JPS59225323A - 電子温度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 技術分野 本発明は電子温度計に関するものであり、更に詳細に言
えば、カウント値一温度変換テーブルを標牛化できる電
子温度計に関するものである。

先行技術及びその問題点 従来、第１図に示す如く感温素子を用いた発振回路の出
力パルス列を計数し、この計数値から温度値を得る変換
を不揮発性のメモリにプログラムすることによって行う
ようにしたデジタル温度計が特開昭５０−１３１５７６
号により提案されている。しかしながら、特開昭５０−
１３１５７６号が開示する発明は発振特性の異なる装置
毎に不揮発性メモリを個別にプログラムすることを要し
、大量生産性に欠ける不利益を有していた。

発明の目的 本発明は従来技術の有する不利益を解決するために提案
されたものであり、その主要な目的は大量生産性に富む
電子温度計を提案する所にある。

本発明の他の目的は、原始データをもとに作成された標
準テーブルを複製して得た温度データ格納部を有する電
子温度計を提案する所にある。

本発明の更に他の目的は広いレンジにわたって高い精度
の温度測定が行えるところの安価なる電子温度計を提案
する所にある。

本発明のその他の目的は標準ＲＯＭテーブルを正確かつ
再現性良く利用するために周辺回路部品のほとんどに精
度を必要としない電子温度計を提案することにある。

このような本発明の目的は、所定の温度抵抗係数を有す
る測温抵抗体と、温度によって抵抗値の変化しない基準
抵抗体とを発振器の発振周波数を決定する要素とする発
振器と、測温時に前記２つの抵抗体が交互に接続された
ときの発振器の発振数の比から求まる値をアドレスとし
、該アドレスに前記発振数の比から求まる値に相関する
温度を固定したテーブルを含む温度データ格納部とを備
え、前記求まる値に対応した温度を前記データ格納部か
ら求める電子温度計において、基準温度において該発振
器に前記測温抵抗体と基準抵抗体を交互に接続したとき
の発振数の比をほぼ一定としたことを特徴とする電子温
度計によって達成される。

好ましい態様においてこの電子温度計の温度データ格納
部に含まれるテーブルは測温抵抗体とほぼ等しい温度抵
抗係数を有する標準測温抵抗体と該標準測温抵抗体の基
準温度における抵抗値にほぼ等しく温度によって抵抗値
の変化しない標準抵抗体を交互に接続された標準発振器
の基準温度における発振数の比をほぼ一定とし、該発振
数の比から求まる値をアドレスとし、該アドレスに前記
値に相関する温度を一固定することにより作成されたテ
ーブルである。。

次に本願発明の好適なる一実施例としての電子体温計に
ついて詳細に説明する。第２図は一実施例の電子体温計
の構成を示すブロック図である。

図において、１はサーミスタＲｔｈを測温抵抗体とする
発振器で、内部には温度によって抵抗値の変化しない基
準抵抗体Ｒｓを含み、これら両抵抗体Ｒｓ、Ｒｔｈは端
子Ｓに加えられる選択信号によって内部の発振回路に切
替接続され夫々ｆｓ、ｆｔｈなる周波数のパルス列を出
力する。２はこれらのパルス列を係数するカウンタ回路
で、前記発振器１を含む回路素子の時系列にそった特性
変動を除去するために前記パルス列を可変に制御された
ゲート時間幅−の間だけ計数し、常に検出温度に対する
正しいカウント値Ｎ２を出力する。３はカウント値Ｎ２
から所定値Ｎ６６　　を減算する減算回路で、後接する
メモリの容量を制約するために所定値Ｎｏａ　　を差引
いた値のアドレス出力ＮＡＤ　を出力する。４は標準の
ＲＯＭテーブルを記憶させたリードオンリメモリ（ＲＯ
ＭまたはＦＲＯＭで良い）で、アドレス出力ＮＡＤによ
ってアドレスされそこに相関記憶されている温度データ
Ｔｔを読出す。５は表示回路で、読出された温度データ
Ｔｔをデジタル表示する。

