JPH01724A - 堆積膜形成方法 - Google Patents

堆積膜形成方法

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JPH01724A
JPH01724A JP62-73610A JP7361087A JPH01724A JP H01724 A JPH01724 A JP H01724A JP 7361087 A JP7361087 A JP 7361087A JP H01724 A JPH01724 A JP H01724A
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JP
Japan
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space
film forming
film
gas
deposited film
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JP62-73610A
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JPS64724A (en
Inventor
俊光 狩谷
Original Assignee
キヤノン株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はマイクロ波をガス励起源する堆積膜形成方法お
よびその装置に関係し、特に薄膜トランジスタ、光起電
力素子又は電子写真用の光導電部材等の半導体素子を構
成する堆積膜の形成方法に関する。
〔従来の技術〕
例えば太陽電池の光受容層を構造するアモルファスシリ
コン膜の形成にはマイクロ波CVD法がおこなわれてい
る。しかしこの方法では成膜空間内にプラズマを発生さ
せるために時にはプラズマか形成される堆積膜に著しい
影響を与えることが少なくなかった。そこで成膜室とガ
ス励起室全分離してプラズマの膜への影響を軽減するこ
とがおこなわれている。
しかしこの際成膜室とガス励起室との接続部分の断面積
をマイクロ波遮断断面積以下にするために成膜室とガス
励起室のインピーダンスマツチングが悪くなり、安定し
たプラズマを得ることができなくなった。特に低圧領域
(0,ITorr以下)ではプラズマ放電が困難になり
、堆積膜の大面積化、、膜厚の均一性、膜品質の均一性
を十分に満足させることができなくなった。特に太陽電
池および電子写真感光体の場合には上記の要請が必要で
、膜形成装置に新たな改良が切望されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明の目的は、形成される膜の諸物件、膜品・支、膜
厚の均一化を図り、大面積膜の形成方法を提供すること
にある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は基体上に堆積膜を形成するための成膜空間と堆
積膜形成用の原料ガスをマイクロ波で励起する励起空間
を有する堆積膜形成装置において、成膜空間と励起空間
の間のガス輸送空間の断面積が成膜空間に向って徐々に
拡大していることを特徴とする堆積膜形成装置である。
上記目的を達成するための堆積膜形成方法は、成膜空間
とガス励起空間の間のガス輸送空間の断面積が成膜空間
に向かって徐々に太き、くなっていることを特徴として
いる。
第1図は本発明の構成の概要図で、原料ガス1はガス励
起空間3内でマイクロ波2によって励起され、金属製ホ
ーン状ノズル4を通って一部は、成膜空間5内に設けら
れた基体6上に堆積され、一部は図示されない排気手段
によって排気フされる。ガス励起空間3にガス1がない
場合空胴共振器8の開口部11はマイクロ波2の遮断周
波数以下の断面積であるためにマイクロ波2を遮断する
しかし原料ガス1をマイクロ波によって励起しプラズマ
状態にす、ると一部のマイクロ波は空胴共振器から放出
されるが金属製ホーン状ノズル4によって徐々に減衰さ
れ再び空胴共振器内に侵入することはなく低圧(0,1
Torr以下)でもグラズマ放電ができる。しかも励起
空間から成膜空間までの長さtlを十分長くとっである
のでプラズマが基体上に届くことはない。金属製ホーン
状ノズルの開口角θは成膜室5及びガス励起空間3内部
の圧力と第1図中の長さt、に依存して決定される。
例えば基体6上にアモルファスシリコンを堆積させる場
合、原料ガス1としては鎖状又は環状シラン化合物の水
素原子の一部乃至全部をハロゲン原子で置換した化合物
が用いられ、具体的にはS imHnXt(XはF 、
 CL 、 Br 、 Iなどの/’1 ログン原子で
ある)で示される化合物が挙げられる。例えば5IH4
St2H6、SiF4. (SiF2)5、(SiF2
)6、(SiF2)4.5t2F6. Si3F8. 
