JPS61118632A - 温度測定装置 - Google Patents
温度測定装置Info
- Publication number
- JPS61118632A JPS61118632A JP24138784A JP24138784A JPS61118632A JP S61118632 A JPS61118632 A JP S61118632A JP 24138784 A JP24138784 A JP 24138784A JP 24138784 A JP24138784 A JP 24138784A JP S61118632 A JPS61118632 A JP S61118632A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temp
- temperature
- resistor
- rom7
- sensitive resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/245—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は電気的に温度を計測する温度測定装置に関す
るものである。
るものである。
温度測定装置には温度検出素子として温度により非線形
的に抵抗が変化するサーミスタ等の感温抵抗が用いられ
ている。この感温抵抗は抵抗値にバラツキがあるため、
温度検出用として用いる場合には、抵抗値のバラツキを
補正する必要がある。
的に抵抗が変化するサーミスタ等の感温抵抗が用いられ
ている。この感温抵抗は抵抗値にバラツキがあるため、
温度検出用として用いる場合には、抵抗値のバラツキを
補正する必要がある。
従来、感温抵抗の変化を周波数に変換する発振回路を備
えた温度測定装置を校正する場合、表示された温度や温
度に換算されたデータを見ながら感温抵抗の抵抗値をボ
ＩＪ、−ムによって調整することが行なわれている。
えた温度測定装置を校正する場合、表示された温度や温
度に換算されたデータを見ながら感温抵抗の抵抗値をボ
ＩＪ、−ムによって調整することが行なわれている。
このボリュームは人間の手によって調整されるため、組
立を完全に自動化することができなかった。しかも、調
整が難しく校正に比較的長い時間を要するとともに、調
整者の熟練度により精度が左右され信頼性に欠ける欠点
があった。
立を完全に自動化することができなかった。しかも、調
整が難しく校正に比較的長い時間を要するとともに、調
整者の熟練度により精度が左右され信頼性に欠ける欠点
があった。
また、ボリュームは可動部品であるため、振動によって
接点が移動し調整が狂ってしまう問題がある。これを防
ぐために、ボリー−ムの可動部をぺイントロツクで接着
固着することが行なわれているが、ペイントロックの工
程が増加するとともに、ペイントの管理が問題となる。
接点が移動し調整が狂ってしまう問題がある。これを防
ぐために、ボリー−ムの可動部をぺイントロツクで接着
固着することが行なわれているが、ペイントロックの工
程が増加するとともに、ペイントの管理が問題となる。
この発明は上記の問題点を解決するためになされたもの
で１組立てならびに温度校正工程の自動化を可能にし、
かつ高精度な温度校正を安定して行ない得る温度測定装
置を提供することを目的とする。
で１組立てならびに温度校正工程の自動化を可能にし、
かつ高精度な温度校正を安定して行ない得る温度測定装
置を提供することを目的とする。
この発明は感温抵抗を有する測温発振器の周波数パルス
を測温カウンタでカウントして、この測温カウンタの出
力をアドレスとしてメモリから温度データを読み出して
表示回路に表示することができ、かつ校正時に測温発振
器のバラツキに対する補正値をメモリに書き込むことが
できるものである。
を測温カウンタでカウントして、この測温カウンタの出
力をアドレスとしてメモリから温度データを読み出して
表示回路に表示することができ、かつ校正時に測温発振
器のバラツキに対する補正値をメモリに書き込むことが
できるものである。
この発明によれば、温度調整を人間の手に頼ることなく
自動的に行なうことが可能となるため、常に信頼性の高
い校正を行なうことができる。しかも、組立ならびに校
正を自動化することにより、作業人員の削減と量産が可
能となり、製造コストを大幅に低減できる。
自動的に行なうことが可能となるため、常に信頼性の高
い校正を行なうことができる。しかも、組立ならびに校
正を自動化することにより、作業人員の削減と量産が可
能となり、製造コストを大幅に低減できる。
以下、図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。
添付図面において、１は温度に対して線形な特性を有す
る感温抵抗、２は温度係数が比較的小さい基準抵抗で、
これらの抵抗１，２はコンデンサ３とともに時定数回路
を構成し、それぞれ測温発振器４に接続されている。測
温発振器４はステップコントローラ５の切換制御信号Ｓ
１により感温抵抗１および基準抵抗２を切換接続し、感
温抵抗１が接続されたときには感温抵抗１、コンデンサ
３の時定数によって発振周波数ｆｘの出力信号Ｓ２を発
生し、また基準抵抗２が接続されたときζこは基準抵抗
２．コンデンサ３の時定数によって発振周波数 ｊ