ここで発振器ｌは例えば第３図に示す如く２つのＣ−Ｍ
ＯＳイン八−へ１１．Ｉ２と、コンデンサＣと基準抵抗
体Ｒｓと、測温抵抗体たるサーミスタＲｔｈと、端子Ｓ
にＬＯレベルが入力されているときに前記基準抵抗体Ｒ
ｓを発振回路に接続し、またＨＩレベルが入力されてい
るときに前記サーミスタＲｔｈを発振回路に切替接続す
るスイッチＳＷと、前記Ｃ−ＭＯＳインバータ■１の固
定の保護抵抗Ｒとから成る。

また、カウンタ回路２は第４図に示す如く常に一定の周
波数ｆ０のパルス列を出力する基準発振器２１と、周波
数ｆｓのパルス列を所定数Ｎ、まで計数するカウンタ２
２と、このときの計数に要した時間Ｔ＝ｒ　　の間だけ
周波数ｆ０のパルス列をＵＰカウントシ引続き同じパル
ス列を計数値かＯになるまでＤＯＷＮカウントするカウ
ンタ２３と、このＤＯＷＮカウントに要した時間（前記
Ｔｃ、　に等しい）だけ周波数ｆｔｈのパルス列を計数
するカウンタ２４と、以上のような計数動作を繰返し行
わせるためのフリップフロップ（以下ＦＦと呼ぶ）２５
、および遅延パルス発生回路（以下ＤＰ回路と呼ぶ）２
６と、ＡＮＤゲート２７゜２８から成る。

以上の構成において、温度測定がなされる原理を以下に
説明する。先づ発振器１のスイッチＳＷを基準抵抗体Ｒ
ｓ側に倒すとこのときの発振周波数ｆｓはｋを比例定数
として に＝Ｃ・＋ｔｓ　　　　　　　、　、　、　（１，）で
与えられる。この発振周波数ｆｓは温度変化に対してほ
とんど変動しない。次にスイッチＳＷをサーミスタＲｔ
ｈ側に倒したときの発振周波数ｆｔｈは同様にして である。またこのときのサーミスタＲｔｈの温度−抵抗
特性は一般に次式によって与えられる。

ここで Ｒｏ　二基準温度ＴＯにおけるサーミスタの抵抗値 Ｒｔｈ：ある温度Ｔｔにおけるサーミスタの抵抗値 Ｂ　：サーミスタの温度抵抗係数（以下、Ｂ定」と呼ぶ
） である。

以上から発振器ｌにサーミスタＲｔｈを接続した場合は
、温度変化によってサーミスタＲｔｈの感温抵抗値か変
化しているとこれに対応して発振周波数ｆｔｈか変化し
、この発振器１がら生ずるパルス列を仮に一定価に制御
されたゲート時間幅Ｔｃの間だけ計数すればそのカウン
ト値Ｎｔｈは次式によって変化する。

ここで基準温度Ｔｏにおけるカウント値ＮＯをとすれば
ある温度Ｔｔにおけるカウント値Ｎｔｈの一般式は でかえられる。

従って高い精度で制御されている温度環境において基準
温度Ｔ０におけるカウント値Ｎ０を知れば、それだけで
ある温度（変数）値Ｔｔに−おいてカウンタが計数すべ
きカウント（関数）値Ｎｔｈは（６）式によって一義的
に定まる。

よって逆にある温度の測定時に、単に、カウント値Ｎｔ
ｈを得るだけで直ちに被測定温度Ｔｔを得ることの可能
な温度測定装置を構成できるのであるが、このまま、つ
まり前記ゲート時間幅Ｔｃを常に一定値に制御したので
は周囲温度の変化によってＣ−ＭＯＳインハータエｌ、
Ｉ２のスレッシュホルド電圧およびコンデンサＣの容量
も変化するからこれによる発振周波数ｆｔｈの変動がカ
ウント値Ｎｔｈの変動となって現れる。そしてもはや変
動したこの値Ｎ　ｔｈ　′はサーミスタＲｔｈだけの温
度４、ｆ性に依存するものではなくなる。

