JPH0155571B2 - - Google Patents
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- JPH0155571B2 JPH0155571B2 JP58144375A JP14437583A JPH0155571B2 JP H0155571 B2 JPH0155571 B2 JP H0155571B2 JP 58144375 A JP58144375 A JP 58144375A JP 14437583 A JP14437583 A JP 14437583A JP H0155571 B2 JPH0155571 B2 JP H0155571B2
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- Thermistors And Varistors (AREA)
- Fuel Cell (AREA)
- Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
Description
本発明は、共役系高分子化合物にドーパントを
ドープして得られる電導性高分子化合物を固体電
解質とする固体電解コンデンサ関する。 固体電解コンデンサは陽極酸化皮膜を有するア
ルミニウム、タンタルなどの皮膜形成金属に固体
電解質を付着した構造を有している。従来のこの
種の固体電解コンデンサの固体電解質には、主に
硝酸マンガンの熱分解により形成される二酸化マ
ンガンが用いられている。しかし、この熱分解の
際に要する高熱と発生するNOxガスの酸化作用
などによつて、誘電体であるアルミニウム、タン
タルなどの金属酸化皮膜の損傷があり、そのため
耐電圧は低下し、もれ電流が大きくなり、誘電特
性を劣化させるなど極めて大きな欠点がある。ま
た、再化成という工程も必要である。 これらの欠点を補うため、高熱を付加せずに固
体電解質層を形成する方法、つまり高電導性の有
機半導体材料を固体電解質とする方法が試みられ
ている。その例としては、特開昭52−79255号公
報に記載されている。7,7,8,8−テトラシ
アノキノジメタン(TCNQ)錯塩を含む電導性
高重合体組成物を固体電解質として含む固体電解
コンデンサ、特開昭58−17609号公報に記載され
ているN−n−プロピルイソキノリンと7,7,
8,8,−テトラシアノキノジメタンからなる錯
塩を固体電解質とする固体電解コンデンサが知ら
れている。これらTCNQ錯塩化合物は陽極酸化
皮膜との付着性に劣り、電導度も10-3〜10-2s・
cm-1と不十分であるため、コンデンサの容量値は
小さく誘電損失も大きい。また熱的経時的な安定
性も劣り信頼性が低い。 本発明の目的は上述した従来の欠点を解決する
ため、電導度が高く、誘電体皮膜との付着性のよ
い有機半導体を固体電解質に用いた固体電解コン
デンサを提供することにある。 本発明は固体電解質に高電導度を有するドーパ
ントをドープした高分子化合物を用いた固体電解
コンデンサを特徴としており、本発明により得ら
れる固体電解コンデンサは従来の無機酸化半導体
や有機半導体を用いた固体電解コンデンサに比し
て容量、誘電損失、経時安定性において著しく優
れた性能を有している。 本発明において、共役系高分子化合物に電子受
容性化合物または電子供与性化合物を添加し、共
役系高分子化合物に導電性を付与することをドー
プといい、その際に使用する電子受容性化合物ま
たは電子供与性化合物をドーパントという。 以下本発明について詳細に説明する。 本発明で用いられる共役系高分子化合物は下記
のくり返し単位を有している。 一般式
ドープして得られる電導性高分子化合物を固体電
解質とする固体電解コンデンサ関する。 固体電解コンデンサは陽極酸化皮膜を有するア
ルミニウム、タンタルなどの皮膜形成金属に固体
電解質を付着した構造を有している。従来のこの
種の固体電解コンデンサの固体電解質には、主に
硝酸マンガンの熱分解により形成される二酸化マ
ンガンが用いられている。しかし、この熱分解の
際に要する高熱と発生するNOxガスの酸化作用
などによつて、誘電体であるアルミニウム、タン
タルなどの金属酸化皮膜の損傷があり、そのため
耐電圧は低下し、もれ電流が大きくなり、誘電特
性を劣化させるなど極めて大きな欠点がある。ま
た、再化成という工程も必要である。 これらの欠点を補うため、高熱を付加せずに固
体電解質層を形成する方法、つまり高電導性の有
機半導体材料を固体電解質とする方法が試みられ
ている。その例としては、特開昭52−79255号公
報に記載されている。7,7,8,8−テトラシ
アノキノジメタン(TCNQ)錯塩を含む電導性
高重合体組成物を固体電解質として含む固体電解
コンデンサ、特開昭58−17609号公報に記載され
ているN−n−プロピルイソキノリンと7,7,
8,8,−テトラシアノキノジメタンからなる錯
塩を固体電解質とする固体電解コンデンサが知ら
れている。これらTCNQ錯塩化合物は陽極酸化
皮膜との付着性に劣り、電導度も10-3〜10-2s・
cm-1と不十分であるため、コンデンサの容量値は
小さく誘電損失も大きい。また熱的経時的な安定
性も劣り信頼性が低い。 本発明の目的は上述した従来の欠点を解決する
ため、電導度が高く、誘電体皮膜との付着性のよ
い有機半導体を固体電解質に用いた固体電解コン
デンサを提供することにある。 本発明は固体電解質に高電導度を有するドーパ
ントをドープした高分子化合物を用いた固体電解
コンデンサを特徴としており、本発明により得ら
れる固体電解コンデンサは従来の無機酸化半導体
や有機半導体を用いた固体電解コンデンサに比し
て容量、誘電損失、経時安定性において著しく優
れた性能を有している。 本発明において、共役系高分子化合物に電子受
容性化合物または電子供与性化合物を添加し、共
役系高分子化合物に導電性を付与することをドー
プといい、その際に使用する電子受容性化合物ま
たは電子供与性化合物をドーパントという。 以下本発明について詳細に説明する。 本発明で用いられる共役系高分子化合物は下記
のくり返し単位を有している。 一般式
【式】
(式中、Xは直接結合、S,O,または−CH
=CH−を示す) これらの共役系高分子化合物の製造方法は特に
限定されるものではないが、例えば、ポリ(パラ
フエニレン)
=CH−を示す) これらの共役系高分子化合物の製造方法は特に
限定されるものではないが、例えば、ポリ(パラ
フエニレン)
【式】については、J.
chem.phys.,71 1506(1979),Bull,chem.Soc.
JAPAN 51 2091(1978),J.polym.Sci.polym.
chem.Edi.,12 357(1974),ポリ(パラ−フエ
ニレンサルフアイド)
JAPAN 51 2091(1978),J.polym.Sci.polym.
chem.Edi.,12 357(1974),ポリ(パラ−フエ
ニレンサルフアイド)
【式】につ
いてはJ.Appl.polym.Sci.,20 2541(1976),ポ
リ(パラ−フエニレンオキシド)
リ(パラ−フエニレンオキシド)
【式】については
Makromolchem.126 130(1969),ポリ(パラ−
フエニレンビニレン
フエニレンビニレン
【式】につ
いてはJ.Ame.chem.Soc.82 4669(1960)等の方
法によつて製造することができる。 上記の共役系高分子化合物にドーパントをドー
プ(ドーピング)しておくことが必要である。ド
ープは化学的ドープ、電気化学的ドープのいずれ
