JPH0143252B2 - - Google Patents
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- JPH0143252B2 JPH0143252B2 JP58140055A JP14005583A JPH0143252B2 JP H0143252 B2 JPH0143252 B2 JP H0143252B2 JP 58140055 A JP58140055 A JP 58140055A JP 14005583 A JP14005583 A JP 14005583A JP H0143252 B2 JPH0143252 B2 JP H0143252B2
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- temperature
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/245—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/02—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
- G01K1/028—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers arrangements for numerical indication
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K13/00—Thermometers specially adapted for specific purposes
- G01K13/20—Clinical contact thermometers for use with humans or animals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
＜技術分野＞
本発明は、測温抵抗体の抵抗値の温度依存性に
より温度を検知する温度計に関し、さらに詳しく
は抵抗値の変化を発振器の発振周波数変化により
検知するデジタル式の温度計に関するものであ
る。 ＜従来技術＞ 測温抵抗体をCR発振回路の一部として使用し、
その発振周波数から温度を測定することは一般に
行なわれている。 発振周波数Ｆはほとんど無視できる誤差範囲
内、で比例定数ｋを用いて、 Ｆ＝ｋ／Ｃ・Ｒ ………(1) の通り与えられる。 又、測温抵抗体をサーミスタとすれば、サーミ
スタの抵抗値Ｒと絶対温度Ｔとの関係は理論的に
次式で表現される。 Ｒ＝R0exp Ｂ（１／Ｔ−１／T0） ………(2) ここで、R0：絶対温度がT0のときのサーミス
タの抵抗値 Ｂ：サーミスタ定数。 上記(1)、(2)式より絶対温度Ｔは、下記(3)式の通
り、発振周波数Ｆで表わされる。 Ｔ＝１／１／T0＋１／Ｂ・（lnF0−lnF） ………(3) ここで、F0：絶対温度T0のときの発振周波数。 従つて、発振周波数を測定することにより温度
を測定することができる。 上述の発振周波数−温度の関係を用いた温度計
について述べる。 第１図に従来の温度計のブロツク構成を示す。 同図において、１はサーミスタで、発振器２と
接続され発振回路を形成する。前記発振回路の発
振周波数はゲート回路３の開く所定時間（一般
に、基準となる抵抗が接続された発振回路の出力
を計数するカウンターの所定数までの計数時間）
においてカウンター４で計数される。 ５は最高値検出回路で、前記カウンター４の計
数値が測定中の温度の最高値であればその計数値
を最高値ホールド表示のためにラツチ回路６に転
送する。該ラツチ回路６の出力はアドレスデコー
ダ７、更にリード・オンリ・メモリROM８に与
えられる。このROM８は入力に対応する温度値
が記憶されているメモリ素子であつて、その温度
情報出力はデコーダ・ドライバ９を介して表示器
１０によつて表示される。 ここで、上記の構成の温度計におけるROM８
の必要ビツト数について検討する。そして、温度
計は体温計として使用されるものと設定する。 体温計なので表示温度範囲は35℃乃至42℃の範
囲で、その間隔を0.1℃単位で表示するものとす
る。 ROM８のメモリ容量を少なくするために、例
えば35.0℃と35.1℃のカウント数の差が１カウン
トになるように発振器２の時定数並びにゲート回
路３のゲート幅を設定すれば良い。この場合の温
度とカウント数の関係を第２図に示す。同図にお
いて、横軸は体温（温度）で単位は℃、縦軸はカ
ウント数を示している。体温が35.0℃のときのカ
ウント数をＣとして以後体温が42.0℃になるとカ
ウント数はＣ＋79となる。具体的に上記(3)式にＢ
＝4000、T0＝35.0、F0（＝Ｃ）＝237を代入して温
度（有効数字７桁；単位℃）及び表示値（小数点
以下第２位四捨五入；単位℃）を計算してみると
下記第１表の通りとなる。
より温度を検知する温度計に関し、さらに詳しく
は抵抗値の変化を発振器の発振周波数変化により
検知するデジタル式の温度計に関するものであ
る。 ＜従来技術＞ 測温抵抗体をCR発振回路の一部として使用し、
その発振周波数から温度を測定することは一般に
行なわれている。 発振周波数Ｆはほとんど無視できる誤差範囲
内、で比例定数ｋを用いて、 Ｆ＝ｋ／Ｃ・Ｒ ………(1) の通り与えられる。 又、測温抵抗体をサーミスタとすれば、サーミ
