JPH01238962A - 自己走査形発光素子アレイおよびその駆動方法 - Google Patents
自己走査形発光素子アレイおよびその駆動方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
イへの自己走査機能の付与に間するものである。
itting Diode)及びL D (Laser
Diode)が知られている。
aAlAs等)のPNまたはPIN接合を形成し、これ
に順方向電圧を加えることにより接合内部にキャリアを
注入し、その再結合の過程で生じる発光現象を利用する
ものである。
ている。あるしきいII[電流以上の電流をながすと注
入される電子−正孔対が増加し反転分布状態となり、誘
導放射による光子の増倍(利得)が発生し、へき開面な
どを利用した平行な反射鏝で発生した光が再び活性層に
帰還されレーザ発振が起こる。そして導波路の端面から
レーザ光が出ていくものである。
素子として発光機能を持つ負性抵抗素子(発光サイリス
タ、レーザサイリスタ等)も知られている0発光サイリ
スタは先に述べたような化合物半導体でPNPN構造を
作るものであり、シリコンではサイリスタとして実用化
されている。
)+1167〜169参照) この発光機能を持つ負性抵抗素子(ここでは発光サイリ
スタと呼ぶ)の基本構造及び電流−電圧特性を第22図
、第231!Iに示す、第22図に示す構造はN形Ga
As基板上にPNPN構造を形成したものでサイリスタ
とまったく同じ構成である。
抵抗を表している。サイリスタも第22図の2端子のみ
でなく、第24図に示す3端子サイリスタも知られてい
る。この3端子サイリスタのゲートはON電圧を制御す
る働きを持ち、ON電圧はゲート電圧に拡散電位を加え
た電圧となる。
致するようになる。カソード電極が接地されていればゲ
ート電極は零ボルトとなる。またこの発光サイリスタは
外部から光を入射することによりそのしきい電圧が低下
することが知られている。
りたく同じ原理でレーザサイリスタを形成する事もでき
る(田代他、1987年秋応用物理学会講演、番号18
p−ZG−10) 。
上に多数個作られ、切断されて一つづつの発光素子とし
てパッケージジグされ販売されている。また密着イメー
ジセンサ用及びプリンタ用光源としてのL E D t
i−つのチップ上に複数個のLEDを並べたLEDアレ
イとして販売されている。
取るポイント、書き込むポイントを指定するため、これ
ら発光素子による発光点の走査機能(光走査機能)が必
要であった。
ためには、LEDアレイのなかに作られている一つ一つ
のLEDをワイヤボンディング等の技術により駆動IC
に接続し、このICで一つ一つのLEDを駆動させてや
る必要があった。このためLEDの数が多い場合、同数
のワイヤボンディングが必要で、かつ、駆動ICも数多
く必要となりコストが高くなフてしまうという欠点があ
った。また、駆動ICを設置するスペースを確保するこ
とが必要となり、コンパクト化が困難という欠点を誘発
していた。またLEDを並べるピッチもワイヤボンディ
ングの技術で定まり、短ピツチ化が難しいという欠点が
あった。
ことにより、従来例で挙げたワイヤボンディングの数の
問題、駆動ICの問題、コンパクト化、短ピツチ化の問
題を解決しようとするものである。発光素子アレイが自
己走査することにより駆動ICは不必要となり、従って
ワイヤボンディングが不要となる。このため先に述べた
不具合は解消される。
によって制御可能な発光素子多数個を、一次元。
光素子近傍の他の発光素子に入射するように構成し、 C0各発光素子に、外部から電圧もしくは電流を印加さ
せるクロックラインを接続した、自己走査機能を持った
、発光素子アレイである。
気的に制御可能な発光素子多数個を、一次元、二次元、
もしくは三次元的に配列し、 b、各発光素子のしきい電圧もしくはしきい電流を制御
する電極を互いに電気的手段にて接続し、C8各発光素
子に、外部から電圧もしくは電流を印加させるクロック
ラインを接続、 するように発光素子アレイを構成しても実施でき る。
御可能な発光素子多数個を、一次元、二次元、もしくは
三次元的に配列し、 b、ある発光素子のON状態が、その発光素子近傍の他
の発光素子のしきい電圧もしくはしきい電流を変化させ
るように構成し、 c、ON状態の発光素子によりしきい電圧もしくはしき
い電流を変化させられた次駆動発光素子をONさせ、か
つ、しきい電圧もしくはしきい電流を変化させられてい
ないかまたは変化させられた量が次駆動発光素子ほどで
はない発光素子はONさせない、電圧パルスもしくは電
流パルスを、発光素子に印加させ、 d、発光素子の発光強度を増加させるよう、前記電圧及
び電流パルスに同期させて電圧及び?4流を発光素子に
印加させ、 ON状態を順次転送させる発光素子アレイの駆動方法に
より駆動させることができる。
はしきい電流を変化させる発光素子アレイにおいては、
ON状態の発光素子からの光が、移動方向に位置する発
