JPH0820314B2

JPH0820314B2 - 電子温度計

Info

Publication number: JPH0820314B2
Application number: JP59202778A
Authority: JP
Inventors: 正喜小沢; 俊幸保坂; 正幸吉澤
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 1984-09-27
Filing date: 1984-09-27
Publication date: 1996-03-04
Anticipated expiration: 2011-03-04
Also published as: JPS6179126A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、ディジタル電子温度計に関し、特に、製品
精度バラツキを補正して高精度表示を可能とする電子温
度計の初期論理調整技術に関する。

〔従来の技術〕

従来、サーミスタ等の感温抵抗を用いた電子温度計に
おいては、測定温度範囲では温度変化に影響されず略一
定の抵抗値を示す基準抵抗を有しており、基準抵抗の抵
抗値と感温抵抗の抵抗値との比（抵抗比）を求めて温度
に換算（デコード）して表示するようになっている。即
ち、従来の電子温度計は、サーミスタと基準抵抗及び初
期調整用可変抵抗器を有し、サーミスタと基準抵抗を切
り換えてそれぞれの抵抗値に基づく周波数を持つパルス
信号を発生する抵抗値−周波数変換回路と、源振クロッ
クを分周して一定計数値に達するまで上記各パルス信号
の通過を許容する計数時限回路と、源振クロックが一定
計数値になる一定計数時間に亘り基準抵抗に基づく基準
パルス信号を計数した後、リセット後に同じく上記計数
時間に亘り感温抵抗に基づく検出パルス信号を計数する
唯一のカウンタ（分周回路）とを有しており、基準パル
ス信号の計数値と検出パルス信号の計数値とをそれぞれ
ラッチしてから、それらの比（抵抗比）を算出し、参照
メモリでその抵抗比を温度に換算して温度表示するもの
である。

このような構成の電子温度計は次のように動作する。
まず、第１フェーズにおいては、抵抗値−周波数変換回
路が基準抵抗及び初期調整用可変抵抗器を選択して両者
の直列合成抵抗値を持つ基準パルス信号を発生する。こ
の基準パルス信号は計数時限回路により特定される恒常
数の計数時間Ｔに亘りカウンタで計数され、その基準パ
ルス信号の計数値（第１の計数値N₁）はラッチされて記
憶手段によって一時記憶される。そして上記カウンタが
リセットされる。次に、第２フェーズにおいては、抵抗
値−周波数変換回路がサーミスタ（感温抵抗）を選択し
てその温度の抵抗値に応じた周波数を持つ温度検出パル
ス信号を発生する。この温度検出パルス信号も計数時限
回路により特定される計数時間Ｔに亘り同じカウンタで
計数されて温度検出パルス信号の計数値（第２の計数値
N₂）が得られる。そして一時記憶された第１の計数値と
第２の計数値との比（N₁/N₂）が算出され、温度換算に
より温度が表示されるようになっている。このような第
１フェーズと第２フェーズとは繰り返して何度も遂行さ
れ、例えば温度表示値がピークであることが判定された
場合、フェーズの繰り返しが停止される。

このように基準抵抗の抵抗値とサーミスタの抵抗値と
の比から温度表示を得るためには、温度計毎の換算テー
ブル等は一定の換算データを持っているため、ある一定
の温度（例えば室温）においては抵抗比はどの温度計で
も一定値でなければならないが、実際には、基準抵抗や
サーミスタには抵抗値の個体差（抵抗の製造バラツキ）
が存在することから、それらの抵抗比は一定とはならな
い。そこで現実の抵抗比を一定値にするために、製造段
階の検査工程においては初期調整用可変抵抗器を動かし
て基準抵抗との合成直列抵抗値を増減調整し、抵抗比が
一定値になるように合わせ込んでいる（絶対値精度調
整）。このような可変抵抗器を用いた温度計には特願昭
58−234652号に見られる。