スタの抵抗値Ｒと絶対温度Ｔとの関係は理論的に
次式で表現される。 Ｒ＝R0exp Ｂ（１／Ｔ−１／T0） ………(2) ここで、R0：絶対温度がT0のときのサーミス
タの抵抗値 Ｂ：サーミスタ定数。 上記(1)、(2)式より絶対温度Ｔは、下記(3)式の通
り、発振周波数Ｆで表わされる。 Ｔ＝１／１／T0＋１／Ｂ・（lnF0−lnF） ………(3) ここで、F0：絶対温度T0のときの発振周波数。 従つて、発振周波数を測定することにより温度
を測定することができる。 上述の発振周波数−温度の関係を用いた温度計
について述べる。 第１図に従来の温度計のブロツク構成を示す。 同図において、１はサーミスタで、発振器２と
接続され発振回路を形成する。前記発振回路の発
振周波数はゲート回路３の開く所定時間（一般
に、基準となる抵抗が接続された発振回路の出力
を計数するカウンターの所定数までの計数時間）
においてカウンター４で計数される。 ５は最高値検出回路で、前記カウンター４の計
数値が測定中の温度の最高値であればその計数値
を最高値ホールド表示のためにラツチ回路６に転
送する。該ラツチ回路６の出力はアドレスデコー
ダ７、更にリード・オンリ・メモリROM８に与
えられる。このROM８は入力に対応する温度値
が記憶されているメモリ素子であつて、その温度
情報出力はデコーダ・ドライバ９を介して表示器
１０によつて表示される。 ここで、上記の構成の温度計におけるROM８
の必要ビツト数について検討する。そして、温度
計は体温計として使用されるものと設定する。 体温計なので表示温度範囲は35℃乃至42℃の範
囲で、その間隔を0.1℃単位で表示するものとす
る。 ROM８のメモリ容量を少なくするために、例
えば35.0℃と35.1℃のカウント数の差が１カウン
トになるように発振器２の時定数並びにゲート回
路３のゲート幅を設定すれば良い。この場合の温
度とカウント数の関係を第２図に示す。同図にお
いて、横軸は体温（温度）で単位は℃、縦軸はカ
ウント数を示している。体温が35.0℃のときのカ
ウント数をＣとして以後体温が42.0℃になるとカ
ウント数はＣ＋79となる。具体的に上記(3)式にＢ
＝4000、T0＝35.0、F0（＝Ｃ）＝237を代入して温
度（有効数字７桁；単位℃）及び表示値（小数点
以下第２位四捨五入；単位℃）を計算してみると
下記第１表の通りとなる。
【表】
【表】
【表】
【表】
と言うわけであるから、(3)式によつて発振周波数
によつて体温（温度）を表示するためには、80種
類のカウント数に対して71種類の表示値の温度値
を準備しなければならないことになる。 よつて、ROM８のアドレスＤ（Ｄは任意の０
以上の整数）からアドレスＤ＋79に350から420ま
でのBCD（Binary Coded Decimal）コードのい
ずれかを記憶させることになる。この際、表示値
は最上位桁が“３”若しくは“４”で１ビツトで
表現でき、又、下２桁は各４ビツトずつで表現す
ることとなり、合計１アドレスに９ビツトのデー
タを記憶させる必要がある。ゆえに、ROM８は
80×９＝720ビツトを有しなければならない。 ＜発明の目的＞ 本発明は、上記の事項に鑑み、発振周波数から
温度情報を読み出すための記憶回路ROMのビツ
ト数の削減を計る目的で、 基準抵抗と測温抵抗体とに切換接続できる発振
器と、前記発振器の発振周波数をカウントするカ
ウンターと、前記カウンターが所定数までカウン
トする時間を測定する計時手段と、特定データが
予め記憶された記憶回路と、前記発振器に基準抵
抗を接続して前記計時手段が測定した時間に等し
い時間内に前記測温抵抗体を接続した発振器の発
振周波数を前記カウンターでカウントし、そのカ
ウント数Ｃから前記記憶回路の特定データを読み
出し所定の演算により前記測温抵抗体の検知した
温度を算出する算出手段と、前記算出手段の温度
数値若しくはそれに相関する数値を表示する表示
手段とを具備する温度計において、 上記記憶回路は１ビツトデータ即ちアドレスｍ
（ｍ＝ｌ、ｌ＋１、ｌ＋２、…：ｌは１以上の整
数）において、発振周波数Ｆと温度Ｔの関係式Ｔ
＝ｆ(F)を用いたところのTm＝ｆ(F)より与えられ
る温度Tmの特定変換数値Tm′がTm′-1と等しい
場合は“０”（若しくは“１”）が、そうでない場
合は“１”（若しくは“０”）が書き込まれたメモ
リで構成され、 上記所定の演算は設定された初期値に前記記憶
回路の特定アドレスＡ（ｍのいずれかの整数）か
ら上記カウント数Ｃに対応するアドレスＢ（ｍの
いずれかの整数）までのデータ“１”（若しくは
“０”）の数を加算する演算であることを特徴とす
る温度計 又は、 測温抵抗体の接続された発振器と、前記発振器
の発振周波数をカウントするカウンターと、時間
幅を設定する時間設定手段と、特定データが予め
記憶された記憶回路と、前記時間設定手段の時間
設定時間幅に等しい時間内に前記測温抵抗体の接
続された発振器の発振周波数を前記カウンターで
カウントし、そのカウント数Ｃから前記記憶回路
の特定データを読み出し所定の演算により前記測
温抵抗体の検知した温度を算出する算出手段と、
前記算出手段の温度数値若しくはそれに相関する
数値を表示する表示手段を具備する温度計におい
て、 上記記憶回路は１ビツトデータ即ちアドレスｍ
（ｍ＝ｌ、ｌ＋１、ｌ＋２、…：ｌは１以上の整
数）において、発振周波数Ｆと温度Ｔの関係式Ｔ
＝ｆ(F)を用いたところのTm＝ｆ（ｍ）より与え