このために実施例の構成は以下に述べる方法によって可
変に制御されるゲート時間幅Ｔｑ　　を得ている。先ず
発振器ｌに基準抵抗体Ｒｓを接続して生ずるパルス列が
常に一定のカウント値Ｎ１まで計数されるに要する特性
変動により可変のゲート時間幅Ｔ４　　を求め、次にこ
れと同一ゲート時間幅Ｔｔｒ　　だけ前記発振器ｌにサ
ーミスタＲｔｈを接続して生ずるパルス列を計数してそ
のカウント値Ｎ２を４ｊ？る。よって２つのカウント値
Ｎ、、Ｎ２とゲート時間幅Ｔｑ　　との間には が成り立ち、かつ２つのカウント値Ｎ、、Ｎ２の間には か成り立つ。ここでカウント値Ｎ２は発振器１にサーミ
スタＲｔｈを接続してゲート時間幅Ｔｑ　　のあいだ計
数したものであるから および基準温度Ｔ０におけるカウント値Ｎ２゜はによっ
て与えられる。

よっである温度Ｔｔにおいて計数されたカウント値Ｎ２
はＮ、を所定数としてかつ前記２度の計数動作において
生ずる２つの発振周波数の比平に比例した値を持つもの
となる。

今、仮に温度変化に対して２つの発振周波数ｆｓ、ｆｔ
ｈが夫／＋ｆＳ′、ｆｔｈ′に変化したとしても両者は
特性の変化した共通なＣ−ＭＯＳイン八−タＩｆ′、Ｉ
２′とコンデンサＣ′を用いて短い期間にかつ可変に制
御されたゲート時間幅Ｔ６　の間だけ発振したものであ
るからそのカウント値Ｎ２′は となって常に正しく再現性の良いカウント値Ｎ２となる
。

この方法によって基準抵抗体ＲｓとサーミスタＲｔｈと
を除〈実施例の全ての構成においてはその回路素子特性
にゆるやかな経時変動があっても相殺されるという効果
を発揮するものである。

発明の具体的作用 次に第３図、第４図を再び参照して前記可変に制御され
るゲート時間幅Ｔ９　　とこの区間にカウント値Ｎ２を
得る動作を詳細に説明する。

第４図において、直前の計数動作の終りにはＤＰ回路２
６のパルス出力がカウンタ２２．２４の計数値をリセッ
トする。カウンタ２２の計数値は０になり出力端子Ｑｎ
のレベルはＬＯになる。

そしてこのＬＯレベルは、自己のカウントイネーブル端
子（以下端子Ｅと呼ぶ）Ｅを付勢してその計数端子Ｃに
入力があればこれを計数可能とする。またカウンタ２４
の端子Ｅを消勢して計数不能とし、さらにカウンタ２３
をＵＰカウントモードに設定する。一方、第４図の発振
器ｌでは端子ＳにＬＯレベルが入力されるから基準抵抗
体Ｒｓが発振回路に接続されて周波数ｆｓのパルス列を
出力する。また第４図において、ＤＰ回路２６はＦ’Ｆ
　２５をリセットするから出力端子ｑがＨＩになってＡ
ＮＤゲー）２７．２８の入力を付勢する。以上の状態で
は、先ず周波数ｆｓの入力パルス列をカウンタ２２が計
数し同時に周波数ｆＯのパルスタリをカウンタ２３がＵ
Ｐカウントする。

次にカウンタ２２の計数値が所定値Ｎ１に達すると、そ
の出力端子ＱｎがＨＩレベルになって自己の計数動作を
停止させ、カウンタ２４の端子Ｅを付勢し、同時にカウ
ンタ２３をＤＯＷＮカウントモードに設定する。そして
このときまでの計数に要した時間はＴｑ　　である。一
方発振器１では、端子ＳにＨＩレベルが入力されるから
サーミスタＲｔｈが発振回路に切替接続されて周波数ｆ
ｔｈのパルス列を出力する。この状態では、周波数ｆｔ
ｈの入力パルス列をカウンタ２４が計数し同時に周波数
ｆＯのパルス列をカウンタ２３がＤＯＷＮカウントする
。やがて、カウンタ２３の計数値がＯになるまでＤＯＷ
Ｎカウントすると、その出力端子Ｑｎの立ち」二がりが
ＦＦ２５をセットしその出力端子σがＬＯレベルになっ
てカウンタ２３　、２４の計数入力を消勢する。この時
のカウンタ２４が計数した値Ｎ２ｔ＃、、いわゆる可変
に制御されたゲート時間巾Ｔ９　　において周波数ｆｔ
ｈの入力パルス列を計数したものである。次にＤＰ回路
２６はＦＦ２５の出力端子ＱがＨＩであることによって
所定の時間を経過後に正のパルスを出力して新たな計数
動作な繰返°す。