SiHF3.5IH2F2.5iCt4(SiCl2)
5.5IBr4、(SiBr4)5.512Ct6.5
iBr  、S+HC2,5iHBrs 、5iHFs
 、5t2cz3p、などのガス状態の又は容易にガス
化し得るものが挙げられる。
これらを原料ガス体)と呼ぶことにする。また原料ガス
1として他に原料ガス体)と化学反応する化合物H2F
2C42HF 等を併用することもできる。
これらのガスを原料ガス(B)と呼ぶことにする。その
他に原料ガス1として原料ガス(4)および原料ガス(
B)とは反応しない不活性ガス(例えばAr + He
 +Na等)を励起して用い、原料ガス(A)と原料ガ
ス(B)の活性化を促進することもできる。これを原料
ガス(C)と呼ぶことにする。本発明では励起空間でマ
イクロ波によって励起され成膜空間に導入される原料ガ
ス(5)は、その励起寿命が0.1秒以上、好ましくは
1秒以上あるものが所望に従って選択され、この原料ガ
ス(4)の構成要素が成膜空間で形成される堆積膜を、
構成する成分となる。原料ガス(B)は励起空間におい
てマイクロ波によって励起され、原料ガス(4)と化学
反応する。
本発明において形成される堆積膜は、成膜中に不純物元
素でドーピングすることが可能である。
使用する不純物元素としては、p型不純物として、周期
律表第■族Aの元素、例えばB # AL 、Ga 、
In 。
Tt等が好適なものとして挙げられ、nfi不純物とし
ては1周期律表第V族Aの元素、例えばP+As。
Sb、Bi等が好適なものとして挙げられるが、特にB
、Ga、P、Sb等が最適である。ドーピングされる不
純物の数は、所望される電気的・光学的特性に応じて適
宜決定される。
かかる不純物元素を成分として含む物質(不純物導入用
物質)としては、常温常圧でガス状態であるか、あるい
は少なくとも活性化条件下で気体であり、適宜の気化装
置で容易に気化し得る化合物を選択するのが好ましい。
この様な化合物としては、PHP HPF  PF  
pcz  Ashs、3−   24 11   5−
    5  %     31A s F   A 
s F s、AsC63,SbH,、SbF5、SiH
3、BF3.3 % BCl、、BBr、 、 B2H6、B4H10−B5
H9、B5H14、B6H1o、B6H1゜、htct
、  等を挙げることができる。
上記の不純物元素を含む化合物は、1種用いても2種以
上併用してもよい。
これらのガスを原料ガス(D)と呼ぶことにする。
第2図は本発明の他の実施態様の概要図であり、2種以
上の原料ガス糧を別々に励起し、金属製ホーン状ノズル
24内あるいは成膜空間25内あるいは励起空間23内
のいずれかにおいて混合、反応させることができる。上
記事項は石英管の開口先端の位置を変化させることによ
って達成される。
原料ガス21はマイクロ波22によって励起空間23内
でプラズマ状態35となる。このプラズマは金属製ホー
ン状ノズル24にまで達し、基体に近づく程エネルギー
密度が小さい。原料ガス21がマイクロ波22によって
プラズマ状態35になると、原料ガス21の励起空間2
3から石英管33内部へエネルギー輸送はほとんどおこ
なわれないので、同時に原料ガス21と原料ガス32を
励起することは困難である。石英管33の開口先端34
の位置をエネルギー密度勾配をもつ金属製ホーン状ノズ
ル24内部で変化させることによって、原料ガス32を
所望のエネルギーで分解あるいは励起あるいは原料ガス
21と反応させることができる。場合によっては開口先
端34は成膜空間内部にあってもよいし、原料ガス21
の励起空間23内部にあってもよい。
原料ガス21と原料ガス32はその励起方法が異なるた
め、原料ガス(A) 、 (B) 、 (C) 、 (
D)の性質に応じて導入管を振り分けることが望ましい
。例えば励起状態の寿命が短いガスや、実流量が他のガ
スに比べて少ないガス等は石英管33がら導入するのが
望ましい。
〔実施例〕
以下、本発明を実施例により更に具体的に説明する。
実施例1 太陽電池の光受容層の一部を構成するi型のアモルファ
スシリコン膜を第1図に示す成膜装置を用いて形成した
。第1図において、ガス励起空間3と成膜空間5との距
離L=50cm、金属製ホーン状ノズル4の開口角θ=
600、基体6の温度を250℃に設定した。原料ガス
1としてSiH4を308CCM 、 H2を2011
CCMおよびArを2508CCMを石英管10に導入
した。これらのガスは図示されないマグネトロンから発
生するマイクロ波のエネルギーにより励起される。この
際マイクロ波の入射エネルギーは200W反射エネルギ
ーはOWであった。ガス励起室内の圧力は0.02To
rrまで下げられ、ホーン状ノズルの開口角θは60°
に設定した。1時間成膜したところ膜厚2.3μmの良
好な膜が得られた。
実施例2 太陽電池の光受容層の一部をなすi型アモルファスS 
iGe膜を第2図に示す成膜装置を用いて形成した。石
英管33には原料ガス32としてG e Fa3 SC
CM 、 SiF427 sccMを、石英管29には
原料ガス21としてH215SCCM 、 Ar 25
0 SCCMを導入した。マイクロ波22入射エネルギ
ーは170W、反射エネルギーはOWに設定した。成膜
空間25の内部圧力は0.03 Torr、基体26の
温度は250℃に設定した。石英管の開口先端34から
基体26までの距離t2、ホーン状ノズルの長さt8、
ノズル開口先端から基体までの距離t4はそれぞれ20
cIn、20m、10crnにした。またホーン状ノズ
ルの開口角φは60°にした。
第2図に示す成膜装置を用いて90分開成膜をおこなっ