られる温度Tmの特定変換数値Tm′がTm′-1と等
しい場合は“０”（若しくは“１”）が、そうでな
い場合は“１”（若しくは“０”）が書き込まれた
メモリで構成され、 上記所定の演算は設定された初期値に前記記憶
回路の特定アドレスＡ（ｍのいずれかの整数）か
ら上記カウント数Ｃに対応するアドレスＢ（ｍの
いずれかの整数）までのデータ“１”（若しくは
“０”）の数を加算する演算であることを特徴とす
る温度計 を堤供する。 ＜実施例＞ 本発明の構成を実施例に即して述べる。 第３図に本発明の実施例に係る温度計のブロツ
ク構成を示す。 同図において、Ｒは基準抵抗でRxは測温抵抗
体のサーミスタを示す。これら基準抵抗Ｒ及びサ
ーミスタRxはコンデンサＣと接続され、発振器
１１が該コンデンサＣとサーミスタRx又は基準
抵抗Ｒの時定数により定まる周波数を発振する。
前記基準抵抗Ｒと前記発振器１１の間にはアナロ
グスイツチ１３が挿入され、又前記サーミスタ
Rxと前記発振器１１の間にはアナログスイツチ
１２が挿入されている。そして、前記アナログス
イツチ１２，１３の開閉は制御回路１５によつて
実行される。 前記発振器１１の発振出力はカウンター１４に
与えられる。このカウンター１４は所定数まで計
数をし、その出力はアドレスデコーダ１８に与え
られ、オーバーフロー出力は前記制御回路１５に
与えられる。 一方、該制御回路１５には所定のクロツク周波
数を発振する基本クロツク発振器１６の出力が与
えられるカウンター１７が接続されている。この
基本クロツク発振器１６及びカウンター１７は前
記制御回路１５のオーバーフローするまでの時間
を計測するためのものである。 前記アドレスデコーダ１８に接続されたリー
ド・オンリ・メモリROM１９のアドレス237乃
至317のメモリ内容は下記第２表の通りで、“１”
若しくは“０”の１ビツトデータである。
によつて体温（温度）を表示するためには、80種
類のカウント数に対して71種類の表示値の温度値
を準備しなければならないことになる。 よつて、ROM８のアドレスＤ（Ｄは任意の０
以上の整数）からアドレスＤ＋79に350から420ま
でのBCD（Binary Coded Decimal）コードのい
ずれかを記憶させることになる。この際、表示値
は最上位桁が“３”若しくは“４”で１ビツトで
表現でき、又、下２桁は各４ビツトずつで表現す
ることとなり、合計１アドレスに９ビツトのデー
タを記憶させる必要がある。ゆえに、ROM８は
80×９＝720ビツトを有しなければならない。 ＜発明の目的＞ 本発明は、上記の事項に鑑み、発振周波数から
温度情報を読み出すための記憶回路ROMのビツ
ト数の削減を計る目的で、 基準抵抗と測温抵抗体とに切換接続できる発振
器と、前記発振器の発振周波数をカウントするカ
ウンターと、前記カウンターが所定数までカウン
トする時間を測定する計時手段と、特定データが
予め記憶された記憶回路と、前記発振器に基準抵
抗を接続して前記計時手段が測定した時間に等し
い時間内に前記測温抵抗体を接続した発振器の発
振周波数を前記カウンターでカウントし、そのカ
ウント数Ｃから前記記憶回路の特定データを読み
出し所定の演算により前記測温抵抗体の検知した
温度を算出する算出手段と、前記算出手段の温度
数値若しくはそれに相関する数値を表示する表示
手段とを具備する温度計において、 上記記憶回路は１ビツトデータ即ちアドレスｍ
（ｍ＝ｌ、ｌ＋１、ｌ＋２、…：ｌは１以上の整
数）において、発振周波数Ｆと温度Ｔの関係式Ｔ
＝ｆ(F)を用いたところのTm＝ｆ(F)より与えられ
る温度Tmの特定変換数値Tm′がTm′-1と等しい
場合は“０”（若しくは“１”）が、そうでない場
合は“１”（若しくは“０”）が書き込まれたメモ
リで構成され、 上記所定の演算は設定された初期値に前記記憶
回路の特定アドレスＡ（ｍのいずれかの整数）か
ら上記カウント数Ｃに対応するアドレスＢ（ｍの
いずれかの整数）までのデータ“１”（若しくは
“０”）の数を加算する演算であることを特徴とす
る温度計 又は、 測温抵抗体の接続された発振器と、前記発振器
の発振周波数をカウントするカウンターと、時間
幅を設定する時間設定手段と、特定データが予め
記憶された記憶回路と、前記時間設定手段の時間
設定時間幅に等しい時間内に前記測温抵抗体の接
続された発振器の発振周波数を前記カウンターで
カウントし、そのカウント数Ｃから前記記憶回路
の特定データを読み出し所定の演算により前記測
温抵抗体の検知した温度を算出する算出手段と、
前記算出手段の温度数値若しくはそれに相関する
数値を表示する表示手段を具備する温度計におい
て、 上記記憶回路は１ビツトデータ即ちアドレスｍ
（ｍ＝ｌ、ｌ＋１、ｌ＋２、…：ｌは１以上の整
数）において、発振周波数Ｆと温度Ｔの関係式Ｔ
＝ｆ(F)を用いたところのTm＝ｆ（ｍ）より与え
られる温度Tmの特定変換数値Tm′がTm′-1と等
しい場合は“０”（若しくは“１”）が、そうでな
い場合は“１”（若しくは“０”）が書き込まれた
メモリで構成され、 上記所定の演算は設定された初期値に前記記憶
回路の特定アドレスＡ（ｍのいずれかの整数）か
ら上記カウント数Ｃに対応するアドレスＢ（ｍの
いずれかの整数）までのデータ“１”（若しくは
“０”）の数を加算する演算であることを特徴とす
る温度計 を堤供する。 ＜実施例＞ 本発明の構成を実施例に即して述べる。 第３図に本発明の実施例に係る温度計のブロツ
ク構成を示す。 同図において、Ｒは基準抵抗でRxは測温抵抗
