JPH0333213B2 - - Google Patents

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JPH0333213B2
JPH0333213B2 JP58100611A JP10061183A JPH0333213B2 JP H0333213 B2 JPH0333213 B2 JP H0333213B2 JP 58100611 A JP58100611 A JP 58100611A JP 10061183 A JP10061183 A JP 10061183A JP H0333213 B2 JPH0333213 B2 JP H0333213B2
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temperature
value
circuit
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count
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Yutaka Muramoto
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Terumo Corp
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Publication of JPH0333213B2 publication Critical patent/JPH0333213B2/ja
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K15/00—Testing or calibrating of thermometers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
    • G01K7/245—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit

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Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 技術分野 本発明は電子温度計の製造方法に関するもので
あり、更に詳細に言えば、温度変換テーブルの標
準化を図ることのできる電子温度計の製造方法に
関するものである。
従来技術及びその問題点 従来、第１図に示す如く感温素子を用いた発振
回路の出力パルス列を計数し、この計数値から温
度値を得る変換を不揮発性のメモリにプログラム
することによつて行うようにしたデジタル温度計
が特開昭50−131576号により提案されている。し
かしながら、この発明によれば、発振特性の異な
る装置毎にプログラムすることを要し、大量生産
性に欠けていた。この不利益は原始データを基に
作成した温度変換テーブルに汎用性を与える利用
技術によつて解決されるものである。そして特に
重要なことはかかるテーブルを利用する発振回路
の構成素子の選択に融通性を与えることが、複製
にて作成される変換テーブルを用いる電子温度計
の生産性と歩留まりを高くすることを見い出し本
発明を提案するに至つたものである。
発明の目的 このような課題の下に提案された本発明の目的
は、高精度で安価な電子温度計の大量生産を容易
にする電子温度計の製造方法を提案する所にあ
る。
本発明の電子温度計の製造方法は上記の目的を
達成するために、温度により抵抗値が変化しない
抵抗体と、温度により抵抗値が変化する感温素子
と、前記抵抗体又は感温素子を接続して夫々の抵
抗値に応じた周波数のパルス信号列を発生する発
振回路と、前記発振回路に前記抵抗体を接続して
所定数のパルス信号列を計数するまでに要した時
間を計数する第１のカウンタ回路と、該第１のカ
ウンタ回路の計数した時間だけ前記発振回路に前
記感温素子を接続して発生したパルス信号列を計