カウンタ２３へのＵＰ力方向びＤＯＷＮ方向に計数する
パルス列は同一周波数ｆ、のクロックであるので、丘述
動作によればカウンタ２２が周波数ｆｓのパルス列を計
数値Ｎ１までカウントする時間に、カウンタ２４が周波
数ｆｔｈのパルス列を計数したカウント値Ｎ２を得るこ
とになる。このカラン）・値Ｎ２ｃから後述する理由に
よってリードオンメモリ４のメモリ容量を節約するため
に減算回路３において所定値ＮＤＱを差し引いてその出
力（ｆｊ　ＮＡｏをリードオンリメモリ４のアドレスラ
インに送ってその番地ＮＡｏから対応する温度データＴ
ｔを読み出しこれを表示回路５にて表示するものである
。

実施例の電子体温計の少なくとも１の標準的なサンプル
の製造時には、かかるカウント値Ｎ２から所定値Ｎ　ｏ
ｏを差し比いた値ＮＡＤによってアドレスされるＦＲＯ
Ｍ上に対応する正しい温度データを書込んだいわゆるＲ
ＯＭテーブルを作成する必要がある。そしてこの時のサ
ンプル電子体温計に内蔵されるサーミスタを便宜上基準
サーミスタとＨう。

ここ！は先ずカウント値Ｎ２に着目し、所定値ＮＤｏを
差し引いた値ｈＬ＋ｏについては後述する。再び前記（
３）、（９）、’（１０）式を用いてカウント値Ｎ２と
被測定温度データＴｔとの一般式を示せば次の如くであ
る。

但し基準温度Ｔ０におけるカウント値Ｎ２Ｑは前記（８
）式より ここでｆ　ｔｈｏは基準温度Ｔｏにおいて発振器ｌに基
準サーミスタＲｔｈを接続したときの発振周波数である
。

今、前記（１３）式において基準温度Ｔ０におけるカウ
ント値Ｎ２０に着目する。この値は基準サーミスタＲｔ
ｈの基準温度Ｔ０における抵抗値Ｒｔｈｏと基準抵抗体
の抵抗値Ｒｓとの比Ｒｓ／Ｒｔｈ、に比例している。ま
たこのカウント値Ｎ２゜は被測定温度レンジをＴｏ≦Ｔ
ｔ≦Ｔ丁とするときにカウント値がＮ２ｏ≦Ｎ２≦Ｎ２
ゴのレンジで対応しＲＯＭテーブルを作成するときには
基準温度Ｔ０に対応する基準アドレスＮ２゜となるもの
である。

以下このＲＯＭテーブルを作成する手順について説明す
る６第５図はＲＯＭテーブルの作成方法を示すブロック
図である。図において、先ず恒温槽９の温度をＴｏ、Ｔ
丁の２定温度点に順次設定してそれぞれの温度における
カウント値Ｎ２　＝Ｎ２０　　、　Ｎ２　”Ｎ２□　を
適当な方法で外部に接続したデータ処理装置８に入力す
る。外部のデータ処理装置８は同時に他の高精度な温度
測定装置７から前記２定温度データＴ。、　ＴＴを受は
取るから基準サーミスタＲｔｈのＢ定数は次式によって
求められる。

この工程を第６図のＲＯＭテーブル作成手順を示すフロ
ーチャートに従って更に詳しく説明する。先ず恒温槽９
の設定温度を基準温度Ｔｏとした状態において、データ
処理装置８は工程１０２で、温度センサ６がセンスした
温度測定装置７かもの測定温度Ｔを入力する。