ｆ、の出力信号Ｓ８を発生する。これらの出力信号亀。
る感温抵抗、２は温度係数が比較的小さい基準抵抗で、
これらの抵抗１，２はコンデンサ３とともに時定数回路
を構成し、それぞれ測温発振器４に接続されている。測
温発振器４はステップコントローラ５の切換制御信号Ｓ
１により感温抵抗１および基準抵抗２を切換接続し、感
温抵抗１が接続されたときには感温抵抗１、コンデンサ
３の時定数によって発振周波数ｆｘの出力信号Ｓ２を発
生し、また基準抵抗２が接続されたときζこは基準抵抗
２．コンデンサ３の時定数によって発振周波数 ｊ
ｆ、の出力信号Ｓ８を発生する。これらの出力信号亀。
Ｓ、は測温カウンタ６に送られる。
このとき、感温抵抗１が測温発振器４に接続されている
と、測温カウンタ６はステップコントローラ５からのカ
ウントアツプ信号Ｓ４によってアップカウンタに切換え
られ、発振周波数ｆＸをある一定数だけカウントアツプ
する。続いて基準抵抗２が測温発振器４に接続されると
、ステップコントローラ５からのカウントダウン信号Ｓ
、によってダウンカウンタに切換えられ１発振周波数ｆ
ｘをカウントアツプするのに要した時間だけ発振周波数
ｆｓをカ ラントダウンする。その結果、測温カウンタ
６には温度に対応した値が記憶され、その値に対応する
値をアドレスとしてＥＰ−ＲＯＭ７から温度データを読
み出し、ステップコントローラ５の制御信号Ｓ・により
表示回路８を介してデジタル表示される。
と、測温カウンタ６はステップコントローラ５からのカ
ウントアツプ信号Ｓ４によってアップカウンタに切換え
られ、発振周波数ｆＸをある一定数だけカウントアツプ
する。続いて基準抵抗２が測温発振器４に接続されると
、ステップコントローラ５からのカウントダウン信号Ｓ
、によってダウンカウンタに切換えられ１発振周波数ｆ
ｘをカウントアツプするのに要した時間だけ発振周波数
ｆｓをカ ラントダウンする。その結果、測温カウンタ
６には温度に対応した値が記憶され、その値に対応する
値をアドレスとしてＥＰ−ＲＯＭ７から温度データを読
み出し、ステップコントローラ５の制御信号Ｓ・により
表示回路８を介してデジタル表示される。
一方、温度校正時には感温抵抗１を基準温度の温槽に入
れて温度を安定に保つ。次に、ＥＰ−ＲＯＭ７の書き込
み用インターフェイス９を通して切換制御信号Ｓ１を入
力して感温抵抗１および基準抵抗２を切換えて発振周波
数ｆｘの出力信号Ｓ２と発振周波数ｆ、の出力信号Ｓ、
を取り出す。このとき、測温カウンタ６、 ＢＰ−ＲＯ
Ｍ７．表示回路８を介して表示された値が基準温度とな
るように外部で演算し、その補正値を書き込みインター
フェイス９を通してＥＰ−ＲＯＭ７のアドレスに書き込
む。他の温度についても、感温抵抗１の温度係数から計
算することｌこより、それぞれの補正値を書き込みイン
ターフェイス９を通してＥＰ−ＲＯＭ７のアドレスに書
き込む。なお、感温抵抗１がサーミスタである場合には
、サーミスタ非線形性の補正を書き込みインターフェイ
ス９を通してＥＰ−ＲＯＭ７に書き込むことができる。
れて温度を安定に保つ。次に、ＥＰ−ＲＯＭ７の書き込
み用インターフェイス９を通して切換制御信号Ｓ１を入
力して感温抵抗１および基準抵抗２を切換えて発振周波
数ｆｘの出力信号Ｓ２と発振周波数ｆ、の出力信号Ｓ、
を取り出す。このとき、測温カウンタ６、 ＢＰ−ＲＯ
Ｍ７．表示回路８を介して表示された値が基準温度とな
るように外部で演算し、その補正値を書き込みインター
フェイス９を通してＥＰ−ＲＯＭ７のアドレスに書き込
む。他の温度についても、感温抵抗１の温度係数から計
算することｌこより、それぞれの補正値を書き込みイン
ターフェイス９を通してＥＰ−ＲＯＭ７のアドレスに書
き込む。なお、感温抵抗１がサーミスタである場合には
、サーミスタ非線形性の補正を書き込みインターフェイ
ス９を通してＥＰ−ＲＯＭ７に書き込むことができる。
したがって、このような構成によれば、書き込みインタ
ーフェイス９に電子計算機を連結してＢＰ−ＲＯＭ７に
各種の温度情報を入力することができるため、常に精度
は一定となり、安定した信頼性の高い校正を行なうこと
ができる。しかも、電子計算機によって温度調整を自動
的に行なうことができるため、作業人員を削減すること
ができるとともに、量産が可能となり価格の低減をはか
ることができる。
ーフェイス９に電子計算機を連結してＢＰ−ＲＯＭ７に
各種の温度情報を入力することができるため、常に精度
は一定となり、安定した信頼性の高い校正を行なうこと
ができる。しかも、電子計算機によって温度調整を自動
的に行なうことができるため、作業人員を削減すること
ができるとともに、量産が可能となり価格の低減をはか
ることができる。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく
、要旨を変更しない範囲ζこおいて種々変形して実施す
ることができる。例えばＥＰ−ＲＯＭ７はＲＡＭやＥＥ
Ｐ−ＲＯＭであっても何らさしつかえない。
、要旨を変更しない範囲ζこおいて種々変形して実施す
ることができる。例えばＥＰ−ＲＯＭ７はＲＡＭやＥＥ
Ｐ−ＲＯＭであっても何らさしつかえない。
添付図面はこの発明の一実施例の回路構成を示すブロッ
ク図である。 １・・・感温抵抗 ２・・・基準抵抗３・・・
