JPH0367209B2 - - Google Patents
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- JPH0367209B2 JPH0367209B2 JP59044521A JP4452184A JPH0367209B2 JP H0367209 B2 JPH0367209 B2 JP H0367209B2 JP 59044521 A JP59044521 A JP 59044521A JP 4452184 A JP4452184 A JP 4452184A JP H0367209 B2 JPH0367209 B2 JP H0367209B2
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- Japan
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- temperature measurement
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- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 24
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
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- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/245—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は電子的に温度を計測する温度検出装
置に関するものである。
置に関するものである。
従来の温度検出装置では温度を摂氏または華氏
のどちらで計測するかによつて、検出回路を摂氏
単位系用または華氏単位系用に交換しなければな
らなかつた。このため、摂氏単位系用と華氏単位
系用の２種類の回路を構成しなければならず、こ
れが価格の低減を計るうえで不利になつていた。
のどちらで計測するかによつて、検出回路を摂氏
単位系用または華氏単位系用に交換しなければな
らなかつた。このため、摂氏単位系用と華氏単位
系用の２種類の回路を構成しなければならず、こ
れが価格の低減を計るうえで不利になつていた。
また、一部には摂氏系または華氏系で温度を計
測し、後段の演算回路にて他方の単位系に換算す
る温度検出装置が考えられたが、この場合には演
算回路が複雑で、かつ回路規模が大きくなるた
め、価格の低減を計ることができなかつた。ま
た、この種の温度検出装置では、温度を電気的定
数の変化に変換する素子として、一般に感温抵抗
体が用いられている。しかし、所定の温度範囲で
温度係数が一定の素子を得ることは困難である。
このため、何等かの手段で温度係数を補正する必
要があるが、この補正系が従来の装置では複雑化
し、しかも多量生産するときには、その調整に長
時間を要する問題もあつた。
測し、後段の演算回路にて他方の単位系に換算す
る温度検出装置が考えられたが、この場合には演
算回路が複雑で、かつ回路規模が大きくなるた
め、価格の低減を計ることができなかつた。ま
た、この種の温度検出装置では、温度を電気的定
数の変化に変換する素子として、一般に感温抵抗
体が用いられている。しかし、所定の温度範囲で
温度係数が一定の素子を得ることは困難である。
このため、何等かの手段で温度係数を補正する必
要があるが、この補正系が従来の装置では複雑化
し、しかも多量生産するときには、その調整に長
時間を要する問題もあつた。
この発明は上記の問題点を解決するためになさ
れたもので、回路構成を簡略化して価格の低減を
計り得、しかも素子に特性の違いやバラツキがあ
つても、その調整を容易に行え、生産性の向上に
も寄与できる温度検出装置を提供することを目的
とする。
れたもので、回路構成を簡略化して価格の低減を
計り得、しかも素子に特性の違いやバラツキがあ
つても、その調整を容易に行え、生産性の向上に
も寄与できる温度検出装置を提供することを目的
とする。
本発明に係る温度検出装置は、被検出温度に応
じて抵抗値が変化する感温抵抗体と、温度変化に
対して安定な基準抵抗体と、この基準抵抗体およ
び前記感温抵抗体のいずれか一方が時定数回路に
接続されて発振する測温発振器と、前記感温抵抗
体の温度係数を調整するために前記時定数回路に
挿設された補正用抵抗体と、前記測温発振器の発
振出力をカウントする測温カウンタと、摂氏温度
で検出するときに必要なプリセツト値がセツトさ
れた摂氏用プリセツトレジスタと、華氏温度で検
出するときに必要なプリセツト値がセツトされた
華氏用プリセツトレジスタと、これらレジスタの
いずれか一方のレジスタにセツトされているプリ
セツト値を前記測温カウンタにセツトする切換手
段と、一定期間だけ前記感温抵抗体を前記時定数
回路に挿設して前記測温発振器を発振させるとと
もに上記期間内は前記測温カウンタにカウントア