数する第２のカウンタ回路と、該第２のカウンタ
回路の計数値と出力温度との関係を規定した温度
変換テーブルとを有する電子温度計の製造方法で
あつて、 (a) 第１の電子温度計を使用して、該電子温度計
で測定する最低温度と最高温度との間の各既知
の温度での前記第２のカウンタ回路の計数値か
らほぼ最低温度における前記第２のカウンタ回
路の計数値を引いた値をアドレスとし、前記既
知の温度を出力温度値とする前記温度変換テー
ブルを作成する工程と、 (b) 前記温度変換テーブルを使用し、前記第２の
カウンタ回路の計数値を変更する演算手段を備
える電子温度計に対して、所定の既知温度での
前記温度変換テーブルからの出力温度値が前記
既知温度になるように、前記第２のカウンタ回
路の計数値を変更する調整値を前記演算手段に
セツトする工程とを備えることを概要とする。
発明の具体的説明 次に本願発明の好適なる一実施例としての電子
体温計について詳細に説明する。第２図は一実施
例の電子温度計の構成を示すブロツク図である。
図において、１はサーミスタRthを感温素子（以
下測温抵抗体という）とする発振器で、内部には
温度によつて抵抗値の変化しない抵抗体（以下基
準抵抗体という）RSを含み、これら両抵抗体RS、
Rthは端子Ｓに加えられる選択信号によつて内部
の発振回路に切替接続され夫々fS、fthなる周波
数のパルス列を出力する。２はこれらのパルス列
を係数するカウンタ回路で、前記発振器１を含む
回路素子の時系列にそつた特性変動を除去するた
めに前記パルス列を可変に制御されたゲート時間
幅TGの間だけ計数し、常に検出温度に対する正
しいカウント値N2を出力する。３はカウント値
N2から所定値NDOを減算する減算回路で、後接す
るメモリの容量を制約するために所定値NDOを差
引いた値のアドレス出力NADを出力する。４は標
準のROMテーブルを記憶させたリードオンリメ
モリ（ROMまたはPROMで良い）で、アドレス
出力NADによつてアドレスされそこに相関記憶さ
れている温度データTtを読出す。５は表示回路
で、読出された温度データTtをデジタル表示す
る。
ここで発振器１は例えば第３図に示す如く２つ
のＣ−MOSインバータＩ１，Ｉ２と、コンデン
サＣと基準抵抗体RSと、測温抵抗体たるサーミ
スタRthと、端子ＳにLOレベルが入力されてい
るときに前記基準抵抗体USを発振回路に接続し、
またHIレベルが入力されているときに前記サー
ミスタRthを発振回路に切替接続するスイツチ
SWと、前記Ｃ−MOSインバータＩ１の固定の保
護抵抗Ｒとから成る。
また、カウンタ回路２は第４図に示す如く常に
一定の周波数f0のパルス列を出力する基準発振器
２１と、周波数fSのパルス列を所定数N1まで計数
するカウンタ２２と、このときの計数に要した時
間TGの間だけ周波数f0のパルス列をUPカウント
し引続き同じパルス列を計数値が０になるまで
DOWNカウントするカウンタ２３と、この
DOWNカウントに要した時間（前記TGに等し
い）だけ周波数fthのパルス列を計数するカウン
タ２４と、以上のような計数動作を繰返し行わせ
るためのフリツプフロツプ（以下FFと呼ぶ）２
５、および遅延パルス発生回路（以下DP回路と
呼ぶ）２６と、ANDゲート２７，２８から成る。
以上の構成において、温度測定がなされる原理
を以下に説明する。先づ発振器１のスイツチSW
を基準抵抗体RS側に倒すとこのときの発振周波
数fSはｋを比例定数として fS＝１／ｋ・Ｃ・RS ……(1) で与えられる。この発振周波数fSは温度変化に対
してほとんど変動しない。次にスイツチSWをサ
ーミスタRth側に倒したときの発振周波数fthは
同様にして fth＝１／ｋ・Ｃ・Rth ……(2) である。またこのときのサーミスタRthの温度−
抵抗特性は一般に次式によつて与えられる。
ここで R0：基準温度T0におけるサーミスタの抵抗値 Rth：ある温度Ttにおけるサーミスタの抵抗値 Ｂ：サーミスタの温度抵抗係数（以下、Ｂ定数と
呼ぶ） である。
以上から発振器１にサーミスタRthを接続した
