルミカップリング剤をスピ
ンコードして、その上に極性基を持つフッソ系液体潤滑
剤、この場合はKRYTOX 157(デュポン社製商
品名)をスピンコードした。
比較例1
実施例1と同様にして磁気記録媒体層としてγFe2O
3を成膜した。
3を成膜した。
この磁気記録媒体層の上に保護膜として含有成分のない
酸化アルミニウム膜をスパッタにより成膜した。スパッ
タ条件はほぼ実施例1と同様である。酸化アルミニウム
保護膜の膜厚は500人にした。
酸化アルミニウム膜をスパッタにより成膜した。スパッ
タ条件はほぼ実施例1と同様である。酸化アルミニウム
保護膜の膜厚は500人にした。
比較例2
比較例1と同様にして作製した磁気ディスクLに、フッ
ソ系液体潤滑剤、この場合はKRYTOXをスピンコー
ドした。
ソ系液体潤滑剤、この場合はKRYTOXをスピンコー
ドした。
これらの比較例を含めた磁気ディスクの初期特性を以下
に示す。
に示す。
実施例1による磁気ディスクの表面粗さを触針式表面粗
さ計て測定した結果を第2図の特性図に示した。実施例
2、実施例3、実施例へ、比較例I、比較例2ども同様
の特性を示したので、それらの特性図は省略する。図に
おいて縦軸はディスクの表面粗さを、横軸は長さを表わ
している。ディスクの表面には微小な凹凸が認められた
。
さ計て測定した結果を第2図の特性図に示した。実施例
2、実施例3、実施例へ、比較例I、比較例2ども同様
の特性を示したので、それらの特性図は省略する。図に
おいて縦軸はディスクの表面粗さを、横軸は長さを表わ
している。ディスクの表面には微小な凹凸が認められた
。
実施例1〜l↓の磁電ディスクと比較例1.2の磁気デ
ィスクの表面に、3370形フエライトヘツドを接触さ
せ静R凍係数を測定した。実施例1の磁気ディスクでは
0.24、実施例2の磁気ディスクでは0.22、実施
例3の磁気ティヌクでは0.19、実施例4の磁気ディ
スクでは0.18、比較例1の磁気ディスクでは0.2
4、比較例2の磁気ディスクでは0゜19であった。す
べて良好な特性を示した。
ィスクの表面に、3370形フエライトヘツドを接触さ
せ静R凍係数を測定した。実施例1の磁気ディスクでは
0.24、実施例2の磁気ディスクでは0.22、実施
例3の磁気ティヌクでは0.19、実施例4の磁気ディ
スクでは0.18、比較例1の磁気ディスクでは0.2
4、比較例2の磁気ディスクでは0゜19であった。す
べて良好な特性を示した。
ここで、磁気ディスクの耐久試験であるC8S試験を行
った。ヘッドと1ノではスライダ材料がフェライトであ
る3370形ヘツドを使用した。第3図は(’1 丁、
’ S試験を行った結果を示す特性図であり、縦軸は切
開再生出力を1とした規格化自t1骨)k力、横軸はC
8S回数(XIO’)を表わしている。[゛4中O印を
結ぶ線はこの発明の実施例1〜4のディスクの特性曲線
、X印を結ぶ線は較例1の:f゛イスクヌク性曲線、Δ
印を結ぶ線は比較例2の子、ヌクの特性曲線をボしてい
る。
った。ヘッドと1ノではスライダ材料がフェライトであ
る3370形ヘツドを使用した。第3図は(’1 丁、
’ S試験を行った結果を示す特性図であり、縦軸は切
開再生出力を1とした規格化自t1骨)k力、横軸はC
8S回数(XIO’)を表わしている。[゛4中O印を
結ぶ線はこの発明の実施例1〜4のディスクの特性曲線
、X印を結ぶ線は較例1の:f゛イスクヌク性曲線、Δ
印を結ぶ線は比較例2の子、ヌクの特性曲線をボしてい
る。
この発明の実施例1〜4のディスクの場合には、CS
S 2000回においても再生出力の低下は認められな
かった。これに対し、比較例1.2では当初再生出力の
低T−’は認められないものの、比較例3てはCS S
5000回前後から次第に再生出力が低下し始め、に
S S 10000回前後でヘッドクラッシュを起
こした。比較例2ではl\ラッドラッシュを起こさなか
−たが、再生出力の低下が大きくC3S12000回で
は初期の50%になった。
S 2000回においても再生出力の低下は認められな
かった。これに対し、比較例1.2では当初再生出力の
低T−’は認められないものの、比較例3てはCS S
5000回前後から次第に再生出力が低下し始め、に
S S 10000回前後でヘッドクラッシュを起
