JPH01287831A - 光ヘッド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ヘッド装置に関し、さらに詳しくいうと
、複数の光ビームを同一光学系を用いて情報記録媒体に
照射する光ヘッド装置に関するものである。

〔従来の技術〕

従来よりレーザビームを用いて回転するディスク形状の
情報記録媒体に同心円または螺旋状に情報を記録、再生
、消去する光ヘッド装着はよく知られている。この種の
装置は、磁気ディスクに比べて高密度記録が可能であり
記録容鷲が大きい”という利点があるが、光ヘッド装置
に用いられる情報記録媒体は磁気ディスク媒体に比べて
媒体欠陥が多いという問題があり、情報が正しく記録さ
れたかどうかを、確認するためには記録後の情報を直ち
に再生する必要がある。この動作をできる限り速やかに
行う方法として、記録用と再生用の２つのビームを有し
、記録用ビームで記録した情報をその直後から再生用ビ
ームで再生する２ビームヘッドが提案されている。第４
図は１９８４年秋季「第４５回応用物理学会学術講演会
論文集」腐１３Ｐ−ｇ−１４．５８ページ中に示された
、従来の２ビーム光ヘッドで、図において、発光源の１
つである波長λ宜（例えば８３０ｎｍ）の記録用半導体
レーザ（１）から記録用ビーム（破線で図示）（２）が
放射される。もう１つの発光源である波長λ２（例えば
７８０　ｎｍ）の再生用半導体レーザ（３）からは再生
用ビーム（実線で図示）（４）が放射される。これらの
ビーム（２）　、　（４１はコリメータレンズ（５）　
、　（６）でそれぞれ平行光となる。三角プリズム（７
）は記録用ビーム（２）の断面形状を略円形とするため
のものである。干渉フィルタ（８）は波長λ２の光ビー
ム（４）を透過させ、その他の波長の光ビームを反射さ
せる作用を有する。ダイクロイックプリズム（９）は波
長λ２の光ビーム（４）を透過させ、波長λ１の光ビー
ム（２）を反射させる作用を有するものである。干渉フ
ィルタ（８）で反射された記録用ビーム（２）とダイク
ロイックプリズム（９）を透過した再生用ビーム（４）
を合成するために偏光ビームスプリッタ（１０）が設け
られ、偏光ビームスプリッタ（１０）で合成された２つ
の光ビームは１／４波長板（１１）、対物レンズ（１２
）を介して情報記録媒体（１３）上に集光、照射される
。情報記録媒体（１３）上には記録用ビーム（２）から
１針用スポット（１４）と再生用ビーム（４）から再生
用スポラ）　（１５）が形成される。検出光学系（１６
）は、情報記録媒体（１３）によって反射された再生用
ビーム（４）を受光し、検出するためのものであり、収
束レンズ（１７）、シリンドリカルレンズ（１８）、４
分割光検知器（１９）から構成されている。光検知器（
２０）は、情報記録媒体（１３）で反射された記録用ビ
ーム（２）を受光し検出するためのもので、記録用半導
体レーザ（１）が正確Ｋｆｇされているかどうかの確認
のために設けられている。なお、サーボ信号、すなわち
フォーカシングエラー信号とトラッキングエラー信号の
検出は、検出光学系（１６）にて行う構成となっている
。第５図は半導体レーザ（１）　、　（３）の拡大断面
図であり、筐体の一部である放熱フィン（２１）、筐体
の一部であるキャップ（２２）、出射窓（２３）、半導
体レーザのレーザチップ（２４）、レーザチップ（２４
）に電流を供給するための金線（ボンディング線）（２
５）、モニタ用光検知器（２６）、レーザチップ（２４
）に外部より環流を供給するための端子（２７ａ）、モ
ニタ用光検知器（２６）の出力を外部に取出すための端
子（２７ｂ）、放熱フィン（２１）と共用のグランド端
子（２７ｃ）などからなっている。

以上の構成により、第４図において、記録用半導体レー
ザ（１）より出射し、干渉フィルタ（８）で反射された
波長λｌの記録用ビーム（２）の偏光方向は、偏光ビー
ムスプリッタ（１ｏ）の反射面に対してＰ偏光になるよ
うに設定されているため、記録用ビーム（２）は偏光ビ
ームスプリッタ（１ｏ）を透過する。