場合は、温度変化によつてサーミスタRthの感温
抵抗値が変化しているとこれに対応して発振周波
数fthが変化し、この発振器１から生ずるパルス
列を仮に一定値に制御されたゲート時間幅Tcの
間だけ計数すればそのカウント値Nthは次式によ
つて変化する。
Nth＝Tc／ｋ・Ｃ・Rth ……(4) ここで基準温度T0におけるカウント値N0を No＝Tc／ｋ・Ｃ・Ro ……(5) とすればある温度Ttにおけるカウント値Nthの
一般式は で与えられる。
従つて高い精度で制御されている温度環境にお
いて基準温度T0におけるカウント値N2を知れば、
それだけである温度（変数）値Ttにおいてカウ
ンタが計数すべきカウント（関数）値Nthは(6)式
によつて一義的に定まる。
よつて逆にある温度の測定時に、単に、カウン
ト値Nthを得るだけで直ちに被測定温度Ttを得
ることの可能な温度測定装置を構成できるのであ
るが、このまま、つまり前記ゲート時間幅Tcを
常に一定値に制御したのでは周囲温度の変化によ
つてＣ−MOSインバータＩ１，Ｉ２のスレツシ
ユホルド電圧およびコンデンサＣの容量も変化す
るからこれによる発振周波数fthの変動がカウン
ト値Nthの変動となつて現れる。そしてもはや変
動したこの値Nth′はサーミスタRthだけの温度特
性に依存するものではなくなる。
このために実施例の構成は以下に述べる方法に
よつて可変に制御されるゲート時間幅TGを得て
いる。先ず発振器１に基準抵抗体RSを接続して
生ずるパルス列が常にカウント値N1まで計数さ
れるに要する特性変動により可変のゲート時間幅
TGを求め、次にこれと同一ゲート時間幅TGだけ
前記発振器１にサーミスタRthを接続して生ずる
パルス列を計数してそのカウント値N2を得る。
よつて２つのカウント値N1，N2とゲート時間幅
TGとの間には TG＝１／fSN1＝１／fthN2 ……(7) が成り立ち、かつ２つのカウント値N1，N2の間
には N2＝fth／fS・N1 ……(8) が成り立つ、ここでカウント値N2は発振器１に
サーミスタRthを接続してゲート時間幅TGのあい
だ計数したものであるから N2＝TG／ｋ・Ｃ・Rth ……(9) および基準温度T0におけるカウント値N20は N20＝TG／ｋ・Ｃ・Ro ……(10) によつて与えられる。
よつてある温度Ttにおいて計数されたカウン
ト値N2はN1を所定数としてかつ前記２度の計数
動作において生ずる２つの発振周波数の比fth／fSに 比例した値を持つものとなる。
今、仮に温度変化に対して２つの発振周波数
fS、fthが夫々fS′，fth′に変化したとしても両者は
特性の変化した共通なＣ−MOSインバータＩ
１′，Ｉ２′とコンデンサC′を用いて短い期間にか
つ可変に制御されたゲート時間幅TGの間だけ発
振したものであるからそのカウント値N2′は N2′＝fth′／fS′・N1＝fth／fS・N1＝N2 ……(11) となつて常に正しく再現性の良いカウント値N2
となる。
この方法によつて基準抵抗体RSとサーミスタ
Rthとを除く実施例の全ての構成においてはその
回路素子特性にゆるやかな経時変動があつても相
殺されるという効果を発揮するものである。
発明の具体的作用 次に第３図、第４図を再び参照して前記可変に
制御されるゲート時間幅TGとこの区間にカウン
ト値N2を得る動作を詳細に説明する。
第４図において、直前の計数動作の終りには
DP回路２６のパルス出力がカウンタ２２，２４
の計数値をリセツトする。カウンタ２２の計数値
は０になり出力端子QnのレベルはLOになる。そ
してこのLOレベルは、自己のカウントイネーブ
ル端子（以下端子Ｅと呼ぶ）Ｅを付勢してその計
数端子Ｃに入力があればこれを計数可能とする。
またカウンタ２４の端子Ｅを消勢して計数不能と
し、さらにカウンタ２３をUPカウントモードに
設定する。一方、第４図の発振器１では端子Ｓに
LOレベルが入力されるから基準抵抗体RSが発振
回路に接続されて周波数fSのパルス列を出力す
る。また第４図において、DP回路２６はFF２５