の方法を採用してもよい。本発明でいう化学的ド
ープとは、ドーパントを気相、液相または固相で
共役系高分子化合物にドープすること、または共
役系高分子化合物中で直接ドーパントを化学反応
で合成し、ドープすることである。また、本願発
明でいう電気化学的ドープとは、ドーパントをイ
オンの形で共役系高分子化合物に電流を通すこと
によつてドープすること、または共役系高分子化
合物を与えるモノマーを電解重合して共役系高分
子化合物を合成すると同時にドーパントをイオン
の形でドープすることをいう。 例えばポリ(パラ−フエニレン)を化学的ドー
プするドーパントとしては、従来知られている
種々の電子受容性化合物および電子供与性化合
物、即ち、()ヨウ素、臭素およびヨウ化臭素
の如きハロゲン、()五フツ化ヒ素、五フツ化
アンチモン、四フツ化ケイ素、五塩化リン、五フ
ツ化リン、塩化アルミニウム、臭化アルミニウム
およびフツ化アルミニウムの如き金属ハロゲン化
物、()硫酸、硝酸、フルオロ硫酸(HSO3F)、
トリフルオロメタン硫酸(HSO3CF3)およびク
ロロ硫酸(HSO3Cl)の如きプロトン酸、()
三酸化イオウ、二酸化窒素、ジフルオロスルホニ
ルパーオキサイド(F2S2O6)の如き酸化剤、
()AgClO4,()テトラシアノエチレン テトラシアノキノジメタン クロラニール 2,3−ジクロル−5,6−ジシアノパラベンゾ
キノン 2,3−ジブロム−5,6−ジシアノパラベンゾ
キノン ()Li,Na,Kの如きアルカリ金属等をあげ
ることができる。 一方、電気化学的にドープするドーパントとし
ては、(i)PF- 6、SbF- 6,AsF- 6,SbCl- 6の如きVa族
の元素のハロゲン化物アニオン、BF- 4の如きa
族の元素のハロゲン化物アニオン、I-(I- 3),Br-,
Cl-の如きハロゲンアニオン、ClO- 4の如き過塩素
酸アニオンなどの陰イオン・ドーパントおよび(ii)
Li+,Na+,K+の如きアルカリ金属イオン、
R4N+(R:炭素数1〜20の炭化水素基)の如き
4級アンモニウムイオンなどの陽イオン・ドーパ
ント等をあげることができるが、必ずしもこれ等
に限定されるものではない。 上述の陰イオン・ドーパントおよび陽イオン・
ドーパントを与える化合物の具体例としては
LiPF6,LiSbF6,LiAsF6,LiClO4,NaI,
NaPF6,NaSbF6,NaAsF6,NaClO4,KI,
KPF6,KSbF6,KAsF6,KClO4, 〔(n−Bu)4N〕+・(AsF6)-,〔(n−Bu)4N〕+・
(PF6)-,〔(n−Bu)4N〕+・ClO4,LiAlCl4,
LiBF4,NO・AsF6,NO2・AsF6,NO・BF4,
NO2・BF4,NO・PF6をあげることができるが
必ずしもこれ等に限定されるものではない。これ
らのドーパントは一種類、または二種類以上を混
合して使用してもよい。 前記以外の陰イオン・ドーパントとしてはHF2
アニオンであり、また、前記以外の陽イオン・ド
ーパントとしては次式()で表わされるピリリ
ウムまたはピリジウム・カチオン: (式中、Xは酸素原子または窒素原子、R′は
水素原子または炭素数が1〜15のアルキル基、炭
素数6〜15のアリール(alyl)基、R″はハロゲン
原子または炭素数が1〜10のアルキル基、炭素数
が6〜15のアリール(aryl)基、mはXが酸素原
子のとき0であり、Xが窒素原子のとき1であ
る。nは0または1〜5である。) または次式()もしくは()で表わされる
カルボニウム・カチオン: および 〔上式中、R1,R2,R3は水素原子(R1,R2,
R3は同時に水素原子であることはない)、炭素数
1〜15のアルキル基、アリル(allyl)基、炭素
数6〜15のアリール(aryl)基または−OR5基、