光素子により多く入射するよう構成すれば、走査に必要
とされる電圧及び電流パルスの系列を2系列とすること
もできる。
近傍の他の発光素子のしきい電圧もしくはしきい電流を
変化させる発光素子アレイにおいては、各発光素子のし
きい電圧もしくはしきい電流を制御する電極を、互いに
抵抗を介して接続すること等によって、実施することが
できる。
はしきい電流が外部から制御可能な発光素子であれば、
任意の発光素子が使用できる。なかでも、例えばP導電
形半導体領域及びN導電形半導体領域を複数積層した発
光素子等の、 (例えば従来例にて説明したような発光
サイリスタ、レーザサイリスタ等の)負性抵抗を有する
発光素子を用いることが好ましい。
つの発光素子のON状態によって影響を受けるよう、即
ち、相互作用をするよう構成されているため、実施例に
て詳細に述べるように発光の自己走査機能をもっことが
できる。
用するものである。
は発光しきい電圧、電流が外部から制御できる発光素子
の一例として、最も標準的な三端子の発光サイリスタを
用いた場合を表している。
れた構成となっている。各単体発光素子のアノード電極
に3本の転送りロックライン(φ1、φ2、φ3)がそ
れぞれ3素子おきに(繰り返される様に)接続される。
そのターンオン電圧が低下する特性を持つ0発光サイリ
スタをその発光が互いの素子に入射するよう構成すると
、発光素子に距離的に近い素子、または光がよくあたる
よう配置された素子はそのターンオン電圧が下がること
になる。
加わっており、発光サイリスタT(@)がON状態にな
っているとする0発光サイリスタTl1d、からの発光
は隣接する発光サイリスタT +−11,T +ll+
に入射し、これらのON電圧を引き下げる0発光サイリ
スタT +−21,T (+21は、発光サイリスタT
+−1117++目に比べ遠方にあるため入射光は弱く
、ON電圧はそれほど低下しない。この状態で、次にク
ロックラインφ1にハイレベルパルス電圧を印加する0
発光サイリスタT(。1)のON電圧は発光サイリスタ
T+−21のON電圧に比べ光の影響で低下しているた
め、発光サイリスタ71411のONN圧と発光サイリ
スタT +−21のON電圧の間の電圧に、転送りロッ
クのヘイレベル電圧を設定すると発光サイリスタT+*
++のみONし、発光サイリスタT +−21はONt
、、ないようにすることができる。
にONする状況が生まれる。そしてクロックラインφ3
をローレベル電圧に落とすと、発光サイリスタT(Il
)はOFFとなり、発光サイリスタ71d、1のみON
することになる。よってON状態の転送が行われたこと
になる。
φ3のハイレベル電圧を順番に互いに少しづつ重なるよ
うに設定すれば、発光素子のON状態は順次転送されて
いく、即ち、発光点が順次転送される。
光素子アレイを実現することができる。
−2では実施例A−1を集積化して作成する場合の構成
についての考案を説明するものである。
aAs基板(1)上にP形半導体層(23)、N形半導
体層(22)、P形半導体層(21)の各層を形成する
。そしてホトリソグラフィ等及びエツチングにより、各
単体発光素子T +−21〜T(,1)に分離する。電
極(40)はP形半導体層(21)とオーミック接触を
しており、絶縁層(30)は素子と配線との短絡を防ぎ
、同時に特性劣化を防ぐための保護膜として作用する。
波長の光が通るような材質をもちいている。
り、N形GaAs基板(1)はカソードである。各単体
発光素子のアノード電極(40)に3本の転送りロック
ライン(φ1、φ2、φ3)がそれぞれ3素子おきに接
続される。
依存して変化することは一般に知られている。
イリスタに入射するよう構成されていれば、ON発光サ
イリスタに近い発光サイリスクのON電圧は、光がない
場合に比べ低下する。
透明な膜で形成されているため、光は容易に隣接する素
子に入りそのON電圧を低下させることができる。
動作とまったく同様である。
φ3のハイレベル電圧を順番に互いに少しづつ重なるよ
うに設定すれば、発光サイリスタの0Na8Bは順次転
送されていく。即ち、発光点が順次転送される。本実施
例によると、従来ではできなかった集積化された光結合
による自己走査形発光素子アレイを実現することができ
る。
ある。
−Y’ラインの断面図を、各々第5図および第6図示す
、各発光素子T +−21〜T++11の間には、発光
素子の分離溝(50)があり、分離溝(50)の一部に
は発光素子からの光が両隣りの索子以外の素子に入らな
いようにするための光障壁(d、)が設けられている。
もちいているが、別の物質を用いてもよいし、また形状
も別の形状としてもよい0発光素子の上部電極にはコン
タクト穴C+が設けられ、電極(40)と電気的に接続
される。コンタクト穴C2は、電極(40)と転送りロ
ックラインφ1、φ2、φ3との接続用スルーホールで
ある。
(,1)に接続され、転送りロックラインφ2は発光素