をリセツトするから出力端子がHIになつて
ANDゲート２７，２８の入力を付勢する。以上
の状態では、先ず周波数fSの入力パルス列をカウ
ンタ２２が計数し同時に周波数f0のパルス列をカ
ウンタ２３がUPカウントする。次にカウンタ２
２の計数値が所定値N1に達すると、この出力端
子QnがHIレベルになつて自己の計数動作を停止
させ、カウンタ２４の端子Ｅを付勢し、同時にカ
ウンタ２３をDOWNカウントモードに設定する。
そしてこのときまでの計数に要した時間はTGで
ある。一方発振器１では、端子ＳにHIレベルが
入力されるからサーミスタRthが発振回路に切替
接続されて周波数fthのパルス列を出力する。こ
の状態では、周波数fthの入力パルス列をカウン
タ２４が計数し同時に周波数f0のパルス列をカウ
ンタ２３がDOWNカウントする。やがて、カウ
ンタ２３の計数値が０になるまでDOWNカウン
トすると、その出力端子Qnの立ち上がりがFF２
５をセツトしその出力端子がLOレベルになつ
てカウンタ２３，２４の計数入力を消勢する。こ
の時のカウンタ２４が計数した値N2は、いわゆ
る可変に制御されたゲート時間巾TGにおいて周
波数fthの入力パルス列を計数したものである。
次にDP回路２６はFF２５の出力端子ＱがHIで
あることによつて所定の時間を経過後に正のパル
スを出力して新たな計数動作を繰返す。
カウンタ２３へのUP方向及びDOWN方向に計
数するパルス列は同一周波数f0のクロツクである
ので、上述動作によればカウンタ２２が周波数fS
のパルス列を計数値N1までカウントする時間に、
カウンタ２４が周波数fthのパルス列を計数した
カウント値N2を得ることになる。このカウント
値N2から後述する理由によつてリードオンメモ
リ４のメモリ容量を節約するために減算回路３に
おいて所定値NDOを差し引いてその出力値NADを
リードオンリメモリ４のアドレスラインに送つて
その番地NADから対応する温度データTtを読み出
しこれを表示回路５にて表示するものである。
実施例の電子体温計の少なくとも１の標準的な
サンプルの製造時には、かかるカウント値N2か
ら所定値NDOを差し引いた値NADによつてアドレ
スされるPROM上に対応する正しい温度データ
を書込んだいわゆるROMテーブルを作成する必
要がある。そしてこの時のサンプル電子体温計に
内蔵されるサーミスタを便宜上基準サーミスタと
言う。
ここでは先ずカウント値N2に着目し、所定値
NDOを差し引いた値NADについては後述する。再
び前記(3)、(9)、(10)式を用いてカウント値N2と被
測定温度データTtとの一般式を示せば次の如く
である。
但し基準温度Toにおけるカウント値N20は前
記(8)式より N20＝ftho／fS・N1 ……（13） ここでfthoは基準温度T0において発振器１に
基準サーミスタRthを接続したときの発振周波数
である。
今、前記（13）式において基準温度T0におけ
るカウント値N20に着目する。この値は基準サー
ミスタRthの基準温度T0における抵抗値Rth0と基
準抵抗体の抵抗値RSとの比RS／Rth0に比例して
いる。またこのカウント値N20は被測定温度レン
ジをT0≦Tt≦TTとするときにカウント値がN20
≦N2≦N2Tのレンジで対応しROMテーブルを作
成するときには基準温度T0に対応する基準アド
レスN20となるものである。
以下このROMテーブルを作成する手順につい
て説明する。第５図はROMテーブルの作成方法
を示すブロツク図である。図において、先ず恒温
槽９の温度をT0、TTの２定温度点に順次設定し
てそれぞれの温度におけるカウント値N2＝N20、
N2＝N2Tを適当な方法で外部に接続したデータ処
理装置８に入力する。外部のデータ処理装置８は
同時に他の高精度な温度測定装置７から前記２定
温度データT0，TTを受け取るから基準サーミス
タRthのＢ定数は次式によつて求められる。
Ｂ＝InN20／N2T／１／TT−１／T0 ……（14） この工程を第６図のROMテーブル作成手順を
示すフローチヤートに従つて更に詳しく説明す