ツプ動作を行わせ、引続いて上記期間と同一期間
だけ前記基準抵抗体を上記時定数回路に挿設して
上記測温発振器を発振させるとともに上記期間内
は上記測温カウンタにカウントダウン動作を行わ
せる手段と、この手段によつて上記一連のカウン
ト動作が終了した後に前記測温カウンタのカウン
ト値を温度値として表示する表示回路とを具備し
てなることを特徴としている。
じて抵抗値が変化する感温抵抗体と、温度変化に
対して安定な基準抵抗体と、この基準抵抗体およ
び前記感温抵抗体のいずれか一方が時定数回路に
接続されて発振する測温発振器と、前記感温抵抗
体の温度係数を調整するために前記時定数回路に
挿設された補正用抵抗体と、前記測温発振器の発
振出力をカウントする測温カウンタと、摂氏温度
で検出するときに必要なプリセツト値がセツトさ
れた摂氏用プリセツトレジスタと、華氏温度で検
出するときに必要なプリセツト値がセツトされた
華氏用プリセツトレジスタと、これらレジスタの
いずれか一方のレジスタにセツトされているプリ
セツト値を前記測温カウンタにセツトする切換手
段と、一定期間だけ前記感温抵抗体を前記時定数
回路に挿設して前記測温発振器を発振させるとと
もに上記期間内は前記測温カウンタにカウントア
ツプ動作を行わせ、引続いて上記期間と同一期間
だけ前記基準抵抗体を上記時定数回路に挿設して
上記測温発振器を発振させるとともに上記期間内
は上記測温カウンタにカウントダウン動作を行わ
せる手段と、この手段によつて上記一連のカウン
ト動作が終了した後に前記測温カウンタのカウン
ト値を温度値として表示する表示回路とを具備し
てなることを特徴としている。
この発明によれば、摂氏用プリセツトレジスタ
および華氏用プリセツトレジスタの一方を任意に
選択することにより、同一回路構成を摂氏系もし
くは華氏系として使用することができるととも
に、回路構成を簡略化して価格の低減を計ること
ができる。また、時定数回路に感温抵抗体の温度
係数を調整するための補正用抵抗体を挿設してい
るので、この補正用抵抗体を使つて、感温抵抗体
の温度係数特性を補正でき、感温抵抗体に特性の
違いやバラツキがあつても、その調整を容易に行
えるので生産性の向上を計ることができる。
および華氏用プリセツトレジスタの一方を任意に
選択することにより、同一回路構成を摂氏系もし
くは華氏系として使用することができるととも
に、回路構成を簡略化して価格の低減を計ること
ができる。また、時定数回路に感温抵抗体の温度
係数を調整するための補正用抵抗体を挿設してい
るので、この補正用抵抗体を使つて、感温抵抗体
の温度係数特性を補正でき、感温抵抗体に特性の
違いやバラツキがあつても、その調整を容易に行
えるので生産性の向上を計ることができる。
以下、図面を参照してこの発明の一実施例を説
明する。
明する。
第１図において１は温度により線形的に変化す
る感温抵抗２と温度係数が比較的小さい基準抵抗
３とを切換接続するスイツチである。このスイツ
チ１はステツプコントローラ４の発振切換信号S1
によつて感温抵抗側または基準抵抗側に切換え接
続され、これにより感温抵抗２、基準抵抗３の一
方は補正抵抗５、コンデンサ６を介して測温発振
回路７に接続される。
る感温抵抗２と温度係数が比較的小さい基準抵抗
３とを切換接続するスイツチである。このスイツ
チ１はステツプコントローラ４の発振切換信号S1
によつて感温抵抗側または基準抵抗側に切換え接
続され、これにより感温抵抗２、基準抵抗３の一
方は補正抵抗５、コンデンサ６を介して測温発振
回路７に接続される。
上記スイツチ１が感温抵抗側に切換えられる
と、測温発振回路７は感温抵抗２、補正抵抗５、
コンデンサ６の時定数によつて発振（このときの
発振周波数をfxとする。）する。この出力信号S2
は測温カウンタ８に送られる。これにともない、
測温カウンタ８はステツプコントローラ４のカウ
ントアツプ信号S3によりアツプカウンタに切換え
られここで発振周波数fxをカウントアツプする。
と、測温発振回路７は感温抵抗２、補正抵抗５、
コンデンサ６の時定数によつて発振（このときの
発振周波数をfxとする。）する。この出力信号S2
は測温カウンタ８に送られる。これにともない、
測温カウンタ８はステツプコントローラ４のカウ
ントアツプ信号S3によりアツプカウンタに切換え
られここで発振周波数fxをカウントアツプする。
次に、一定時間経過後にステツプコントローラ
４の発振切換信号S1によりスイツチ１が基準抵抗
側に切換えられる。これにより、測温発振回路７
は基準抵抗３、補正抵抗５、コンデンサ６の時定
数によつて発振（このときの発振周波数をfsとす
る。）する。この出力信号S2′は上述と同様に測温
カウンタ８に送られる。これにともない、測温カ
ウンタ８はステツプコントローラ４のカウントダ
ウン信号S4によりダウンカウンタに切換えられ
る。測温カウンタ８は第２図実線に示すように発
振周波数fxをカウントアツプした時間t1と同じ時
間t1′だけ発振周波数fsをカウントダウンする。そ
の後、ステツプコントローラ４のラツチ信号S5に
より測温カウンタ８の内容THはラツチ回路９に