しかしながら、上記の初期調整用可変抵抗器を備えた
電子温度計においては次のような問題点があった。

検査工程において一定の温度下に電子温度計（体温
計）を置き、その温度表示値が一定温度になるように可
変抵抗器に対し手動で抵抗調整を加えることは、煩雑な
手間を要し、殊に厳しい精度が要求される温度計にあっ
ては、微調整作業も熟練を必要とする。従って、低い生
産性に留まり、低コスト化の障害となっていた。

また、上記の電子温度計では可変抵抗器は固定抵抗
器に比して耐環境性に劣り、経時変化（抵抗値変化）を
招き易く、使用時における温度表示の信頼性に乏しい。

更に、可変抵抗器は可動部を有しているため、回路
系全体の半導体集積化に不向きであり、抵抗値−周波数
変換回路，分周回路，カウンタと共にワンチップ化がで
きず、可変抵抗器は外付けのディスクリート部品として
基板実装しなければならない。このため、体温計等に適
用する場合には、小型化の障害になると共に、部品点数
の増大により製造コストの上昇に繋がる。

このような問題点を解消するため、本出願人は、特願
昭59−17499号を以て、デジタルによる初期論理調整回
路（補正回路）を用いた電子温度計に関する技術を既に
開示している。

図３および図４は特願昭59−17499号において開示さ
れた一例を示してある。この電子温度計においては、先
ず、抵抗値Rtのサーミスタ101および抵抗値R1の基準抵
抗102の抵抗値を、抵抗値−周波数変換回路１によりそ
れぞれの抵抗値に対応した周波数の信号、すなわち、検
出パルス信号および基準パルス信号に変換する。抵抗値
−周波数変換回路１は、抵抗と容量により充放電を繰り
返す回路、二重積分AD変換回路のヘッド部分などにより
構成することができる。計測期間は短時間であるので、
その間は時定数が一定とする。そして、検出パルス信号
を分周回路37により一定の基準時間（計数時間＝Ｔ）の
間カウントし、そのカウント値をラッチ回路12にてラッ
チする。そして、ラッチした結果をデコーダ13により温
度値にデコードし、液晶表示盤14に表示する。検出パル
ス信号をカウントする基準時間Ｔは、抵抗値−周波数変
換回路１の個体差を排除するために、基準抵抗102から
抵抗値−周波数変換回路１により所定の周波数に変換さ
れた基準パルス信号を用いて設定している。すなわち、
基準パスル信号を分周回路37によりカウントし、ゲート
設定出力回路60において分周回路37のカウント値が予め
設定された基準カウント値Ｍに達したか否かを判定す
る。そして、分周回路37のカウント値が基準カウント値
Ｍに達するまでの期間（基準時間Ｔ）に亘り発振回路４
のクロック（計時パルス）を独立の分周回路５がカウン
トして計時し、基準カウント値Ｍに達した時点でNOR回
路11を閉じて基準パルス信号の計数動作を止めさすと共
に、決定した基準時間（計数時間）Ｔを記憶する。この
ように、基準抵抗102に基づいて決定された基準時間Ｔ
に亘り、分周回路37が検出パルス信号をカウントするこ
とにより、今度はそのカウント値Ｎからサーミスタの抵
抗値Rtの変動を検出することが可能となる。

ここで、サーミスタの抵抗値Rtに基づき基準時間Ｔ内
にカウントされたカウント値をＮとすると、抵抗値とカ
ウント値は反比例の関係となるので、次式のような関係
が成り立つ。

R1×Ｎ＝Rt×Ｍ …（１）しかし、基準抵抗の抵抗値R1は個体差があり、また、
サーミスタの抵抗値Rtも個体差がある。

実際の基準抵抗の抵抗値R1′と実際のサーミスタの抵
抗値Rt′との比が、抵抗値R1とRtとの比とΔＲだけ異な
っているとすると以下の通りとなる。

Ｎ′＝Rt′/R1′×Ｍ …（２） Rt/R1＝Rt′/R1′×ΔＲ …（３）従って、実際の温度を示すＮは、Ｎ＝Rt′/R1′×ΔＲ×Ｍ …（４）となる。よって、Ｎを求めるには、ＭをΔＲ×Ｍに変換
すれば良い。