る。先ず恒温槽９の設定温度を基準温度T0とし
た状態において、データ処理装置８は工程102で、
温度センサ６がセンスした温度測定装置７からの
測定温度Ｔを入力する。
工程103では該入力温度Ｔが基準温度T0か否か
の判別を行う。判別がNOであれば高低１０２に
戻り新たな温度入力Ｔを得る。また判別がYES
であれば工程104においてカウンタ回路２の出力
カウント値N20を入力する。次に恒温槽９の設定
温度を所定温度TTとした状態において、同様に
して、工程105と106を実行する。やがて恒温槽９
内の温度が所定温度TTに達し、工程106における
判別がYESであれば、工程107においてこのとき
のカウンタ回路２の出力カウント値N2Tを入力す
る。工程108では、以上の２定温度情報T0，TT
と、各対応する出力カウント値N20，N2Tとから
前記（14）式に従つて基準サーミスタRthのＢ定
数を演算する。この時点で外部のデータ処理装置
は今求めたＢ定数と、前にカウンタ回路２から入
力されたカウント値N20、N2Tおよび前に他の高
精度な温度測定装置７から入力された温度データ
T0，TTを有する。次に工程109では必要な測定温
度レンジ（例えばT0〜TT）の区間をT0から測温
の精度△Ｔ（例えば0.1℃）ずつ増加させた温度
（変数）値Ttに対して対応するカウント（関数）
値N2の値を前記(12)式に従つて算出する。
第５図は製造される電子体温計のリードオンリ
メモリに複製される相関テーブルを作成する構成
を示すものであつて、恒温槽９内に配置されてい
るサーミスタRth、基準抵抗、発振器は複製され
るべきオリジナルデータを作成するという意味
で、標準測温抵抗体、標準抵抗体、標準発振器と
呼ぶことができる。
一般には被測定温度レンジをT2〜T3としてか
つT0＜T2＜T3＜TTなる関係において上記データ
対をT2〜T3までとして算出しても良い。いずれ
にしても温度データTtを例えばTD1，TD2……TDN
まで温度ピツチ△Ｔずつ増加してゆき算出した結
果をND1、ND2……NDNとすれば、ROMテーブル
のアドレスND1には温度データTD1が、アドレス
ND2には温度データTD2が…の如く格納されれば
良い。このときROMテーブルの基準アドレス
ND1が実施例の体温計の構成上大きな値であるの
でリードオンリメモリ４のメモリ容量を節約する
ために前記基準アドレスND1から所定値NDO≦ND1
を差し引いてその値を小さくしこれを実質的な基
準アドレスNADとしている。工程110では、上述
の如くして算出されたアドレスデータND1、ND2
……NDNから所定値NDOを差し引いた値NAD1、
NAD2……NADNを求め、これを不揮発性メモリ４
へのアドレス入力とし、各対応する温度データ
TD1、TD2……TDNをデータ入力として相関記憶さ
せている。
第２図に示す一実施例の回路構成においては、
前記工程110で作成された温度テーブルを正しく
読み出しするためにカウンタ回路２の出力カウン
ト値N2から前記所定値NDOが差し引かれる減算回
路３を有する。このことを念頭において以下説明
の便宜上再びROMテーブルの基準アドレスは
N20として述べる。
原理的には他の複数の電子体温計について前記
第６図に示す手順に従いPROM上に温度テーブ
ルを作成すれば高精度なる電子体温計の単品が製
造されることになる。しかしながらPROMのメ
モリ容量の節約、使用効率、更には電子体温計の
製造容易性を考えれば作成された温度テーブルが
常に所定番地から始まりかつ所定の番地で終る
（同一規格内容である）ことが望ましい。この利
益を得るために実施例の他の電子体温計を製造す
る場合には、以下に示す製造工程を有する。
前記第６図の工程109において作成される
ROMテーブルは基準サーミスタ使用の下に作成
されるいわゆる標準ROMテーブルであつて、そ
れ以後は、製造工程にある他の電子体温計に対し
て点線で示す如く単に工程110のみが実行される。
つまり、標準ROMテーブルの内容は電子体温計
に一体に設けられた、あるいは別個に設けられた