ラツチされ、所定周期毎に表示回路１０に表示さ
れる。
４の発振切換信号S1によりスイツチ１が基準抵抗
側に切換えられる。これにより、測温発振回路７
は基準抵抗３、補正抵抗５、コンデンサ６の時定
数によつて発振（このときの発振周波数をfsとす
る。）する。この出力信号S2′は上述と同様に測温
カウンタ８に送られる。これにともない、測温カ
ウンタ８はステツプコントローラ４のカウントダ
ウン信号S4によりダウンカウンタに切換えられ
る。測温カウンタ８は第２図実線に示すように発
振周波数fxをカウントアツプした時間t1と同じ時
間t1′だけ発振周波数fsをカウントダウンする。そ
の後、ステツプコントローラ４のラツチ信号S5に
より測温カウンタ８の内容THはラツチ回路９に
ラツチされ、所定周期毎に表示回路１０に表示さ
れる。
測温カウンタ８には単位系選択スイツチ１１を
開閉することにより、摂氏用プリセツトレジスタ
１２または華氏用プリセツトレジスタ１３の内容
がプリセツトされ、摂氏または華氏のいずれかの
単位系に選択される。例えば、図に示すように選
択スイツチ１１を開いた状態にすると、ゲート１
４の入力が「０」レベルに保持されるためにゲー
ト１４の出力は「１」となり、摂氏用プリセツト
レジスタ１２の内容が測温カウンタ８にプリセツ
トされる。逆に、選択スイツチ１１を閉じること
により、華氏用プリセツトレジスタ１３の内容が
測温カウンタ８にプリセツトされる。各プリセツ
トレジスタ１２，１３にはそれぞれの単位系の基
準温度Taの値が記憶されている。
開閉することにより、摂氏用プリセツトレジスタ
１２または華氏用プリセツトレジスタ１３の内容
がプリセツトされ、摂氏または華氏のいずれかの
単位系に選択される。例えば、図に示すように選
択スイツチ１１を開いた状態にすると、ゲート１
４の入力が「０」レベルに保持されるためにゲー
ト１４の出力は「１」となり、摂氏用プリセツト
レジスタ１２の内容が測温カウンタ８にプリセツ
トされる。逆に、選択スイツチ１１を閉じること
により、華氏用プリセツトレジスタ１３の内容が
測温カウンタ８にプリセツトされる。各プリセツ
トレジスタ１２，１３にはそれぞれの単位系の基
準温度Taの値が記憶されている。
華氏の温度Ｔ（〓）は摂氏の温度Ｔ（℃）とする
と次式によつて表わすことができる。
と次式によつて表わすことができる。
Ｔ（〓）＝Ｔ（℃）×1.8＋32
このことから、華氏用プリセツトレジスタ１３の
内容は摂氏用プリセツトレジスタ１１の内容を
1.8倍にし、かつそれに32を加算した値にすれば
よい。ここで、本実施例に係る温度検出装置の計
測原理をさらに詳しく説明する。
内容は摂氏用プリセツトレジスタ１１の内容を
1.8倍にし、かつそれに32を加算した値にすれば
よい。ここで、本実施例に係る温度検出装置の計
測原理をさらに詳しく説明する。
今、感温抵抗２の温度係数をαとし、基準温度
をTaとし、感温抵抗２側に切換えられたときの
測温発振回路７の発振周波数をfxとし、基準抵抗
３側に切換えられたときの測温発振回路７の発振
周波数をfsとし、被検出温度をＴとしたとき、fx
とfsとの間には次の関係が成立する。
をTaとし、感温抵抗２側に切換えられたときの
測温発振回路７の発振周波数をfxとし、基準抵抗
３側に切換えられたときの測温発振回路７の発振
周波数をfsとし、被検出温度をＴとしたとき、fx
とfsとの間には次の関係が成立する。
fx＝fs｛１＋α（Ｔ−Ta）｝ …(1)
この(1)式からＴを算出すると、
Ｔ＝Ta＋（１／αfs）（fx−fs）
＝（１／αfs）（αfsTa＋fx−fs） …(2)
となる。
本実施例装置では、(2)式における、（１／αfs）
を固定係数とし、αfsTaをプリセツト値とし、fx
をカウントアツプ値とし、fsをカウントダウン値
としているのである。したがつて、プリセツト値
を切換えることによつて摂氏系、華氏系で測定す
ることができるのである。そして、αの不均一性
を後述するように補正抵抗５で補正するようにし
ている。
を固定係数とし、αfsTaをプリセツト値とし、fx
をカウントアツプ値とし、fsをカウントダウン値
としているのである。したがつて、プリセツト値
を切換えることによつて摂氏系、華氏系で測定す
ることができるのである。そして、αの不均一性
を後述するように補正抵抗５で補正するようにし
ている。
次に、製造過程において温度調整を行なう場合
について説明する。まず、基準温度Taにおいて
基準抵抗３を感温抵抗２と等しい値になるように
調整する。このとき、第２図破線で示すように測
温発振回路７の発振周波数fxとfsとの差がゼロに
なるので、最初に測温カウンタ８にプリセツトさ
れた値（各単位系の基準温度Ta）が表示される。
この後、基準温度Taより離れた温度THにおい
て、表示回路１０の表示がTHになるように補正
抵抗５を調整する。このように補正抵抗５を可変
することにより、温度係数を補正することができ
る。すなわち、温度係数を可変することにより、
測温発振回路７の発振周波数fxを可変することが
できるため、各単位系における感度の補正を行な
うことができる。なお、補正抵抗５を可変するこ
とにより、発振周波数fsも同様に変化するが、補
正抵抗５が感温抵抗２と基準抵抗３に直列に接続
されているために、基準温度Taにおいては感温
抵抗２と基準抵抗３の抵抗値が等しくなり、測温
発振回路７の発振周波数fxならびにfsは等しい値
になる。したがつて、基準温度Taにおいては第
２図破線で示すように発振周波数fxをカウントア
ツプした時間Ｔと同じ時間T′だけ発振周波数fsを
カウントダウンすると、その差がゼロになる。
について説明する。まず、基準温度Taにおいて
基準抵抗３を感温抵抗２と等しい値になるように
調整する。このとき、第２図破線で示すように測
温発振回路７の発振周波数fxとfsとの差がゼロに
なるので、最初に測温カウンタ８にプリセツトさ
れた値（各単位系の基準温度Ta）が表示される。
この後、基準温度Taより離れた温度THにおい
て、表示回路１０の表示がTHになるように補正
抵抗５を調整する。このように補正抵抗５を可変
することにより、温度係数を補正することができ
る。すなわち、温度係数を可変することにより、
測温発振回路７の発振周波数fxを可変することが
できるため、各単位系における感度の補正を行な
うことができる。なお、補正抵抗５を可変するこ
とにより、発振周波数fsも同様に変化するが、補
正抵抗５が感温抵抗２と基準抵抗３に直列に接続
されているために、基準温度Taにおいては感温
抵抗２と基準抵抗３の抵抗値が等しくなり、測温
発振回路７の発振周波数fxならびにfsは等しい値
になる。したがつて、基準温度Taにおいては第
２図破線で示すように発振周波数fxをカウントア
ツプした時間Ｔと同じ時間T′だけ発振周波数fsを
カウントダウンすると、その差がゼロになる。
したがつて、このような構成によれば、単位系
選択スイツチ１１を開閉するだけで摂氏用プリセ
ツトレジスタ１２と華氏用プリセツトレジスタ１
３を任意に選択することができるとともに、従来
のように複雑な演算回路を必要とせず回路構成を
簡略化して価格の低減を計ることができる。
選択スイツチ１１を開閉するだけで摂氏用プリセ
ツトレジスタ１２と華氏用プリセツトレジスタ１
３を任意に選択することができるとともに、従来
のように複雑な演算回路を必要とせず回路構成を
簡略化して価格の低減を計ることができる。
また、感温抵抗２と基準抵抗３に補正抵抗５を
直列に接続することにより、感温抵抗２の温度係
数を補正すると同時に摂氏、華氏の単位系の補正
を行なうことができるため、製造過程における温
度調整作業効率を向上させることができる。
直列に接続することにより、感温抵抗２の温度係
数を補正すると同時に摂氏、華氏の単位系の補正
を行なうことができるため、製造過程における温
度調整作業効率を向上させることができる。
特にこの実施例を価格が問題となる電子体温計
に適用させた場合には、一本の体温計で摂氏およ
び華氏の単位系を使う必要がないので、同一回路
構成を摂氏または華氏の単位系の一方に設定して
おくことができる。このため、温度調整時に一方
の単位系を予じめ選択しておくことにより、その
分温度調整作業を簡素化して価格の低減を計るこ
とができる利点がある。
に適用させた場合には、一本の体温計で摂氏およ
び華氏の単位系を使う必要がないので、同一回路
構成を摂氏または華氏の単位系の一方に設定して
おくことができる。このため、温度調整時に一方
の単位系を予じめ選択しておくことにより、その
分温度調整作業を簡素化して価格の低減を計るこ
とができる利点がある。
なお、この発明は上記実施例に限定されるもの
ではなく、要旨を変更しない範囲において種々変
形して実施することができる。
ではなく、要旨を変更しない範囲において種々変
形して実施することができる。
例えば、上記実施例においては単位系選択スイ
ツチを開閉して回路構成を摂氏系または華氏系に
選択したが、この発明はこれに限定されるもので
はなく、単位系選択スイツチに換えて一対の端子
を設け、この端子間を製造工程において選択的に
短絡させることにより同一回路構成を摂氏系また
は華氏系に選択することもできる。
ツチを開閉して回路構成を摂氏系または華氏系に
選択したが、この発明はこれに限定されるもので
はなく、単位系選択スイツチに換えて一対の端子
を設け、この端子間を製造工程において選択的に
短絡させることにより同一回路構成を摂氏系また
は華氏系に選択することもできる。
第１図はこの発明の一実施例の概略的な回路構
成を示すブロツク図、第２図は同実施例の測温カ
ウンタの動作説明図である。 １……スイツチ、２……感温抵抗、３……基準
抵抗、４……ステツプコントローラ、５……補正
抵抗、６……コンデンサ、７……測温発振回路、
８……測温カウンタ、９……ラツチ回路、１０…
…表示回路、１１……単位系選択スイツチ、１２
……摂氏用プリセツトレジスタ、１３……華氏用
プリセツトレジスタ、１４……ゲート。
成を示すブロツク図、第２図は同実施例の測温カ
ウンタの動作説明図である。 １……スイツチ、２……感温抵抗、３……基準
抵抗、４……ステツプコントローラ、５……補正