このため、特願昭59−17499号では、 ΔＲ×Ｍ＝Ｍ−ΔＭ …（５）として補正している。すなわち、基準時間Ｔを基準パル
ス信号から分周回路37によりカウントする際に、制御回
路（初期値設定回路）38を用いて分周回路37に初期値Δ
Ｍを設定（プリセット）し、分周回路37が基準パルス信
号を実際カウントする計数回路を（Ｍ−ΔＭ）としてい
る。

ところで、この制御回路（初期値設定回路）38は、図
４に示すように、初期値ΔＭを設定するためのプルアッ
プ用のＰ形MOSトランジスタ51a〜51d、インバータ52a〜
52d、および初期値ΔＭの設定のタイミングを制御するN
ANDゲート回路（設定タイミング回路）53a〜53dにより
構成されている。そして、基準時間Ｔを測定する際は、
制御回路38から初期値ΔＭをセット優先形リセット付1/
2分周回路55a〜55dを用いて構成された分周回路37に予
めセットし、基準時間Ｔを個体差に合わせて制御する。

このような電子温度計では、抵抗値バラツキ補正用
の可変抵抗器を用いずに、初期論理調整を行い、個体差
のない高精度表示が可能となっている。

また、基準パルス信号の計数値と検出パルス信号の
計数値との比を求めることなく、検出パルス信号のカウ
ント値だけに基づいて温度表示ができるので、割算処理
が不要で、回路系の複雑さや素子形成領域の大規模化を
回避でき、温度計の小型軽量化を図れる。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、更なる小型軽量化と低コスト化を目指
すには、分周回路37を構成している回路規模の大きなセ
ット優先形リセット付1/2分周回路を、回路規模が小さ
く、素子数も少ない通常のリセット付1/2分周回路と
し、また、初期値設定のタイミングを制御するNANDゲー
ト53a〜53dなどを出来る限り削減することが必要であ
る。

そこで、本発明においては、このような問題に鑑み
て、電子温度計を構成する諸回路の規模を削減し、低コ
スト、高性能の電子温度計を実現することを目的として
いる。

〔課題を解決するための手段〕

上記の問題点を解決するために、本発明に係る電子温
度計は、基準抵抗の抵抗値に基づく周波数を持つ基準パ
ルス信号と温度に感応して抵抗値変化する検出抵抗の抵
抗値に基づく周波数を持つ検出パルス信号とを切り換え
可能に発生する抵抗値−周波数変換手段と、上記基準パ
ルス信号及び上記検出パルス信号の一方を第１のパルス
信号とすると共に他方を第２のパルス信号として、計数
打ち切り値に到るまで第１のパルス信号を計数した後、
リセットして第１のパルス信号の計数時間と等しい計数
時間に亘り第２のパルス信号を計数する計数手段と、上
記計数手段の第１のパルス信号の計数値が上記計数打ち
切り値に達するまで計時パルスを計数して測温行程毎上
記計数時間を決定する計数時間決定手段と、抵抗バラツ
キ補正用データに応じて上記計数打ち切り値を設定する
打ち切り値設定手段とを有し、上記計数手段の第２のパ
ルス信号の計数値結果をラッチしこれに基づいて温度を
表示することを特徴とする。

〔作用〕

第１のフェーズでは第１のパルス信号が計数手段によ
って計数されるが、その計数動作は計数値が計数打ち切
り値になるまで継続し、その間に計数時間決定手段が計
時パルスを計数して計数時間を決定する。次に、第２の
フェーズでは上記計数時間決定手段で決定された計数時
間に亘り第２のパルス信号が同じ計数手段によって計数
され、その計数結果がラッチされてこれに基づいて温度
表示が行われるようになっている。

本発明においては、抵抗値バラツキ補正用データに応
じて計数打ち切り値を設定する打ち切り値設定手段が設
けられており、その計数打ち切り値が可変できるように
なっているので、温度計の抵抗値−周波数変換手段の個
体差（抵抗値バラツキ）に見合う補正データに応じて計
数打ち切り値を設定すれば、結果的に計数時間を長短調
整できるので、同一温度における第２の信号パルスの計
数結果を増減させることが可能で、抵抗個体差の補正に
より全ての製品で高精度表示が可能となる。