ところの不揮発性メモリに複製される。
しかるに、他の電子体温計を構成するために現
実に入手可能なサーミスタRthはおろか基準抵抗
体RSでさえもその抵抗値にばらつきを有する。
前記(12)（13）式によればこれが基準温度T0にお
けるカウント出力値N20を変化させる原因とな
り、またさらにサーミスタにあつてはそのＢ定数
にもばらつきがあるためにこの温度勾配の特性の
ばらつきにより被測定温度レンジの最大値TTに
おけるカウント値N2Tも変化してこれが温度テー
ブルの正しいアクセスを誤らせる原因ともなる。
前述した如くPOMテーブルの基準アドレスN20
は基準温度T0におけるサーミスタ抵抗値Rth0と
基準抵抗体の抵抗値RSとの比に依存するから、
この比を一定に保てだ基準温度T0を読み出すこ
とができる。この場合特にRS＝Rth0である必要
は無いが、比RS／Rth0を一定に保つためには抵
抗値RSを調整して合わせ込むことができる。
この実施例は第８図に示す構成が利用される。
図において、恒温槽９は予め基準温度T0に設定
されている。データ処理装置８は温度測定装置７
からの測定温度出力T0を監視する。また同時に
基準温度T0の状態に置かれた電子温度計のカウ
ンタ回路２からのカウント値N2を監視する。そ
してこれら監視したデータを基に抵抗値調整装置
１０を制御し、発振器１に内蔵された基準抵抗体
RSの抵抗値を自動的に調整する構成となつてい
る。この調整方法の具体的な手順を第７図のフロ
ーチヤートに従つて説明すると、工程202におい
てデータ処理装置８は測定温度出力Ｔを入力す
る。工程203では該入力温度Ｔが基準温度T0か否
かの判別を行ない、判別がNOであれば工程201
に戻る。また判別がYESのときは工程204に進
み、カウンタ回路２からのカウント値N2を入力
する。工程205では該入力カウント値N2が基準値
N20か否かの判別を行う。判別がNOであれば工
程206に進み、基準抵抗RSを調整し、入力カウン
ト値N2が基準値N20に接近する方向に制御する。
工程207は発振器１の動作が新たな抵抗値で十分
に安定するように、所定時間遅延する工程であ
る。所定時間が経過すると工程202に戻つて上述
動作を繰り返す。また工程205において判別が
YESになると基準抵抗体RSの調整を終了する。
このような抵抗比を一定とする他に、減算回路
３の固定入力NDOを制御、固定する方法がある。
この場合は、第７図の工程203において判別が
YESであれば工程208に移行する。工程208では
カウンタ回路２からの出力カウント値N2を入力
する。工程209では減算値NDOをNADO−N2によつ
て算出する。ここでNADOはリードオンリメモリ
４に格納された温度テーブルの基準アドレスであ
つて、そこには基準温度T0が書き込まれている。
通常はNADO＜N2であるから、｜NADO−N2｜の値
をそのまま減算回路３の固定入力とすれば良い。
またNADO＞N2のような状態が起これば減算回路
３を加算に切換える。このような切換えは予め
加／減算回路の構成を用意しておけば簡単に行え
る。また上述NADOの値を設定、固定する方法に
は例えばレーザビームスポツトを制御して、減算
回路３の入力レジスタ１１を所定のパターンに焼
き切る方法等がある。工程209は一度行うだけで
繰り返す必要はない。
減算回路３の固定入力NDOを抵抗比が一定とな
るように調整する技法は、サーミスタRthの温度
−抵抗計数（Ｂ定数）は一定の精度を有するが、
基準温度における抵抗値のばらつきによる抵抗比
の誤差をも補正できることは明らかである。
またサーミスタのＢ定数については所望の測温
精度を損わない範囲内でこれを厳選することとす
る。従つて以上の点に鑑みれば、電子体温計の
個々に特有なROMテーブルを作成するより例え
ば基準抵抗体の抵抗値RSを調整し、サーミスタ
のＢ定数を厳選することによつて、測温精度を損
わずに、単一規格、内容の標準ROMテーブルを
常に正しくアクセスするような電子体温計がむし
ろ容易に製造可能である。
このようにして第３図に示された電子体温計