但しR5は炭素数が1〜10のアルキル基はたは炭
素数6〜15のアリール(alyl)基を示し、R4は水
素原素、炭素数が1〜15のアルキル基、炭素数6
〜15のアリール基である。〕 である。 用いられるHF2アニオンは通常、下記の一般式
(),()または(): 〔但し、上式中R′,R″は水素原子または炭素
数が1〜15のアルキル基、炭素数6〜15のアリー
ル(aryl)基、Rは炭素数が1〜10のアルキル
基、炭素数6〜15のアリール(aryl)基、Xは酸
素原子または窒素原子、nは0または5以下の正
の整数である。Mはアルカリ金属である〕 で表わされる化合物(フツ化水素塩)を適当な有
機溶媒に溶解することによつて得られる。上式
(),()および()で表わされる化合物の
具体例としてはH4N・HF2,n−Bu4N・HF2,
Na・HF2,K・HF2,Li・HF2および
法によつて製造することができる。 上記の共役系高分子化合物にドーパントをドー
プ(ドーピング)しておくことが必要である。ド
ープは化学的ドープ、電気化学的ドープのいずれ
の方法を採用してもよい。本発明でいう化学的ド
ープとは、ドーパントを気相、液相または固相で
共役系高分子化合物にドープすること、または共
役系高分子化合物中で直接ドーパントを化学反応
で合成し、ドープすることである。また、本願発
明でいう電気化学的ドープとは、ドーパントをイ
オンの形で共役系高分子化合物に電流を通すこと
によつてドープすること、または共役系高分子化
合物を与えるモノマーを電解重合して共役系高分
子化合物を合成すると同時にドーパントをイオン
の形でドープすることをいう。 例えばポリ(パラ−フエニレン)を化学的ドー
プするドーパントとしては、従来知られている
種々の電子受容性化合物および電子供与性化合
物、即ち、()ヨウ素、臭素およびヨウ化臭素
の如きハロゲン、()五フツ化ヒ素、五フツ化
アンチモン、四フツ化ケイ素、五塩化リン、五フ
ツ化リン、塩化アルミニウム、臭化アルミニウム
およびフツ化アルミニウムの如き金属ハロゲン化
物、()硫酸、硝酸、フルオロ硫酸(HSO3F)、
トリフルオロメタン硫酸(HSO3CF3)およびク
ロロ硫酸(HSO3Cl)の如きプロトン酸、()
三酸化イオウ、二酸化窒素、ジフルオロスルホニ
ルパーオキサイド(F2S2O6)の如き酸化剤、
()AgClO4,()テトラシアノエチレン テトラシアノキノジメタン クロラニール 2,3−ジクロル−5,6−ジシアノパラベンゾ
キノン 2,3−ジブロム−5,6−ジシアノパラベンゾ
キノン ()Li,Na,Kの如きアルカリ金属等をあげ
ることができる。 一方、電気化学的にドープするドーパントとし
ては、(i)PF- 6、SbF- 6,AsF- 6,SbCl- 6の如きVa族
の元素のハロゲン化物アニオン、BF- 4の如きa
族の元素のハロゲン化物アニオン、I-(I- 3),Br-,
Cl-の如きハロゲンアニオン、ClO- 4の如き過塩素
酸アニオンなどの陰イオン・ドーパントおよび(ii)
Li+,Na+,K+の如きアルカリ金属イオン、
R4N+(R:炭素数1〜20の炭化水素基)の如き
4級アンモニウムイオンなどの陽イオン・ドーパ
ント等をあげることができるが、必ずしもこれ等
に限定されるものではない。 上述の陰イオン・ドーパントおよび陽イオン・
ドーパントを与える化合物の具体例としては
LiPF6,LiSbF6,LiAsF6,LiClO4,NaI,
NaPF6,NaSbF6,NaAsF6,NaClO4,KI,
KPF6,KSbF6,KAsF6,KClO4, 〔(n−Bu)4N〕+・(AsF6)-,〔(n−Bu)4N〕+・
(PF6)-,〔(n−Bu)4N〕+・ClO4,LiAlCl4,
LiBF4,NO・AsF6,NO2・AsF6,NO・BF4,
