JPS63177029A

JPS63177029A - 電子体温計

Info

Publication number: JPS63177029A
Application number: JP62008119A
Authority: JP
Inventors: Yasuhiro Yoshinaka; 吉中　康浩
Original assignee: Terumo Corp
Current assignee: Terumo Corp
Priority date: 1987-01-19
Filing date: 1987-01-19
Publication date: 1988-07-21

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は電子体温計に関し、特に感温センサ部（プロー
ブ）を分離交換可能な電子体温計に関する。

［従来の技術］従来、この種の電子体温計では感温センサ部（例えばサ
ーミスタ）の緒特性を合せるのが困難であり、このため
に本体側を調整し又は複雑にする必要があった。従って
、感温センサ部のディスポーザブル化は現実問題として
困難とされていた。

この点、特開昭６１−２４３３３４号の発明は温度発振
回路（温度検出部）を構成するサーミスタとコンデンサ
およびインバータをプローブ部に内蔵させたセパレート
型電子体温計を提案している。しかし、これによるとプ
ローブ部が大きくなってプローブ形状に制約を受ける。

またプローブ部の温度発振回路には電源を供給しなくて
はならないから、ケーブルが太くなり、コストアップす
る。またプローブ毎に温度発振回路と基準発振回路全体
の特性を調整しなくてはならないから、製造困難である
。

［発明が解決しようとする問題点］本発明は上述した従来技術の欠点を除去するものであり
、その目的とする所は、感温センサ部を小型かつディス
ポーザブル化し、どの感温センサ部を使用しても何らの
調整の必要がなく、高精度、高安定度の温度計測が行え
る電子体温計を提供することにある。

本発明の他の目的は、温度変換テーブルを標準化し、こ
れに感温センサ部の特性を簡単な方法で合せることによ
り、製造容易な電子体温計を提供することにある。

［問題点を解決するための手段コ本発明の電子体温計は上記の目的を達成するために、基
準感温素子使用の下に温度値及び該温度値と所定の関係
にあるデジタル値との相関テーブルを作成し、これをメ
モリに記憶した標準テーブル手段と、前記基準感温素子
に対してその形状定数を所定範囲内に厳選した感温素子
、該感温素子の基準温度における抵抗値との比が一定な
抵抗値を有しかつその抵抗値が温度によりほとんど変化
しない基準抵抗体を含む感温センサと、該感温センナを
交換可能に接続するケーブル手段と、前記感温センサか
らのアナログ量に応じて発振周波数を変える発振手段と
、前記発振手段の発振数を所定時間計数する計数手段と
、前記計数手段の計数値で前記標準テーブル手段を参照
し、対応する温度値を読み出す読出手段と、前記読出手
段が読み出した温度値を表示する表示手段を備えること
をその概要とする。

また好ましくは、基準抵抗体は感温素子の基準温度にお
ける抵抗値との比が１対１の抵抗値を有することをその
一態様とする。

また好ましくは、感温素子はサーミスタであることをそ
の一態様とする。

また好ましくは、発振手段はケーブル手段の電気的パラ
メータを補償したものであることをその一態様とする。

［実施例］以下、添付図面に従って本発明の実施例を詳細に説明す
る。

第４図は実施例の電子体温計の外観斜視図である。図に
おいて、１は電子体温計の本体を示しており、該本体１
の外観部には電源スィッチ２と、温度を表示する液晶デ
ィスプレイ３と、プローブケーブルの巻き取り用スイッ
チ６と、引き出し自在に設けられたプローブケーブル５
が示されている。そして、４は交換可能な感温センサ部
（プローブ）である。このケーブル５の先端には、図示
せぬコネクタ部が設けられており、使用目的に応じ、こ
のコネクタ部には口中検温プローブ、直腸検温プローブ
、表面検温プローブ等を交換して接続できる。

第１図は実施例の電子体温計のブロック構成図である。

図において、プローブ４は測温抵抗体（サーミスタ）Ｒ
ｔｈとトリミングした基準抵抗Ｒ１を含んでおり、該サ
ーミスタＲｔｈと基準抵抗Ｒ３は所定長の巻き取りケー
ブル５を介し、図示のような配線で本体１の発振回路１
５に接続されている。