第１のパルス信号の計数に先立って計数手段に初期値
をプリセットしておくのではなく、計数打ち切り値（又
はカウントアップ値）を設定できるようにしているの
で、計数手段はセット機能付き分周回路を必要とせず、
リセット機能で充分であるから、計数手段自体の回路構
成の簡略化を図ることができる。ビット数が多い計数手
段を用いて高精度表示を達成するに従い、その回路規模
の縮小化の効果が顕著となる。

また、従来の計数手段に初期値をプリセットする方式
では、第１のパルス信号の計数に先立ってセット制御信
号により設定タイミング回路から初期値を計数手段へ送
り込むが、第２のパルス信号の計数に際してはセット制
御信号を印加しないように選択制御する必要があり、設
定タイミング回路の回路規模やセット制御信号の生成回
路が必要であった。しかし、本発明ではプリセット方式
でないため、設定タイミング回路やセット制御信号の生
成回路は不要であり、回路構成の簡素化により小型軽量
化及び低コスト化を図ることができる。

本発明において、第１フェーズ（第１のパルス信号の
計数過程）と第２フェーズ（第２のパルス信号の計数過
程）とから成る１測温行程を何度も繰り返して温度変化
の推移を観測する場合、これは電子温度計の環境温度自
体が推移するため、温度依存性のあるキャパシタ等の電
子要素を含む電子温度計の温度補償についても充分顧慮
する必要がある。本発明における計数時間決定手段は、
第１フェーズの都度、第１のパルス信号が計数打ち切り
値になるまで計時パルスを計数して計数時間を決定する
ようにしているため、すべての測温行程では計数時間は
恒常的に一定ではなく、基本的には測温行程毎で環境温
度に応じて計数時間が異なっている。環境温度が変化し
ても、計数時間が恒常値（画一値）であれば、第２のパ
ルス信号の計数値自体は温度を反映した値にならない。
かかる場合は第２のパルス信号の計数値のみに基づいて
温度表示を行うことができず、第１のパルス信号の計数
値と第２のパルス信号の計数値との比を算出しなければ
ならない。しかし、本発明のように、第１のパルス信号
の計数値が計数打ち切り値に達するまでに要する時間が
環境温度の変化によって多少長短変化した場合でも、そ
の環境温度により長短変化した計数時間をそのまま第２
フェーズにおける計数時間として受け渡すようにしてい
るため、環境温度変化による誤差が紛れ込まず、また計
数値の比を算出する必要がなく、第２のパルス信号の計
数値だけに基づいて温度表示ができる。このため、割算
処理が不要で、回路系の複雑さや素子形成領域の大規模
化を回避でき、温度計の小型軽量化を図れる。

〔実施例〕

本発明の一実施例のブロック図を第１図に示す。サー
ミスタ101と基準抵抗102は、先に説明した特願昭59−17
499号と同様に抵抗値に反比例した周波数を備えた信号
を出力可能な抵抗値−周波数変換回路１に接続されてお
り、この変換回路１からサーミスタ101の温度により変
動する抵抗値Rsに基づく温度検出信号が、また、基準抵
抗の抵抗値R1に基づき基準信号が出力される。温度検出
信号および基準信号は、NORゲート11を介して分周回路
２によりカウントされ、基準信号に基づくカウント値
は、初期論理調整回路３によりサーミスタの抵抗値と基
準抵抗の抵抗値の個体差が補正された基準カウント値
（計数打ち切り値）により判定される。分周回路５は、
発振回路４から発生される一定のクロック（計時パル
ス）を使用して分周回路２においてカウントし基準時間
（計数時間）の設定が可能であり、その設定は、初期論
理調整回路３においてカウント値が計数打ち切り値に達
したときに行われる。発振回路４及び分周回路５は計数
時間決定回路を構成している。