子T(−口に、転送りロックラインφ3は発光素子T(
@)に接続されている。
、各発光素子が並んでいる様子がわかる。
)との短絡防止用の絶&I膜(30)、および電極(4
0)と転送りロックラインとの短絡防止用の眉間絶縁膜
(31)がある、これらの絶縁膜(30)、 (31)
は素子間の光結合を妨げぬよう透光性の絶縁膜でできて
いる。または素子間の光結合を調節できるよう適度に光
を吸収する絶縁膜を用いてもよい、さらには適度に光を
吸収する絶縁膜と透光性の絶縁膜を適度の膜厚を調整し
、重ねて用いてもよい、このような構成にすると素子間
の光結合が可能となり、転送動作(光走査動作)が行な
える0発光素子の膜構成は第21図にしめした構成と同
じである。
であり、配線、電極の接続状況がわかる。
絶縁膜(30)に設け、電極(40)にて外部に取り出
す、そしてフィールド上にて転送りロックラインφ3と
スルーホールを通じて接続される。
工程が挙げられる。
、n形AlGaAs層 (24a)、 p形GaAs層
(23)、n形GaAsFj (22)、p形AlG
aAs層(21b)、p形GaAs層(21a)を順次
積層して成膜(エピタキシャル成長)する0次にホトエ
ツチング法を用いて、分離溝(50)を形成する。
(c、)をホトエツチング法を用いて形成する0次に電
極用金属を蒸着法またはスパッタ法にて成膜し、ホトエ
ツチング法を用いて電極(40)を形成する。さらに眉
間絶縁膜(31)を成膜し、ホトエツチング法を用いて
スルーホール(C2)を形成する。そして配線用金属を
蒸着法またはスパッタ法にて成膜し、ホトエツチング法
を用いて転送りロックライン(φ1、φ2、φ3〉を形
成する0以上の工程により本実施例の構造が完成する。
上に透光性の保護膜を設けてもよく、また絶縁膜が厚く
なり光の透過率が悪化し外部に取り出せる光量が低下す
るのを嫌うなら、発光素子の上部絶縁膜の一部または全
部をホトエツチング法等の方法により除去してもよい。
することができる。
を考えた場合の実施例であったが、本発明はこれに限ら
れるものでなく他の種類の発光素子であってもよい。
る場合について述べる。
合の断面構成図を示す、各発光素子(レーザサイリスタ
)T+−++〜T tellは以下の構成で作成される
。n形GaAs基板(1)上にn形AIGaAs(21
5)、p形AIGaAS(24)、 I形(ノンドウブ
)GaAs(23)、n形AIGaAs(22)、p形
AIGaAs(21)を順次積層した構造とし、n形A
IGaAS(21)、I)形AIGaAs(22)の層
を図のように加工する。これは通常ストライブ形のレー
ザダイオードの形状と同じである。このn形AIGaA
s(21)及びp形AIGaAs(22)の一部の幅は
10μ−以下とした。そのほかの部分は今までの第2図
〜第6図と同じである。
るまでは通常の発光サイリスタとおなじ動作であり、レ
ーザ発振電流以下の電流成分による発光は等方的に出て
いく、レーザ光は第6図の紙面に垂直に出ていく、従っ
てレーザ光は本考案の光結合には寄与せず、レーザ発振
電流以下の電流成分による発光のみが光結合に寄与する
事になる。これ以外の転送動作の機構は実施例A−2と
同じである。
成することができる。
は実施例A−4のより現実的な構造を示したものである
。第7図は平面図を表し、第8図は第7図のラインX−
X’にそっての断面図を示したものである。第5図の製
造法を概説する。n形GaAs基板(1)上にn形AI
GaAs(25)、p形AIGaAs(24)、 I形
(ノンドウブ)GaAs(23)、n形AIGaAs(
22)、p形AIGaAs(21)、上部電極(20)
を順次積層する(p形AIGaAs(21)と上部電極
(20)との間にオーミック接触を良好にするためp形
GaAs層を挟む場合もある。)0次にホトエツチング
により上部電極(20)を図中n形AlGaAs層(2
5)の幅と同じ幅を持つ長方形に加工し、これをマスク
として、p形AIGaAs(21) 〜n形AIGaA
s(25)の層をエツチングする。この時に素子間の分
離溝(50)が形成される0次にホトエツチングにより
同じ上部電極(20)をさらにエツチングし、10μm
以下の幅を持つストライブ状とし、これをマスクとして
、p形AIGaAs(2IL n形AIGaAs(2
2)の層をエツチングする。n形AIGaAs(22)
は全部除去せず一部残すようにする。さらに絶縁膜(3
0)を成膜し、ホトエツチングによりスルーホール(C
2)を形成する。この後転送りロックライン用の配線金
属を蒸着またはスパッタ等により形成し、ホトエツチン
グにより転送りロックラインくφ1、φ2、φ3)を形
成する。そして最後にへき間等の手法によりレーザ光出
力側の端面を平行度よく形成し、本実施例の構造ができ
あがる。
ードを同一基板上にそれぞれ独立に形成しておき、ワイ
ヤボンディング等を用いて一つ一つ外部に取り出し、駆
動用のICで電圧を加え動作させるもので、ワイヤボン