体のサーミスタを示す。これら基準抵抗Ｒ及びサ
ーミスタRxはコンデンサＣと接続され、発振器
１１が該コンデンサＣとサーミスタRx又は基準
抵抗Ｒの時定数により定まる周波数を発振する。
前記基準抵抗Ｒと前記発振器１１の間にはアナロ
グスイツチ１３が挿入され、又前記サーミスタ
Rxと前記発振器１１の間にはアナログスイツチ
１２が挿入されている。そして、前記アナログス
イツチ１２，１３の開閉は制御回路１５によつて
実行される。 前記発振器１１の発振出力はカウンター１４に
与えられる。このカウンター１４は所定数まで計
数をし、その出力はアドレスデコーダ１８に与え
られ、オーバーフロー出力は前記制御回路１５に
与えられる。 一方、該制御回路１５には所定のクロツク周波
数を発振する基本クロツク発振器１６の出力が与
えられるカウンター１７が接続されている。この
基本クロツク発振器１６及びカウンター１７は前
記制御回路１５のオーバーフローするまでの時間
を計測するためのものである。 前記アドレスデコーダ１８に接続されたリー
ド・オンリ・メモリROM１９のアドレス237乃
至317のメモリ内容は下記第２表の通りで、“１”
若しくは“０”の１ビツトデータである。
【表】
【表】
【表】
【表】
上記第２表において、各アドレスには“１”又
は“０”が書き込まれているが、この“１”又は
“０”に区別させる基準は次の通りである。 即ち、発振周波数Ｆが与えられると体温（温
度）Ｔは前記(3)式により求まるわけで、前記体温
（温度）Ｔは前記発振周波数Ｆの関数である。 Ｔ＝ｆ(F) 今、発振周波数F1、F2、F3、…Fo-1、Foが与
えられて T1＝ｆ（F1） T2＝ｆ（F2） T3＝ｆ（F3） 〓 To-1＝ｆ（Fo-1） To＝ｆ（Fo） 〓 が計算された。T1、T2、T3…、To-1、To…は実
数（第１表の体温（温度値）に相当する。）で求
まり、それを表示値の３桁数値（第１表の表示値
に相当する。）に変換する。 この数値変換の方法は次の通りである。 即ち、実数Ａを整数に変換する関数をINTで
表わして、該実数Ａの整数変換（小数点以下切捨
て）された値をＢとして、整数変換を Ｂ＝INT(A) と表わす。 上記T1、T2、T3…、To-1、To…（ｎは２以上
の整数）を下式の通り整数変換する。 T1′＝INT（（Ｔ＋0.05）×10） T2′＝INT（（Ｔ＋0.05）×10） T3′＝INT（（Ｔ＋0.05）×10） 〓 To-1′＝INT（（To-1＋0.05）×10） To′＝INT（（To＋0.05）×10 〓 そして、求まつた左辺の値を10で割つた値が表
示値に相当する３桁実数値となる。 T″1＝T′1／10 T″2＝T′2／10 T″3＝T′3／10 〓 T″o-1＝T′o-1／10 T″o＝To／10 〓 そして、 T″o-1＝T″o であるならば、アドレスｎに０を書き込み、 T″o-1＝T″o＋0.1 であるならば、アドレスｎに１を書き込んでお
く。 なお、上記では固有の値0.05を用いているがこ
れは差分が0.1であるためで、この固有の値を一
般にＺで表わすと T′n＝１／10（INT（Tm＋Ｚ）×10） （ただし、ｍは２以上の整数） となり、 T′m-1＝T′m であるならば、アドレスｍには０を書き込み、 T′m-1＝T′n＋（Ｚ×２） であるならば、アドレスｍには１を書き込むこと
になる。 制御回路１５はまずアナログスイツチ１３を閉
じ発振器１１に基準抵抗Ｒを接続して発振させ
る。その発振周波数をカウンター１４でカウント
すると同時に、基本クロツク１６をカウンター１
７でカウントする。そして、前記カウンター１４
がオーバーフローした時点で前記カウンター１７
のカウントを停止する。この時の該カウンター１
７の値がゲート回路２０のゲート時間である。 次に、制御回路１５はアナログスイツチ１３を
開き、アナログスイツチ１２を閉じ、サーミスタ
Rxを発振器１に接続する。同時にカウンター１
７のダウンカウントを開始し、プリセツト回路２
１はカウンター２２に定数349（34.9℃に対応）を
設定する。ゲート回路２０はカウンター１７のダ
ウンカウントが開始されてからゼロになるまで開
かれる。発振器１の発振周波数はカウンター１４
でカウントされている。 カウンター１４の計数値は最初は０である。こ
の値がアドレスデコーダ１８でデコードされ
ROM１９のアドレス０の値が参照される。も
し、アドレス０の値が１であればゲート回路２０
を通してカウント22がカウントアツプされる。次
に前記カウンター１４は１を計数し、同様に
ROM１９のアドレス１の値が参照され、もしそ
の値が０であれば前記カウンター２２はカウント
アツプされない。このようにして前記カウンター
１４がカウントアツプされるたびに前記ROM１
９が参照され、そのメモリ内容が“１”又は
“０”かによつて前記カウンター２２がカウント
アツプされるか若しくはカウントアツプされな
い。この処理はゲート回路２０が閉じられるまで
続けられる。 本実施例ではカウンター１４のカウント数が
237を越えてからROM１９の内容を順に読み出
し、その値が１であればプリセツト値349に加算
していく。 つまり、本実施例では体温値（温度値）Ｔは次
式で計算されるのである。 Ｔ＝１／10（349＋o 〓x=237 Ｍ（ｘ）） ただし、 ｎ：カウンター１４のカウント終了時点のカウン
ト数 Ｍ（ｘ）：アドレスｘのROM１９の値、０若しく
は１。 ラツチ回路２３にはそれまで測定した体温（温
