JPS59225323A - 電子温度計 - Google Patents
電子温度計Info
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- JPS59225323A JPS59225323A JP58100610A JP10061083A JPS59225323A JP S59225323 A JPS59225323 A JP S59225323A JP 58100610 A JP58100610 A JP 58100610A JP 10061083 A JP10061083 A JP 10061083A JP S59225323 A JPS59225323 A JP S59225323A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/02—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/245—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
技術分野
本発明は電子温度計に関するものであり、更に詳細に言
えば、カウント値一温度変換テーブルを標牛化できる電
子温度計に関するものである。
えば、カウント値一温度変換テーブルを標牛化できる電
子温度計に関するものである。
先行技術及びその問題点
従来、第1図に示す如く感温素子を用いた発振回路の出
力パルス列を計数し、この計数値から温度値を得る変換
を不揮発性のメモリにプログラムすることによって行う
ようにしたデジタル温度計が特開昭50−131576
号により提案されている。しかしながら、特開昭50−
131576号が開示する発明は発振特性の異なる装置
毎に不揮発性メモリを個別にプログラムすることを要し
、大量生産性に欠ける不利益を有していた。
力パルス列を計数し、この計数値から温度値を得る変換
を不揮発性のメモリにプログラムすることによって行う
ようにしたデジタル温度計が特開昭50−131576
号により提案されている。しかしながら、特開昭50−
131576号が開示する発明は発振特性の異なる装置
毎に不揮発性メモリを個別にプログラムすることを要し
、大量生産性に欠ける不利益を有していた。
発明の目的
本発明は従来技術の有する不利益を解決するために提案
されたものであり、その主要な目的は大量生産性に富む
電子温度計を提案する所にある。
されたものであり、その主要な目的は大量生産性に富む
電子温度計を提案する所にある。
本発明の他の目的は、原始データをもとに作成された標
準テーブルを複製して得た温度データ格納部を有する電
子温度計を提案する所にある。
準テーブルを複製して得た温度データ格納部を有する電
子温度計を提案する所にある。
本発明の更に他の目的は広いレンジにわたって高い精度
の温度測定が行えるところの安価なる電子温度計を提案
する所にある。
の温度測定が行えるところの安価なる電子温度計を提案
する所にある。
本発明のその他の目的は標準ROMテーブルを正確かつ
再現性良く利用するために周辺回路部品のほとんどに精
度を必要としない電子温度計を提案することにある。
再現性良く利用するために周辺回路部品のほとんどに精
度を必要としない電子温度計を提案することにある。
このような本発明の目的は、所定の温度抵抗係数を有す
る測温抵抗体と、温度によって抵抗値の変化しない基準
抵抗体とを発振器の発振周波数を決定する要素とする発
振器と、測温時に前記2つの抵抗体が交互に接続された
ときの発振器の発振数の比から求まる値をアドレスとし
、該アドレスに前記発振数の比から求まる値に相関する
温度を固定したテーブルを含む温度データ格納部とを備
え、前記求まる値に対応した温度を前記データ格納部か
ら求める電子温度計において、基準温度において該発振
器に前記測温抵抗体と基準抵抗体を交互に接続したとき
の発振数の比をほぼ一定としたことを特徴とする電子温
度計によって達成される。
る測温抵抗体と、温度によって抵抗値の変化しない基準
抵抗体とを発振器の発振周波数を決定する要素とする発
振器と、測温時に前記2つの抵抗体が交互に接続された
ときの発振器の発振数の比から求まる値をアドレスとし
、該アドレスに前記発振数の比から求まる値に相関する
温度を固定したテーブルを含む温度データ格納部とを備
え、前記求まる値に対応した温度を前記データ格納部か
ら求める電子温度計において、基準温度において該発振
器に前記測温抵抗体と基準抵抗体を交互に接続したとき
の発振数の比をほぼ一定としたことを特徴とする電子温
度計によって達成される。
好ましい態様においてこの電子温度計の温度データ格納
部に含まれるテーブルは測温抵抗体とほぼ等しい温度抵
抗係数を有する標準測温抵抗体と該標準測温抵抗体の基
準温度における抵抗値にほぼ等しく温度によって抵抗値
の変化しない標準抵抗体を交互に接続された標準発振器
の基準温度における発振数の比をほぼ一定とし、該発振
数の比から求まる値をアドレスとし、該アドレスに前記
値に相関する温度を一固定することにより作成されたテ
ーブルである。。
部に含まれるテーブルは測温抵抗体とほぼ等しい温度抵
抗係数を有する標準測温抵抗体と該標準測温抵抗体の基
準温度における抵抗値にほぼ等しく温度によって抵抗値
の変化しない標準抵抗体を交互に接続された標準発振器
の基準温度における発振数の比をほぼ一定とし、該発振
数の比から求まる値をアドレスとし、該アドレスに前記
値に相関する温度を一固定することにより作成されたテ
ーブルである。。
次に本願発明の好適なる一実施例としての電子体温計に
ついて詳細に説明する。第2図は一実施例の電子体温計
の構成を示すブロック図である。
ついて詳細に説明する。第2図は一実施例の電子体温計
の構成を示すブロック図である。
図において、1はサーミスタRthを測温抵抗体とする
発振器で、内部には温度によって抵抗値の変化しない基
準抵抗体Rsを含み、これら両抵抗体Rs、Rthは端
子Sに加えられる選択信号によって内部の発振回路に切
替接続され夫々fs、fthなる周波数のパルス列を出
力する。2はこれらのパルス列を係数するカウンタ回路
で、前記発振器1を含む回路素子の時系列にそった特性
変動を除去するために前記パルス列を可変に制御された
ゲート時間幅−の間だけ計数し、常に検出温度に対する
正しいカウント値N2を出力する。3はカウント値N2
から所定値N66 を減算する減算回路で、後接する