NO2・BF4,NO・PF6をあげることができるが
必ずしもこれ等に限定されるものではない。これ
らのドーパントは一種類、または二種類以上を混
合して使用してもよい。 前記以外の陰イオン・ドーパントとしてはHF2
アニオンであり、また、前記以外の陽イオン・ド
ーパントとしては次式()で表わされるピリリ
ウムまたはピリジウム・カチオン: (式中、Xは酸素原子または窒素原子、R′は
水素原子または炭素数が1〜15のアルキル基、炭
素数6〜15のアリール(alyl)基、R″はハロゲン
原子または炭素数が1〜10のアルキル基、炭素数
が6〜15のアリール(aryl)基、mはXが酸素原
子のとき0であり、Xが窒素原子のとき1であ
る。nは0または1〜5である。) または次式()もしくは()で表わされる
カルボニウム・カチオン: および 〔上式中、R1,R2,R3は水素原子(R1,R2,
R3は同時に水素原子であることはない)、炭素数
1〜15のアルキル基、アリル(allyl)基、炭素
数6〜15のアリール(aryl)基または−OR5基、
但しR5は炭素数が1〜10のアルキル基はたは炭
素数6〜15のアリール(alyl)基を示し、R4は水
素原素、炭素数が1〜15のアルキル基、炭素数6
〜15のアリール基である。〕 である。 用いられるHF2アニオンは通常、下記の一般式
(),()または(): 〔但し、上式中R′,R″は水素原子または炭素
数が1〜15のアルキル基、炭素数6〜15のアリー
ル(aryl)基、Rは炭素数が1〜10のアルキル
基、炭素数6〜15のアリール(aryl)基、Xは酸
素原子または窒素原子、nは0または5以下の正
の整数である。Mはアルカリ金属である〕 で表わされる化合物(フツ化水素塩)を適当な有
機溶媒に溶解することによつて得られる。上式
(),()および()で表わされる化合物の
具体例としてはH4N・HF2,n−Bu4N・HF2,
Na・HF2,K・HF2,Li・HF2および
【式】をあげることができる。
上記式()で表わされるピリリウムもしくは
ピリジニウムカチオンは、式()で表わされる
カチオンとClO- 4、BF- 2、AlCl- 4、FeCl- 4、SnCl- 5、
PF- 6、PCl- 6、SbF- 6、AsF- 6、CF3SO- 3、HF- 2等の
アニオンとの塩を適当な有機溶媒に溶解すること
によつて得られる。そのような塩の具体例として
は
ピリジニウムカチオンは、式()で表わされる
カチオンとClO- 4、BF- 2、AlCl- 4、FeCl- 4、SnCl- 5、
PF- 6、PCl- 6、SbF- 6、AsF- 6、CF3SO- 3、HF- 2等の
アニオンとの塩を適当な有機溶媒に溶解すること
によつて得られる。そのような塩の具体例として
は
【式】
【式】
【式】
【式】
【式】
【式】
【式】等をあげることができる。
上記式()または()で表わされるカルボ
ニウム・カチオンの具体例としては(C6H5)3C+,
(CH3)3C+,
ニウム・カチオンの具体例としては(C6H5)3C+,
(CH3)3C+,
【式】をあげるこ
とができる。
これらのカルボニウムカチオンは、それらと陰
イオンの塩(カルボニウム塩)を適当な有機溶媒
に溶解することによつて得られる。ここで用いら
れる陰イオンの代表例としては、BF- 4,AlCl- 4,
AlBr3Cl-,FeCl- 4,SnCl- 3,PF- 6,PCl- 6、SbCl- 6,
SbF- 6,ClO- 4,CF3SO- 3等をあげることができ、
また、カルボニウム塩の具体例としては、例えば
(C6H5)3C・BF4,(CH3)3C・BF4,HCO・
AlCl4,HCO・BF4,C6H5CO・SnCl5等をあげる
ことができる。 上記のドーパントとして例えばAsF5(電子供与