本体１において、発掘回路１５は２つのＣ−ＭＯＳイン
バータ■と、コンデンサＣと、ＣＰＵからの制御信号に
より基準抵抗Ｒ１又はサーミスタＲｔｈを発振回路に切
替接続するアナログｓｗと、Ｃ−ＭＯＳインバータ■の
保護抵抗Ｒとから成っており、その発振回路特性は所定
長の巻き取りケーブル５の電気的パラメータも含めて決
定（補償）されている。

また発振回路１５は、次に述べる構成と共に高精度なＡ
／Ｄ変換回路を構成している。即ち、Ａ／Ｄ変換回路は
、一定の周波数ｆ、（例えばＩＭＨ２）で発振する基準
クロック発掘器１８と、発振回路１５に基準抵抗Ｒヨを
接続したときに生ずるパルス列ｆ、を所定数Ｎ１だけ計
数するカウンタ（ＣＴ）１６と、該ＣＴ１６が所定数Ｎ
１を計数している時間Ｔだけ基準クロック発掘器１８の
生ずる基準パルス列ｆ０を計数（ＵＰカウント）し、次
に同一の基準パルス列ｆ０をその計数値がＯになるまで
逆計数（ＤＯＷＮカウント）するアップダウンカウンタ
（Ｕ／ＤＣＴ）１９と、該Ｕ／ＤＣＴ１９が前記の０ま
で逆計数している時間（前記Ｔに等しい）だけ前記発振
回路１５にサーミスタＲｔｈを接続したときに生ずるパ
ルス列ｆｔｈを計数する前記カウンタ１６を含んでいる
。

このようなＡ／Ｄ変換回路を制御するのはセントラルブ
ロセッシングユニット（ＣＰＵ）１１であり、該ＣＰＵ
ＩＩは、基準パルス列ｆ０をカウンタ２０で分周した結
果の、例えば１秒周期のタイマ割込信号ＴＩＳによって
毎回の温度測定制御を行う、即ち、ＲＯＭ１２に格納し
ている、例えば第２図（Ａ）、（Ｂ）及び第３図示すよ
うな温度測定処理を実行する。その際に、ＲＡＭ１３は
測定した温度データ及びその他の計測処理に必要なデー
タを一時的に記憶する。またＲＡＭ１３は電源ＯＦＦ時
にも給電されており、前回の使用で測定した最終の体温
データを保持している。またＲＯＭ１２は基準感温素子
（サーミスタ）使用の下に作成した温度値及び該温度値
と所定の関係にあるデジタル値との相関テーブルを記憶
している。

また、１４はＬＣＤ表示器３のドライバ回路であり、２
１は電源スィッチ２を押すことにより給電を開始し、ｃ
ｐｔｚｔによって給電を停止できるバッテリ回路である
。

かかる構成において、温度測定がなされる原理を以下に
説明する。

第１図において、発振回路１５のアナログスイッチＳＷ
を基準抵抗Ｒ１側に接続すると、このときの発振周波数
ｆ、はｋを比例定数として、ｆ、＝１／ｋＣＲ，・・・
（１）で与えられる。この発振周波数ｆ１は温度変化に対して
ほとんど変動しない。同様にして、アナ口□　グスイッ
チＳＷをサーミスタ抵抗値側に接続すると、このときの
発振周波数ｆｔｈは、ｆ　ｔｈ＝　１　／　ｋ　ＣＲｔｈ　　　　　　・・・
（２）で与えられる。

ところで、一般にサーミスタＲｔｈの温度−抵抗特性は
次式によって与えられる。

Ｒｔｈ＝Ｒｏｅｘｐ　　（Ｂ　（１／Ｔｔ　　１／Ｔｏ
）　）・・・（３）ここで、Ｒｏ　：基準温度Ｔ。におけるサーミスタ抵抗値Ｒｔｈ
　：ある温度Ｔｔにおけるサーミスタ抵抗値Ｂ　：サー
ミスタのＢ定数である。

以上からして、発振回路１５にサーミスタＲｔｈを接続
した場合は、もし温度変化によってサーミスタＲｔｈの
感温抵抗値が変化していると、これに対応して発振周波
数ｆｔｈが変化し、この発振回路１５から生ずるパルス
列ｆｔｈを仮に一定値に制御されたゲート時間幅Ｔｃだ
け計数すれば、そのカウント値Ｎｔｈは次式によって変
化する。