ディング等の組立が面倒でコストが高くなっていた。こ
れに対し、本実施例の発光素子アレイは転送りロックの
3端子のみを外部に取り出せば良く、組立が相当簡単に
なる。
みてよりコンパクトな自己走査発光素子アレイを作るこ
とができる。さらに発光素子を並べるピッチが従来はボ
ンディングの技術から定まっていたが、上述の実施例A
−1〜A−5によるとその規制がなくなり、よりピッチ
の小さい発光素子プレイを作ることができ、解像度の非
常に高い機器に応用が可能である。
スとして、φ1、φ2、φ3の3相を想定したが、より
安定な転送動作を求める場合にはこれを4相、S相と増
加させてもよい、また発光サイリスクT(1の発光を発
光サイリスタTl−11より発光サイリスタT fd、
1の方へより多く入射させることにより2相のクロック
にて動作させることも可能である。
場合について示したが、発光効率を上げるために、より
複雑な構造、層構成を導入することも本発明の範囲に含
まれる。その具体的な例としてダブルへテロ構造の採用
が挙げられる。−例を第21図に示す(田代他1987
年春応用物理学会講演、番号28p−ZE−8) 、
これはN形GaAs基板上に(0,5μmの)N形G
aAs層を積み、その上にバンドギャップの広いN形A
IGaAs(1μ■)、P形GaAs層(5nm)、
N形GaAs層(1μm)、バンドギャップの広いP形
AIGaAs(1μm)、そして取り出し電極とのオー
ミック接触をとるためのP形GaAs層(0,15μm
)積層した構成である0発光層は間に挟まれた、 (1
μmの)N形GaAs層である。これは注入された電子
、正孔がバンドギャップの狭いGaAs層に閉じ込めら
れ、この領域で再結合し発光する。
て自らのターンオン電圧が変化する発光素子であれば、
特に限定されない、上述のレーザサイリスタであっても
よい。
説明したが、この光によってしきい電圧が低下し、これ
を利用して転送動作を行わせるという構成は、PNPN
構成のみに限られず、その機能が達成できる素子であれ
ば特に限定されない。
同様な効果をUPIでき、まったく同様な自己走査機能
を達成することが可能である。さらには静電誘導(Sl
)サイリスタまたは電界制御サイリスタ(FCT)と呼
ばれるサイリスタを用いてもまったく同様である。この
SlサイリスタまたはFCTは電流ブロックとして働く
中央のP形半導体層を空乏層で置き換えた構造となって
いる(S、 M、 Sze 著、 Physi
cs of Sem1conductor Ph
ysics、 2nd Edition pp238
−240)*さらに、上記実施例A−1−A−5では、
発光素子を一列に並べているが、配列を直線にする必要
はなく、応用によって蛇行させてもよいし、途中から二
列以上に増やすことも可能である。
よく、またなんらかの方法で集積化することにより実現
してもよい。
利用するものである。
による結合を用いた場合についてであったが、本実施例
は電位による結合を用いたものである。
の等価回路図を示す6本実施例の特徴は実施例A−1、
即ち、第1図に抵抗ネットワークが加わった構成となっ
ている。
T 1421を用い、発光サイリスタT +−21〜T
(・2)には、各々ゲート電極G−a〜G42が設けら
れている。各々のゲート電極には負荷抵抗RLを介して
電源電圧VIIKが印加される。また、各々のゲート電
極G−2〜G、2は、相互作用を作るために抵抗R1を
介して電気的に接続されている。また、各単体発光素子
のアノード電極に3本の転送りロックライン(φ1、φ
2、φ3)がそれぞれ3素子おきに(繰り返される様に
)接続される。
となり、発光素子T +lllがONI、、でいるとす
る、この時3端子サイリスタの特性からゲート電極G@
は零ボルト近くまで引き下げられる(シリコンサイリス
タの場合約1ボルトである)、電源電圧Voにを仮に5
vとすると、負荷抵抗Rt、 抵抗R1のネットワー
クから各発光サイリスタのゲート1m圧が決まる。そし
て発光素子T +s+に近い素子のゲート電圧が最も低
下し、以降順にT(・)から離れるに従いゲート電圧は
上昇していく、これは次のようにあられせる。
れらの電圧の差は負荷抵抗RL、 抵抗R+の値を適
当に選択することにより設定することができる。
はゲート電圧より拡散電位Vd+だけ高い電圧となるこ
とが知られている。
アノードにかける電圧をこのターンオン電圧VONより
高く設定すればその発光サイリスタはONすることにな
る。
ロックパルスφ1にハイレベル電圧VHを印加する。こ
のクロックパルスφ1は発光素子Tt+++とT(−2
)に同時に加わるが、ハイレベル電圧VHの値を次の範
囲に設定すると、発光素子T(。1)のみをONさせる
ことができる。
(3)これで発光素子T(@)、T(、口が同時
にONL/ていることになる。そしてクロックパルスφ
3のハイレベル電圧を切ると発光素子T +s+がOF
Fとなり、ON状襲の転送ができたことになる。