そして１７４波長板（１１）、対物レンズ（１２）を介
し情報記録媒体（１３）面上に記録用スポット（１４）
として集光され情報の記録に用いられる。

情報記録媒体（１３）で反射された記録用ビーム（２）
は１／４波長板（１１）を再び通過するため偏光方向が
９０°回転する。従って、その偏光方向が偏光ビームス
プリッタ（１ｏ）の反射面に対してＳ偏光となるため、
記録用ビーム（２）は偏光ビームスプリッタ（ｌＯ）で
反射され、さらにダイクロイックプリズム（９）で反射
され、光検知器（２ｏ）で受光される。一方、再生用半
導体レーザ（３）より出射したλ２の再生用ビーム（４
）の偏光方向は、偏光ビームスプリッタ（１０）の反射
面に対してＳ偏光になるように設定されているので、ダ
イクロイックプリズム（９）を通過した再生用ビーム（
４）は偏光ビームスプリッタ（１０）で反射される。そ
して再生用ビーム（４）は、１／４ｆＭ長板（１１）、
対物レンズ（１２）を介し情報記録媒体（１３）面上に
再生用スポット（１５）として集光され情報の再生に用
いられる。情報記録媒体（１３）で反射された再生用ビ
ーム（４）は、１／４波長板（１１）を再び通過するた
め、偏光方向が９０’回転する。従って、この再生用ビ
ーム（４）の偏光方向が偏光ビームスプリッタ（１０）
の反射面に対してＰ偏光となるため、再生用ビーム（４
）は偏光ビームスプリッタ（１０）を透過し、さらに干
渉フィルタ（８）を透過して検出光学系（１６）に入射
する。また、サーボ信号の検出は検出光学系（１６）に
て行い、フォーカシングエラー信号は周知の非点収差法
、トラッキングエラー信号は周知のプッシュプル法によ
り得ている。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の光ヘッド装置は以上のように構成されているので
、記録、再生を同時に行った場合、記録用半導体レーザ
（１）から出射した光がダイクロイックプリズム（９）
で完全に反射されず、再生用半導体レーザ（３）内部に
設けられたモニタ用光検知器に一部のもれ光（２８）が
受光され、再生用半導体レーザ（３）の出力が正確に制
御できないという問題があった。

この発明は上記の課題を解決するためになされたもので
、発光源である半導体レーザの出力を正確に制御すると
ともに信頼性の高い、情報記録。

再生、消去を行うことができる光ヘッド装置を得ること
を目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

この発明に係る光ヘッド装置は、半導体レーザの発振波
長のみを選択的に透過する干渉フィルタが半導体レーザ
の出射窓に配置されている。

〔作　用〕

この発明における干渉フィルタは、半導体レーザ内部の
レーザチップから放射される光の波長のみ透過し、他の
波長の光を透過しないため、他の波長の光がもれ光や、
迷光として半導体Ｖ−ザ内部のモニタ用光検知器に入射
するのを阻止する・したがって、複数の波長の異なる半
導体レーザを同一光学系に同時に使用した場合でも、複
数の半導体レーザを個別に、しかも正確に出力制御が行
える。

〔実施例〕

第１図はこの発明の一実施例を示し、再生用半導体レー
ザ（３）の出射窓（２３）に干渉フィルタ（２９）が設
けられている。この干渉フィルタ（２９）は、再生用半
導体レーザ（３）のレーザチップ（２４）から出射して
いる波長の光のみ透過させるものである。