たところ膜厚2.1μmの良好かつ均一なアモルファス
5IGs膜が得られた。
実施例3 太陽電池の光受容層の一部をなすn型ポリクリスタルS
1膜を第2図に示す成膜装置を用いて形成した。原料ガ
ス32としてPF5とS i F aの混合ガス(PF
5/5IF43000 、rxn)を508CCM 、
原料ガス21としてAr 1808CCM 、 H23
011ccM導入した。マイクロ波の入射エネルギーは
240W、反射エネルギーはOWに設定した。成膜空間
の圧力は0.01Torr、基体26の温度は300℃
に設定した。
Z2 、Z3 + 74の長さはそれぞれ35α、20
備、10crn、ホーン状ノズル24の開口角φは30
°にした。このように設定された成膜装置を用いて10
分開成膜を行なったところ膜厚500Xの良好かつ均一
な多結晶n型Si膜を得ることができた。
実施例4 太陽電池の光受容層の一部をなすP−I−N構造膜を第
2図に示す成膜装置を用いて連続して成膜した。基体上
に設けられた石英基板上にN型ポリクリスタルS i 
膜、その上に1型のアモルファスシリコン膜、その上に
P型ポリクリスタルS1膜を形成した。各々の膜に対す
る成膜条件を第1表に示す。
この表中で1.14.開口角φは不変であり、成膜空間
を高真空に保ったまま良質のPIN型構造層を形成する
ことができた。
〔発明の効果〕
以上から明らかな如く、本発明によれば、励起空間と成
膜空間が分離している成膜装置の成膜空間内圧力を低下
することが可能になり、形成される膜に所望される電気
的、光学的特性が向上するばかりでなく、膜品質及び再
現性が向上する。特に膜質の均一化と大面積化が可能と
なり、膜の生産性の向上及びに量産化が容易となる。
更に第2のガス導入系統を設けその先端開口部の位置を
調節することによりプラズマCVD法の反応プロセスの
制御性が向上する。特に励起寿命の短いガスなども使用
、できるようになった。
またプラズマ中で別種のガスを励起するためマイクロ波
エネルギーの効率化利用を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる堆積膜形成装置の概略的構成図
、 第2図は本発明にかかる堆積膜形成装置の他の態様の概
略的構成図を表す。 1・・・原料ガス、2・・・マイクロ波、3・・・ガス
励起空間、4・・・金属製ホーン状ノズル、5・・・成
膜空間、6・・・基体、7・・・排気、8・・・空胴共
振器、9・・・石英ガス励起室、10・・・石英管、1
1・・・空胴共振器開口部、12・・・導波管、13・
・・成膜室(チャンバー)、14・・・基体ホルダー、
21・・・原料ガス、22・・・マイクロ波、23・・
・ガス励起空間、24・・・金属製ホーン状ノズル、2
5・・・成膜空間、26・・・基体、27・・・排気、
28・・・無反射終端、29・・・石英管、30・・・
石英管、31・・・アプリケーター、32・・・原料ガ
ス、33・・・石英管、34・・・石英管開口部、35
・・・プラズマ、36・・・導波管。 −L 6ご ネ市 正−1−町12(方式)昭和62年
 8月20日 4ν詐庁長官 小川邦夫 殿 1、・11件の表示 特願j眉62−73610号 2、文明の名称 堆積II!2形成方法 3 補正をする者 ・11件との関係   特許出願人 名  称 (100)キャノン株式会社4、代理人 住所 東京都港区虎ノ門五丁目13番1号虎ノ門40森
ビル氏名 (6538)  弁理士  山  下  穣
  平  :1−、・、( 5、補正命令の日付                
  −〜別紙の浄書明細書、浄書図面及び委任状を提出
する。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基体上に堆積膜を形成するための成膜空間と堆積
    膜形成用の原料ガスをマイクロ波で励起する励起空間を
    有する堆積膜形成装置において、成膜空間と励起空間の
    間のガス輸送空間の断面積が成膜空間に向って徐々に拡
    大していることを特徴とする堆積膜形成装置。
  2. (2)上記ガス輸送空間がマイクロ波を反射する部材で
    囲まれている特許請求の範囲第1項記載の堆積膜形成装
    置。
  3. (3)上記堆積膜形成装置において、更にガス導入路を
    有し、該ガス導入路開口先端が上記成膜空間あるいはガ
    ス輸送空間あるいはガス励起空間に存在する特許請求の
    範囲第3項記載の堆積膜形成装置。
JP62-73610A 1987-03-20 1987-03-27 堆積膜形成方法 Pending JPH01724A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62-73610A JPH01724A (ja) 1987-03-20 1987-03-27 堆積膜形成方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6651687 1987-03-20
JP62-66516 1987-03-20
JP62-73610A JPH01724A (ja) 1987-03-20 1987-03-27 堆積膜形成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS64724A JPS64724A (en) 1989-01-05
JPH01724A true JPH01724A (ja) 1989-01-05

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