タのゲート電極間を結ぶことにより、発光素子に転送機
能をもたせることが可能となる。
φ3のハイレベル電圧を順番に互いに少しづつ重なるよ
うに設定すれば、発光素子のON状態は順次転送されて
いく、即ち、発光点が順次転送される0本実施例による
と、従来ではできなかった自己走査形発光素子アレイを
実現することかでき る。
−2では実施例B−1を集積化して作成する場合の構成
についての考案を説明するものである。
形GaAs基板(1)上にn形半導体層(24)、P形
半導体層く23〉、N形半導体層(22)、P形半導体
層(21)の各層を形成する。
体発光索子7 +−+)〜T(。1)に分離する(分離
溝(50))、 アノード電極(40)はP形半導体
層(21)とオーミック接触を有し、ゲート電極(41
)はn形半導体層く22)とオーミック接触を有す、絶
縁層(30)は素子と配線との短絡を防ぎ、同時に特性
劣化を防ぐための保護膜でもある。絶縁層(30)は発
光サイリスタの発光波長の光がよく通る材質をもちいる
ことが望ましい。N形G aA s基板(1)はこのサ
イリスタのカソードである。各単体発光素子のアノード
電gI(40)に3本の転送りロックライン(φ1、φ
2、φ3)がそれぞれ3素子おきに接続される。またゲ
ート電極には負荷抵抗RL、相互作用抵抗R1による抵
抗ネットワークが接続される。
本実施例の転送動作が影響されることが考えられるため
、ゲート電極の一部を発光素子間の分離溝のなかに入れ
、光結合を防止する構造としている。
回路と全く同じ構成であり、全く同じ動作をする。従っ
て、転送りロックφ1、φ2、φ3のハイレベル電圧を
順番に互いに少しづつ重なるように設定すれば、発光サ
イリスタのON状態は順次転送されていく、即ち、発光
点が順次転送される。
この実施例は上記実施例B−2の現実的な構造を示した
ものである。第11図に本実施例の平面図を、第12図
及び第13図に第11図のx−x’、Y−Y’ラインの
断面図を各々示す。
分離溝(50)、フィールド(60)等は前記実施例と
同様である。抵抗(63)は各々9ゲー)tfff間。
って発光素子からの光が入らないようにされている。本
実施例では光障壁としてフィールドの一部をもちいてい
るが、別の物質を用いてもよいし、また形状も別の形状
としてもよい0発光素子の上部電極は、取り出し用コン
タクト穴c、を通して、電極(40)で取り出される。
の接続はスルーホールC2を用いて行なわれる。クロッ
クラインφ1は発光素子T 1−21及びT+llに接
続され、クロックラインφ2は発光素子T(−目に、ク
ロックラインφ3は発光素子T +11+に接続される
。抵抗(63)は、コンタクト穴C3を用いて外部に取
り出される。
これは発光素子アレイの配列方向に切ったラインであり
、各発光素子が並んでいる様子がわかる0発光素子の分
離溝(50)、 発光素子と電極(40)(41)と
の短絡防止用絶縁膜(30)であり、電極(40)と転
送りロックラインとの短絡防止用層間絶縁膜(31)等
は前述の実施例と同様である。これらの絶縁膜(30)
、 (31)は、光が外部へ有効に取り出せるよう透光
性の絶縁膜である必要がある。この場合、先に述べたよ
うに光結合による転送動作への影響をなくすため、分l
l1tli中にゲート電極を入れて光を遮るよう構成す
ることは有効である。
これは発光素子アレイの配列方向に垂直に切ったライン
であり、配線、電極の接続状況がわかる0発光素子の上
部電極との取り出し用コンタクト穴c、を絶縁膜〈30
)に設け、電極(40)にて外部に取り出す、そしてフ
ィールド上にて転送りロックラインφ3とスルーホール
を通じて接続される。また抵抗ネットワークのための抵
抗として、本実施例ではn形半導体層く22)が用いら
れる。これは別の層であってももちろんよいし、また半
導体層を用いず、スパッタ等により別の種類の膜を形成
してもよい。
の抵抗値に影響を与えないようにするため、分離溝の中
に入るように工夫されている。
工程が挙げられる。
)、n形AlGaAs層 (24a)、 p形GaAs
層 (23)、n形GaAs層(22)、p形AIGa
AsM!(21b)、p形GaAs層(21a)を順次
積層して成膜(エピタキシャル成長)する0次にホトエ
ツチング法を用いて、分1g!溝(5o)を形成する。
の一部及び抵抗部のp形GaAsJ!! (21a)、
p形AlGaAs層(21b)を除去する。この後、絶
縁膜(30〉を成膜し、コンタクト穴(cl)。
極用金属を蒸着法またはスパッタ法にて成膜し、ホトエ
ツチング法を用いて電極(40)(41)を形成する。
を用いてスルーホール(Ca)を形成する。そして配線
用金属を蒸着法またはスパッタ法にて成膜し、ホトエツ
チング法を用いて転送りロックライン(φ1、φ2、φ
3)を形成する0以上の工程により本実施例の構造が完
成する。
上に透光性の保護膜を設けてもよく、また絶縁膜が厚く
なり光の透過率が悪化し外部に取り出せる光量が低下す