Ｎ　ｔｈ−Ｔ　ｃ／　ｋ　ＣＲｔｈ　　　　　・・・（
４）また基準温度Ｔ０におけるカウント値Ｎ０を、Ｎ、
＝Ｔｃ／ｋＣＲ，・　（５）とすれば、ある温度Ｔｔにおけるカウント値１’Ｊｔｈ
の一般式は、Ｎｔｈ＝Ｎｏ　　ｅＸｐ　　（−Ｂ　　（１／Ｔｔ−１
／Ｔｏ））・・・　（６）で与えられる。従って、予め高い精度で制御されている
温度環境下において、基準温度Ｔ０におけるカウント値
Ｎ０を知っておけば、それだけである温度値Ｔ、におい
てカウンタが計数すべきカウント値１’Ｊｔｈは（６）
式によって一義的に定まる。

よって、逆にある温度の測定時に、単にその時点のカウ
ント値Ｎｔｈを得るだけで直ちに被測定温度Ｔｔを得る
ことの可能な体温計を構成できるのであるが、このまま
、つまり前記ゲート時間幅Ｔｅを常に一定値に制御した
のでは、発振回路周辺の温度変化に対して各Ｃ−ＭＯＳ
インバータ■のスレッシュホルド電圧およびコンデンサ
Ｃの容量等も同時に変化するから、これによる発振周波
数ｆｔｈの変動がカウント値８ｔｈの変動となって現わ
れる。そして、もはやこの値Ｎ　ｔｈ’　はサーミスタ
Ｒｔｈだけの温度特性に依存するものではなくなってし
まう。

そこで、実施例のＡ／Ｄ変換回路は以下に述べる方法に
よって可変に制御するゲート時間幅Ｔ。

を得ている。先ず発振回路１５に基準抵抗体Ｒ８を接続
して生ずるパルス列ｆ、が常に一定のカウント値Ｎ１ま
で計数されるに要するゲート時間幅Ｔｏを求め、次にこ
れと同一のゲート時間幅Ｔ。

たけ前記発振回路１５にサーミスタＲｔｈを接続して生
ずるパルス列ｆｔｈを計数してそのカウント値Ｎ２を得
る。よって２つのカウント値Ｎ、、Ｎ２と同一ゲート時
間幅Ｔａの間には、Ｔｏ　＝Ｎｚ／　ｆ、＝Ｎ２／ｆｔｈ・・・（７）が成り立ち、かつ２つのカウント値Ｎｉ、Ｎ２の間には
、Ｎ２　＝　（ｆｔｈ／ｆｓ　）Ｎｌ　　　・・・（８）
が成り立つ。ここで、カウント値Ｎ２は発振回路１５に
サーミスタＲｔｈを接続してゲート時間幅Ｔｏのあいだ
計数したものであるから、Ｎ２　＝Ｔａ　／ｋＣＲｔｈ
　　　　　−（９）及び基準温度Ｔ０におけるカウント
値Ｎ２０は、Ｎ２゜＝ＴＧ／ｋＣＲ，・・・（１０）に
よって与えられる。よって、ある温度Ｔｔにおいて計数
したカウント値Ｎ２はカウント値Ｎ１を所定数としてか
つ前記２度の計数動作において生ずる２つの発振周波数
ｆ−，ｆｔｈの比に比例した値を持つものとなる。

今、仮に温度変化によって２つの発振周波数ｆ、、ｆｔ
ｈが夫々ｆ　−’　、ｆｔｈ’　に変化したとじても、
両者は同じ温度変化によって特性の変化した共通なＣ−
ＭＯＳインバータＩ′　とコンデンサＣ′等を用いて発
振したものであるから、そのカウント値Ｎ２′は、Ｎ２　’　＝　（ｆｔｈ’　／ｆ＊　’　）Ｎｌ”　（
ｆ　ｔｈ／　ｆ　＊　）　Ｎ　１＝Ｎ、　　　　　　　
　・・・（１１）となって常に正しく再現性の良いカウ
ント値Ｎ２になる。

この方法によれば、基準抵抗Ｒ１とサーミスタＦｔｔｈ
を除く全ての回路構成においては、その回路特性に緩や
かな経時変動や熱変動があっても、カウント値Ｎ２にお
いては相殺されるという効果を発揮し、よって常に高精
度、高安定な電子体温計を提供で咎る。そして、もし基
準抵抗Ｒ３の値を基準温度Ｔ０の時のサーミスタＲｔｈ
の抵抗値Ｒｔｈａに比較的近いものとなるようにトリミ
ングすれば、上記のカウント値Ｎ２゜をカウント値Ｎ。