度）の最高値が一時保持されている。 ゲート回路２０が閉じられカウントが終了する
と前記カウンター２２の体温値（温度値）と前記
ラツチ回路２３の体温値（温度値）が比較回路２
６で比較され、もしカウンター２２の体温値（温
度値）が大きければ該体温値（温度値）がラツチ
回路２３に一時保持される。 そして、ラツチ回路２３の体温値（温度値）は
デコーダ・ドライバ２４を通して表示器２５で表
示される。 なお、上記実施例では、温度によつて抵抗値の
変化する測温抵抗体と温度によつて抵抗値のほと
んど変化しない基準抵抗に接続された発振器の前
記２つによる発振周波数の比較によつて該測温抵
抗体の検知温度を知るようにしたが、もちろん特
定の時間幅を設定してその時間幅内の測温抵抗体
と接続された発振器の発振周波数によつて該測温
抵抗体の検知温度を得るようにしてもよい。 さらに、上記ROM１９の１ビツトデータに関
し、上記実施例の“１”を“０”に、“０”を
“１”に入れ替えて“０”データの数に基づいて
体温値（温度値）を計算するように設計変更も考
えられる。 上記実施例に下記の改良を加えることもでき
る。 上記実施例ではカウント数の１カウントが
0.1℃の温度上昇に対応するように設計したが、
測定分解能を上げたい場合や婦人体温計の様に
0.05℃単位で表示したい場合には対温度カウン
ト数を多くとりROM１９の記憶容量を増やす
ことで実現できる。 表示分解能を0.1℃のままで測定分解能を上
げるのは次の意味で有効である。前記第１表を
見ればわかるようにカウント数237で表現され
る温度は35.00000以上35.09969未満である。こ
れを35.0℃と表示すると最高0.09969℃の表示
誤差が出る。これは、１カウント約0.1℃の測
定分解能をとつているために、0.1℃単位で表
示する場合に本来発生する量子化誤挙±0.05℃
に測定分解能からくる誤差約±0.05℃が加わ
り、約±0.1の表示誤差となるものである。 表示分解能を0.1℃のままで測定分解能を例
えば１カウントあたり約0.05℃に上げる場合の
回路構成法としては、第３図におけるカウンタ
ー１４の段数を１段増やしてROM１９のアド
レスを倍に増やすとともにゲート２０の開いて
いる時間も約倍に長くする。ROM１９は0.1の
温度上昇のあるアドレスに１を記憶しておいて
も良いが、0.05℃の温度上昇のあるアドレスに
１を記憶してカウンター２２の前に１段プリス
ケラをかませることによつても実現できる。 上記実施例では237カウントを越えてから
ROM１９の読み出しを開始するようにした
が、これはプリセツト回路２１のプリセツト値
を適切な値に変更することによりカウンター１
４のカウント数が０の時から読み出し、カウン
ター１４の値が237になつた時にカウンター２
２の値がちようど350になるようにも構成でき
る。 比較回路２６の代わりに、カウンター１４の
値を一時保持するラツチ回路と該ラツチ回路の
保持値とカウンター１４のカウント数とを比較
する比較回路を設けることもできる。 セ氏表示とカ氏表示を切替可能にするには
ROM１９の各アドレスの記憶データにセ氏用
の１ビツト、カ氏用に１ビツトの計２ビツトと
し、プリセツト回路２１のプリセツト値ととも
に切替えるようにすれば実現できる。 ＜効果＞ 以上の様に本発明の温度計によれば、非直線性
を持つ測温抵抗体（温度センサー）から実際の温
度を測定するのに、各アドレスごとに１ビツトデ
ータを記憶させた記憶回路でもつて、環境（周
囲）温度変化によつて抵抗値のほとんど変化しな
い基準抵抗と温度変化によつて抵抗値の変化する
測温抵抗体に接続されこの抵抗の値に比例又は反
比例した周波数で発振する発振器の周波数の比較
から又は所定の設定時間内における測温抵抗体に
接続された発振器の発振周波数から前記測温抵抗
体の検知温度を得ることができる、記憶回路の記
憶容量が小さくて済み、コストダウンを計れる。
は“０”が書き込まれているが、この“１”又は
“０”に区別させる基準は次の通りである。 即ち、発振周波数Ｆが与えられると体温（温
度）Ｔは前記(3)式により求まるわけで、前記体温
（温度）Ｔは前記発振周波数Ｆの関数である。 Ｔ＝ｆ(F) 今、発振周波数F1、F2、F3、…Fo-1、Foが与
えられて T1＝ｆ（F1） T2＝ｆ（F2） T3＝ｆ（F3） 〓 To-1＝ｆ（Fo-1） To＝ｆ（Fo） 〓 が計算された。T1、T2、T3…、To-1、To…は実
数（第１表の体温（温度値）に相当する。）で求
まり、それを表示値の３桁数値（第１表の表示値
に相当する。）に変換する。 この数値変換の方法は次の通りである。 即ち、実数Ａを整数に変換する関数をINTで
表わして、該実数Ａの整数変換（小数点以下切捨
て）された値をＢとして、整数変換を Ｂ＝INT(A) と表わす。 上記T1、T2、T3…、To-1、To…（ｎは２以上
の整数）を下式の通り整数変換する。 T1′＝INT（（Ｔ＋0.05）×10） T2′＝INT（（Ｔ＋0.05）×10） T3′＝INT（（Ｔ＋0.05）×10） 〓 To-1′＝INT（（To-1＋0.05）×10） To′＝INT（（To＋0.05）×10 〓 そして、求まつた左辺の値を10で割つた値が表
示値に相当する３桁実数値となる。 T″1＝T′1／10 T″2＝T′2／10 T″3＝T′3／10 〓 T″o-1＝T′o-1／10 T″o＝To／10 〓 そして、 T″o-1＝T″o であるならば、アドレスｎに０を書き込み、 T″o-1＝T″o＋0.1 であるならば、アドレスｎに１を書き込んでお