るのを嫌うなら、発光素子の上部絶縁膜の一部または全
部をホトエツチング法等の方法により除去してもよい。
ることができる。
を考えた場合の実施例であったが、本考案はこれに限ら
れるものでなく他の種類の発光素子であってもよい、そ
の−例として本実施例ではレーザサイリスタを使用する
場合について述べる。
面図を表し、第15図は第14図のラインx−x’にそ
っての断面図を示したものである。
i)等の番号は上記実施例と同様である。
上にn形AIGaAs(25)、p形AIGaAs(2
4)、 ■形(ノンドウブ)GaAs(23)、n形A
IGaAs(22)、p形AIGaAs(21)、上部
電極(20)を順次積層する(p形AIGaAs(21
)と上部電極(20)との間にオーミック接触を良好に
するためp形GaAs層を挟む場合もある)0次にホト
エツチングにより上部電極(20)を図中n形AIGa
As(2F5)層の幅と同じ輻を持つ長方形に加工し、
これをマスクとして、p形AIGaAs(21) 〜n
形AIGaAs(25)の層をエツチングする。この時
に素子間の分離溝(50)が形成される0次にホトエツ
チングにより同じ上部電極(20)をさらにエツチング
し、10μ綱以下の幅を持つストライブ状とし、これを
マスクとして、p形AIGaAs(21)、n形AIG
aAs(22)の層をエツチングする。n形AIGaA
s(22)層は全部除去せず一部残すようにする。
る。ここでこの3種類の絶縁膜であるが、これは絶縁膜
(30c)(30a)と光遮蔽膜(30b)であり、絶
縁と光遮蔽の二つの機能を待つようにしたものである。
GaAsの発光波長である870nmを透過するため、
光結合を誘発する可能性があり、その間に例えば非晶質
シリコンのような光吸収物質による光遮蔽111(30
b)を設ける必要があるからである。もちろん絶縁と光
遮蔽の二つの機能を兼ね備λた物質を用いれば一層で済
む0次にホトエツチングによりコンタクト穴(c、)を
設け、そのうえに抵抗(63)を成膜し、ホトエツチン
グする。さらに眉間絶縁膜(31)を形成し、スルーホ
ール(C2)をホトエツチングにより形成する。この際
、抵抗(63)上のスルーホールは絶縁膜(31)のみ
除去すればよいが、上部電極(20)上のスルーホール
は絶縁膜(31)と同時に絶縁膜(30c)(30b)
(30a)も除去する必要があるため注意が必要である
。この後転送りロックライン用の配線金属を蒸着または
スパッタ等により形成し、ホトエツチングにより転送り
ロックライン(φ1、φ2、φ3)及び電源VaKライ
ンを形成する。そして最後にへき間等の手法によりレー
ザ光出力側の端面を平行度よく形成し、本実施例の構造
ができあがる。
同様、従来の発光素子アレーにはない自己走査機能を持
ち、組立の効率化、小型化、高ピツチ化等の効果を有す
る。
して、φ1、φ2、φ3の3相を想定したが、前記実施
例A同様、より安定な転送動作を求める場合にはこれを
4相、5相と増加させてもよい。
前記実施例A同様、配列を直線にする必要はなく、応用
によって蛇行させてもよいし、途中から二列以上に増や
すことも可能である。
部電位によって自らのターンオン電圧が変化する発光素
子であれば、特に限定されず、前述の通り、レーザサイ
リスタであってもよい。
く、またなんらかの方法で集積化することにより実現し
てもよい。
、より複雑な構造、層構成を導入したものであっても良
いし、6層以上の構成等の任意の構造でかまわない。
体基板を用い、その電位を零ボルト(接地)とした例を
示してきたが、本発明はこれに限られず基板として他の
物質を用いてもよい。もつとも近い例でいえばクロム(
Cr)等をドウブした半絶縁性GaAs基板上に実施例
のn形GaAs基板に相当するn形GaAsJgを形成
し、この上に実施例で説明した構造を形成してもよい、
また例えばガラス、アルミナ等の絶縁基板上に単導体膜
を形成し、この半導体を用いて実施例の構造を形成して
もよい。
例えばTJS形、 BH形、 csp形、 VSIs形
等を用いてももちろんよい(S、 M、 Sze著、P
hysics of Se1g1cOnductor
pHySIC8+ 2nd EdltlOn pp?2
1730) * また材料についてもAlGaAsを
主体に説明したが、これ以外の材料(例えばAlGa1
nP、 I nGaAsPSZnSe%GaP等)で
あってもよい。
素子が隣接する発光素子に最もその影響を与え、隣接発
光素子が次駆動発光素子となる様に構成していたが、本
発明は上記に限らず、例えば1つおきに最もその影響を
与えるように構成し、1つおきの発光素子に転送駆動可
能とすることもできる。
構成された発光素子プレイの駆動方法に間するものであ
る。
1の説明図を第16図に示す、第16図には、駆動原理
を表す等価回路図および各端子に印加するのパルス波形
を示している。
にそれぞれ電流1111+、I2、I3を併置し、その
電ff1ffiを発光信号φ1により制御するように構