体)をドープすることによりポリ(パラ−フエニ
レン)では104s・cm-1、ポリ(パラ−フエニレン
サルフアイド)では1s・cm-1、ポリ(パラ−フエ
ニレンオキサイド)では10-3s・cm-1、ポリ(パ
ラ−フエニレンビニレン)では、3s・cm-1程度に
まで各々電気伝導度を増大させることができる。 さらに、これら共役系高分子化合物は、合成が
容易で耐化学薬品性、耐熱性もよく、成形加工性
に優れ、軽いといつた従来の導電性高分子にない
特長を有している。 したがつて、一般式()で表わされるくり返
し単位を有する高分子化合物にドーパントをドー
プして得られる電導性高分子化合物を電解質に用
いれば、下記のごとき効果が得られる。 高温加熱をすることなしに電解質層を形成で
きるので陽極の酸化皮膜の損傷がなく、補修の
ための陽極酸化(再化成)を行なう必要がな
い。そのため定格電圧を従来の数倍にでき、同
容量、同定格電圧のコンデンサを得るのに形状
を小型化できる。 もれ電流が小さい。 高耐圧のコンデンサを作製できる。 電解質の電導度が十分に高いため、グラフア
イトなどの導電層を設ける必要がなく、工程が
簡略化される。 本発明による固体電解コンデンサの概略を第1
図に示した。 アルミニウム、タンタル、ニオブ等の弁作用金
属を陽極酸化し、酸化皮膜上に電解層を形成す
る。さらに銀ペーストで陰極を取り出し、ケース
に入れ、樹脂等で密封外装して固体電解コンデン
サを得る。 以下実施例を示し、本発明を詳細に説明する。 実施例 1 Ta粉末の焼結体をリン酸水溶液中で陽極酸化
して、誘電体皮膜を形成させた後、ポリ(パラ−
フエニレンサルフアイド)のジフエニルエーテル
溶液に浸漬し、乾燥する。この浸漬、乾燥の操作
をくり返し、高分子層を形成し、AsF5ガスを接
触させ、AsF5をドープし、電解質層を形成する。
ついで銀ペーストで陰極を取り出し、ケースに入
れ樹脂封口して、固体電解コンデンサを作成し
た。 AsF5をドープしたポリ(パラ−フエニレンサ
ルフアイド)の電導度は1s・cm-1であつた。 実施例 2 実施例1と同様に陽極酸化したTa素子をポリ
(パラ−フエニレンオキサイド)のN,N−ジメ
チルホルムアミド溶液に浸漬し、乾燥する。この
浸漬、乾燥の操作をくり返し高分子層を形成し
AsF5ガスを接触させ、AsF5をドープし、電解質
層を形成する。ついで実施例1と同様にして固体
電解コンデンサを作成した。 AsF5をドープしたポリ(パラ−フエニレンオ
キサイド)の電導度は10-3s・cm-1であつた。 実施例 3 実施例1と同様に陽極酸化したTa素子を、ポ
リ(パラ−フエニレンビニレン)のN,N−ジメ
チルホルムアミド溶液に浸漬し、乾燥する。この
浸漬、乾燥の操作をくり返し、高分子層を形成
し、AsF5ガスを接触させAsF5をドープし、電解
質層を形成する。ついで実施例1と同様にして固
体電解コンデンサを作成した。 AsF5をドープしたポリ(パラ−フエニレンビ
ニレン)の電導度は3s・cm-1であつた。 実施例 4 Ta粉末の焼結体をリン酸水溶液中で陽極酸化
して誘電体皮膜を形成させた後、Bull.chem.Soc.
Jpn.,51.2091(1978)記載の方法で得られたポ
リ(パラ−フエニレン)を200℃で熱プレスする
ことによつて、ポリ(パラ−フエニレン)を多孔
性Ta素子に流し込み、Ta素子を被覆する。冷却
後、ポリ(パラ−フエニレン)で被覆されたTa
素子にAsF5ガスを接触させて、AsF5をドープ
し、電解質層を形成する。ついで銀ペーストで陰
極を取り出し、ケースに入れ樹脂封口して固体電
解コンデンサを作成した。AsF5をドープしたポ
リ(パラ−フエニレン)の電導度は102s・cm-1で
あつた。 実施例 5 実施例4と同様に陽極酸化したTa素子を、J.