抵抗、６……コンデンサ、７……測温発振回路、
８……測温カウンタ、９……ラツチ回路、１０…
…表示回路、１１……単位系選択スイツチ、１２
……摂氏用プリセツトレジスタ、１３……華氏用
プリセツトレジスタ、１４……ゲート。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検出温度に応じて抵抗値が変化する感温抵
抗体と、温度変化に対して安定な基準抵抗体と、
この基準抵抗体および前記感温抵抗体のいずれか
一方が時定数回路に接続されて発振する測温発振
器と、前記感温抵抗体の温度係数を調整するため
に前記時定数回路に挿設された補正用抵抗体と、
前記測温発振器の発振出力をカウントする測温カ
ウンタと、摂氏温度で検出するときに必要なプリ
セツト値がセツトされた摂氏用プリセツトレジス
タと、華氏温度で検出するときに必要なプリセツ
ト値がセツトされた華氏用プリセツトレジスタ
と、これらレジスタのいずれか一方のレジスタに
セツトされているプリセツト値を前記測温カウン
タにセツトする切換手段と、一定期間だけ前記感
温抵抗体を前記時定数回路に挿設して前記測温発
振器を発振させるとともに上記期間内は前記測温
カウンタにカウントアツプ動作を行わせ、引続い
て上記期間と同一期間だけ前記基準抵抗体を上記
時定数回路に挿設して上記測温発振器を発振させ
るとともに上記期間内は上記測温カウンタにカウ
ントダウン動作を行わせる手段と、この手段によ
つて上記一連のカウント動作が終了した後に前記
測温カウンタのカウント値を温度値として表示す
る表示回路とを具備してなることを特徴とする温
度検出装置。 ２ 前記切換手段は、スイツチで構成されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の
温度検出装置。 ３ 前記切換手段は、選択的に短絡される一対の
端子で構成されていることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の温度検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4452184A JPS60187833A (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | 温度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4452184A JPS60187833A (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | 温度検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60187833A JPS60187833A (ja) | 1985-09-25 |
| JPH0367209B2 true JPH0367209B2 (ja) | 1991-10-22 |
Family
ID=12693836
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4452184A Granted JPS60187833A (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | 温度検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60187833A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4783175A (en) * | 1986-01-31 | 1988-11-08 | Hideo Sugimori | Temperature measuring apparatus capable of displaying measured temperatures in different temperature scales |
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Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS5835430A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 温度検出回路 |
-
1984
- 1984-03-08 JP JP4452184A patent/JPS60187833A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5835430A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 温度検出回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60187833A (ja) | 1985-09-25 |
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