工程１０３では該入力温度Ｔが基準温度Ｔ。

か否かの判別を行う。判別がＮｏであれば高低１０２に
戻り新たな温度入力Ｔを得る。また判別がＹＥＳであれ
ば工程１０４においてカウンタ回路２の出力カウント値
Ｎ２０を入力する。次に恒温槽９の設定温度を所定温度
ＴＴ　　とした状態において、同様にして、工程１０５
と１０６を実行する。やがて恒温槽９内の温度が所定温
度ＴＩ　に達し、工程１０６における判別がＹＥＳであ
れば、］−程１０７においてこのときのカウンタ回路２
の出力カウント値Ｎ２Ｔ　　を入力する。工程１０８で
は、以」−の２定温度情報ＴＯ，Ｔ、　　と、各対応す
る出力カウント値Ｎ　２０　＋　Ｎ２Ｔ　　とから前記
（１４）式に従って基準サーミスタＲｔｈのＢ定数を演
算する。この時点で外部のデータ処理装置は今求めたＢ
定数と、前にカウンタ回路２から入力されたカウント値
Ｎ２０．Ｎ２丁　および前に他の高精度な温度測定装置
７から入力された温度データＴ。、　Ｔ−Ｔ　　を有す
る。次に工程１０９では必要な測定温度レンジ（例えば
Ｔｏ−Ｔ丁）の区間をＴｏから測温の精度ΔＴ（例えば
Ｏ，ピＣ）ずつ増加させた温度（変数）値Ｔｔに対して
対応するカウント（関数）値Ｎ２の値を前記（１２）式
に従って算出する。

第５図は製造される電子体温計のリードオンリメモリに
複製される相関テーブルを作成する構成を示すものであ
って、恒温槽９内に配置されているサーミスタＲｔｈ、
基準抵抗、発振器は複製されるべきオリジナルデータを
作成するという意味で、標準測温抵抗体、標準抵抗体、
標準発振器と呼ぶことができる。

一般には被測定温度レンジをＴ２〜Ｔ３としてかつＴｏ
くＴ２くＴ３くＴ丁なる関係において北記データ対をＴ
２〜Ｔ３までとして算出しても良い。いずれにしても温
度データＴｔを例えばＴＤ：ｌ　、　Ｔｏ２．・・・Ｔ
ｌ１ｌｌＪ　まで温度ピッチ△Ｔずつ増加してゆき算出
した結果をＮｐ１．　Ｎｏｚ・・・Ｎｏ１Ｊと　すれば
、ＲＯＭテーブルのアドレスＮｏｔには温度データＴＩ
）Ｉ　が、アドレスＮｂｚには温度データＴＣ）２が・
・・の如く格納されれば良い。このときＲＯＭテーブル
の基準アドレスＮＤ；が実施例の体温計の構成上大きな
値であるのでリードオンリメモリ４のメモリ容量を節約
するために前記基準アドレスＮＤ１　から所定値ＮＤＯ
≦Ｎｏｒ　を差し引いてその値を小さくしこれを実質的
な基準アドレスＮＡＤ、とじている。

工程１１０では、上述の如くして算出されたアドレスデ
ータＮｏ１．　Ｎｏｚ・・・Ｎｏ＋Ｊから所定値ＮＤＯ
を差し引いた値ＮＡＤＩ　、　ＮＡＤλ・・・ＮＱθを
求め、これを不揮発性メモリ４へのアドレス入力とし、
各対応する温度データＴＩ）＋　、　ＴＤ２・・・Ｔｏ
ｌ、Ｉをデータ入力として相関記憶させている。

第２図に示す一実施例の回路構成においては、前記工程
”１１０で作成された温度テーブルを正しく読み出しす
るためにカウンタ回路２の出力カウント値Ｎ２から前記
所定値ＮｏＯが差し引かれる減算回路３を有する。この
ことを念頭において以下説明の便宜上再びＲＯＭテーブ
ルの基準アドレスはＮ２０として述べる。

原理的には他の複数の電子体温計について前記第７図に
示す手順に従いＦＲＯＭ上に温度テーブルを作成すれば
高精度なる電子体温計の単品が製造されることになる。

しかしながらＦＲＯＭのメモリ容量の節約、使用効率、
更には電子体温計の製造容易性を考えれば作成された温
度テーブルが常に所定番地から始まりかつ所定の番地で
終る（同一規格内容である）ことが望ましい。この利益
を得るために実施例の他の電子体温計を製造する場合に
は、以下に示す製造工程を有する。