polym.chem.Edi.,12,357(1974)記載の方法で
得られたポリ(4,4′−ビフエニレン)のクロロ
ホルム溶液に浸漬し、乾燥する。この浸漬、乾燥
の操作をくり返し、高分子層を形成し、AsF5ガ
スを接触させAsF5をドープし、電解質層を形成
する。ついで実施例4と同様にして、固体電解コ
ンデンサを作成した。AsF5をドープしたポリ
(4,4′−フエニレン)の電導度は103s・cm-1であ
つた。 実施例4と同様な陽極酸化したTa素子を用い
た従来の二酸化マンガンを電解質とする固体電解
コンデンサを比較例1とし、コンデンサの特性を
比較したものを第1表に示す。
イオンの塩(カルボニウム塩)を適当な有機溶媒
に溶解することによつて得られる。ここで用いら
れる陰イオンの代表例としては、BF- 4,AlCl- 4,
AlBr3Cl-,FeCl- 4,SnCl- 3,PF- 6,PCl- 6、SbCl- 6,
SbF- 6,ClO- 4,CF3SO- 3等をあげることができ、
また、カルボニウム塩の具体例としては、例えば
(C6H5)3C・BF4,(CH3)3C・BF4,HCO・
AlCl4,HCO・BF4,C6H5CO・SnCl5等をあげる
ことができる。 上記のドーパントとして例えばAsF5(電子供与
体)をドープすることによりポリ(パラ−フエニ
レン)では104s・cm-1、ポリ(パラ−フエニレン
サルフアイド)では1s・cm-1、ポリ(パラ−フエ
ニレンオキサイド)では10-3s・cm-1、ポリ(パ
ラ−フエニレンビニレン)では、3s・cm-1程度に
まで各々電気伝導度を増大させることができる。 さらに、これら共役系高分子化合物は、合成が
容易で耐化学薬品性、耐熱性もよく、成形加工性
に優れ、軽いといつた従来の導電性高分子にない
特長を有している。 したがつて、一般式()で表わされるくり返
し単位を有する高分子化合物にドーパントをドー
プして得られる電導性高分子化合物を電解質に用
いれば、下記のごとき効果が得られる。 高温加熱をすることなしに電解質層を形成で
きるので陽極の酸化皮膜の損傷がなく、補修の
ための陽極酸化(再化成)を行なう必要がな
い。そのため定格電圧を従来の数倍にでき、同
容量、同定格電圧のコンデンサを得るのに形状
を小型化できる。 もれ電流が小さい。 高耐圧のコンデンサを作製できる。 電解質の電導度が十分に高いため、グラフア
イトなどの導電層を設ける必要がなく、工程が
簡略化される。 本発明による固体電解コンデンサの概略を第1
図に示した。 アルミニウム、タンタル、ニオブ等の弁作用金
属を陽極酸化し、酸化皮膜上に電解層を形成す
る。さらに銀ペーストで陰極を取り出し、ケース
に入れ、樹脂等で密封外装して固体電解コンデン
サを得る。 以下実施例を示し、本発明を詳細に説明する。 実施例 1 Ta粉末の焼結体をリン酸水溶液中で陽極酸化
して、誘電体皮膜を形成させた後、ポリ(パラ−
フエニレンサルフアイド)のジフエニルエーテル
溶液に浸漬し、乾燥する。この浸漬、乾燥の操作
をくり返し、高分子層を形成し、AsF5ガスを接
触させ、AsF5をドープし、電解質層を形成する。
ついで銀ペーストで陰極を取り出し、ケースに入
れ樹脂封口して、固体電解コンデンサを作成し
た。 AsF5をドープしたポリ(パラ−フエニレンサ
ルフアイド)の電導度は1s・cm-1であつた。 実施例 2 実施例1と同様に陽極酸化したTa素子をポリ
(パラ−フエニレンオキサイド)のN,N−ジメ
チルホルムアミド溶液に浸漬し、乾燥する。この
浸漬、乾燥の操作をくり返し高分子層を形成し
AsF5ガスを接触させ、AsF5をドープし、電解質
層を形成する。ついで実施例1と同様にして固体
電解コンデンサを作成した。 AsF5をドープしたポリ(パラ−フエニレンオ
キサイド)の電導度は10-3s・cm-1であつた。 実施例 3 実施例1と同様に陽極酸化したTa素子を、ポ
リ(パラ−フエニレンビニレン)のN,N−ジメ
チルホルムアミド溶液に浸漬し、乾燥する。この
浸漬、乾燥の操作をくり返し、高分子層を形成
し、AsF5ガスを接触させAsF5をドープし、電解
質層を形成する。ついで実施例1と同様にして固
体電解コンデンサを作成した。 AsF5をドープしたポリ(パラ−フエニレンビ
ニレン)の電導度は3s・cm-1であつた。 実施例 4 Ta粉末の焼結体をリン酸水溶液中で陽極酸化
して誘電体皮膜を形成させた後、Bull.chem.Soc.
