JPH01201832A - 信号処理回路 - Google Patents

信号処理回路

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JPH01201832A
JPH01201832A JP63024689A JP2468988A JPH01201832A JP H01201832 A JPH01201832 A JP H01201832A JP 63024689 A JP63024689 A JP 63024689A JP 2468988 A JP2468988 A JP 2468988A JP H01201832 A JPH01201832 A JP H01201832A
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Koji Uchikoshi
打越 剛二
Toshihiko Otomo
敏彦 大友
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Nakamichi Corp
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Nakamichi Corp
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光デイスク装置の信号処理回路に関し、特に
光デイスク上に形成される光スポットが、光ディスクの
半径方向に移動したときに得られる正弦波状の全反射光
量信号を整形し、全反射光量信号がその振幅中心レベル
と交叉するタイミングで状態変化するtt Htt 、
 n L 11の各状態からなる整形信号を得るための
信号処理回路に関する。
(従来の技術) 上記の全反射光量信号は、直流成分と交流成分とからな
り、且つそのレベルは、光スポットの光量−動や光ディ
スクの反射率のばらつき等で変化する。
従って、従来においては全反射光量信号と、これを平均
化した比較信号とを比較回路で比較することにより上記
整形信号を得ていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、このような比較信号を得るにはローパス
フィルタ等の時定数回路を用いるため、全反射光量信号
のレベルが急変動すると、この変動に比較信号が追従出
来ず、安定した整形信号が得られない欠点があった。
(問題点を解決するための手段) 光スポットがグルーブが形成された光ディスクの記録ト
ラックをその半径方向に横切るのに応じて正弦波状に変
化するトラッキングエラー信号と、該トラッキングエラ
ー信号と90度の位相差の変動成分を有する全反射光量
信号を得る信号検出手段と、 切換え信号に基づいて、前記全反射光量信号に所定の割
合で比例するサンプル信号の状態と、該サンプル信号を
ホールドしたホールド信号の状態とからなる比較信号を
得るサンプルホールド手段と、 前記比較信号と前記全反射光量信号の各レベルを比較し
て”H”、′L”の各状態からなる整形信号を得る比較
手段と。
前記トラッキングエラー信号のレベルがその振幅中心近
傍の所定レベル範囲内にあるか否かを示す判定信号を得
るレベル判定手段と。
前記整形信号と前記判定信号とに基づいで前記切換え信
号を得る切換え手段とからなり、前記比較信号は、前記
トラッキングエラー信号が前記所定レベル範囲内にあり
、且つ前記判定信号が一方の状態の時のみ前記サンプル
信号状態となり、他の時には前記ホールド信号状態とな
るように構成する。
(作用) 前記全反射光量信号がその振幅中心レベルと交叉するタ
イミングで、′H”、” L’の各状態が変化する前記
整形信号を得ることができる。
(実施例) 第1図は、本発明回路の構成の一実施例を示す回路図で
ある。同図中、4分割ディテクタ1は、光ディスクに同
心状或いは渦巻状に形成された記録トラックに略円形状
の光スポットを照射しつつ走査するピックアップ内に配
置され、この光ディスクからの反射光を検出して光電変