メモリの容量を制約するために所定値Noa を差引
いた値のアドレス出力NAD を出力する。4は標準の
ROMテーブルを記憶させたリードオンリメモリ(RO
MまたはFROMで良い)で、アドレス出力NADによ
ってアドレスされそこに相関記憶されている温度データ
Ttを読出す。5は表示回路で、読出された温度データ
Ttをデジタル表示する。
発振器で、内部には温度によって抵抗値の変化しない基
準抵抗体Rsを含み、これら両抵抗体Rs、Rthは端
子Sに加えられる選択信号によって内部の発振回路に切
替接続され夫々fs、fthなる周波数のパルス列を出
力する。2はこれらのパルス列を係数するカウンタ回路
で、前記発振器1を含む回路素子の時系列にそった特性
変動を除去するために前記パルス列を可変に制御された
ゲート時間幅−の間だけ計数し、常に検出温度に対する
正しいカウント値N2を出力する。3はカウント値N2
から所定値N66 を減算する減算回路で、後接する
メモリの容量を制約するために所定値Noa を差引
いた値のアドレス出力NAD を出力する。4は標準の
ROMテーブルを記憶させたリードオンリメモリ(RO
MまたはFROMで良い)で、アドレス出力NADによ
ってアドレスされそこに相関記憶されている温度データ
Ttを読出す。5は表示回路で、読出された温度データ
Ttをデジタル表示する。
ここで発振器lは例えば第3図に示す如く2つのC−M
OSイン八−へ11.I2と、コンデンサCと基準抵抗
体Rsと、測温抵抗体たるサーミスタRthと、端子S
にLOレベルが入力されているときに前記基準抵抗体R
sを発振回路に接続し、またHIレベルが入力されてい
るときに前記サーミスタRthを発振回路に切替接続す
るスイッチSWと、前記C−MOSインバータ■1の固
定の保護抵抗Rとから成る。
OSイン八−へ11.I2と、コンデンサCと基準抵抗
体Rsと、測温抵抗体たるサーミスタRthと、端子S
にLOレベルが入力されているときに前記基準抵抗体R
sを発振回路に接続し、またHIレベルが入力されてい
るときに前記サーミスタRthを発振回路に切替接続す
るスイッチSWと、前記C−MOSインバータ■1の固
定の保護抵抗Rとから成る。
また、カウンタ回路2は第4図に示す如く常に一定の周
波数f0のパルス列を出力する基準発振器21と、周波
数fsのパルス列を所定数N、まで計数するカウンタ2
2と、このときの計数に要した時間T=r の間だけ
周波数f0のパルス列をUPカウントシ引続き同じパル
ス列を計数値かOになるまでDOWNカウントするカウ
ンタ23と、このDOWNカウントに要した時間(前記
Tc、 に等しい)だけ周波数fthのパルス列を計数
するカウンタ24と、以上のような計数動作を繰返し行
わせるためのフリップフロップ(以下FFと呼ぶ)25
、および遅延パルス発生回路(以下DP回路と呼ぶ)2
6と、ANDゲート27゜28から成る。
波数f0のパルス列を出力する基準発振器21と、周波
数fsのパルス列を所定数N、まで計数するカウンタ2
2と、このときの計数に要した時間T=r の間だけ
周波数f0のパルス列をUPカウントシ引続き同じパル
ス列を計数値かOになるまでDOWNカウントするカウ
ンタ23と、このDOWNカウントに要した時間(前記
Tc、 に等しい)だけ周波数fthのパルス列を計数
するカウンタ24と、以上のような計数動作を繰返し行
わせるためのフリップフロップ(以下FFと呼ぶ)25
、および遅延パルス発生回路(以下DP回路と呼ぶ)2
6と、ANDゲート27゜28から成る。
以上の構成において、温度測定がなされる原理を以下に
説明する。先づ発振器1のスイッチSWを基準抵抗体R
s側に倒すとこのときの発振周波数fsはkを比例定数
として に=C・+ts 、 、 、 (1,)で
与えられる。この発振周波数fsは温度変化に対してほ
とんど変動しない。次にスイッチSWをサーミスタRt
h側に倒したときの発振周波数fthは同様にして である。またこのときのサーミスタRthの温度−抵抗
特性は一般に次式によって与えられる。
説明する。先づ発振器1のスイッチSWを基準抵抗体R
s側に倒すとこのときの発振周波数fsはkを比例定数
として に=C・+ts 、 、 、 (1,)で
与えられる。この発振周波数fsは温度変化に対してほ
とんど変動しない。次にスイッチSWをサーミスタRt
h側に倒したときの発振周波数fthは同様にして である。またこのときのサーミスタRthの温度−抵抗
特性は一般に次式によって与えられる。
ここで
Ro 二基準温度TOにおけるサーミスタの抵抗値
Rth:ある温度Ttにおけるサーミスタの抵抗値
B :サーミスタの温度抵抗係数(以下、B定」と呼ぶ
) である。
) である。
以上から発振器lにサーミスタRthを接続した場合は
、温度変化によってサーミスタRthの感温抵抗値か変
化しているとこれに対応して発振周波数fthか変化し
、この発振器1がら生ずるパルス列を仮に一定価に制御
されたゲート時間幅Tcの間だけ計数すればそのカウン
ト値Nthは次式によって変化する。
、温度変化によってサーミスタRthの感温抵抗値か変
化しているとこれに対応して発振周波数fthか変化し
、この発振器1がら生ずるパルス列を仮に一定価に制御
されたゲート時間幅Tcの間だけ計数すればそのカウン
ト値Nthは次式によって変化する。
ここで基準温度Toにおけるカウント値NOをとすれば
ある温度Ttにおけるカウント値Nthの一般式は でかえられる。
ある温度Ttにおけるカウント値Nthの一般式は でかえられる。
従って高い精度で制御されている温度環境において基準
温度T0におけるカウント値N0を知れば、それだけで
ある温度(変数)値Ttに−おいてカウンタが計数すべ
きカウント(関数)値Nthは(6)式によって一義的
に定まる。
温度T0におけるカウント値N0を知れば、それだけで
ある温度(変数)値Ttに−おいてカウンタが計数すべ
きカウント(関数)値Nthは(6)式によって一義的
に定まる。
よって逆にある温度の測定時に、単に、カウント値Nt
hを得るだけで直ちに被測定温度Ttを得ることの可能
な温度測定装置を構成できるのであるが、このまま、つ
まり前記ゲート時間幅Tcを常に一定値に制御したので
は周囲温度の変化によってC−MOSインハータエl、
I2のスレッシュホルド電圧およびコンデンサCの容量
も変化するからこれによる発振周波数fthの変動がカ
ウント値Nthの変動となって現れる。そしてもはや変