前記第７図の工程１０９において作成されるＲＯＭテー
ブルは基準サーミスタ使用の下に作成されるいわゆる標
準ＲＯＭテーブルであって、それ以後は、製造工程にあ
る他の電子体温計に対して点線で示す如く単に工程１１
０のみが実行される。つまり、標準ＲＯＭテーブルの内
容は電子体温計に一体に設けられた、あるいは別個に設
けられたところの不揮発性メモリに複製される。

しかるに、他の電子体温計を構成するために現実に入手
可能なサーミスタＲｔｈはおろか基準抵抗体Ｒｓでさえ
もその抵抗値にばらつきを有する。

１１ｉ記（１２）（１３）式によればこれが基準温度Ｔ
Ｏにおけるカウント出力値Ｎ２Ｑを変化させる原因とな
り、またさらにサーミスタにあってはそのＢ定数にもば
らつきがあるためにこの温度勾配の特性のばらつきによ
り被測定温度レンジの最大値Ｔ、　　におけるカウント
値Ｎ２丁　も変化してこれ４が温度テーブルの正しいア
クセスを誤らせる原因ともなる。前述した如＜ＲＯＭテ
ーブルの基準アドレスＮ２０は基準温度Ｔ、）におけＲ
ｓとの比に依存するから、この比を一定に保てば基準温
度Ｔ０を読み出すことができる。この場合特にＲＳ　＝
　Ｒｔｈｏである必要は無いが、比Ｒｓ　／　Ｒｔｈｏ
を一定に保つためには抵抗値Ｒｓを調整して合わせ込む
ことができる。

この実施例は第７図に示す構成が利用される。

図において、恒温槽９は予め基準温度Ｔｏに設定されて
いる。データ処理装置８は温度測定装置７からの測定温
度出力Ｔ、を監視する。また同時に基準温度Ｔ０の状態
に置かれた電子温度計のカウンタ回路２からのカウント
値Ｎ２を監視する。そしてこれら監視したデータを基に
抵抗値調整装置１０を制御し、発振器１に内蔵された基
準抵抗体Ｒｓの抵抗値を自動的に調整する構成となって
いる。この調整方法の具体的な手順を第８図のフローチ
ャートに従って説明すると、工程２０２においてデータ
処理装置８は測定温度出力Ｔを入力する。工程２０３で
は該入力温度Ｔが基準温度Ｔ、か否かの判別を行ない、
判別がＮｏであれば工程２０１に戻る。また判別がＹＥ
Ｓのときは工程２０−４に進み、カウンタ回路２からの
カウント値Ｎ２を入力する。工程２０５では該入力カウ
ント値Ｎ２が基準値Ｎ２０か否かの判別を行う。

判別がＮｏであれが工程２０６に進み、基準抵抗Ｒｓを
調整し、入力カウント値ＮＺが基準値Ｎ２０に接近する
方向に制御する。工程２０７は発振器ｌの動作が新たな
抵抗値で十分、に安定するように、所定時間遅延する工
程である。所定時間が経過すると工程２０２に戻って上
述動作を繰り返す。また工程２０５において判別がＹＥ
Ｓになると基準抵抗体Ｒｓの調整を終了する。

このような抵抗比を一定とする他に、減算回路３の固定
入力Ｎｒ）Ｑを制御、固定する方法がある。

この場合は、第８図の工程２０３において判別がＹＥＳ
であれば工程２０８に移行する。工程２０８ではカウン
タ回路２からの出力カウント値Ｎ２を入力する。工程２
０９では減算値Ｎ１）ＯをＮＡρＯＮ２によって算出す
る。ここでＮＡＤＯはり−ドオンリメモリ４に格納され
た温度テーブルの基準アドレスであって、そこには基準
温度ＴＯが書き込まれている。通常はＮＡＣＩＯ＜　Ｎ
　２であるから、ｌ　ＮＡＤＯＮ２　１の値をそのまま
減算回路３の固定人力とすれば良い。またＮＡ１７０＞
　Ｎ　２のような状態が起これば減算回路３を加算に切
換える。このような切換えは予め加／ｇ算回路の構成を
用意しておけば簡単に行える。また上述ＮＡｔｘ＞の値
を設定、固定する方法には例えばレーザビームスポット
を制御して、減算回路３の入力レジスタ１１を所定のパ
ターンに焼き切る方法等がある。工程２０９は一度行う
だけで繰り返す必要はない。