で置き替えることができ、装置が簡単になる。

しかし、一般にはプローブ４のサーミスタＲｔｈが異な
ればその基準温度Ｔ０の時の抵抗値Ｒｔｈ。

も異なるから、それに応じて基準抵抗Ｒ１の抵抗値も変
えなくてはならないことになる。即ち、従来は、現実問
題としてプローブを交換することが極めて困難であった
訳である。そこで、本発明では交換するプローブ毎にト
リミングをした基準抵抗Ｒ８を備えている。このために
、体温計の本体１側では常にカウント値Ｎ２゜をカウン
ト値Ｎ、で置ぎ替えたものとして扱えるのである。

第２図（Ａ）及び（Ｂ）は実施例の電子体温計による検
温の主制御処理を示すフローチャートであり、第３図は
同じく温度測定処理を示すフローチャートである。

第２図（Ａ）において、工程Ｓ１で電源没入すると工程
Ｓ２に進み、初期処理を行う。初期処理では、例えばＬ
ＥＤ表示器３の全灯チェックを行い、次に１０秒間の間
、前回使用時の温度測定値を表示する。更に後述するエ
ラーカウンタＥＣをクリアする。工程Ｓ３では１秒に１
回のタイマ割込を可とし、工程Ｓ４に進んで待機（ＩＤ
ＬＥ）ルーチンを実行する。

第２図（Ｂ）において、タイマ割込が発生すると工程Ｓ
ｌｌに入力する。工程Ｓ１２では割込を不可とし、工程
Ｓ３０の温度測定処理を実行する。

第３図において、工程Ｓ３１ではアナログｓｗを基準抵
抗Ｒ１側に接続し、ＣＴ１６の内容をクリアし、ＣＴ１
９の内容をクリアしてＵＰＰカウントモードにセットし
、ＣＴ１６及びＣＴ１９をカウントスタートする。工程
Ｓ３２ではＣＴ１６からキャリーが発生するのを待つ。

これは前述のカウント値Ｎ、を計数する工程である。工
程Ｓ３２でＣＴｌ６から桁上り（キャリー）が発生する
と、工程３３３でＣＴ１６及びＣＴ１９のカウントをス
トップする。次に、工程Ｓ３４ではアナログＳＷをサー
ミスタＲｔｈ側に接続し、ＣＴ１６の内容をクリアし、
ＣＴ１９の内容をクリアしてＤＯＷＮカウントモードに
セットし、ＣＴ１６及びＣＴ１９をカウントスタートす
る。工程Ｓ３５ではＣＴ１９から桁下がり（ボロウ）が
発生するのを待つ。これは前述のカウント値Ｎ２を計数
する工程である。工程Ｓ３５でＣＴ１９からボロウが発
生すると、工程Ｓ３６でＣＴ１６及びＣＴｌ９のカウン
トをストップする。工程Ｓ３７ではＣＴ１６の１２ビツ
トカウント値Ｎ２のビット００〜０７をＣＰＵ１１に取
り込み、工程Ｓ３８では残りのビット０８〜１１をＣＰ
ＵＩＩに取り込む。工程Ｓ３９では取り込んだカウント
値Ｎ２について後述する温度変換を行い、工程Ｓ４０で
第２図（Ｂ）の工程Ｓ１３に戻る。

第２図（Ｂ）において、工程Ｓ１３では検出した温度が
３２６Ｃ〜４２°Ｃの範囲内にあるか否かを判別する。

この範囲内にあれば、工程Ｓ１４で温度値をＬＣＤ表示
部３に表示する。この場合は正常な表示が行なわれたの
で工程Ｓ１５でエラーカウンタＥＣをクリアする。工程
Ｓ１６では温度の上昇勾配が１０秒当り０．０５°Ｃ以
下になったか否かを判別する。そして、０．０５°Ｃ以
下でなければ工程Ｓ１８に進み、エラーカウンタＥＣの
内容が所定値Ｍに達したか否かを調べ、もし達していな
ければ第２図（Ａ）の工程Ｓ３に戻る。こうして、１秒
毎に体温を測定する。

また、工程Ｓ１６の判別が０．０５°Ｃ以下であるとき
は、はとんど温度上昇はないので、工程Ｓ１７に進み、
図示せぬブザーを鳴らし、かつ温度表示を２Ｈ２で点滅
させて、使用者に測定終了の旨を知らせる。そして計測
を停止し、この後３０秒間、表示値を保持した後、工程
Ｓ１９に進み、電源をＯＦＦする。