温度検出信号は、NORゲート11により分周回路５に設
定された基準時間の間、分周回路２に供給され、分周回
路２においてカウントされる。そのカウント値は、ラッ
チ回路12によりラッチされ、ラッチ回路12の結果をデコ
ード回路13により温度に変換し、液晶表示盤14に表示さ
れる。

本例の初期論理調整回路３は、分周回路２のカウント
値が予め設定された基準カウント値Ｍに達したか否かを
判定するゲート設定出力回路60、およびサーミスタ101
および基準抵抗102の個体差を補正するために基準カウ
ント値ＭをＭ′に変更する初期設定回路61により構成さ
れている。従って、本例の電子温度計においては、先に
説明した式（４）において、実際の温度を示すＮを導く
ための補正であるΔＲ×Ｍを直接Ｍ′に変換することが
できる。すなわち、特願昭59−17499号においては、式
（５）に示すように、ΔＲ×ＭをＭ−ΔＭとして実現し
ているが、本例においては、 ΔＲ×Ｍ＝Ｍ′ …（６）として実現しているのである。この結果、分周回路２
に、基準信号のカウントに先立ち、初期値を設定する必
要がなくなり、分周回路２を通常のリセット付1/2分周
回路により実現することが可能となる。

第２図に、分周回路２および初期論理調整回路３の構
成を示してある。分周回路２は、８個のリセット付1/2
分周回路15〜22により構成されており、それぞれ2⁰、
2¹、2²、2³、2⁴、2⁵、2⁶、2⁷の分周を担当する。従っ
て、リセットターミナル６から入力されたリセット信号
の後、入力ターミナル23から入力された基準信号および
温度検出信号をカウントし８ビットの信号として、ラッ
チ回路12およびゲート設定出力回路60へ出力することが
できる。

初期設定回路61は、４つのＰチャネルMOS31〜34、お
よび４つのEXOR24〜27により構成されている。そして、
EXOR24にはＰチャネルMOS31の出力とリセット付1/2分周
回路15の出力とが入力され、その出力がゲート設定出力
回路60を構成する多入力NAND29に接続されている。他の
EXOR25〜27においても同様に、それぞれＰチャネルMOS3
2の出力とリセット付1/2分周回路16の出力、Ｐチャネル
MOS33の出力とリセット付1/2分周回路17の出力、Ｐチャ
ネルMOS34の出力とリセット付1/2分周回路18の出力が入
力され、それぞれのEXOR25〜27の出力がゲート設定出力
回路60を構成する多入力NAND29に接続されている。この
初期設定回路61に用いられているＰチャネルMOS31〜34
は、初期値設定のためのプルアップ用MOSであり、それ
ぞれのMOS31〜34のソース側が高電位Vddに接続され、ゲ
ート電極は低電位Vssに接続されている。そして、EXOR
ゲート24〜27に接続されているドレイン側には、データ
入力ライン７〜10がそれぞれ接続されており、このライ
ン７〜10を接地するか否かにより初期値を設定すること
ができる。

初期設定回路61に設定された初期値から分周回路２に
よりカウントされたカウント値を判断するゲート設定出
力回路60は、多入力NAND回路29により構成されており、
EXORゲート31〜34およびリセット付1/2分周回路20〜22
の出力が入力され、これらの総ての値が１となることに
より、インバータ30を介してカウント値が所定値（計数
打ち切り値）に達した信号を分周回路５に出力する。

このように、本例においては、初期設定回路61により
ゲート設定出力回路60において判定される基準カウント
値を変更し、サーミスタの抵抗値と基準抵抗の抵抗値と
の個体差を補正している。実例を上げて説明すると、設
定温度においてサーミスタの抵抗値が23.0KΩ、基準抵
抗の抵抗値が22.4KΩであった場合に、サーミスタの抵
抗値に係るカウント数が224カウントに調整するには、
（４）および（６）式から 224＝22.4/23.0×Ｍ′ …（７）となり、Ｍ′は230である。従って、本例においては、
初期設定回路61によりＭをＭ′、すなわち、230に設定
すれば良い。