減算回路３の固定入力Ｎｏｖを抵抗比が一定となるよう
に調整する技法は、サーミスタＲｔｈの温度−抵抗計数
（Ｂ定数）は一定の精度を有するが、基準温度における
抵抗値のばらつきによる抵抗比の誤差をも補正できるこ
とは明らかである。

またサーミスタのＢ定数については所望の測温精度を損
わない範囲内でこれを厳選することとする。従って以上
の点に鑑みれば、電子体温計の個々に特有なＲＯＭテー
ブルを作成するより例えば基準抵抗体の抵抗値Ｒｓを調
整し、サーミスタのＢ定数を厳選することによって、測
温精度を損わずに、単一規格、内容の標準ＲＯＭテーブ
ルを常に正しくアクヤスするような電子体温計がむしろ
容易に製造可能である。

このようにして第３図に示された電子体温計は、所望の
測温精度を得る範囲内にＢ定数が厳選されたサーミスタ
Ｒｔｈと、このサーミスタの基準温度Ｔ０における抵抗
値Ｒｔｈｏとの比が一定でかつ温度によって抵抗値がほ
とんど変化しない基準抵抗体Ｒｓと電子体温計の特定の
サンプルにつき前記所定の手順に従って作成した標準Ｒ
ＯＭテーブルと同一規格、内容で複製されたＲＯＭ又は
ＦＲＯＭを有する。

発明の具体的効果 以上述べた如く本発明によれば測温時に発振数から求ま
み値をアドレスとして、温度データを読み出す温度デー
タ格納部を複製して電子温度計を得ることができる。従
って本発明による電子温度式１は大量生産性に富むと共
に原始データは１個でよい。

更に実施例に従えば、温度データ格納部に含まれた標準
ＲＯＭテーブルは、広い温度レンジを基準サーミスタの
温度抵抗特性に忠実に従うところの演算（１２）式に従
い、予め外部のデータ処理装置によって計算処理して求
めた相関データの複製であるから、高精度で広い測温レ
ンジを有する電子温度計を安価に提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のデジタル温度計の構成を示すブロック図
、 第２図は本発明に係る一実施例の電子体温計の構成を示
すブロック図、 第３図はサーミスタを用いた発振回路の回路図、 第４図は第２図のカウンタ回路を詳細に示すブロック図
、 第５図はＲＯＭテーブルの作成方法を示すブロック図。 第６図はＲＯＭテーブルの作成手順を示すフローチャー
ト、 第７図は基準抵抗値を合せ込む方法を示すブロック図、 第８図は基−抵抗値を合せ込む手順を示すフローチャー
トである。 ここで、ｌ・・・発振器、２・・・カウンタ回路、３・
・・減算回路、４・・・リードオンリメモリ、５・・・
表示回路、６・・・温度センサ、７・・・温度測定装置
、８・・・データ処理装置、９・・・恒温槽、１０・・
・抵抗値調整装置、１１・・・入力レジスタである。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）所定の温度抵抗係数を有する測温抵抗体と、温度
   によって抵抗値の変化しない基準抵抗体とを発振器の発
   振°周波数を決定する要素とする発振器と、測温時に前
   記２つの抵抗体が交互に接続されたときの発振器の発振
   数の比から求まる値をアドレスとし該アドレスに前記発
   振数の比から求まる値に相関する温度を固定したテーブ
   ルを含む温度データ格納部とを備え、前記求まる値に対
   応した温度を前記データ格納部から求める電子温度計に
   おいて、基準温度において該発振器に前記測温抵抗体と
   基準抵抗体を交互に接続したときの発振数の比をほぼ一
   定としたことを特徴とする電子温度計。
2. （２）温度データ格納部に含まれたテーブルは、測温抵
   抗体とほぼ等しい温度抵抗係数を有する標準測温抵抗体
   と該標準測温抵抗体の基準温度における抵抗値にほぼ等
   しく温度によって抵抗値の変化しない標準抵抗体を交互
   に接続された標準発振器の基準温度における発振数の比
   をほぼ一定とし、該発振数の比から求まる値をアドレス
   とし。 該アドレスに前記値に相関する温度を固定することによ
   り作成されていることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項記載の電子温度計。