成したものである。
発光素子TL@)がONする。そして次々に転送パルス
φ1、φ2、φ3を印加することにより、ON状態の転
送が行われる。この機構については実施例A% Bによ
りすでに説明した通りである。
発光点がT(3)に来た時刻を見計らって発光信号φl
をハイレベルとする。この時φ1に同朗して電流源11
、 I2、 I3から電流が流れ込む、しかしONして
いるT(3)のアノードは電流源からの電流を吸い込む
が、これ以外の発光素子はOFF状態のため電流を吸い
込めず、流れ込んだ電流は転送りロックパルスを出して
いる駆動回路側に流れ出てしまう、従ってONしている
発光素子のアノード電流が増加し、発光強度もまた大き
くなる。
しの場合の発光強度をに対し、発光素子T(3)の発光
強度のみ強くなっている様子がわかる。
ることができ、場所的な光書き込みが可能となる。
場合、転送りロックによるアノード電流をレーザ発振の
しきい電流以下にしておけば、通常転送状態ではレーザ
光は出す、発光信号が出た時のみレーザ光をだせるよう
にすることができる。
構成された発光素子アレイ、及び実施例Cで述べたその
駆動方法の応用に関するものである。
本発明の第一の応用例である密着形イメージセンサの原
理図を示す、これは本発明によって発光点がシフトする
という機能が実現でき、それを場所走査に適用した場合
に相当する。
センサが形成されている。従来はこの光センサを100
μ購程度の画素に分離し、それを読み取り用ICで走査
し、取り出す方式をとっていた。
式はアモルファスSiによる光センサを画素分離せず、
代わりに照明の方で走査するものである。
F[t(A2)、アモルファス5i(A3)、透明電極
(A4)、電極(A5)が形成されている。この構成で
は光によってアモルファス5i(A3)の電気伝導率が
上昇するため、電極(A2)と電極(A5)との抵抗が
光が当たることによって低下する現象を利用している。
に密着して原稿(A7)がくる、さて本実施例の発光素
子プレイ(AIO)はガラス基板(AI)の反対側に設
けられ、その光はロッドレンズアレイくA9)を通し、
光センサの中央部に設けられた光を導入するためのg
(A8)を通して、原稿(A7)上に結像するように構
成されている。
次移動する機能を持ち、それに従って、原稿上の結像点
も順次移動していく、いま原稿上の文字等による濃淡が
あると原稿からの反射光もそれに従い変化する。これを
アモルファスSiによる光センサで読み取る。
ると、その高い量子効率から光量の多い発光素子アレイ
を得ることが出来、低消費電力または高速の読みだしを
行なうことができる。
の文字、画像の読み取りに応用出来、ファクシミリ、バ
ーコードリーダ、複写機等への幅広い応用が期待できる
。
て述べる。従来LEDアレイの各画素に駆動用ICを接
続したモジュールを使って光プリンタへ応用した例が知
られている。光プリンタの原理図を第18図に示す、ま
ず円筒形の感光ドラム(Bl)の表面にアモルファス5
1等の光導上性を持つ材料(感光体)が作られている。
器(B7)で感光体表面を一様に帯電させる。そして発
光素子アレイ光プリントヘッド(B8)で印字するドツ
トイメージの光を感光体上に照射し、光の当たったとの
るの帯電を中和する0次に現像器で感光体上の帯電状態
に従って、トナーを感光体上に付ける。そして転写器(
B2)でカセット(Bll)中から送られてきた用紙(
B9)上にトナーを転写する。そしてその用紙は定着器
(B3)にて熱等を加えられ定着される。一方転写の終
了したドラムは消去ランプ(B5)で帯電が全面に渡っ
て中和され、清掃器(B6)で残ったトナーが除去され
る。
た駆動方法で動作させたものを、発光素子アレイ光プリ
ントヘッドに応用する。光プリントヘッドの構造を第1
9図に示す、これは発光素子アレイとロッドレンズアレ
イで構成されレンズの焦点が感光ドラム上に結ぶように
なっている。
光素子アレイではON状態が転送しながら光を書き込み
たい位置で、発光強度を大きくできるので感光ドラムに
画像情報を書き込むことができる。
ると、その高い量子効率から光量の多い発光素子プレイ
を得ることが出来、低消費電力または高速の書き込み即
ちプリントを行うことができる。
並べた構成であった。このアレイを平面的に並べるとデ
イスプレィを作ることができる。
すると映像信号はφI(1)〜φ1(N)から書き込め
ばよい、集積化した発光素子アレイを用いれば高密度の
表示素子を作ることができるし、単体発光素子を組み合
わせて作るならば大面積のデイスプレィを作ることでき
る。
自己走査機能をもたせることにより、従来例で挙げたワ
イヤボンディングの数の問題、駆動ICの問題、コンパ
クト化、短ピツチ化の問題を解決することができる0発
光素子アレイが自己走査することにより駆動ICは不必
要となり、従ってワイヤボンディングが不要となる。
プレィ等へ応用でき、これらのW器の性能向上、低価格