Ｍ′＝230＝128＋64＋32＋４＋２＝2⁷＋2⁶＋2⁵＋2²＋2¹ …（８）である。従って、初期設定回路61においてEXOR24〜27に
印加されるデータのうち、2⁰、2³、2⁴のデータを高レベ
ルとするように、データ入力ライン７〜10のうち内ライ
ン８、９を低レベルとすれば良い。なお、本例において
は、2⁴のデータ、すなわち、1/2分周回路19の信号は、
判定時に高レベルとなるように、インバータ28を用いて
反転させている。このような設定下において、リセット
付1/2分周回路16、17の値は、EXOR25、26で反転されず
にそのまま多入力NAND29に入力され、リセット付1/2分
周回路15、18の値は、EXOR24、27で反転され多入力NAND
29に入力される。そして、リセット付1/2分周回路20の
値はインバータ28により反転され、また、リセット付1/
2分周回路21、22の値はそのまま多入力NAND29に入力さ
れる。このため、本例においては、2¹、2²、2⁵、2⁶、2⁷
を表すリセット付1/2分周回路15、18、20、21、22の値
がそのまま多入力NAND29に入力され、その他の値は、反
転して多入力NAND29に入力される。従って、分周回路２
において、230をカウンした段階で多入力NAND29は低レ
ベルとなり、このカウントに費やした時間が基準時間
（計数時間）として分周回路５に設定される。そして、
次に分周回路２により基準時間（計数時間）の間、温度
検出信号をカウントすることにより、補正されたカウン
ト値がラッチ回路12にラッチされ、精度の良い温度が表
示される。

このように本例においては、分周回路２のカウント値
を比較する基準カウント値を変更するようにしているの
で、分周回路２に補正用の初期値を設定する必要がな
い。このため、分周回路２として、リセット付1/2分周
回路を採用することができ、初期値を設定するために採
用されていたセット優先形リセット付1/2分周回路を省
くことができる。従って、セット優先形リセット付1/2
分周回路といった素子数が多く、回路規模の大きな回路
を削除することができ、電子温度計を小型し、低コスト
で生産することが可能となる。また、本例に採用されて
いるEXORは、従来の電子温度計において、分周回路２か
らの出力をサーミスタの特性に合わせて出力を反転させ
るために設けられているインバータ等と比較し、それ程
回路規模の大きなゲート回路ではなく、これによる回路
面積への影響は少ない。

更に、本例においては、セット制御信号が不要である
ことから従来の設定タイミング回路のNANDゲートも省く
ことが可能となり、低コスト化と同時に電子温度計の計
測動作を簡略化できる。

更にまた、従来に比べると、第２のパルス信号（検出
パルス信号）のカウント値だけに基づいて温度表示がで
きるので、割算処理が不要で、回路系の簡素化に寄与し
ている。

〔発明の効果〕

以上に説明したように、本発明に係る電子温度計にお
いては、基準パルス信号と検出パルス信号を切り換え可
能に生成する唯一の抵抗値−周波数変換手段と、基準パ
ルス信号及び検出パルス信号の一方を第１のパルス信号
とすると共に他方を第２のパルス信号として、計数打ち
切り値に到るまで第１のパルス信号を計数した後、リセ
ットして第１のパルス信号の計数時間と等しい計数時間
に亘り第２のパルス信号を計数する唯一の計数手段と、
その計数手段の第１のパルス信号の計数値が上記計数打
ち切り値に達するまで計時パルスを計数して測温行程毎
上記計数時間を決定する計数時間決定手段と、計数手段
に初期値をプリセットする方式ではなく、抵抗値バラツ
キ補正用データに応じて計数時間の長短を調整する計数
打ち切り値を設定可能な打ち切り値設定手段を有して成
る点を特徴とする。従って、次の効果を奏する。

打ち切り値が可変できるようになっているので、温
度計の抵抗値−周波数変換手段の個体差（抵抗値バラツ
キ）に見合う補正データに応じて打ち切り値を設定すれ
ば、計数打ち切り値までの計数時間を長短調整できるの
で、同一温度における第２の信号パルスの計数結果を増
減させることが可能で、個体差の補正により全ての製品
で高精度表示が可能となる。第１のパルス信号の計数に
先立って計数手段に初期値をプリセットしておくのでは
ないため、計数手段はセット付き分周回路を必要とせ
ず、回路構成の簡略化を図ることができる。計数手段の
ビット数が多くなるに従い、その回路規模の縮小化が顕
著となる。

セット制御信号が不要となるので、初期値の設定タ
イミング回路やセット制御信号の生成回路を省くことが
でき、回路構成の簡素化により小型軽量化及び低コスト
化を図ることができる。

本発明における計数時間決定手段は測温行程毎に計
数時間を決定する。この結果、第１のパルス信号の計数
値が計数打ち切り値に達するまでに要する時間が環境温
度の変化によって多少長短変化した場合でも、その環境
温度により長短変化した計数時間をそのまま第２のパル
ス信号における計数時間として受け渡すようにしている
ため、環境温度変化による誤差が紛れ込まず、また計数
値の比を算出する必要がなく、第２のパルス信号の計数
値だけに基づいて温度表示ができるようになっている。
このため、割算処理が不要で、回路系の複雑さや素子形
成領域の大規模化を回避でき、温度計の小型軽量化を図
れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のブロック図である。第２図は第１図に示す分周回路と初期論理調整回路の構
成を示す回路図である。第３図は従来例である特願昭59−17499号の実施例のブ
ロック図である。第４図は従来例である特願昭59−17499号の実施例の分
周回路と制御回路の構成を示す回路図である。１……抵抗値−周波数変換回路２……分周回路（計数手段）３……基準抵抗とサーミスタの抵抗値の補正を行う初期
論理調整回路４……一定のクロックを発生する発振回路５……計数時間を決める分周回路６……分周回路２をリセットするリセット信号入力ライ
ン７〜10……調整データを入力する論理調整データ入力ラ
イン 11……NOR回路 12……ラッチ回路 13……デコーダ 14……液晶表示盤（LCD） 15〜22……リセット付1/2分周回路 23……分周回路２の入力信号ライン 24〜27……EXOR回路 28、30、39〜45……インバータ 29、44……多入力NANDゲート 31〜34……プルアップ用ＰチャネルMOSトランジスタ 35……電源Vssに接続されている端子 36……電源Vddに接続されている端子 37……初期論理調整データの初期セットを行える分周回
路 38……制御回路 47〜50……制セット信号入力ライン 60……ゲート設定出力回路 61……初期値設定回路 101……サーミスタ 102……基準抵抗。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者吉澤正幸長野県諏訪市大和３丁目３番５号株式会社諏訪精工舎内 (56)参考文献特開昭58−6430（ＪＰ，Ａ) 特開昭59−42421（ＪＰ，Ａ) 特開昭58−178232（ＪＰ，Ａ) 特開昭59−225324（ＪＰ，Ａ) 特開昭60−127433（ＪＰ，Ａ) 特開昭58−19523（ＪＰ，Ａ) 特開昭54−156580（ＪＰ，Ａ)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】基準抵抗の抵抗値に基づく周波数を持つ基
準パルス信号と温度に感応して抵抗値変化する検出抵抗
の抵抗値に基づく周波数を持つ検出パルス信号とを切り
換え可能に発生する抵抗値−周波数変換手段と、前記基
準パルス信号及び前記検出パルス信号の一方を第１のパ
ルス信号とすると共に他方を第２のパルス信号として、
計数打ち切り値に到るまで第１のパルス信号を計数した
後、リセットして第１のパルス信号の計数時間と等しい
計数時間に亘り第２のパルス信号を計数する計数手段
と、前記計数手段の第１のパルス信号の計数値が前記計
数打ち切り値に達するまで計時パルスを計数して測温行
程毎前記計数時間を決定する計数時間決定手段と、抵抗
バラツキ補正用データに応じて前記計数打ち切り値を設
定する打ち切り値設定手段とを有し、前記計数手段の第
２のパルス信号の計数値結果をラッチしこれに基づいて
温度を表示することを特徴とする電子温度計。