動したこの値N th ′はサーミスタRthだけの温
度4、f性に依存するものではなくなる。
hを得るだけで直ちに被測定温度Ttを得ることの可能
な温度測定装置を構成できるのであるが、このまま、つ
まり前記ゲート時間幅Tcを常に一定値に制御したので
は周囲温度の変化によってC−MOSインハータエl、
I2のスレッシュホルド電圧およびコンデンサCの容量
も変化するからこれによる発振周波数fthの変動がカ
ウント値Nthの変動となって現れる。そしてもはや変
動したこの値N th ′はサーミスタRthだけの温
度4、f性に依存するものではなくなる。
このために実施例の構成は以下に述べる方法によって可
変に制御されるゲート時間幅Tq を得ている。先ず
発振器lに基準抵抗体Rsを接続して生ずるパルス列が
常に一定のカウント値N1まで計数されるに要する特性
変動により可変のゲート時間幅T4 を求め、次にこ
れと同一ゲート時間幅Ttr だけ前記発振器lにサ
ーミスタRthを接続して生ずるパルス列を計数してそ
のカウント値N2を4j?る。よって2つのカウント値
N、、N2とゲート時間幅Tq との間には が成り立ち、かつ2つのカウント値N、、N2の間には か成り立つ。ここでカウント値N2は発振器1にサーミ
スタRthを接続してゲート時間幅Tq のあいだ計
数したものであるから および基準温度T0におけるカウント値N2゜はによっ
て与えられる。
変に制御されるゲート時間幅Tq を得ている。先ず
発振器lに基準抵抗体Rsを接続して生ずるパルス列が
常に一定のカウント値N1まで計数されるに要する特性
変動により可変のゲート時間幅T4 を求め、次にこ
れと同一ゲート時間幅Ttr だけ前記発振器lにサ
ーミスタRthを接続して生ずるパルス列を計数してそ
のカウント値N2を4j?る。よって2つのカウント値
N、、N2とゲート時間幅Tq との間には が成り立ち、かつ2つのカウント値N、、N2の間には か成り立つ。ここでカウント値N2は発振器1にサーミ
スタRthを接続してゲート時間幅Tq のあいだ計
数したものであるから および基準温度T0におけるカウント値N2゜はによっ
て与えられる。
よっである温度Ttにおいて計数されたカウント値N2
はN、を所定数としてかつ前記2度の計数動作において
生ずる2つの発振周波数の比平に比例した値を持つもの
となる。
はN、を所定数としてかつ前記2度の計数動作において
生ずる2つの発振周波数の比平に比例した値を持つもの
となる。
今、仮に温度変化に対して2つの発振周波数fs、ft
hが夫/+fS′、fth′に変化したとしても両者は
特性の変化した共通なC−MOSイン八−タIf′、I
2′とコンデンサC′を用いて短い期間にかつ可変に制
御されたゲート時間幅T6 の間だけ発振したものであ
るからそのカウント値N2′は となって常に正しく再現性の良いカウント値N2となる
。
hが夫/+fS′、fth′に変化したとしても両者は
特性の変化した共通なC−MOSイン八−タIf′、I
2′とコンデンサC′を用いて短い期間にかつ可変に制
御されたゲート時間幅T6 の間だけ発振したものであ
るからそのカウント値N2′は となって常に正しく再現性の良いカウント値N2となる
。
この方法によって基準抵抗体RsとサーミスタRthと
を除〈実施例の全ての構成においてはその回路素子特性
にゆるやかな経時変動があっても相殺されるという効果
を発揮するものである。
を除〈実施例の全ての構成においてはその回路素子特性
にゆるやかな経時変動があっても相殺されるという効果
を発揮するものである。
発明の具体的作用
次に第3図、第4図を再び参照して前記可変に制御され
るゲート時間幅T9 とこの区間にカウント値N2を
得る動作を詳細に説明する。
るゲート時間幅T9 とこの区間にカウント値N2を
得る動作を詳細に説明する。
第4図において、直前の計数動作の終りにはDP回路2
6のパルス出力がカウンタ22.24の計数値をリセッ
トする。カウンタ22の計数値は0になり出力端子Qn
のレベルはLOになる。
6のパルス出力がカウンタ22.24の計数値をリセッ
トする。カウンタ22の計数値は0になり出力端子Qn
のレベルはLOになる。
そしてこのLOレベルは、自己のカウントイネーブル端
子(以下端子Eと呼ぶ)Eを付勢してその計数端子Cに
入力があればこれを計数可能とする。またカウンタ24
の端子Eを消勢して計数不能とし、さらにカウンタ23
をUPカウントモードに設定する。一方、第4図の発振
器lでは端子SにLOレベルが入力されるから基準抵抗
体Rsが発振回路に接続されて周波数fsのパルス列を
出力する。また第4図において、DP回路26はF’F
25をリセットするから出力端子qがHIになってA
NDゲー)27.28の入力を付勢する。以上の状態で
は、先ず周波数fsの入力パルス列をカウンタ22が計
数し同時に周波数fOのパルスタリをカウンタ23がU
Pカウントする。
子(以下端子Eと呼ぶ)Eを付勢してその計数端子Cに
入力があればこれを計数可能とする。またカウンタ24
の端子Eを消勢して計数不能とし、さらにカウンタ23
をUPカウントモードに設定する。一方、第4図の発振
器lでは端子SにLOレベルが入力されるから基準抵抗
体Rsが発振回路に接続されて周波数fsのパルス列を
出力する。また第4図において、DP回路26はF’F
25をリセットするから出力端子qがHIになってA
NDゲー)27.28の入力を付勢する。以上の状態で
は、先ず周波数fsの入力パルス列をカウンタ22が計
数し同時に周波数fOのパルスタリをカウンタ23がU
Pカウントする。
次にカウンタ22の計数値が所定値N1に達すると、そ
の出力端子QnがHIレベルになって自己の計数動作を
停止させ、カウンタ24の端子Eを付勢し、同時にカウ
ンタ23をDOWNカウントモードに設定する。そして
このときまでの計数に要した時間はTq である。一
方発振器1では、端子SにHIレベルが入力されるから
サーミスタRthが発振回路に切替接続されて周波数f
thのパルス列を出力する。この状態では、周波数ft
hの入力パルス列をカウンタ24が計数し同時に周波数
fOのパルス列をカウンタ23がDOWNカウントする
。やがて、カウンタ23の計数値がOになるまでDOW
Nカウントすると、その出力端子Qnの立ち」二がりが
FF25をセットしその出力端子σがLOレベルになっ
てカウンタ23 、24の計数入力を消勢する。この時
のカウンタ24が計数した値N2t#、、いわゆる可変
に制御されたゲート時間巾T9 において周波数ft
hの入力パルス列を計数したものである。次にDP回路
26はFF25の出力端子QがHIであることによって
所定の時間を経過後に正のパルスを出力して新たな計数
動作な繰返°す。
の出力端子QnがHIレベルになって自己の計数動作を
停止させ、カウンタ24の端子Eを付勢し、同時にカウ
ンタ23をDOWNカウントモードに設定する。そして
このときまでの計数に要した時間はTq である。一
方発振器1では、端子SにHIレベルが入力されるから
サーミスタRthが発振回路に切替接続されて周波数f
thのパルス列を出力する。この状態では、周波数ft
hの入力パルス列をカウンタ24が計数し同時に周波数
fOのパルス列をカウンタ23がDOWNカウントする
。やがて、カウンタ23の計数値がOになるまでDOW
Nカウントすると、その出力端子Qnの立ち」二がりが
FF25をセットしその出力端子σがLOレベルになっ
てカウンタ23 、24の計数入力を消勢する。この時
のカウンタ24が計数した値N2t#、、いわゆる可変
に制御されたゲート時間巾T9 において周波数ft
hの入力パルス列を計数したものである。次にDP回路
26はFF25の出力端子QがHIであることによって
所定の時間を経過後に正のパルスを出力して新たな計数
動作な繰返°す。
カウンタ23へのUP力方向びDOWN方向に計数する
パルス列は同一周波数f、のクロックであるので、丘述
動作によればカウンタ22が周波数fsのパルス列を計
数値N1までカウントする時間に、カウンタ24が周波
数fthのパルス列を計数したカウント値N2を得るこ
とになる。このカラン)・値N2cから後述する理由に
よってリードオンメモリ4のメモリ容量を節約するため
に減算回路3において所定値NDQを差し引いてその出
力(fj NAoをリードオンリメモリ4のアドレスラ
インに送ってその番地NAoから対応する温度データT
tを読み出しこれを表示回路5にて表示するものである
。
パルス列は同一周波数f、のクロックであるので、丘述
動作によればカウンタ22が周波数fsのパルス列を計
数値N1までカウントする時間に、カウンタ24が周波
数fthのパルス列を計数したカウント値N2を得るこ
とになる。このカラン)・値N2cから後述する理由に
よってリードオンメモリ4のメモリ容量を節約するため
に減算回路3において所定値NDQを差し引いてその出
力(fj NAoをリードオンリメモリ4のアドレスラ
インに送ってその番地NAoから対応する温度データT
tを読み出しこれを表示回路5にて表示するものである
。
実施例の電子体温計の少なくとも1の標準的なサンプル
の製造時には、かかるカウント値N2から所定値N o
oを差し比いた値NADによってアドレスされるFRO
M上に対応する正しい温度データを書込んだいわゆるR
OMテーブルを作成する必要がある。そしてこの時のサ
ンプル電子体温計に内蔵されるサーミスタを便宜上基準
サーミスタとHう。
の製造時には、かかるカウント値N2から所定値N o
oを差し比いた値NADによってアドレスされるFRO
M上に対応する正しい温度データを書込んだいわゆるR
OMテーブルを作成する必要がある。そしてこの時のサ
ンプル電子体温計に内蔵されるサーミスタを便宜上基準
サーミスタとHう。
ここ!は先ずカウント値N2に着目し、所定値NDoを
差し引いた値hL+oについては後述する。再び前記(
3)、(9)、’(10)式を用いてカウント値N2と
被測定温度データTtとの一般式を示せば次の如くであ
る。
差し引いた値hL+oについては後述する。再び前記(
3)、(9)、’(10)式を用いてカウント値N2と
被測定温度データTtとの一般式を示せば次の如くであ
る。
但し基準温度T0におけるカウント値N2Qは前記(8
)式より ここでf thoは基準温度Toにおいて発振器lに基
準サーミスタRthを接続したときの発振周波数である
。
)式より ここでf thoは基準温度Toにおいて発振器lに基
準サーミスタRthを接続したときの発振周波数である
。
今、前記(13)式において基準温度T0におけるカウ
ント値N20に着目する。この値は基準サーミスタRt
hの基準温度T0における抵抗値Rthoと基準抵抗体
の抵抗値Rsとの比Rs/Rth、に比例している。ま
たこのカウント値N2゜は被測定温度レンジをTo≦T
t≦T丁とするときにカウント値がN2o≦N2≦N2
ゴのレンジで対応しROMテーブルを作成するときには
基準温度T0に対応する基準アドレスN2゜となるもの
である。
ント値N20に着目する。この値は基準サーミスタRt
hの基準温度T0における抵抗値Rthoと基準抵抗体
の抵抗値Rsとの比Rs/Rth、に比例している。ま
たこのカウント値N2゜は被測定温度レンジをTo≦T
t≦T丁とするときにカウント値がN2o≦N2≦N2
ゴのレンジで対応しROMテーブルを作成するときには
基準温度T0に対応する基準アドレスN2゜となるもの
である。
以下このROMテーブルを作成する手順について説明す
る6第5図はROMテーブルの作成方法を示すブロック
図である。図において、先ず恒温槽9の温度をTo、T
丁の2定温度点に順次設定してそれぞれの温度における
カウント値N2 =N20 、 N2 ”N2□ を
適当な方法で外部に接続したデータ処理装置8に入力す
る。外部のデータ処理装置8は同時に他の高精度な温度
測定装置7から前記2定温度データT。、 TTを受は
取るから基準サーミスタRthのB定数は次式によって
求められる。
る6第5図はROMテーブルの作成方法を示すブロック
図である。図において、先ず恒温槽9の温度をTo、T
丁の2定温度点に順次設定してそれぞれの温度における
カウント値N2 =N20 、 N2 ”N2□ を
適当な方法で外部に接続したデータ処理装置8に入力す
る。外部のデータ処理装置8は同時に他の高精度な温度
測定装置7から前記2定温度データT。、 TTを受は
取るから基準サーミスタRthのB定数は次式によって
求められる。
この工程を第6図のROMテーブル作成手順を示すフロ
ーチャートに従って更に詳しく説明する。先ず恒温槽9
の設定温度を基準温度Toとした状態において、データ
処理装置8は工程102で、温度センサ6がセンスした
温度測定装置7かもの測定温度Tを入力する。
ーチャートに従って更に詳しく説明する。先ず恒温槽9
の設定温度を基準温度Toとした状態において、データ
処理装置8は工程102で、温度センサ6がセンスした