は、所望の測温精度を得る範囲内にＢ定数が厳選
されたサーミスタRthと、このサーミスタの基準
温度T0における抵抗値Rth0との比が一定でかつ
温度によつて抵抗値がほとんど変化しない基準抵
抗体RSと電子体温計の特定のサンプルにつき前
記所定の手順に従つて作成した標準ROMテーブ
ルと同一規格、内容で複製されたROM又は
PROMを有する。
発明の具体的効果 本発明は以上に説明したように構成されるた
め、ある温度を測定した時の第２のカウンタ回路
の計数値は、電子温度計の測定するほぼ最低温度
から最高温度に対応する容量の温度変換テーブル
中のその温度を指すように演算手段で変更され
る。従つて、抵抗体の抵抗値に高精度を要求さ
れない、共通の温度変換テーブルを使用でき
る、演算回路をIC一体化すれば抵抗体の精度
を要求されるよりもずつと製造コストが安い、等
の理由により、高精度で安価な電子温度計の製造
方法を提供できる。
また、基準温度における演算手段の出力が常に
一定になるように調整値がセツトされる。従つ
て、高精度な温度変換テーブルは一つ求めれば
よい、感温素子の温度抵抗係数さえ揃えれば全
ての電子温度計に対して同一の温度変換テーブル
を使用できる、調整値の演算及びセツトはたつ
た一回の設定工程で済み、温度計毎に温度変換テ
ーブルを作成することに比べて格段に容易であ
る、等の理由により、この種の電子温度計の大量
生産が極めて容易になる。
【図面の簡単な説明】
第１図は従来のデジタル温度計の構成を示すブ
ロツク図、第２図は本発明に係る一実施例の電子
体温計の構成を示すブロツク図、第３図はサーミ
スタを用いた発振回路の回路図、第４図は第２図
のカウンタ回路を詳細に示すブロツク図、第５図
はROMテーブルの作成方法を示すブロツク図、
第６図はROMテーブルの作成手順を示すフロー
チヤート、第７図は基準抵抗値を合せ込む手順を
示すフローチヤート、第８図は基準抵抗値を合せ
込む方法を示すブロツク図である。 ここで、１……発振器、２……カウンタ回路、
３……減算回路、４……リードオンリメモリ、５
……表示回路、６……温度センサ、７……温度測
定装置、８……データ処理装置、９……恒温槽、
１０……抵抗値調整装置、１１……入力レジスタ
である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 温度により抵抗値が変化しない抵抗体と、温
    度により抵抗値が変化する感温素子と、前記抵抗
    体又は感温素子を接続して夫々の抵抗値に応じた
    周波数のパルス信号列を発生する発振回路と、前
    記発振回路に前記抵抗体を接続して所定数のパル
    ス信号列を計数するまでに要した時間を計数する
    第１のカウンタ回路と、該第１のカウンタ回路の
    計数した時間だけ前記発振回路に前記感温素子を
    接続して発生したパルス信号列を計数する第２の
    カウンタ回路と、該第２のカウンタ回路の計数値
    と出力温度との関係を規定した温度変換テーブル
    とを有する電子温度計の製造方法であつて、 (a) 第１の電子温度計を使用して、該電子温度計
    で測定する最低温度と最高温度との間の各既知
    の温度での前記第２のカウンタ回路の計数値か
    らほぼ最低温度における前記第２のカウンタ回
    路の計数値を引いた値をアドレスとし、前記既
    知の温度を出力温度値とする前記温度変換テー
    ブルを作成する工程と、 (b) 前記温度変換テーブルを使用し、前記第２の
    カウンタ回路の計数値を変更する演算手段を備
    える電子温度計に対して、所定の既知温度での
    前記温度変換テーブルからの出力温度値が前記
    既知温度になるように、前記第２のカウンタ回
    路の計数値を変更する調整値を前記演算手段に
    セツトする工程とを備えることを特徴とする電
    子温度計の製造方法。
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