換するものである。更に各ディテクタは、光スポットを
記録トラック方向に2分割したとき、ディテクタ11と
1□が一方の半部の、またディテクタ11と1.が ゛
他方の半部の反射光を検出するように配置されている。
加算器2はディテクタ11と1sから出力される電圧信
号31、s2を加算した電圧信号(s =” s s 
)を出力し、加算器3はディテクタ1.と14から出力
される電圧信号s3.s、を加算した電圧信号(S、÷
84)を出力する。加算器4はこれら電圧信号を更に加
算し、(sz÷32÷S s” S 4)となる光量電
圧信号S、を出力する。一方、引き算器5は、(ss十
84) −(s、+s、)となるトラッキングエラー信
号S6を出力する。
第2図は、これ等の形成された光量電圧信号3s、トラ
ッキングエラー信号S、と光ディスク100との対応関
係を示す波形図である。光ピツクアップ(図示せず)が
、所定形状のグルーブ1001が等間隔に形成された照
射面を矢印A、B方向、即ち光ディスクの半径方向に移
動する時、各移動位置に対応して変化する光量電圧信号
S6、トラッキングエラー信号iは、同図に示す如く略
サイン波状の信号となる。更に光量電圧信号S、は、各
記録トラック100□の中心位置で最大となり、逆に各
グルーブ1008の中心位置で最小となる。一方、トラ
ッキングエラー信号S、は、光量電圧信号S、に対して
90度位相がずれた波形を示し、記録トラック100□
及びグルーブ100□の各中心位置でゼロクロスする。
何故ならば、電圧信号<sx+ss>と(s3+s唱)
は、振幅が略等しく、互いに適当な位相差を持つからで
ある。即ち、振幅が等しく位相の異なる2つの正弦波の
和信号と差信号の間には正確に90度の位相差が生ずる
からである。
第1図に示す如く、このトラッキングエラー信号S、は
、波形整形回路部11を構成する比較器6のマイナス入
力端子、及び比較器7のプラス入力端子にそれぞれ入力
すると共に、比較器9のプラス入力端子に入力する。一
方、光量電圧信号S、は、比較器10のプラス入力端子
に入力すると共に、スイッチSW1の可動端子に入力す
る。
スイッチSWIの固定端子は、コンデンサC1及び抵抗
R1、R2を介してそれぞれグランドに接続されている
。比較器6.7.10の各出力端子は、それぞれAND
回路8の各入力端子に接続され、このAND回路8の出
力端子は、スイッチSW1の制御端子に接続されている
。スイッチSW1は、制御端子に入力する制御信号が”
H′″状態のときのみ閉成されるものである。比較器6
のプラス入力端子、及び比較器6のマイナス入力端子に
は、それぞれ基準電圧Vrl、Vp2が印加されている
。更に、比較器9.10の各マイナス入力端子はグラン
ド、及び抵抗R1とR2の接続点にそれぞれ接続されて
いる。
以上の如く構成された波形整形回路部11は、トラッキ
ングエラー信号$sと光量電圧信号ssの波形整形を行
うが、第1図、第2図を参照しながら以下にその動作を
説明する。
電圧信号(s)”s4)と電圧信号(sx”sJとの差
信号であるトラッキングエラー信号s6を、比較器9で
グランドレベル(Ov)と比較することにより、′H”
と”L”のレベル反転ポイントが、光ディスク100の
記録トラック100□及びグルーブ1001の各中心位
置と一致する2値の整形信号s8が得られる。
一方、光量電圧信号S、は、電圧信号(s 、+ s 
、)と電圧信号(sa十34)との和信号であるため、
整形信号S、と90度位相のずれた2値信号を得るには
、平均レベル電圧近傍の所定の比較電圧Vfと比較する
必要がある。
今、光スポットがポジションPに位置すべく、光ピツク
アップがトラッキング制御されていると仮定すると、比
較器10の出力信号である整形信号s7は、後述するご
とく”H”状態となる。この時、AND回路8は、トラ
ッキングエラー信号S6のレベルがO■近傍に設定され
た基準電圧Vr1 (プラス側に設定)とVp2 (マ
イナス側に設定)の間のレベル領域Veに有るために”