温度測定装置7かもの測定温度Tを入力する。
工程103では該入力温度Tが基準温度T。
か否かの判別を行う。判別がNoであれば高低102に
戻り新たな温度入力Tを得る。また判別がYESであれ
ば工程104においてカウンタ回路2の出力カウント値
N20を入力する。次に恒温槽9の設定温度を所定温度
TT とした状態において、同様にして、工程105
と106を実行する。やがて恒温槽9内の温度が所定温
度TI に達し、工程106における判別がYESであ
れば、]−程107においてこのときのカウンタ回路2
の出力カウント値N2T を入力する。工程108で
は、以」−の2定温度情報TO,T、 と、各対応す
る出力カウント値N 20 + N2T とから前記
(14)式に従って基準サーミスタRthのB定数を演
算する。この時点で外部のデータ処理装置は今求めたB
定数と、前にカウンタ回路2から入力されたカウント値
N20.N2丁 および前に他の高精度な温度測定装置
7から入力された温度データT。、 T−T を有す
る。次に工程109では必要な測定温度レンジ(例えば
To−T丁)の区間をToから測温の精度ΔT(例えば
O,ピC)ずつ増加させた温度(変数)値Ttに対して
対応するカウント(関数)値N2の値を前記(12)式
に従って算出する。
戻り新たな温度入力Tを得る。また判別がYESであれ
ば工程104においてカウンタ回路2の出力カウント値
N20を入力する。次に恒温槽9の設定温度を所定温度
TT とした状態において、同様にして、工程105
と106を実行する。やがて恒温槽9内の温度が所定温
度TI に達し、工程106における判別がYESであ
れば、]−程107においてこのときのカウンタ回路2
の出力カウント値N2T を入力する。工程108で
は、以」−の2定温度情報TO,T、 と、各対応す
る出力カウント値N 20 + N2T とから前記
(14)式に従って基準サーミスタRthのB定数を演
算する。この時点で外部のデータ処理装置は今求めたB
定数と、前にカウンタ回路2から入力されたカウント値
N20.N2丁 および前に他の高精度な温度測定装置
7から入力された温度データT。、 T−T を有す
る。次に工程109では必要な測定温度レンジ(例えば
To−T丁)の区間をToから測温の精度ΔT(例えば
O,ピC)ずつ増加させた温度(変数)値Ttに対して
対応するカウント(関数)値N2の値を前記(12)式
に従って算出する。
第5図は製造される電子体温計のリードオンリメモリに
複製される相関テーブルを作成する構成を示すものであ
って、恒温槽9内に配置されているサーミスタRth、
基準抵抗、発振器は複製されるべきオリジナルデータを
作成するという意味で、標準測温抵抗体、標準抵抗体、
標準発振器と呼ぶことができる。
複製される相関テーブルを作成する構成を示すものであ
って、恒温槽9内に配置されているサーミスタRth、
基準抵抗、発振器は複製されるべきオリジナルデータを
作成するという意味で、標準測温抵抗体、標準抵抗体、
標準発振器と呼ぶことができる。
一般には被測定温度レンジをT2〜T3としてかつTo
くT2くT3くT丁なる関係において北記データ対をT
2〜T3までとして算出しても良い。いずれにしても温
度データTtを例えばTD:l 、 To2.・・・T
l1llJ まで温度ピッチ△Tずつ増加してゆき算出
した結果をNp1. Noz・・・No1Jと すれば
、ROMテーブルのアドレスNotには温度データTI
)I が、アドレスNbzには温度データTC)2が・
・・の如く格納されれば良い。このときROMテーブル
の基準アドレスND;が実施例の体温計の構成上大きな
値であるのでリードオンリメモリ4のメモリ容量を節約
するために前記基準アドレスND1 から所定値NDO
≦Nor を差し引いてその値を小さくしこれを実質的
な基準アドレスNAD、とじている。
くT2くT3くT丁なる関係において北記データ対をT
2〜T3までとして算出しても良い。いずれにしても温
度データTtを例えばTD:l 、 To2.・・・T
l1llJ まで温度ピッチ△Tずつ増加してゆき算出
した結果をNp1. Noz・・・No1Jと すれば
、ROMテーブルのアドレスNotには温度データTI
)I が、アドレスNbzには温度データTC)2が・
・・の如く格納されれば良い。このときROMテーブル
の基準アドレスND;が実施例の体温計の構成上大きな
値であるのでリードオンリメモリ4のメモリ容量を節約
するために前記基準アドレスND1 から所定値NDO
≦Nor を差し引いてその値を小さくしこれを実質的
な基準アドレスNAD、とじている。
工程110では、上述の如くして算出されたアドレスデ
ータNo1. Noz・・・No+Jから所定値NDO
を差し引いた値NADI 、 NADλ・・・NQθを
求め、これを不揮発性メモリ4へのアドレス入力とし、
各対応する温度データTI)+ 、 TD2・・・To
l、Iをデータ入力として相関記憶させている。
ータNo1. Noz・・・No+Jから所定値NDO
を差し引いた値NADI 、 NADλ・・・NQθを
求め、これを不揮発性メモリ4へのアドレス入力とし、
各対応する温度データTI)+ 、 TD2・・・To
l、Iをデータ入力として相関記憶させている。
第2図に示す一実施例の回路構成においては、前記工程
”110で作成された温度テーブルを正しく読み出しす
るためにカウンタ回路2の出力カウント値N2から前記
所定値NoOが差し引かれる減算回路3を有する。この
ことを念頭において以下説明の便宜上再びROMテーブ
ルの基準アドレスはN20として述べる。
”110で作成された温度テーブルを正しく読み出しす
るためにカウンタ回路2の出力カウント値N2から前記
所定値NoOが差し引かれる減算回路3を有する。この
ことを念頭において以下説明の便宜上再びROMテーブ
ルの基準アドレスはN20として述べる。
原理的には他の複数の電子体温計について前記第7図に
示す手順に従いFROM上に温度テーブルを作成すれば
高精度なる電子体温計の単品が製造されることになる。
示す手順に従いFROM上に温度テーブルを作成すれば
高精度なる電子体温計の単品が製造されることになる。
しかしながらFROMのメモリ容量の節約、使用効率、
更には電子体温計の製造容易性を考えれば作成された温
度テーブルが常に所定番地から始まりかつ所定の番地で
終る(同一規格内容である)ことが望ましい。この利益
を得るために実施例の他の電子体温計を製造する場合に