く。 なお、上記では固有の値0.05を用いているがこ
れは差分が0.1であるためで、この固有の値を一
般にＺで表わすと T′n＝１／10（INT（Tm＋Ｚ）×10） （ただし、ｍは２以上の整数） となり、 T′m-1＝T′m であるならば、アドレスｍには０を書き込み、 T′m-1＝T′n＋（Ｚ×２） であるならば、アドレスｍには１を書き込むこと
になる。 制御回路１５はまずアナログスイツチ１３を閉
じ発振器１１に基準抵抗Ｒを接続して発振させ
る。その発振周波数をカウンター１４でカウント
すると同時に、基本クロツク１６をカウンター１
７でカウントする。そして、前記カウンター１４
がオーバーフローした時点で前記カウンター１７
のカウントを停止する。この時の該カウンター１
７の値がゲート回路２０のゲート時間である。 次に、制御回路１５はアナログスイツチ１３を
開き、アナログスイツチ１２を閉じ、サーミスタ
Rxを発振器１に接続する。同時にカウンター１
７のダウンカウントを開始し、プリセツト回路２
１はカウンター２２に定数349（34.9℃に対応）を
設定する。ゲート回路２０はカウンター１７のダ
ウンカウントが開始されてからゼロになるまで開
かれる。発振器１の発振周波数はカウンター１４
でカウントされている。 カウンター１４の計数値は最初は０である。こ
の値がアドレスデコーダ１８でデコードされ
ROM１９のアドレス０の値が参照される。も
し、アドレス０の値が１であればゲート回路２０
を通してカウント22がカウントアツプされる。次
に前記カウンター１４は１を計数し、同様に
ROM１９のアドレス１の値が参照され、もしそ
の値が０であれば前記カウンター２２はカウント
アツプされない。このようにして前記カウンター
１４がカウントアツプされるたびに前記ROM１
９が参照され、そのメモリ内容が“１”又は
“０”かによつて前記カウンター２２がカウント
アツプされるか若しくはカウントアツプされな
い。この処理はゲート回路２０が閉じられるまで
続けられる。 本実施例ではカウンター１４のカウント数が
237を越えてからROM１９の内容を順に読み出
し、その値が１であればプリセツト値349に加算
していく。 つまり、本実施例では体温値（温度値）Ｔは次
式で計算されるのである。 Ｔ＝１／10（349＋o 〓x=237 Ｍ（ｘ）） ただし、 ｎ：カウンター１４のカウント終了時点のカウン
ト数 Ｍ（ｘ）：アドレスｘのROM１９の値、０若しく
は１。 ラツチ回路２３にはそれまで測定した体温（温
度）の最高値が一時保持されている。 ゲート回路２０が閉じられカウントが終了する
と前記カウンター２２の体温値（温度値）と前記
ラツチ回路２３の体温値（温度値）が比較回路２
６で比較され、もしカウンター２２の体温値（温
度値）が大きければ該体温値（温度値）がラツチ
回路２３に一時保持される。 そして、ラツチ回路２３の体温値（温度値）は
デコーダ・ドライバ２４を通して表示器２５で表
示される。 なお、上記実施例では、温度によつて抵抗値の
変化する測温抵抗体と温度によつて抵抗値のほと
んど変化しない基準抵抗に接続された発振器の前
記２つによる発振周波数の比較によつて該測温抵
抗体の検知温度を知るようにしたが、もちろん特
定の時間幅を設定してその時間幅内の測温抵抗体
と接続された発振器の発振周波数によつて該測温
抵抗体の検知温度を得るようにしてもよい。 さらに、上記ROM１９の１ビツトデータに関
し、上記実施例の“１”を“０”に、“０”を
“１”に入れ替えて“０”データの数に基づいて
体温値（温度値）を計算するように設計変更も考
えられる。 上記実施例に下記の改良を加えることもでき
る。 上記実施例ではカウント数の１カウントが
0.1℃の温度上昇に対応するように設計したが、
測定分解能を上げたい場合や婦人体温計の様に
0.05℃単位で表示したい場合には対温度カウン
ト数を多くとりROM１９の記憶容量を増やす
ことで実現できる。 表示分解能を0.1℃のままで測定分解能を上
げるのは次の意味で有効である。前記第１表を
見ればわかるようにカウント数237で表現され
る温度は35.00000以上35.09969未満である。こ
れを35.0℃と表示すると最高0.09969℃の表示
誤差が出る。これは、１カウント約0.1℃の測
定分解能をとつているために、0.1℃単位で表
示する場合に本来発生する量子化誤挙±0.05℃
に測定分解能からくる誤差約±0.05℃が加わ
り、約±0.1の表示誤差となるものである。 表示分解能を0.1℃のままで測定分解能を例
えば１カウントあたり約0.05℃に上げる場合の
回路構成法としては、第３図におけるカウンタ
ー１４の段数を１段増やしてROM１９のアド
レスを倍に増やすとともにゲート２０の開いて
いる時間も約倍に長くする。ROM１９は0.1の
温度上昇のあるアドレスに１を記憶しておいて
も良いが、0.05℃の温度上昇のあるアドレスに
１を記憶してカウンター２２の前に１段プリス
ケラをかませることによつても実現できる。 上記実施例では237カウントを越えてから
ROM１９の読み出しを開始するようにした
が、これはプリセツト回路２１のプリセツト値
を適切な値に変更することによりカウンター１
４のカウント数が０の時から読み出し、カウン
ター１４の値が237になつた時にカウンター２
２の値がちようど350になるようにも構成でき