Jpn.,51.2091(1978)記載の方法で得られたポ
リ(パラ−フエニレン)を200℃で熱プレスする
ことによつて、ポリ(パラ−フエニレン)を多孔
性Ta素子に流し込み、Ta素子を被覆する。冷却
後、ポリ(パラ−フエニレン)で被覆されたTa
素子にAsF5ガスを接触させて、AsF5をドープ
し、電解質層を形成する。ついで銀ペーストで陰
極を取り出し、ケースに入れ樹脂封口して固体電
解コンデンサを作成した。AsF5をドープしたポ
リ(パラ−フエニレン)の電導度は102s・cm-1で
あつた。 実施例 5 実施例4と同様に陽極酸化したTa素子を、J.
polym.chem.Edi.,12,357(1974)記載の方法で
得られたポリ(4,4′−ビフエニレン)のクロロ
ホルム溶液に浸漬し、乾燥する。この浸漬、乾燥
の操作をくり返し、高分子層を形成し、AsF5ガ
スを接触させAsF5をドープし、電解質層を形成
する。ついで実施例4と同様にして、固体電解コ
ンデンサを作成した。AsF5をドープしたポリ
(4,4′−フエニレン)の電導度は103s・cm-1であ
つた。 実施例4と同様な陽極酸化したTa素子を用い
た従来の二酸化マンガンを電解質とする固体電解
コンデンサを比較例1とし、コンデンサの特性を
比較したものを第1表に示す。
【表】
上表から明らかなように、本発明によるドーパ
ントをドープした電導性高分子化合物を電解質と
する固体電解コンデンサは従来の二酸化マンガン
を電解質とする固体電解コンデンサに比して誘電
損失、もれ電流が小さく、定格電圧が高く、高耐
電圧の固体電解コンデンサを作成することができ
る。また、本発明による固体電解コンデンサの容
量X定格電圧の値は二酸化マンガンを用いた固体
電解コンデンサに比して大きく、同じ形状ならば
大容量を得ることができる。 上記実施例では、素子の金属は、タタル焼結体
であつたが他のアルミニウム、ニオブでもよく、
形状も粉末焼結体に限らない。
ントをドープした電導性高分子化合物を電解質と
する固体電解コンデンサは従来の二酸化マンガン
を電解質とする固体電解コンデンサに比して誘電
損失、もれ電流が小さく、定格電圧が高く、高耐
電圧の固体電解コンデンサを作成することができ
る。また、本発明による固体電解コンデンサの容
量X定格電圧の値は二酸化マンガンを用いた固体
電解コンデンサに比して大きく、同じ形状ならば
大容量を得ることができる。 上記実施例では、素子の金属は、タタル焼結体
であつたが他のアルミニウム、ニオブでもよく、
形状も粉末焼結体に限らない。
第1図は本発明による固体電解コンデンサの一
例を示す断面図である。 1……Ta,Al等の金属焼結体、2……酸化皮
膜、3……電導性高分子化合物、4……導電ペー
スト、5……半田、6……ケースおよび陰極、7
……陽極、8……封口樹脂。
例を示す断面図である。 1……Ta,Al等の金属焼結体、2……酸化皮
膜、3……電導性高分子化合物、4……導電ペー
スト、5……半田、6……ケースおよび陰極、7
……陽極、8……封口樹脂。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一般式 (式中、Xは直接結合、S,O,または−CH
=CH−を示す) で表わされるくり返し単位を有する共役系高分子
化合物にドーパントをドープして得られる電導性
高分子化合物を固体電解質とすることを特徴とす
る固体電解コンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14437583A JPS6037115A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 固体電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14437583A JPS6037115A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 固体電解コンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6037115A JPS6037115A (ja) | 1985-02-26 |
JPH0155571B2 true JPH0155571B2 (ja) | 1989-11-27 |
Family
ID=15360657
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14437583A Granted JPS6037115A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 固体電解コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6037115A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2632944B2 (ja) * | 1988-07-28 | 1997-07-23 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4967153A (ja) * | 1972-11-01 | 1974-06-28 | ||
JPS5185457A (ja) * | 1975-01-24 | 1976-07-27 | Nippon Electric Co |
-
1983
- 1983-08-09 JP JP14437583A patent/JPS6037115A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4967153A (ja) * | 1972-11-01 | 1974-06-28 | ||
JPS5185457A (ja) * | 1975-01-24 | 1976-07-27 | Nippon Electric Co |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6037115A (ja) | 1985-02-26 |
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