は、以下に示す製造工程を有する。
更には電子体温計の製造容易性を考えれば作成された温
度テーブルが常に所定番地から始まりかつ所定の番地で
終る(同一規格内容である)ことが望ましい。この利益
を得るために実施例の他の電子体温計を製造する場合に
は、以下に示す製造工程を有する。
前記第7図の工程109において作成されるROMテー
ブルは基準サーミスタ使用の下に作成されるいわゆる標
準ROMテーブルであって、それ以後は、製造工程にあ
る他の電子体温計に対して点線で示す如く単に工程11
0のみが実行される。つまり、標準ROMテーブルの内
容は電子体温計に一体に設けられた、あるいは別個に設
けられたところの不揮発性メモリに複製される。
ブルは基準サーミスタ使用の下に作成されるいわゆる標
準ROMテーブルであって、それ以後は、製造工程にあ
る他の電子体温計に対して点線で示す如く単に工程11
0のみが実行される。つまり、標準ROMテーブルの内
容は電子体温計に一体に設けられた、あるいは別個に設
けられたところの不揮発性メモリに複製される。
しかるに、他の電子体温計を構成するために現実に入手
可能なサーミスタRthはおろか基準抵抗体Rsでさえ
もその抵抗値にばらつきを有する。
可能なサーミスタRthはおろか基準抵抗体Rsでさえ
もその抵抗値にばらつきを有する。
11i記(12)(13)式によればこれが基準温度T
Oにおけるカウント出力値N2Qを変化させる原因とな
り、またさらにサーミスタにあってはそのB定数にもば
らつきがあるためにこの温度勾配の特性のばらつきによ
り被測定温度レンジの最大値T、 におけるカウント
値N2丁 も変化してこれ4が温度テーブルの正しいア
クセスを誤らせる原因ともなる。前述した如<ROMテ
ーブルの基準アドレスN20は基準温度T、)におけR
sとの比に依存するから、この比を一定に保てば基準温
度T0を読み出すことができる。この場合特にRS =
Rthoである必要は無いが、比Rs / Rtho
を一定に保つためには抵抗値Rsを調整して合わせ込む
ことができる。
Oにおけるカウント出力値N2Qを変化させる原因とな
り、またさらにサーミスタにあってはそのB定数にもば
らつきがあるためにこの温度勾配の特性のばらつきによ
り被測定温度レンジの最大値T、 におけるカウント
値N2丁 も変化してこれ4が温度テーブルの正しいア
クセスを誤らせる原因ともなる。前述した如<ROMテ
ーブルの基準アドレスN20は基準温度T、)におけR
sとの比に依存するから、この比を一定に保てば基準温
度T0を読み出すことができる。この場合特にRS =
Rthoである必要は無いが、比Rs / Rtho
を一定に保つためには抵抗値Rsを調整して合わせ込む
ことができる。
この実施例は第7図に示す構成が利用される。
図において、恒温槽9は予め基準温度Toに設定されて
いる。データ処理装置8は温度測定装置7からの測定温
度出力T、を監視する。また同時に基準温度T0の状態
に置かれた電子温度計のカウンタ回路2からのカウント
値N2を監視する。そしてこれら監視したデータを基に
抵抗値調整装置10を制御し、発振器1に内蔵された基
準抵抗体Rsの抵抗値を自動的に調整する構成となって
いる。この調整方法の具体的な手順を第8図のフローチ
ャートに従って説明すると、工程202においてデータ
処理装置8は測定温度出力Tを入力する。工程203で
は該入力温度Tが基準温度T、か否かの判別を行ない、
判別がNoであれば工程201に戻る。また判別がYE
Sのときは工程20−4に進み、カウンタ回路2からの
カウント値N2を入力する。工程205では該入力カウ
ント値N2が基準値N20か否かの判別を行う。
いる。データ処理装置8は温度測定装置7からの測定温
度出力T、を監視する。また同時に基準温度T0の状態
に置かれた電子温度計のカウンタ回路2からのカウント
値N2を監視する。そしてこれら監視したデータを基に
抵抗値調整装置10を制御し、発振器1に内蔵された基
準抵抗体Rsの抵抗値を自動的に調整する構成となって
いる。この調整方法の具体的な手順を第8図のフローチ
ャートに従って説明すると、工程202においてデータ
処理装置8は測定温度出力Tを入力する。工程203で
は該入力温度Tが基準温度T、か否かの判別を行ない、
判別がNoであれば工程201に戻る。また判別がYE
Sのときは工程20−4に進み、カウンタ回路2からの
カウント値N2を入力する。工程205では該入力カウ
ント値N2が基準値N20か否かの判別を行う。
判別がNoであれが工程206に進み、基準抵抗Rsを
調整し、入力カウント値NZが基準値N20に接近する
方向に制御する。工程207は発振器lの動作が新たな
抵抗値で十分、に安定するように、所定時間遅延する工
程である。所定時間が経過すると工程202に戻って上
述動作を繰り返す。また工程205において判別がYE
Sになると基準抵抗体Rsの調整を終了する。
調整し、入力カウント値NZが基準値N20に接近する
方向に制御する。工程207は発振器lの動作が新たな
抵抗値で十分、に安定するように、所定時間遅延する工
程である。所定時間が経過すると工程202に戻って上
述動作を繰り返す。また工程205において判別がYE
Sになると基準抵抗体Rsの調整を終了する。
このような抵抗比を一定とする他に、減算回路3の固定
入力Nr)Qを制御、固定する方法がある。
入力Nr)Qを制御、固定する方法がある。
この場合は、第8図の工程203において判別がYES
であれば工程208に移行する。工程208ではカウン
タ回路2からの出力カウント値N2を入力する。工程2
09では減算値N1)OをNAρON2によって算出す
る。ここでNADOはり−ドオンリメモリ4に格納され
た温度テーブルの基準アドレスであって、そこには基準
温度TOが書き込まれている。通常はNACIO< N
2であるから、l NADON2 1の値をそのまま
減算回路3の固定人力とすれば良い。またNA170>
N 2のような状態が起これば減算回路3を加算に切
換える。このような切換えは予め加/g算回路の構成を
用意しておけば簡単に行える。また上述NAtx>の値
を設定、固定する方法には例えばレーザビームスポット
を制御して、減算回路3の入力レジスタ11を所定のパ
ターンに焼き切る方法等がある。工程209は一度行う
だけで繰り返す必要はない。
であれば工程208に移行する。工程208ではカウン
タ回路2からの出力カウント値N2を入力する。工程2