また、工程Ｓ１３の判別において、検出した温度が３２
°Ｃ〜４２°Ｃの範囲内にないときは工程Ｓ２０に進み
、エラー表示をする。エラー表示の態様は、例えば測定
温度が３０℃より低い時は１１−一一一”を表示し、ま
た４２℃より高い時は“−一一一”を表示し、またプロ
ーブの接続が完全でない時は“−Ｅ　−”と表示する。

工程Ｓ２１では上記のエラー状態を検知したことにより
、エラーカウンタＥＣの内容に＋１する。また、こうし
て工程８１８でエラーカウンタＥＣの内容が所定値Ｍに
達したと判別したときは、温度が異常に高いか、接触不
良の状態と考えられるので、工程Ｓ１９でＣＰＬＩＩＩ
が電源をＯＦＦする。

次にカウント値Ｎ２の温度変換について説明する。本実
施例では、カウント値Ｎ２から後述する理由によってＲ
ＯＭ１２のメモリ容量を節約するために所定値Ｎｅｏを
差し引いて、その出力値ＮＡＤをＲＯＭ１２のアドレス
ラインに送ってその番地ＮＡｏから対応する温度データ
Ｔｔを読み出し、これを表示器３にて表示する。そこで
、実施例の製造時には、かかるカウント値Ｎ２から所定
値Ｎ０゜を差し引いた値ＮＡＧによってアドレスされる
Ｒ０Ｍ１２上に、対応する正しい温度データを書込んだ
いわゆる標準ＲＯＭテーブルを記憶しておく必要がある
。

ここでは、先ずカウント値Ｎ２に着目し、所定値Ｎ０゜
を差し引いた値ＮＡＤについては後述する。

再び、前記（３）、（９）、（１０）式を用いてカウン
ト値Ｎ２と被測定温度データＴｔとの一般式を示せば次
の如くである。

Ｎ２　＝Ｎ、、　ｅｘｐ（−Ｂ　（１／Ｔｔ−１／Ｔ、
）　）・・・（１４）但し、基準温度Ｔ０におけるカウント値Ｎ２０は前記（
８）式より、Ｎｚｏ＝ｆｔｈｏ　／　ｆ＊　　・Ｎ１　　””’（１
５）で与えられる。ここで、ｆ　ｔｈｏは基準温度Ｔ０
において発振回路１５にサーミスタＲｔｈを接続したと
きの発振周波数である。

今、前記（１５）式において基準温度Ｔ０におけるカウ
ント値Ｎ２゜に着目する。この値はサーミスタＲｔｈの
基準温度Ｔ０における抵抗値Ｒｔｈｏと基準抵抗値Ｒ５
との比Ｒ−／　Ｒｔｈｏに比例している。またこのカウ
ント値Ｎ２゜は被測定温度レンジをＴ０≦Ｔｔ≦ＴＴと
するときにカラントイ直がＮ２゜≦Ｎ２≦Ｎ２Ｔ　　の
レンジで対応し、標準ＲＯＭテーブルを作成するときに
は基準温度Ｔ。に対応する基準アドレスＮ２゜どなるも
のである。

以下、この標準ＲＯＭテーブルを作成する手順について
説明する。先ず、恒温槽の温度をＴｏ。

Ｔ７の２定温度点に順次設定して、それぞれの温度にお
けるカウント値Ｎ２＝Ｎ２゜、Ｎ２＝Ｎ２？を外部に接
続されているデータ処理装置に出力する。外部のデータ
処理装置は同時に他の高精度な温度測定装置からの前記
２定温度データＴ０゜７丁を受は取るから、当該サーミ
スタのＢ定数は次式によって求められる。

この時点で外部のデータ処理装置は、今求めたＢ定数と
、前に実施例装置から入力されたカウント値Ｎ　２０＋
　Ｎ　２Ｔ　　、および前に他の高精度な温度測定装置
から人力された温度データＴ、、Ｔ、を有する。次に必
要な測定温度レンジ（例えばＴ０〜Ｔア）の区間をＴｏ
から測温精度△Ｔ（例えば０．１℃）ずつ増加させた温
度値Ｔｔに対して対応するカウント値Ｎ２の値を前記（
１４）式に従って算出する。