H”信号を出力し、スイッチSW1を開成状態とする。
従って、比較器10は、光量電圧信号S、の電圧Vs、
とこの電圧を抵抗R1、R2で分圧した電圧α・vss
とを比較するため、その整形信号s7は#1HFI状態
を維持する。
尚、αは分圧比を示し、 α=R2/ (R1+R2)となる。
この状態から、光スポットを例えば矢印A方向に移動さ
せた場合、トラッキングエラー信号ssの電圧レベルが
基準電圧Vrlより高くなった時点でスイッチSWIが
開成し、コンデンサc1がこの時の光量電圧信号S、の
サンプル電圧Vpをサンプルホールドするので、比較器
1oはこの時点から電圧値α・VPと光量電圧信号S、
を比較する。
尚、分圧比αは、この電圧α・Vpが前記した比較電圧
Vfと同レベルになるよう予め設定されるものである。
従って、光スポットが矢印A方向移動を続けると、ポシ
シ目ンP工で整形信号s7の状態が”H”から”L”に
反転し、ポジションP2近傍でトラッキングエラー信号
s6の電圧Vs、が前記レベル領域Ve内に入る。しか
しこの時、整形信号s7が”L”状態のためにAND回
路8は”L”出力を保って光量電圧信号s5のサンプリ
ングは行われない、ポジシ目ンP、に至ると整形信号s
7の状態がL”から”H”に反転し、更にポジションP
4近傍ではトラッキングエラー信号s6の電圧Vsr、
が再びレベル領域Ve内に入る。この時には整形信号s
7が”H”状態になっているため、この間SWIが閉成
して再び光量電圧信号S、をサンプリングし、新たなサ
ンプル電圧VPがホールドされる。以後同様の動作が繰
り返されるため、光量電圧信号s5は一周期毎にピーク
近傍のサンプル電圧Vpがサンプリングされ、これを分
圧した比較電圧Vfと比較される。また光ピツクアップ
が矢印B方向に移動した時の動作も同様であるためその
説明を省略するが、比較器7から出力される整形信号3
7は、第2図に示すように光量電圧信号S、と同期し、
且つ整形信号S、と90度位相がずれた波形となる0以
上の如く、比較電圧Vfはサンプル電圧Vpよりもレベ
ルが低いため、光ピツクアップがポジションPのような
記録トラック位置にトラッキング制御されている場合、
整形信号s1は常に”H”状態を維持する。
次に、光ディスク100の反射率のばらつき、或いは光
スポツト光量の変動等により、反射光量レベルが異なる
時の光量電圧信号S6、トラッキングエラー信号s6の
様子を第2図(b)に示す。
この時、光量電圧信号98、トラッキングエラー信号s
6の各電圧レベルは1反射光量レベルに比例して変動す
る。従って、比較電圧Vfもこれに比例して設定すれば
、常に同条件で比較することになる。上記実施例によれ
ば、比較電圧Vfがα・Vpで設定され、更にサンプル
電圧Vpが一周期毎に更新されているので、この比較電
圧Vfは常に光量レベルに比例し、常に同条件での比較
が可能となるものである。
次に、第1図に示す光スポットの移動速度を検出するた
めの速度検出回路部16について説明する。
演算増幅器12のマイナス入力端子には、コンデンサC
2を介してトラッキングエラー信号S。
が印加され、演算増幅器13のマイナス入力端子には、
コンデンサC3を介して光量電圧信号S。
が印加されている。演算増幅器12の出力端子は、スイ
ッチSW2、SW3の各可動端子に直接接続されると共
に、抵抗R3を介してそのマイナス入力端子に接続され
ている。演算増幅器13の出力端子は、スイッチSW4
、SW5の各可動端子に直接接続されると共に、抵抗R
6を介してそのマイナス入力端子に接続されている。ス
イッチSW2、SW4の各固定端子は、それぞれ抵抗R
4、R7を介して演算増幅器14のマイナス入力端子に
接続され、またスイッチSW3、SW5の各固定端子は
、それぞれ抵抗R5、R8を介して演算増幅器15のマ
イナス入力端子に接続されている。
演算増幅器15の出力端子は、抵抗R9を介してそのマ
イナス入力端子に接続されると共に抵抗R10を介して
演算増幅@14のマイナス入力端子に接続され、演算増