09では減算値N1)OをNAρON2によって算出す
る。ここでNADOはり−ドオンリメモリ4に格納され
た温度テーブルの基準アドレスであって、そこには基準
温度TOが書き込まれている。通常はNACIO< N
2であるから、l NADON2 1の値をそのまま
減算回路3の固定人力とすれば良い。またNA170>
N 2のような状態が起これば減算回路3を加算に切
換える。このような切換えは予め加/g算回路の構成を
用意しておけば簡単に行える。また上述NAtx>の値
を設定、固定する方法には例えばレーザビームスポット
を制御して、減算回路3の入力レジスタ11を所定のパ
ターンに焼き切る方法等がある。工程209は一度行う
だけで繰り返す必要はない。
減算回路3の固定入力Novを抵抗比が一定となるよう
に調整する技法は、サーミスタRthの温度−抵抗計数
(B定数)は一定の精度を有するが、基準温度における
抵抗値のばらつきによる抵抗比の誤差をも補正できるこ
とは明らかである。
に調整する技法は、サーミスタRthの温度−抵抗計数
(B定数)は一定の精度を有するが、基準温度における
抵抗値のばらつきによる抵抗比の誤差をも補正できるこ
とは明らかである。
またサーミスタのB定数については所望の測温精度を損
わない範囲内でこれを厳選することとする。従って以上
の点に鑑みれば、電子体温計の個々に特有なROMテー
ブルを作成するより例えば基準抵抗体の抵抗値Rsを調
整し、サーミスタのB定数を厳選することによって、測
温精度を損わずに、単一規格、内容の標準ROMテーブ
ルを常に正しくアクヤスするような電子体温計がむしろ
容易に製造可能である。
わない範囲内でこれを厳選することとする。従って以上
の点に鑑みれば、電子体温計の個々に特有なROMテー
ブルを作成するより例えば基準抵抗体の抵抗値Rsを調
整し、サーミスタのB定数を厳選することによって、測
温精度を損わずに、単一規格、内容の標準ROMテーブ
ルを常に正しくアクヤスするような電子体温計がむしろ
容易に製造可能である。
このようにして第3図に示された電子体温計は、所望の
測温精度を得る範囲内にB定数が厳選されたサーミスタ
Rthと、このサーミスタの基準温度T0における抵抗
値Rthoとの比が一定でかつ温度によって抵抗値がほ
とんど変化しない基準抵抗体Rsと電子体温計の特定の
サンプルにつき前記所定の手順に従って作成した標準R
OMテーブルと同一規格、内容で複製されたROM又は
FROMを有する。
測温精度を得る範囲内にB定数が厳選されたサーミスタ
Rthと、このサーミスタの基準温度T0における抵抗
値Rthoとの比が一定でかつ温度によって抵抗値がほ
とんど変化しない基準抵抗体Rsと電子体温計の特定の
サンプルにつき前記所定の手順に従って作成した標準R
OMテーブルと同一規格、内容で複製されたROM又は
FROMを有する。
発明の具体的効果
以上述べた如く本発明によれば測温時に発振数から求ま
み値をアドレスとして、温度データを読み出す温度デー
タ格納部を複製して電子温度計を得ることができる。従
って本発明による電子温度式1は大量生産性に富むと共
に原始データは1個でよい。
み値をアドレスとして、温度データを読み出す温度デー
タ格納部を複製して電子温度計を得ることができる。従
って本発明による電子温度式1は大量生産性に富むと共
に原始データは1個でよい。
更に実施例に従えば、温度データ格納部に含まれた標準
ROMテーブルは、広い温度レンジを基準サーミスタの
温度抵抗特性に忠実に従うところの演算(12)式に従
い、予め外部のデータ処理装置によって計算処理して求
めた相関データの複製であるから、高精度で広い測温レ
ンジを有する電子温度計を安価に提供できる。
ROMテーブルは、広い温度レンジを基準サーミスタの
温度抵抗特性に忠実に従うところの演算(12)式に従
い、予め外部のデータ処理装置によって計算処理して求
めた相関データの複製であるから、高精度で広い測温レ
ンジを有する電子温度計を安価に提供できる。
第1図は従来のデジタル温度計の構成を示すブロック図
、 第2図は本発明に係る一実施例の電子体温計の構成を示
すブロック図、 第3図はサーミスタを用いた発振回路の回路図、 第4図は第2図のカウンタ回路を詳細に示すブロック図
、 第5図はROMテーブルの作成方法を示すブロック図。 第6図はROMテーブルの作成手順を示すフローチャー
ト、 第7図は基準抵抗値を合せ込む方法を示すブロック図、 第8図は基−抵抗値を合せ込む手順を示すフローチャー
トである。 ここで、l・・・発振器、2・・・カウンタ回路、3・
・・減算回路、4・・・リードオンリメモリ、5・・・
表示回路、6・・・温度センサ、7・・・温度測定装置
、8・・・データ処理装置、9・・・恒温槽、10・・
・抵抗値調整装置、11・・・入力レジスタである。
、 第2図は本発明に係る一実施例の電子体温計の構成を示
すブロック図、 第3図はサーミスタを用いた発振回路の回路図、 第4図は第2図のカウンタ回路を詳細に示すブロック図
、 第5図はROMテーブルの作成方法を示すブロック図。 第6図はROMテーブルの作成手順を示すフローチャー
ト、 第7図は基準抵抗値を合せ込む方法を示すブロック図、 第8図は基−抵抗値を合せ込む手順を示すフローチャー
トである。 ここで、l・・・発振器、2・・・カウンタ回路、3・
・・減算回路、4・・・リードオンリメモリ、5・・・
表示回路、6・・・温度センサ、7・・・温度測定装置
、8・・・データ処理装置、9・・・恒温槽、10・・
・抵抗値調整装置、11・・・入力レジスタである。
Claims (2)
- (1)所定の温度抵抗係数を有する測温抵抗体と、温度
によって抵抗値の変化しない基準抵抗体とを発振器の発
振°周波数を決定する要素とする発振器と、測温時に前
記2つの抵抗体が交互に接続されたときの発振器の発振
数の比から求まる値をアドレスとし該アドレスに前記発
振数の比から求まる値に相関する温度を固定したテーブ
ルを含む温度データ格納部とを備え、前記求まる値に対
応した温度を前記データ格納部から求める電子温度計に
おいて、基準温度において該発振器に前記測温抵抗体と
基準抵抗体を交互に接続したときの発振数の比をほぼ一
定としたことを特徴とする電子温度計。 - (2)温度データ格納部に含まれたテーブルは、測温抵
抗体とほぼ等しい温度抵抗係数を有する標準測温抵抗体
と該標準測温抵抗体の基準温度における抵抗値にほぼ等
しく温度によって抵抗値の変化しない標準抵抗体を交互