る。 比較回路２６の代わりに、カウンター１４の
値を一時保持するラツチ回路と該ラツチ回路の
保持値とカウンター１４のカウント数とを比較
する比較回路を設けることもできる。 セ氏表示とカ氏表示を切替可能にするには
ROM１９の各アドレスの記憶データにセ氏用
の１ビツト、カ氏用に１ビツトの計２ビツトと
し、プリセツト回路２１のプリセツト値ととも
に切替えるようにすれば実現できる。 ＜効果＞ 以上の様に本発明の温度計によれば、非直線性
を持つ測温抵抗体（温度センサー）から実際の温
度を測定するのに、各アドレスごとに１ビツトデ
ータを記憶させた記憶回路でもつて、環境（周
囲）温度変化によつて抵抗値のほとんど変化しな
い基準抵抗と温度変化によつて抵抗値の変化する
測温抵抗体に接続されこの抵抗の値に比例又は反
比例した周波数で発振する発振器の周波数の比較
から又は所定の設定時間内における測温抵抗体に
接続された発振器の発振周波数から前記測温抵抗
体の検知温度を得ることができる、記憶回路の記
憶容量が小さくて済み、コストダウンを計れる。
第１図は従来の温度計のブロツク構成図、第２
図は温度（単位℃）と測温抵抗体の発振周波数の
カウント数との関係グラフ、第３図は本発明の温
度計のブロツク構成図である。 １１……発振器、１２，１３……アナログスイ
ツチ、１４，１７，２２……カウンター、１５…
…制御回路、１６……基本クロツク発振器、１８
……アドレスデコーダ、１９……ROM、２０…
…ゲート回路、２１……プリセツト回路、２３…
…ラツチ回路、２４……デコーダ・ドライバー、
２５……表示器、２６……比較回路、Ｒ……基準
抵抗、Rx……サーミスタ（測温抵抗体）、Ｃ……
コンデンサ。
図は温度（単位℃）と測温抵抗体の発振周波数の
カウント数との関係グラフ、第３図は本発明の温
度計のブロツク構成図である。 １１……発振器、１２，１３……アナログスイ
ツチ、１４，１７，２２……カウンター、１５…
…制御回路、１６……基本クロツク発振器、１８
……アドレスデコーダ、１９……ROM、２０…
…ゲート回路、２１……プリセツト回路、２３…
…ラツチ回路、２４……デコーダ・ドライバー、
２５……表示器、２６……比較回路、Ｒ……基準
抵抗、Rx……サーミスタ（測温抵抗体）、Ｃ……
コンデンサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 基準抵抗と測温抵抗体とに切換接続できる発
振器と、前記発振器の発振周波数をカウントする
カウンターと、前記カウンターが所定数までカウ
ントする時間を測定する計時手段と、特定データ
が予め記憶された記憶回路と、前記発振器に基準
抵抗を接続して前記計時手段が測定した時間に等
しい時間内に前記測温抵抗体を接続した発振器の
発振周波数を前記カウンターでカウントし、その
カウント数Ｃから前記記憶回路の特定データを読
み出し所定の演算により前記測温抵抗体の検知し
た温度を算出する算出手段と、前記算出手段の温
度数値若しくはそれに相関する数値を表示する表
示手段とを具備する温度計において、 上記記憶回路は１ビツトデータ即ちアドレスｍ
（ｍ＝ｌ、ｌ＋１、ｌ＋２、…：ｌは１以上の整
数）において、発振周波数Ｆと温度Ｔの関係式Ｔ
＝ｆ(F)を用いたところのTm＝ｆ（ｍ）より与え
られる温度Tmの特定変換数値Tm′がTm′-1と等
しい場合は“０”（若しくは“１”）を、そうでな
い場合は“１”（若しくは“０”）が書き込まれた
メモリで構成され、 上記所定の演算は設定された初期値に前記記憶
回路の特定アドレスＡ（ｍのいずれかの整数）か
ら上記カウント数Ｃに対応するアドレスＢ（ｍの
いずれかの整数）までのデータ“１”（若しくは
“０”）の数を加算する演算であることを特徴とす
る温度計。 ２ 測温抵抗体の接続された発振器と、前記発振
器の発振周波数をカウントするカウンターと、時
間幅を設定する時間設定手段と、特定データが予
め記憶された記憶回路と、前記時間設定手段の設
定時間幅に等しい時間内に前記測温抵抗体の接続
された発振器の発振周波数を前記カウンターでカ
ウントし、そのカウント数Ｃから前記記憶回路の
特定データを読み出し所定の演算により前記測温
抵抗体の検知した温度を算出する算出手段と、前
記算出手段の温度数値若しくはそれに相関する数
値を表示する表示手段を具備する温度計におい
て、 上記記憶回路は１ビツトデータ即ちアドレスｍ
（ｍ＝ｌ、ｌ＋１、ｌ＋２、…：ｌは１以上の整
数）において、発振周波数Ｆと温度Ｔの関係式Ｔ
＝ｆ(F)を用いたところのTm＝ｆ（ｍ）より与え
られる温度Tmの特定変換数値Tm′がTm′-1と等
しい場合は“０”（若しくは“１”）が、そうでな
い場合は“１”（若しくは“０”）が書き込まれた
メモリで構成され、 上記所定の演算は設定された初期値に前記記憶
回路の特定アドレスＡ（ｍのいずれかの整数）か
ら上記カウント数Ｃに対応するアドレスＢ（ｍの
いずれかの整数）までのデータ“１”（若しくは
“０”）の数を加算する演算であることを特徴とす
る温度計。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58140055A JPS6029624A (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 温度計 |
| US06/634,421 US4644481A (en) | 1983-07-28 | 1984-07-26 | Electronic thermometer |