その他、第５図と同一符号は同一部分である。

また、全体構成は第４図と同様であり、説明を省略する
。

次に動作について説明する。この実施例の記録。

再生動作および半導体レーザ（１）　、　（３１の出力
制御動作については、前記従来例と全く同じであるので
ここでは説明を省略する。

この実施例が従来装置と違うのは、再生用半導体レーザ
（３）の内部に設けられた干渉フィルタ（２９）の作用
であり、以下ではこの作用について述べることにする。

第４図において、半導体レーザ（１）と（３）が同時に
発光している状態を考える。このとき、従来装置の説明
で述べたように、記録用半導体レーザ（１）からの光ビ
ーム（２）は、情報記録媒体（１３）に集光照射された
後、再び対物レンズ（１２）、１７４波長板（１１）を
通り偏光ビームスプリッタ（１０）で反射され、ダイク
ロイックプリズム（９）に入射する。ダイクロイックプ
リズム（９）は波長λ寡の光ビーム（２）を反射するよ
うに設計されているので、光ビーム（２）はダイクロイ
ックプリズム（９）で反射され、光検知器（２０）で受
光されることになる。しかしながら、ダイクロイックプ
リズム（９）の波長λｌに対する透過率は完全にＯでは
ないため、情報媒体（１３）によって反射された光ビー
ム（２）の一部が再生用半導体レーザ（３）の内部に設
けられたモニタ用光検知器（２６）に入射しようとする
。ところが、モニタ用光検知器（２６）の前方、すなわ
ち、再生用半導体レーザ（３）の出射窓（２３）に貼り
付けられた干渉フィルタ（２９）により、光ビーム（２
）の入射が阻止され、このモニタ用光検知器（２６）に
は再生用半導体レーザ（３）のレーザチップ（２４）の
後面から放射される光のみが入射し、受光される。さら
に、光ビーム（２）の光強度は、光ビーム（４）に比べ
１０倍程度大きいので、光学部品でのけられや無反射コ
ーティングの不完全性に起因する迷光が発生しやすく、
光ビーム（２）から生じる迷光が再生用半導体レーザ（
３）Ｋ入射する可能性も高い。しかし、この迷光も再生
用半導体レーザ（３）の出射窓（２３）Ｋ設けられた干
渉フィルタ（２９’ｌＫよって阻止される。従って、記
録用半導体レーザ（１）の発光によって再生用半導体レ
ーザ（３）の出力が変動することは格段に小さくなり、
再生用半導体レーザ（３）の出力制御精度が向上できる
。

同様に、記録用半導体レーザ（１）の内部に、記録用半
導体レーザ（１）から放射される光（波長λ１）のみを
透過する干渉フィルタを、記録用半導体レーザ（１）の
出射窓に配置することも、記録用半導体レーザ（１）の
出力制御精度向上に役立つのは言うまでもない。

第２図は上述の干渉フィルタ（２９）の特性である透過
率の波長依存性を示したものである。

なお、上記実施例では干渉フィルタの特性を帯域通過型
とし一部の波長のみ透過させるようにしたが、第３−に
示すような低域通過型および高域通過型を使ってもよい
。また、上記実施例では干渉フィルタを半導体レーザの
出射窓のガラス板に貼り付けたものを示したが、ガラス
板を除き、干渉フィルタのみでもよい。いずれも同様の
効果を奏する。

〔発明の効果〕

以上のように、この発明によれば、干渉フィルタ、を半
導体レーザの出射窓に配置したため、異なる波長の光が
直接モニタ用光検知器に受光されることがなくなり、半
導体レーザの出力が正確に制御でさる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の要部拡大断面図、第２図
、第３図はそれぞれ第１図における干渉フィルタの特性
線図、第４図は従来の光ヘッド装置の光路図、第５図は
第４図における半導体Ｖ−ザの拡大断面図である。 （１）・・記録用半導体レーザ、（２）・・記録用ビー
ム、（３）・・再生用半導体レーザ、（４）・−再生用
ビーム−（５１、（６１・拳コリメータンンズ、（９）
拳・ダイクロイックプリズム、（１０）・・偏光ビーム
スプリッタ、（１２）・・対物レンズ、（１３）・・情
報記録媒体、（１４）・・記録用スポット、（１５）・
・再生用スポット、（１６）・・検出光学系、（２０）
・・光検知器、（２３）・・出射窓、（２４）・・レー
ザチップ、（２９）・・干渉フィルタ。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　波長が互いに異なる少なくとも２つの発光源を有し、
   １つの光学系にて上記複数の発光源からの光を情報記録
   媒体上に複数のスポットとして集光し、これらの複数の
   スポットにより情報の記録、再生、消去を行う光ヘッド
   装置において、前記発光源をなす少なくとも１つの半導
   体レーザの出射窓に前記半導体レーザの発振波長のみを
   選択的に透過する干渉フィルタを設けてなることを特徴
   とする光ヘッド装置。