に接続された標準発振器の基準温度における発振数の比
をほぼ一定とし、該発振数の比から求まる値をアドレス
とし。 該アドレスに前記値に相関する温度を固定することによ
り作成されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の電子温度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58100610A JPS59225323A (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 電子温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58100610A JPS59225323A (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 電子温度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59225323A true JPS59225323A (ja) | 1984-12-18 |
JPH0471172B2 JPH0471172B2 (ja) | 1992-11-13 |
Family
ID=14278609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58100610A Granted JPS59225323A (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 電子温度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59225323A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60127433A (ja) * | 1983-12-13 | 1985-07-08 | Toshiba Corp | 温度検出装置の校正方法 |
EP0167876A2 (en) * | 1984-06-13 | 1986-01-15 | Omron Tateisi Electronics Co. | Electric thermometer |
JPS61118632A (ja) * | 1984-11-15 | 1986-06-05 | Toshiba Corp | 温度測定装置 |
WO2001036917A1 (fr) * | 1999-11-12 | 2001-05-25 | Yamatake Corporation | Dispositif de circuit integre et procede de correction de ce dispositif |
WO2001090699A1 (fr) * | 2000-05-25 | 2001-11-29 | Yamatake Corporation | Dispositif d'acquisition de donnees |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5815134A (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子温度計 |
-
1983
- 1983-06-06 JP JP58100610A patent/JPS59225323A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5815134A (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 電子温度計 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60127433A (ja) * | 1983-12-13 | 1985-07-08 | Toshiba Corp | 温度検出装置の校正方法 |
JPH0565805B2 (ja) * | 1983-12-13 | 1993-09-20 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
EP0167876A2 (en) * | 1984-06-13 | 1986-01-15 | Omron Tateisi Electronics Co. | Electric thermometer |
JPS61118632A (ja) * | 1984-11-15 | 1986-06-05 | Toshiba Corp | 温度測定装置 |
JPH0566534B2 (ja) * | 1984-11-15 | 1993-09-22 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
WO2001036917A1 (fr) * | 1999-11-12 | 2001-05-25 | Yamatake Corporation | Dispositif de circuit integre et procede de correction de ce dispositif |
US6841401B1 (en) | 1999-11-12 | 2005-01-11 | Yamatake Corporation | Integrated circuit device and correction method for integrated circuit device |
WO2001090699A1 (fr) * | 2000-05-25 | 2001-11-29 | Yamatake Corporation | Dispositif d'acquisition de donnees |
US6923572B2 (en) | 2000-05-25 | 2005-08-02 | Yamatake Corporation | Data acquisition device using radio frequency identification (RFID) system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0471172B2 (ja) | 1992-11-13 |
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