こした。比較例2ではl\ラッドラッシュを起こさなか
−たが、再生出力の低下が大きくC3S12000回で
は初期の50%になった。
CS S 5000回を行った磁気ディスクの表面粗さ
を触釘弐表面■ざ計で測定した。第・]し1は実施例1
の磁気デイ・ヌクの表面粗さの測定結里冬・示す特性図
、第5図は実施例2の磁気ティヌクの表面■さの測定結
果を示す特性図、第〔5図は実施例3の磁気ディスクの
表面粗さの測定結果を示す特性図、第71図は実施例4
の磁気ディスクの表面粗さの測定結果を示す特性図、第
8図は比較例1の磁気ディスクの表面粗さの測定結果を
示す特性図、第9図は比較例2の磁気ディスクの表面粗
さの測定結果を示す特性図である。図中の(11)は磁
気ヘッドかコンタクト・スタート・ストップにより磁気
ディスクに接触した領域を表す2.1S1辺の粗さとの
比較から実施例1〜4の磁気ディスクでは初期の表面粗
ざを保っていることが分かる。これに対して、比較例1
.2の磁気ディスクでは微小突起部に相当する部分が削
り取られていることが分かる。
を触釘弐表面■ざ計で測定した。第・]し1は実施例1
の磁気デイ・ヌクの表面粗さの測定結里冬・示す特性図
、第5図は実施例2の磁気ティヌクの表面■さの測定結
果を示す特性図、第〔5図は実施例3の磁気ディスクの
表面粗さの測定結果を示す特性図、第71図は実施例4
の磁気ディスクの表面粗さの測定結果を示す特性図、第
8図は比較例1の磁気ディスクの表面粗さの測定結果を
示す特性図、第9図は比較例2の磁気ディスクの表面粗
さの測定結果を示す特性図である。図中の(11)は磁
気ヘッドかコンタクト・スタート・ストップにより磁気
ディスクに接触した領域を表す2.1S1辺の粗さとの
比較から実施例1〜4の磁気ディスクでは初期の表面粗
ざを保っていることが分かる。これに対して、比較例1
.2の磁気ディスクでは微小突起部に相当する部分が削
り取られていることが分かる。
また、このCS 55000回を行フた磁気ディスク表
面にヘッドを接触させ60℃、85%の状態で8時間放
置し、静摩擦係数を測定した。実施例1の磁気ディスク
では0.26、実施例2の磁気ディスクでは0,28、
実施例3の磁気ディスクでは0.22、実施例1Lの8
1気デイスクでは0624、比較例1.2の磁気ディス
クでは0.9を越えており吸折現象が認めろれた。
面にヘッドを接触させ60℃、85%の状態で8時間放
置し、静摩擦係数を測定した。実施例1の磁気ディスク
では0.26、実施例2の磁気ディスクでは0,28、
実施例3の磁気ディスクでは0.22、実施例1Lの8
1気デイスクでは0624、比較例1.2の磁気ディス
クでは0.9を越えており吸折現象が認めろれた。
実施例1.2の磁気ディスクのC8Sを行った磁気ヘッ
ドの摺動面を観察すると、摺動方向にイkが認められた
。一方、実施例3、・↓の磁気ディスクのC8Sを行フ
た磁気ヘッドの摺動面には傷がまったく認められなかっ
た。液体潤滑剤の効果があったと考えられる。潤滑剤が
ない場合であってもC8S試験に対して十分耐久性が認
められるが、ヘッドζJ対する(k付き性を考慮すると
潤滑Mを付与した方がよりいい。
ドの摺動面を観察すると、摺動方向にイkが認められた
。一方、実施例3、・↓の磁気ディスクのC8Sを行フ
た磁気ヘッドの摺動面には傷がまったく認められなかっ
た。液体潤滑剤の効果があったと考えられる。潤滑剤が
ない場合であってもC8S試験に対して十分耐久性が認
められるが、ヘッドζJ対する(k付き性を考慮すると
潤滑Mを付与した方がよりいい。
また、実施例3.4の磁気ディスクの試験閏始面とCS
S 20000回終Y後の潤滑剤膜厚を1ゴーIRに
よって測定した。CS S 20000回終r後の潤滑
剤膜厚は実施例3は試験開始前の88%、実施例4は9
4%であった。 中間層としてカップリンク剤を71布
すると、磁気ディスク回転に対する潤滑剤の保持に効果
かあったと考えられる(この効Wについては星野光利ら
により、昭f1161年度ホ1′−通伝学会総合全国大
会講演集(1986)、 !−167頁にも発表されて
いる)。しかし、実用的には実施例3のディスりであっ
ても差し支えないことは結果より明白である。
S 20000回終Y後の潤滑剤膜厚を1ゴーIRに
よって測定した。CS S 20000回終r後の潤滑