コンデンサ ４・・・測温発振器５・・・ステッ
プコントローラ ６・・・測温カウンタ７・・・ＦＩ
Ｐ−ＲＯＭ ８・・・表示回路呻士 １弗１藏瘍
ク図である。 １・・・感温抵抗 ２・・・基準抵抗３・・・
コンデンサ ４・・・測温発振器５・・・ステッ
プコントローラ ６・・・測温カウンタ７・・・ＦＩ
Ｐ−ＲＯＭ ８・・・表示回路呻士 １弗１藏瘍
Claims (3)
- （１）温度の変化を抵抗値の変化に変換する感温抵抗を
有する測温発振器と、この測温発振器の周波数パルスを
カウントする測温カウンタと、上記測温発振器のバラツ
キに対する補正値を外部から設定可能なメモリと、この
メモリの出力にもとづいて温度値を表示する表示回路と
を具備したことを特徴とする温度測定装置。 - （２）測温発振器は温度の基準となる基準抵抗を備えて
いることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の温度
測定装置。 - （３）メモリは感温抵抗または基準抵抗の少なくとも一
方の抵抗値のバラツキを補正する補正値が記憶されるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載
の温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24138784A JPS61118632A (ja) | 1984-11-15 | 1984-11-15 | 温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24138784A JPS61118632A (ja) | 1984-11-15 | 1984-11-15 | 温度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61118632A true JPS61118632A (ja) | 1986-06-05 |
| JPH0566534B2 JPH0566534B2 (ja) | 1993-09-22 |
Family
ID=17073526
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24138784A Granted JPS61118632A (ja) | 1984-11-15 | 1984-11-15 | 温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61118632A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007134031A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Hynix Semiconductor Inc | 温度検出装置 |
| JP2012090009A (ja) * | 2010-10-18 | 2012-05-10 | Lapis Semiconductor Co Ltd | 半導体集積回路及び測定温度検出方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59225323A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計 |
| JPS59225324A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計の製造方法 |
| JPS59225325A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計の製造方法 |
-
1984
- 1984-11-15 JP JP24138784A patent/JPS61118632A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59225323A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計 |
| JPS59225324A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計の製造方法 |
| JPS59225325A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計の製造方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007134031A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Hynix Semiconductor Inc | 温度検出装置 |
| JP2012090009A (ja) * | 2010-10-18 | 2012-05-10 | Lapis Semiconductor Co Ltd | 半導体集積回路及び測定温度検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0566534B2 (ja) | 1993-09-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |