JPS6179126A - 電子温度計 - Google Patents
電子温度計Info
- Publication number
- JPS6179126A JPS6179126A JP20277884A JP20277884A JPS6179126A JP S6179126 A JPS6179126 A JP S6179126A JP 20277884 A JP20277884 A JP 20277884A JP 20277884 A JP20277884 A JP 20277884A JP S6179126 A JPS6179126 A JP S6179126A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistance value
- thermistor
- circuit
- frequency
- resistance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/02—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
- G01K1/028—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers arrangements for numerical indication
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、電子温度計の初期設定に関するものである。
電子温度計の初期設定としては、既に我々は、特出願５
９−１７４９９（以下前特願と略するンを提案しである
。第５図は前特願の実施例である。前特願の初期設定す
なわち論理調整は、調整時の基準抵抗とサーミスタ、の
抵抗値のバラツキを、基準抵胱の（抵坑値→周匝赦変換
の設定回数（この設定回数は、多入力ＢＩＡＮＤゲート
４４の出力設定で決まる。）と、初期に制御回路５８に
より分周回路３７の内部１／２分周回路を初期セットす
るそのセット値との差の実質の変換回数を可変させて補
正するものであり、前特願の出願前の従来の調整に対し
ては、精度もコスト面も優位性があるものであった。
９−１７４９９（以下前特願と略するンを提案しである
。第５図は前特願の実施例である。前特願の初期設定す
なわち論理調整は、調整時の基準抵抗とサーミスタ、の
抵抗値のバラツキを、基準抵胱の（抵坑値→周匝赦変換
の設定回数（この設定回数は、多入力ＢＩＡＮＤゲート
４４の出力設定で決まる。）と、初期に制御回路５８に
より分周回路３７の内部１／２分周回路を初期セットす
るそのセット値との差の実質の変換回数を可変させて補
正するものであり、前特願の出願前の従来の調整に対し
ては、精度もコスト面も優位性があるものであった。
しかし、市場の電子温度計への要求は、さらに価格の安
い電子温度計であり、そこで本発明は、前特願の初期論
理調整回路の規模を縮少させて、より安い電子温度計を
提供するものである。
い電子温度計であり、そこで本発明は、前特願の初期論
理調整回路の規模を縮少させて、より安い電子温度計を
提供するものである。
本発明の電子温度計は、初期調整時の温Ｋにおけるサー
ミスタの抵抗値と基準抵抗の抵抗値との比のバラツキを
、ゲート設定を可変することにより補正する、初期論理
調整回路を有することを特徴とする。
ミスタの抵抗値と基準抵抗の抵抗値との比のバラツキを
、ゲート設定を可変することにより補正する、初期論理
調整回路を有することを特徴とする。
本発明によれば１．ゲート設定を可変することにより基
準抵抗の抵抗値−周波数変換の設定回数じたいを可変で
きるようにな゛す、設定回数の可変で、基準抵抗とサー
ミスタの抵抗値のバラツキを補正でき初期論ｊ１Ｍ整が
行なえる。
準抵抗の抵抗値−周波数変換の設定回数じたいを可変で
きるようにな゛す、設定回数の可変で、基準抵抗とサー
ミスタの抵抗値のバラツキを補正でき初期論ｊ１Ｍ整が
行なえる。
本発明の一実施例のブロック図を第１図に示す。
構成は、サーミスタ１０１と基準抵抗１０２が接続され
た抵抗値→周波数変換回路が１で、抵抗値−周反数反換
後の変換回数を計測する分周回路が２で、基準抵抗とサ
ーミスタの抵抗値の補正を行う初期論理調整回路が３で
、一定のクロックを発生する発振回路が４で、発振回路
４のクロックを使用して基準抵抗の抵抗値−周波数武侠
時間とを同一として作成する分周回路が５で、サーミス
タの抵抗値−周波数変換の回数のカウント値をラッチす
るラッチが１２で、ラッチ１２の結果をデコードするの
がデコーダ１５で、デコード結果を表示するこがＬＣＤ
１４である。
た抵抗値→周波数変換回路が１で、抵抗値−周反数反換
後の変換回数を計測する分周回路が２で、基準抵抗とサ
ーミスタの抵抗値の補正を行う初期論理調整回路が３で
、一定のクロックを発生する発振回路が４で、発振回路
４のクロックを使用して基準抵抗の抵抗値−周波数武侠
時間とを同一として作成する分周回路が５で、サーミス
タの抵抗値−周波数変換の回数のカウント値をラッチす
るラッチが１２で、ラッチ１２の結果をデコードするの
がデコーダ１５で、デコード結果を表示するこがＬＣＤ
１４である。
第２図は分周回路２と初期論理調整回路３の回路例であ
る。
る。
本Ｎｍ例の動作を説明すると、基準抵抗で設定回数（こ
の設定回数は初期論理ｉ１Ｍ整回路ｓ内の多入力ＮＡＮ
Ｄゲート２９のゲート出力の設定で決まる）抵抗値−周
［数変換を行い、次に分周回路５で前記変換と同一時間
が作成されたその時間内にサーミスタで抵抗値−周波数
変換を行いサーミスタの変換のカウント値をラッチ１２
でラッチしデコーダ１５でデコードしＬＣＤ１４で表示
を行りている。
の設定回数は初期論理ｉ１Ｍ整回路ｓ内の多入力ＮＡＮ
Ｄゲート２９のゲート出力の設定で決まる）抵抗値−周
［数変換を行い、次に分周回路５で前記変換と同一時間
が作成されたその時間内にサーミスタで抵抗値−周波数
変換を行いサーミスタの変換のカウント値をラッチ１２
でラッチしデコーダ１５でデコードしＬＣＤ１４で表示
を行りている。
サーミスタの温厳におけるカウント値へ変換は基準抵抗
での抵抗値→周波数変換のカウント値の設定回数を工と
して、サーミスタでの抵抗値−周波数変換のカウント数
をＮ１基準抵抗の抵抗値をＲ１、サーミスタの抵抗値を
ＲＴ とすると、一定時間の間に基準抵抗とサーミスタ
の抵抗値−周波数変換を行い、また抵抗値−周波数変換
は抵抗値と変換回数が反比例関係にあるので次式のとう
りとなる。
での抵抗値→周波数変換のカウント値の設定回数を工と
して、サーミスタでの抵抗値−周波数変換のカウント数
をＮ１基準抵抗の抵抗値をＲ１、サーミスタの抵抗値を
ＲＴ とすると、一定時間の間に基準抵抗とサーミスタ
の抵抗値−周波数変換を行い、また抵抗値−周波数変換
は抵抗値と変換回数が反比例関係にあるので次式のとう
りとなる。
ＲＸＫ＝ＲＴＸＮ −−（ｉ）
初期調整は、調整温度に於て前記Ｎを調整設定数に合せ
られれば良いので、（１）式を変換した次式より Ｎ ＝Ｋ Ｘ Ｒｔ ／ ＲＴ ”’ ”’
（２）Ｒ１／ＲＴの比のズレをＫで補正できれば良いこ
とになる。本実施例に於て多入力ＮＡＮＤゲート２９の
ゲート設定出力のカウント値をＭとすると、このＭは前
記Ｋに相当する、Ｍは、ＫＸＯＲ２４〜２７の片側の入
力に入る初期論理調１ＤＡＴＡ入カライン（以下ＤＡＴ
Ａラインと略する）７ｚ１０の設定により可変すること
ができる。このことより前述の（２）式のＫが可変でき
ることになり、論理調整が行なえる。
られれば良いので、（１）式を変換した次式より Ｎ ＝Ｋ Ｘ Ｒｔ ／ ＲＴ ”’ ”’
（２）Ｒ１／ＲＴの比のズレをＫで補正できれば良いこ
とになる。本実施例に於て多入力ＮＡＮＤゲート２９の
ゲート設定出力のカウント値をＭとすると、このＭは前
記Ｋに相当する、Ｍは、ＫＸＯＲ２４〜２７の片側の入
力に入る初期論理調１ＤＡＴＡ入カライン（以下ＤＡＴ
Ａラインと略する）７ｚ１０の設定により可変すること
ができる。このことより前述の（２）式のＫが可変でき
ることになり、論理調整が行なえる。
さらに実例を上げて説明すると、調整温度に於てサーミ
スタの抵抗値が２１．８ ＫΩ、基準抵抗の抵抗値が２
２．４にΩで前記Ｎを２２４カウントに調整するには、
（２）式へそれぞれを代入し、ｘ ｅ求めて見ると次式
より ２２４＝ＫＸ２２．４／２１．８ ・・・・・・
（５）Ｋ＝２１８が求まる。この実例ではＭの設定を２
１８カウントに設定すれば調整できる。
スタの抵抗値が２１．８ ＫΩ、基準抵抗の抵抗値が２
２．４にΩで前記Ｎを２２４カウントに調整するには、
（２）式へそれぞれを代入し、ｘ ｅ求めて見ると次式
より ２２４＝ＫＸ２２．４／２１．８ ・・・・・・
（５）Ｋ＝２１８が求まる。この実例ではＭの設定を２
１８カウントに設定すれば調整できる。
続いてまず各１７２分周回路出力がＶＤＤｔら各分局数
を設定できる（プリセット付１／２分周回路では２°
、２１ リセット付分周回路では２１等）ことと、Ｍの
計算は以下の通りであるからＭを２１８に Ｍ＝２１８ ＝１２８＋６４＋５２＋４＋２ ＝２’ ＋２’ ＋２’ ＋２２ ＋２１セルニハ、２
’ 、２’ 、２’ 、２” 、２１ リセッ
ト付１／２分周回路１ｆｌ力がｖＤＤで、２４，２３
。
を設定できる（プリセット付１／２分周回路では２°
、２１ リセット付分周回路では２１等）ことと、Ｍの
計算は以下の通りであるからＭを２１８に Ｍ＝２１８ ＝１２８＋６４＋５２＋４＋２ ＝２’ ＋２’ ＋２’ ＋２２ ＋２１セルニハ、２
’ 、２’ 、２’ 、２” 、２１ リセッ
ト付１／２分周回路１ｆｌ力がｖＤＤで、２４，２３
。
２°リセット付１７２分周回路出力がＶＳＳのとき多入
力ＮＡＮＤゲート２９が′出力されれば良い。
力ＮＡＮＤゲート２９が′出力されれば良い。
次に多入力ＮＡＮＤゲート２９を出力させるには回路上
（１）多入力ＮＡＮＤゲート２９は入力が全てｖＤＤの
時、出力はｖｓｓとなる。（２） Ｄ Ａ Ｔ Ａライ
ンから：ｍＸＯＲへの設定がＶＤＤならに−ＸＯＲでは
分周回路２からのリセット付１／２分周回路出力は反転
され多入力ＮＡＮＤゲート２９へ入力されて行く。（３
） ｐ Ａ Ｔ ＡラインがらＥｌｉＸＯＲへの設定が
ＶＳＳならＫＺＯＲではリセット付１／２分周回路出力
はそのまま多大力ＮＡＮＤゲートへ入力されて行く。以
上より］１ＣＸＯＲ２４，２７ではリセット付／２分周
回路出力はそのまま多大カＨＡＮＤゲートへ入力し、Ｆ
：Ｘ０Ｒ２５，２６ではリセット付／２分周回路出カは
反転させて多久カＮＡＮＤゲートへ入力すれば良ｌ／）
。したがって、ＤＡＴＡライ７７ 、１０をｖｓｓ、入
力ライン８゜９をＶＤＤに設定することによりＭ＝２１
８かえられ調整が行なえる。この美例のとうり本発明で
は、初期論理調整か行なえる。
（１）多入力ＮＡＮＤゲート２９は入力が全てｖＤＤの
時、出力はｖｓｓとなる。（２） Ｄ Ａ Ｔ Ａライ
ンから：ｍＸＯＲへの設定がＶＤＤならに−ＸＯＲでは
分周回路２からのリセット付１／２分周回路出力は反転
され多入力ＮＡＮＤゲート２９へ入力されて行く。（３
） ｐ Ａ Ｔ ＡラインがらＥｌｉＸＯＲへの設定が
ＶＳＳならＫＺＯＲではリセット付１／２分周回路出力
はそのまま多大力ＮＡＮＤゲートへ入力されて行く。以
上より］１ＣＸＯＲ２４，２７ではリセット付／２分周
回路出力はそのまま多大カＨＡＮＤゲートへ入力し、Ｆ
：Ｘ０Ｒ２５，２６ではリセット付／２分周回路出カは
反転させて多久カＮＡＮＤゲートへ入力すれば良ｌ／）
。したがって、ＤＡＴＡライ７７ 、１０をｖｓｓ、入
力ライン８゜９をＶＤＤに設定することによりＭ＝２１
８かえられ調整が行なえる。この美例のとうり本発明で
は、初期論理調整か行なえる。
本発明によれば１／２分周回路の段数、入力ラインの叡
、多入力ゲート設定を適宜に合せることべより、どのよ
うなサーミスタの特性、調整に求められる積置にも対応
可能であり、精度面でも前特願に対して劣るものではな
い。
、多入力ゲート設定を適宜に合せることべより、どのよ
うなサーミスタの特性、調整に求められる積置にも対応
可能であり、精度面でも前特願に対して劣るものではな
い。
本発明によれば、ゲート設定を可変することにより初期
論理調整が行える為、前特願のような初期に分周回路内
部の１／２分周回路へ初期セットがいらなくなり、前特
願の第２図の実施例である分周回路および論理調整部に
用いられているＮＡＮＤ回路、分周回路をセットする信
号を制御するセット信号制御信号等がはふけると供に１
７２分周回路もセット優先形すセット付１７２分周回路
から、素子数の少いリセット付１７２分周回路に替えら
れ、回路規模が削減でき電子温度計をコストダウンでき
る。尚、本発明の初期調整回路内のＥＸＯＲ５２〜５５
だけは、前特願に対しては回路の規模が大きくなりだよ
うに見えるが、前特願に於てもサーミスタの特性に合せ
て第５図のインバータ６９〜４２を使用するか、しない
かして１／２分周回路の出力を反転させるかそのまま多
入力ゲートに入力して多入力ゲート設定をずらす必要が
ある為、その配慮が必要でありその部分との大小を考え
ると回路の規模は、けして大きくなるものではない。
論理調整が行える為、前特願のような初期に分周回路内
部の１／２分周回路へ初期セットがいらなくなり、前特
願の第２図の実施例である分周回路および論理調整部に
用いられているＮＡＮＤ回路、分周回路をセットする信
号を制御するセット信号制御信号等がはふけると供に１
７２分周回路もセット優先形すセット付１７２分周回路
から、素子数の少いリセット付１７２分周回路に替えら
れ、回路規模が削減でき電子温度計をコストダウンでき
る。尚、本発明の初期調整回路内のＥＸＯＲ５２〜５５
だけは、前特願に対しては回路の規模が大きくなりだよ
うに見えるが、前特願に於てもサーミスタの特性に合せ
て第５図のインバータ６９〜４２を使用するか、しない
かして１／２分周回路の出力を反転させるかそのまま多
入力ゲートに入力して多入力ゲート設定をずらす必要が
ある為、その配慮が必要でありその部分との大小を考え
ると回路の規模は、けして大きくなるものではない。
第１□□□は、本発明の一実施例のブロック図である。
第２図は、本発明である分周回路と初期論理調整回路の
回路例を示す図である。第５図は特出願５９−１７４９
９の実施例のブロック図である１・・・・・・抵抗値−
周波数変換回路２・・・・・・抵抗値−周波数変換さ′
れた置換回数を分周する分周回路 ６・・・・・・基準抵抗とサーミスタの抵抗値の補正を
行う初期論理調整回路 ４・・・・・・一定のクロックを発生する発振回路５・
・・・・・発振回路４のクロックを使用して基準抵抗の
抵抗値→周数数変換時間とサーミスタの抵抗値−周仮数
毅換時聞とを同一とし作成する分周回路 ６・・・・・・分周回路２をリセットするリセット信号
入力ライン。 ７．８，９．１０・・・・・・初期論理調整回路へ調整
ＤＡＴＡを入力する論理調整ＤＡＴＡ 入カライカ ライン・・・・−ＮＯＲ回路で分周回路５の状態で、抵
抗値−周波数変換回路を制御する １２・・・・・・ラッチ １５・・・・・・デコーダ １４ ・・・・・・ ＬＣＤ １５．１６，１７，１８，１９，２０，２１゜２２・・
・・・・リセット付１／２分周回路でそれぞれ、２０
．２１ ．２２ ．２３ ．２４ ．２８．２＠ 、２
丁の分局を担当する ２３・・・・・・分周回路２の入力信号ライン２４．２
５，２６．２７・・−・ＢＸＯＲ回路２８．５０，３９
，４０，４１．４２．４３゜４５・・・・・・インバー
タ回路 ２９．４４・・・・・・多大力ＮＡＮＤゲート３１．３
２，３３，３４−−−・−・Ｐチ’ｒ７ネルＭＯＳトラ
ンジスタ。（論理調整ＤＡＴＡ 入カラインプルアップ用） ３５・・・・・・を源ＶＳＳに接続されている端子３６
・・・・・・電源ＶＤＤに接続されている端子５７・・
・・・・初期論理調整ＤＡＴＡの初期セットを行なえる
分周回路 ５８・・・・・・分周回路５７へ初期論理調整ＤＡＴＡ
をセット信号とし出力する制御回路 ａｙ、４Ｂ、４９．５０・・・・・・制御回路３８へ初
期論理調整ＤＡＴＡをセットするセッ ト信号入力ライン １０１・・・サーミスタ １０２・・・基準抵抗 以 上 手続補正書輸発） 昭和６０年２月５Ｂ
回路例を示す図である。第５図は特出願５９−１７４９
９の実施例のブロック図である１・・・・・・抵抗値−
周波数変換回路２・・・・・・抵抗値−周波数変換さ′
れた置換回数を分周する分周回路 ６・・・・・・基準抵抗とサーミスタの抵抗値の補正を
行う初期論理調整回路 ４・・・・・・一定のクロックを発生する発振回路５・
・・・・・発振回路４のクロックを使用して基準抵抗の
抵抗値→周数数変換時間とサーミスタの抵抗値−周仮数
毅換時聞とを同一とし作成する分周回路 ６・・・・・・分周回路２をリセットするリセット信号
入力ライン。 ７．８，９．１０・・・・・・初期論理調整回路へ調整
ＤＡＴＡを入力する論理調整ＤＡＴＡ 入カライカ ライン・・・・−ＮＯＲ回路で分周回路５の状態で、抵
抗値−周波数変換回路を制御する １２・・・・・・ラッチ １５・・・・・・デコーダ １４ ・・・・・・ ＬＣＤ １５．１６，１７，１８，１９，２０，２１゜２２・・
・・・・リセット付１／２分周回路でそれぞれ、２０
．２１ ．２２ ．２３ ．２４ ．２８．２＠ 、２
丁の分局を担当する ２３・・・・・・分周回路２の入力信号ライン２４．２
５，２６．２７・・−・ＢＸＯＲ回路２８．５０，３９
，４０，４１．４２．４３゜４５・・・・・・インバー
タ回路 ２９．４４・・・・・・多大力ＮＡＮＤゲート３１．３
２，３３，３４−−−・−・Ｐチ’ｒ７ネルＭＯＳトラ
ンジスタ。（論理調整ＤＡＴＡ 入カラインプルアップ用） ３５・・・・・・を源ＶＳＳに接続されている端子３６
・・・・・・電源ＶＤＤに接続されている端子５７・・
・・・・初期論理調整ＤＡＴＡの初期セットを行なえる
分周回路 ５８・・・・・・分周回路５７へ初期論理調整ＤＡＴＡ
をセット信号とし出力する制御回路 ａｙ、４Ｂ、４９．５０・・・・・・制御回路３８へ初
期論理調整ＤＡＴＡをセットするセッ ト信号入力ライン １０１・・・サーミスタ １０２・・・基準抵抗 以 上 手続補正書輸発） 昭和６０年２月５Ｂ
Claims (1)
- サーミスタの抵抗値と基準抵抗の抵抗値の比をデジタル
カウント値として表わす電子温度計に於て、初期調整時
の温度におけるサーミスタの抵抗値と基準抵抗の抵抗値
との比のバラツキを、ゲート設定を可変することにより
補正する初期論理調整回路を有することを特徴とする電
子温度計。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59202778A JPH0820314B2 (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 電子温度計 |
| GB08501730A GB2157515B (en) | 1984-02-01 | 1985-01-23 | Electronic thermometer |
| US07/077,086 US4838707A (en) | 1984-02-01 | 1987-07-17 | Electronic Thermometer |
| SG630/89A SG63089G (en) | 1984-02-01 | 1989-09-11 | Measuring apparatus |
| HK981/89A HK98189A (en) | 1984-02-01 | 1989-12-14 | Measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59202778A JPH0820314B2 (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 電子温度計 |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7474195A Division JP2527696B2 (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 電子温度計 |
| JP7474095A Division JP2527695B2 (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 温度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6179126A true JPS6179126A (ja) | 1986-04-22 |
| JPH0820314B2 JPH0820314B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=16463027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59202778A Expired - Lifetime JPH0820314B2 (ja) | 1984-02-01 | 1984-09-27 | 電子温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820314B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113532680A (zh) * | 2021-06-03 | 2021-10-22 | 上海润欣科技股份有限公司 | 体温计芯片和体温计 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS586430A (ja) * | 1981-07-03 | 1983-01-14 | Citizen Watch Co Ltd | 温度測定回路 |
| JPS58178232A (ja) * | 1982-04-13 | 1983-10-19 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 測定温度の補正方法 |
| JPS5942421A (ja) * | 1982-09-01 | 1984-03-09 | Terumo Corp | 温度検出装置 |
| JPS59225324A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計の製造方法 |
| JPS60127433A (ja) * | 1983-12-13 | 1985-07-08 | Toshiba Corp | 温度検出装置の校正方法 |
-
1984
- 1984-09-27 JP JP59202778A patent/JPH0820314B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS59225324A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Terumo Corp | 電子温度計の製造方法 |
| JPS60127433A (ja) * | 1983-12-13 | 1985-07-08 | Toshiba Corp | 温度検出装置の校正方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113532680A (zh) * | 2021-06-03 | 2021-10-22 | 上海润欣科技股份有限公司 | 体温计芯片和体温计 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820314B2 (ja) | 1996-03-04 |
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