剤膜厚は実施例3は試験開始前の88%、実施例4は9
4%であった。 中間層としてカップリンク剤を71布
すると、磁気ディスク回転に対する潤滑剤の保持に効果
かあったと考えられる(この効Wについては星野光利ら
により、昭f1161年度ホ1′−通伝学会総合全国大
会講演集(1986)、 !−167頁にも発表されて
いる)。しかし、実用的には実施例3のディスりであっ
ても差し支えないことは結果より明白である。
第10図にこの発明に係わる酸化ジルコニウムを含む酸
化アルミニウムの硬度・靭性値(曲げ強度)と部分安定
化酸化ジルコニウムの添加量との関係を表わす特性図を
示す。縦軸に硬度(HR11)と曲げ強度、に8f/f
f1l+2)横軸に酸化ジルコニウムの添加量(mo1
%)をとっており、図中O印を結ぶ線は酸化ジルコニウ
ムの添加量と曲げ強度の関係を表わす特性曲線、0印を
結ぶ線は酸化ジルコニウムの添加量と硬度の関係を表わ
す特性曲線を示している。
化アルミニウムの硬度・靭性値(曲げ強度)と部分安定
化酸化ジルコニウムの添加量との関係を表わす特性図を
示す。縦軸に硬度(HR11)と曲げ強度、に8f/f
f1l+2)横軸に酸化ジルコニウムの添加量(mo1
%)をとっており、図中O印を結ぶ線は酸化ジルコニウ
ムの添加量と曲げ強度の関係を表わす特性曲線、0印を
結ぶ線は酸化ジルコニウムの添加量と硬度の関係を表わ
す特性曲線を示している。
図より酸化ジルコニウムを添加することにより、酸化ア
ルミニウムの硬度、靭性値が増加していくことが分かる
。5〜40mo 1%において酸化アルミニウムの硬度
、靭性値が極大値を示している。その中でも比較的高い
値を示している酸化ジルコニウムの添加量はlO〜30
mo I%である。
ルミニウムの硬度、靭性値が増加していくことが分かる
。5〜40mo 1%において酸化アルミニウムの硬度
、靭性値が極大値を示している。その中でも比較的高い
値を示している酸化ジルコニウムの添加量はlO〜30
mo I%である。
従って部分安定化酸化ジルコニウムの添加量としては、
5〜40mo1%が適当で、10〜30 mo1%がよ
り望ましい。
5〜40mo1%が適当で、10〜30 mo1%がよ
り望ましい。
なお、酸化ジルコニウムを含む酸化アルミニウムの膜厚
は100Å以下では均一な膜にはなっておらず、100
0Å以上では磁気ヘッドと磁気ディスクの磁気記録媒体
層までの距離が広がり再生出力が低下するという悪影響
が出てくる。このため、酸化アルミニウム膜は100〜
tooo人が適している。
は100Å以下では均一な膜にはなっておらず、100
0Å以上では磁気ヘッドと磁気ディスクの磁気記録媒体
層までの距離が広がり再生出力が低下するという悪影響
が出てくる。このため、酸化アルミニウム膜は100〜
tooo人が適している。
成膜のしやすさ、均一性、再生出力からは300〜80
0人が望ましい。
0人が望ましい。
上記実施例では磁気記録媒体層がγ−Fe2O3の場合
について説明したが、他のCrO2のような金属酸化物
媒体であってもよく上記実施例と同様の効果を奏する。
について説明したが、他のCrO2のような金属酸化物
媒体であってもよく上記実施例と同様の効果を奏する。
また、上記実施例では磁気記録媒体がCo−Ni−Cr
の場合について説明・したが、他のCo−Ni、Co−
Cr、Feなどの合金媒体、金属媒体であってもよくL
記実施例と同様の効果を奏する。
の場合について説明・したが、他のCo−Ni、Co−
Cr、Feなどの合金媒体、金属媒体であってもよくL
記実施例と同様の効果を奏する。
また、上記実施例では液体潤滑剤の場合について説明し
たが、他の固体面滑剤であってもよく上記実施例と同様
の効果を奏する。
たが、他の固体面滑剤であってもよく上記実施例と同様
の効果を奏する。
ざらに、上記実施例ではN1−Pメツキ膜、N1−Cu
−Pメツキ膜の場合について説明したが、他のアルマイ
ト膜などであってもよく上記実施例と同様の効果を奏す
る。
−Pメツキ膜の場合について説明したが、他のアルマイ
ト膜などであってもよく上記実施例と同様の効果を奏す
る。
[発明の効果]
以上のように、この発明によれは、磁気記録媒体層を覆
いイ呆護する保護膜を酸化ジルコニラ11を含む酸化ア