幅器14の出力端子は抵抗R11を介してそのマイナス
入力端子に接続されている。更に、各演算増幅器12〜
15のプラス入力端子はそれぞれグランドに接続されて
いる。
以上の構成において、第3図の波形図を参照しながらそ
の動作を説明する。
この第3図の波形図は、光スポットがポジションPの位
置から矢印A方向に所定の移動速度Vで移動したときに
回路の各個所で検出される電圧波形を実線で示し、また
横軸に経過時間tを示す。
但し、光量電圧信号S、は交流成分のみが示され、また
説明の簡単のために光量電圧信号S、とトラッキングエ
ラー信号S6の振幅が等しく設定されている。
コンデンサC3、抵抗R6と共に微分器を構成する演算
増幅器13は、光量電圧信号S、を微分して反転した微
分信号S、を出力し、一方コンデンサC2、抵抗R3と
共に微分器を構成する演算増幅器12は、トラッキング
エラー信号S、を微分して反転した微分信号s1゜を出
力する。スイッチSW5は、整形信号S、で制御され、
そのII H”8L)Iの各状態に応じて閉成、又は開
放する。
従って、その固定端子には、微分信号S、のプラス側の
半波信号s1□が現れる。一方、スイッチSW4は、イ
ンバータ29から出力される整形信号s8によって制御
されるため、その固定端子には微分信号S、のマイナス
側の半波信号812が現れる。同様にして各整形信号s
7、s7でそれぞれ制御されるスイッチSW2、SW3
の各固定端子には、微分信号s1゜のマイナス側の半波
信号s1.、及びプラス側の半波信号813がそれぞれ
現れる。
抵抗R5、R8、R9と共に反転型の加算器を構成する
演算増幅器15は、プラス側の半波信号sxzとsxa
を加算して反転した加算信号sxsを出力する。更に、
抵抗R4、R7、R10,R11と共に反転型の加算器
を構成する演算増幅器14は、マイナス側の半波信号s
ix、814と加算信号S工、を加算して反転した加算
信号szsを出力する。
従って、この加算信号S工、の絶対値は、微分信号S3
、sl。をそれぞれ全波整流して加算した値となり、こ
の平均レベルは、光スポットの移動速度Vに比例する。
次に光スポットがポジションPの位置から矢印B方向に
移動速度Vで移動する場合について説明する。この時、
トラッキングエラー信号S6は、第3図の点線で示す如
く、光量電圧信号S、に対して位相が90度進んで現れ
る。更に、各スイッチSW2〜SW5の固定端子には、
同図の点線で示す半波信号six〜814が現れ、これ
等が加算された加算信号s1sは、前記した光スポット
が矢印A方向に移動速度Vで移動したときと極性が逆に
なる。
従って、この加算信号stsの絶対値レベルは光スポッ
トの移動速度Vの大きさを示し、またその極性が移動方
向を示すことになるため、この加算信号sxsにより光
スポットの移動状態を知ることが出来る。
尚、上述の説明では、トラッキングエラー信号S6と光
量電圧信号S、の振幅を等しくしたが、これ等の振幅が
異なる場合にも、予め図中の各抵抗値を適当に設定する
ことにより、同波形の加算信号stsが得られることは
明らかである。また、加算信号sxsに現われるリップ
ルを除去するため、必要に応じて平滑回路28を演算増
幅器14の後段に設けてもよい。更に、上記実施例では
、スイッチSWI〜SW5に可動端子と固定端子を有す
るリレ一方式のスイッチを示したが、これ等の代わりに
アナログスイッチ等の電子スイッチを用いてもよいこと
は明らかである。
次に、第1図に示す光デイスク上の光スポットのトラッ
ク位置を検出するための位置検出回路部24について説
明する。
D型フリップフロップ回路(以下DFF回路と称す)1
7のD入力端子は、整形信号S、を入力し、そのQ出力
端子はイクスクルーシブ・オア回路(以下E−OR回路
と称す)21.22の各−方の入力端子に接続されると
共に、DFF回路18のD入力端子に接続されている。
整形信号S。
の最小周期よりも短い周期のクロックパルス信号(以下
CP倍信号称す)s17を入力する入力端子24□は、