化に大きく寄与することができる。
アレイの概略を示す回路図、第2図は実施例A −t)
にて説明した光を用いた発光素子プレイの概略を示す断
面図、第3図は実施例A−3にて説明した光を用いた発
光素子プレイの概略を示す平面図、第4図及び第5図は
実施例A−3にて説明した光を用いた発光素子アレイの
概略を示す断面図、第6図はA−4にて説明した光を用
いた発光素子アレイの概略を示す断面図、第7図は実売
例A −5にて説明した光を用いた発光素子アレイの概
略を示す平面図、第8図は実施例A−5にて説明した光
を用いた発光素子アレイの概略を示す断面図、第9図は
実施例B−1にて説明した電位を用いた発光素子アレイ
の概略を示す回路図、第10図は実施例B−2にて説明
した電位を用いた発光素子アレイの概略を示す断面図、
第11図は実施例B−3にて説明した電位を用いた発光
双子アレイの概略を示す平面図、第12図及び第13図
は実施例B−3にて説明した電位を用いた発光素子アレ
イの概略を示す断面図、第14図はB−4にて説明した
電位を用いた発光素子アレイの概略を示す平面図、第1
5図は実施例B−4にて説明した電位を用いた発光素子
アレイの概略を示す断面図、第16図は実施例Cにて説
明した発光素子アレイの駆動方法の概略を示す回路図お
よび各パルスの波形を示す図、第17図は応用例1で説
明した密着形イメージセンサの概略を示す断面図、第1
8図は応用例2で説明した光プリンタの概略を示す断面
図、第19図は応用例2で説明した光プリンタヘッドの
概略を示す側面図、第20図は応用例2で説明した光デ
イスプレィの概略を示す平面図、第21図はダブルへテ
ロ構造の発光サイリスタの概略を示す断面図、第22図
は発光サイリスタの概略構造を示す断面図、第23図は
発光サイリスタの電流−電圧特性を示す図、第24図は
3端子サイリスタの概略構造を示す断面図である。 代理人 弁理士 大 野 精 市□・jJ′F、誓7・
話)2.1 sst++( ■+−2+T+−1)T++)+TnllTi中2)第
1 図 第2図 d、! wz 第3図 第4図 第7図 第8図 第9図 第11図 第13図 第14図 第15図 1INll1 ロチ1\ンA10発光素子アレイ ’ All走査光 88発光素子アレイ光′プノンヒqド 第旧図 第19図 第21図 第20図 構造 第22図 電圧 □ 電凛−電圧特性 第23図 構造 第24図
Claims (6)
- (1)a、しきい電圧もしくはしきい電流が外部から光
によって制御可能な発光素子多数個を、一次元、二次元
、もしくは三次元的に配列し、b、各発光素子から発生
する光の少なくとも一部が、各発光素子近傍の他の発光
素子に入射するように構成し、 c、各発光素子に、外部から電圧もしくは電流を印加さ
せるクロックラインを接続した、 発光素子アレイ。 - (2)該発光素子からの光が、一定方向の隣接発光素子
により多く入射するよう構成されてなる請求項1項記載
の発光素子アレイ。 - (3)a、しきい電圧もしくはしきい電流が外部から電
気的に制御可能な発光素子多数個を、一次元、二次元、
もしくは三次元的に配列し、 b、各発光素子のしきい電圧もしくはしきい電流を制御
する電極を互いに電気的手段にて接続し、c、各発光素
子に、外部から電圧もしくは電流を印加させるクロック
ラインを接続した、 発光素子アレイ。 - (4)該発光素子のしきい電圧もしくはしきい電流を制
御する電極が、互いに抵抗を介して接続されてなる請求
項3項記載の発光素子アレイ。 - (5)該発光素子が、P導電形半導体領域及びN導電形
半導体領域を複数積層した負性抵抗を有する発光素子で
ある請求項1項ないし4項記載の発光素子アレイ。 - (6)a、しきい電圧もしくはしきい電流が外部から制
御可能な発光素子多数個を、一次元、二次元、もしくは
三次元的に配列し、 b、ある発光素子のON状態が、その発光素子近傍の他
の発光素子のしきい電圧もしくはしきい電流を変化させ
るように構成し、 c、ON状態の発光素子によりしきい電圧もしくはしき
い電流を変化させられた次駆動発光素子をONさせ、か
つ、しきい電圧もしくはしきい電流を変化させられてい
ないかまたは変化させられた量が次駆動発光素子ほどで
はない発光素子はONさせない、電圧パルスもしくは電
流パルスを、発光素子に印加させ、 d、発光素子の発光強度を増加させるよう、前記電圧及
び電流パルスに同期させて電圧及び電流を発光素子に印
加させ、 ON状態を順次転送させる発光素子アレイの駆動方法。
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EP99200061A EP0917213A1 (en) | 1988-03-18 | 1989-03-20 | Self-scanning light-emitting element array |
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