一般には、被測定温度レンジをＴ２〜Ｔ、として、かつ
Ｔ、＜Ｔ２　＜Ｔｓ　＜７丁なる関係において、上記デ
ータ対をＴ２〜Ｔ、までとして算出しても良い。いずれ
にしても温度データＴｔを例えばＴ。１．ＴＤ２・・・
ＴＯＮまで温度ピッチ△Ｔずつ増加してゆき、算出した
結果をＮ　Ｏｌ　＋　Ｎ　Ｄ２・・・ＮＩＩＮとすれば
、ＲＯＭテーブルのアドレスＮＤＩには温度データＴＤ
Ｉが、アドレスＮＤ２には温度データＴＯ２が・・・の
如く格納されれば良い。このとき、標準ＲＯＭテーブル
の基準アドレスＮＤＩが構成上大きな値になるので、Ｒ
ＯＭ１２のメモリ容量を節約するために前記基準アドレ
スＮＯ＋から所定値ＮＤＯ≦ＮＤＩを差し引いて値を小
さくし、これを実質的な基準アドレスＮＡＤ。とじてい
る。

以下、説明の便宜上、標準ＲＯＭテーブルの基準アドレ
スはＮ２゜とじて述べる。原理的には個々の実施例装置
について前記手順に従いＲＯＭ１２上にテーブルを作成
すれば高精度なる実施例装置の単品が製造されることに
なる。さらにＲＯＭＩ２のメモリ容量の節約、使用効率
を考えれば、作成された標準ＲＯＭテーブルが常に所定
番地から始まり、かつ所定の大きさで終る（同一規格内
容である）ことが望ましい。

しかるに、現実に人手可能なサーミスタＲｔｈはおろか
、基準抵抗Ｒ１でさえもその抵抗値にバラツキを有する
。前記（１４）、（１５）式によればこれが標準ＲＯＭ
テーブルの基準アドレスＮ２゜を変化させる原因となり
、またさらにサーミスタＲｔｈにあってはそのＢ定数に
もバラツキがあるために、この温度勾配特性（特性形状
）のバラツキにより被測定温度レンジの最大値Ｔ↑にお
けるカウント値Ｎ２Ｔ　　も変化して、これが標準ＲＯ
Ｍテーブルの大きさを左右する原因ともなる。

一方実施例装置を製造上から見れば、個々の実施例装置
の単品について前述特有の標準ＲＯＭテーブルを作成す
ることは容易でない。さらに前述した如く標準ＲＯＭテ
ーブルの基準アドレスＮ２（１は基準温度Ｔ０における
サーミスタ抵抗値Ｒｔｈｏと基準抵抗値Ｒ１どの比に依
存するから、この比を一定に保てば基準アドレスＮ、。

となる。

この盪易合・特にＲｓ＝ＲｔｈＯである必要は無しＡが
、比Ｒ−／　Ｒｔｈｏを一定に保つためには抵抗値Ｒ１
を調整して合せ込む方法（トリミング）がある。あるい
は、減算値Ｎ０゜を実施例装置の単品毎に変化させて合
せ込む方法もある。また、サーミスタのＢ定数について
は所望の測温精度を損わない範囲内でこれを厳選するこ
とも可能である。

従って、以上の点に鑑みれは、実施例装置の個々に特有
な標準ＲＯＭテーブルを作成するよりも、各種の交換可
能なプローブにおいて基準抵抗値Ｒ１を調整しておき、
かつサーミスタＲｔｈのＢ定数を厳選することによって
、測温精度を損わずに、単一規格、内容の標準ＲＯＭテ
ーブルを常に正しくアクセスするような実施例装置がむ
しろ容易に製造可能である。

こうして、本実施例の電子体温計は、所望の測温精度を
得る範囲内にＢ定数が厳選されたサーミスタＲｔｈと、
このサーミスタＩ’ｔｔｈの基準温度Ｔ０における抵抗
値を有し、かつ温度により抵抗値ののほとんど変化しな
い基準抵抗体Ｒ１を含む交換可能な複数のプローブと、
実施例装置の特定の製造サンプルにつき前記所定の手順
に従って作成した標準ＲＯＭテーブルと同一規格、内容
で複製されたＲＯＭ１２を有する。