| GB08419163A GB2144226B (en) | 1983-07-28 | 1984-07-27 | Electronic thermometers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58140055A JPS6029624A (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 温度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6029624A JPS6029624A (ja) | 1985-02-15 |
| JPH0143252B2 true JPH0143252B2 (ja) | 1989-09-19 |
Family
ID=15259933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58140055A Granted JPS6029624A (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 温度計 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4644481A (ja) |
| JP (1) | JPS6029624A (ja) |
| GB (1) | GB2144226B (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007135864A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Terumo Corp | 氷枕及びその温度モニタ |
| JP2007135866A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Terumo Corp | 体温測定装置 |
| JP2007229074A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Terumo Corp | 介護施設および／または在宅における監視装置 |
| JP2007229075A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Terumo Corp | 乳幼児健康管理装置 |
| JP2007229076A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Terumo Corp | 乳幼児健康管理／監視装置 |
| JP2007229080A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Terumo Corp | 健康管理装置 |
| JP2007229077A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Terumo Corp | 介護施設および／または在宅における監視装置 |
| JP2007229082A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Terumo Corp | 介護施設および／または在宅における監視装置 |
| JP2007229079A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Terumo Corp | 体温測定装置 |
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|---|---|---|---|---|
| JPS6120752Y2 (ja) * | 1981-01-26 | 1986-06-21 | ||
| GB2157515B (en) * | 1984-02-01 | 1987-10-07 | Suwa Seikosha Kk | Electronic thermometer |
| JPS6144333A (ja) * | 1984-07-04 | 1986-03-04 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子温度計 |
| USH562H (en) | 1985-02-26 | 1988-12-06 | Accurate electronic thermometer | |
| JPS62254278A (ja) * | 1986-02-10 | 1987-11-06 | テキサス インスツルメンツ インコ−ポレイテツド | デ−タ記憶方法及び装置 |
| JPS62240824A (ja) * | 1986-04-11 | 1987-10-21 | Sharp Corp | 温度計 |
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-
1984
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- 1984-07-27 GB GB08419163A patent/GB2144226B/en not_active Expired
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