ルミニウムで形成することにより、磁気記録媒体と磁気
ヘッド間の摩擦力、吸着力が小さく、優れた耐久性を有
する信頼性の高い磁気ディスクが得られる効果がある。
いイ呆護する保護膜を酸化ジルコニラ11を含む酸化ア
ルミニウムで形成することにより、磁気記録媒体と磁気
ヘッド間の摩擦力、吸着力が小さく、優れた耐久性を有
する信頼性の高い磁気ディスクが得られる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例の磁気ディスクを示す断面
図、第2図は表面粗さ計による磁気ディスクの期間の表
面粗さ測定結果を示す特性図、第3図はこの発明の実施
例の磁気ディスクのC8S回数と再生出力の関係を比較
例とともに示す特性図、第4〜9図は各々CS S 5
000回後の実施例1〜4及び比較実施例1. 2の磁
気ディスクの表面粗さ計による表面粗さ測定結果を示す
特性図、第10図はこの発明に係わる酸化ジルコニウム
を含む酸化アルミニウムの硬度・靭性値とを酸化ジルコ
ニウムの添加量を表わす特性図、第11図は従来の薄膜
磁気ディスクを示す断面図である。 (+)・・・At−Mg合金基板、(2)・・・磁気記
録媒体層の下地層、基材はA l−Mg合金基板(1)
と下地! (2)で構成される。(3)・・・磁気記録
媒体層、(4)・・・酸化ジルコニウムを含む酸化アル
ミニウムからなる保護膜である。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
図、第2図は表面粗さ計による磁気ディスクの期間の表
面粗さ測定結果を示す特性図、第3図はこの発明の実施
例の磁気ディスクのC8S回数と再生出力の関係を比較
例とともに示す特性図、第4〜9図は各々CS S 5
000回後の実施例1〜4及び比較実施例1. 2の磁
気ディスクの表面粗さ計による表面粗さ測定結果を示す
特性図、第10図はこの発明に係わる酸化ジルコニウム
を含む酸化アルミニウムの硬度・靭性値とを酸化ジルコ
ニウムの添加量を表わす特性図、第11図は従来の薄膜
磁気ディスクを示す断面図である。 (+)・・・At−Mg合金基板、(2)・・・磁気記
録媒体層の下地層、基材はA l−Mg合金基板(1)
と下地! (2)で構成される。(3)・・・磁気記録
媒体層、(4)・・・酸化ジルコニウムを含む酸化アル
ミニウムからなる保護膜である。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 基材、この基材に形成された磁気記録媒体層、及びこの
磁気記録媒体層を覆う酸化ジルコニウムを含む酸化アル
ミニウムからなる保護膜を備えた磁気ディスク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26227788A JPH02108234A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | 磁気ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26227788A JPH02108234A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | 磁気ディスク |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02108234A true JPH02108234A (ja) | 1990-04-20 |
Family
ID=17373557
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26227788A Pending JPH02108234A (ja) | 1988-10-18 | 1988-10-18 | 磁気ディスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02108234A (ja) |
-
1988
- 1988-10-18 JP JP26227788A patent/JPH02108234A/ja active Pending
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