第５図（Ａ）は直腸検温プローブの外観斜視図であり、
第５図（Ｂ）は直腸検温プローブの断面図である。第５
図（Ａ）において、４０は直腸検温プローブの本体であ
り、この中には温度により抵抗値の変化する感温抵抗体
と、温度により抵抗値の変化しない基準抵抗器が収納さ
れている。該直腸検温プローブには目盛５０とストッパ
ー５１が設けられており、ある深さまで挿入するとぎの
目安となる。また第５図（Ｂ）において、４１は感温素
子であるサーミスタ、４３はトリミング等によりその抵
抗値を設定した基準抵抗器、４２はサーミスタ４１及び
基準抵抗器４３を後述する第１図の方法で接続するリー
ド線である。

第６図（Ａ）は日中（舌下）検温プローブの外観斜視図
であり、第６図（Ｂ）は口中検温プローブの断面図であ
る。尚、同一の構成には同一・の番号を付して説明を省
略する。第６図（Ａ）において、５０は口中検温プロー
ブの本体であり、この中にも感温抵抗体４１及びトリミ
ングした基準抵抗器４３が収納されている。トリミング
抵抗はサーミスタの近くにおかれ、温度その他の環境も
双方同一とされ、極めて安定した計測が期待できる。ま
た第６図（Ｂ）において、更に、４４は熱を良好に伝達
するためのボッティング剤、４５は錆びないステンレス
で構成した部材、４６は塩化ビニール等で形成したフレ
キシブル部材である。

この構造により熱応答の早い測定ができる。

第７図（Ａ）は表面検温プローブの外観斜視図であり、
第７図（Ｂ）は表面検温プローブの断面図である。第７
図（Ａ）において、６０は表面検温プローブの本体であ
り、この中にも感温抵抗体４１及びトリミングした基準
抵抗器４３が収納されている。また第７図（Ｂ）におい
て、更に、４７は断熱性の樹脂から成る部材、４８は錆
びないステンレスで構成した板材、４９はアルミ等から
成るケース部材である。この構造により環境温と体温と
が熱的に分離され、計測したい部位の体温が測定できる
。

［発明の効果］。

以上述べた如く本発明によれば、感温センサ部にトリミ
ングした基準抵抗体を有するので、感温センサ部を小型
かつディスポーザブルにでき、そのために本体を調整し
たり、標準ＲＯＭテーブルを変更したりする必要がない
。

また、ケーブル先端で感温センサ部を交換するので、発
振回路部では予め浮遊容量等を補償でき、プローブを交
換しても常に高精度な検温が行える。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による実施例の電子体温計のブロック構
成図、第２図（Ａ）及び（Ｂ）は実施例の電子体温計による検
温の主制御処理を示すフローチャート、第３図は第２図
（Ｂ）の温度測定処理を示すフローチャート、第４図は実施例の電子体温計の外観斜視図、第５図（Ａ
）は直腸検温プローブの外観斜視図、第５図（Ｂ）は直腸検温プローブの断面図、第６図（Ａ
）は日中（舌下）検温プローブの外観斜視図、第６図（Ｂ）は口中検温プローブの断面図、第７図（Ａ
）は表面検温プローブの外観斜視図、第７図（Ｂ）は表面検温プローブの断面図である。図中、１・・・本体、２・・・電源スィッチ、３・・・
液晶ディスプレイ、４・・・感温センサ部（プローブ）
、５・・・プローブケーブル、６・・・ケーブル巻き取
り用スイッチである。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）基準感温素子使用の下に温度値及び該温度値と所
定の関係にあるデジタル値との相関テーブルを作成し、
これをメモリに記憶した標準テーブル手段と、前記基準
感温素子に対してその形状定数を所定範囲内に厳選した
感温素子、該感温素子の基準温度における抵抗値との比
が一定な抵抗値を有しかつその抵抗値が温度によりほと
んど変化しない基準抵抗体を含む感温センサと、該感温
センサを交換可能に接続するケーブル手段と、前記感温
センサからのアナログ量に応じて発振周波数を変える発
振手段と、前記発振手段の発振数を所定時間計数する計
数手段と、前記計数手段の計数値で前記標準テーブル手
段を参照し、対応する温度値を読み出す読出手段と、前
記読出手段が読み出した温度値を表示する表示手段を備
えることを特徴とする電子体温計。
（２）基準抵抗体は感温素子の基準温度における抵抗値
との比が１対１の抵抗値を有することを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の電子体温計。
（３）感温素子はサーミスタであることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の電子体温計。
（４）発振手段はケーブル手段の電気的パラメータを補
償したものであることを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の電子体温計。