直接DFF回路17のCP入力端子に接続されると共に
、インバータ19を介してDFF回路18のCP入力端
子に接続されている。整形信号S、は、E−OR回路2
2の他方の入力端子に印加されると共に、インバータ2
0に印加される。E−OR回路21の他方の入力端子は
、DFF回路18のQ出力端子に接続され、8ビツトの
バイナリアップダウンカウンタ(以下アップダウンカウ
ンタと称す)23のパルス信号入力端子231、アップ
ダウン信号入力端子23□、及びENABLE入力端子
23.は、それぞれE−OR回路21の出力端子、DF
F回路18のQ出力端子、インバータ20の出力端子に
接続されている。
以上の構成において、第1図、第2図(a)及び第4図
の波形図を参照しながらその動作を説明する。
第4図(a)は、光スポットが第2図(a)に示す矢印
六方向に移動したとき、位置検出回路部24の各部で検
出される信号波形を示している。
この時、光量電圧信号S、を整形した整形信号s7は、
トラッキングエラー信号s1を整形した整形信号S、よ
り位相が90度進む。
尚、同図の各整形信号の状態反転時には、ノイズが発生
しているものとする。
DFF回路17は、cp信号81?の立上がりに同期し
て整形信号S、を取り込み、そのQ出力端子から取り込
み信号8tsを逐次出力する。従って、この取り込み信
号Sユ、は、整形信号S、のノイズが発生している状態
反転時には、取り込みタイミングに応じて”H”、′L
”の各状態を繰り返すが、他の時には整形信号S、と同
じ状態となる。
DFF回路18は、この取り込み信号$11をCP信号
s1□の反転信号にで更に取り込むため、これをCP信
号$17の半周期だけ遅延した遅延信号lB15を出力
する。E−OR回路5は、これ等の取り込み信号sxa
と遅延信号31.とのE−OR信号である反転パルス信
号S□を出力するが、この反転パルス信号sa、は、取
り込み信号1.の状態反転に同期し、且つこの反転数と
同数のパルスを有することになる。従って、この反転パ
ルス信号s2゜のパルスは、整形信号S、の状態反転時
に発生し、且つノイズの発生状態によって発生パルス数
が変わるものの、各反転時に発生する各パルス群Gが有
するパルス数は必ず奇数となる。また、DFF回路sz
wは、そのQ出力端子から遅延信号s1.と逆相のアッ
プダウン信号stsを出力するが、このアップダウン信
号stsの状態反転は、反転パルス信号s2゜のパルス
発生に対して遅れて現れる。アップダウンカウンタ23
は、これ等のアップダウン信号szs、反転パルス信号
5z11と、整形信号s7の反転信号である禁止信号i
をそれぞれ入力し、アップダウン信号1Lが”H”状態
の時には反転パルス信号s2゜のパルス入力毎にダウン
カウントし、逆にアップダウン信号80が”L”状態の
時にはこのパルス入力毎にアップカウントする。
但し、これ等のカウント動作は、禁止信号iが”H”状
態のときのみ行われ、′L″状態時には行われない構成
と成っている。
整形信号S、の状態反転時に発生する反転パルス信号s
0は、整形信号S、の′″H”からL′″への状態変化
に伴って発生し、且つ最初のパルスがアップダウン信号
a、sの”L”状態時に発生するパル、ス群Gaと、整
形信号S、の”L”から”H”への状態変化に伴って発
生し、且つ最初のパルスがアップダウン信号sxsの”
H”状態時に発生するパルス群Gbとが交互に現れる。
然し乍ら、光スポットが矢印入方向に移動する時、この
パルス群Gbは常に禁止信号S7が”L”状態の時に現
れるので、このパルス群Gbのパルスはカウントされな
い、従って、アップダウンカウンタ23は、パルス群G
aの各パルスのみカウントし、アップダウン信号i−の
各状態に応じてそのカウント数をアップダウンさせるも
、このパルス群Gaを入力するとと、即ち整形信号S、
の一周期ごとにそのカウント数を1つアップし、このカ
ウント結果をバイナリ8ビット信号としてその出力端子
23.〜2311から制御回路27に逐次出力する。
尚各出力端子のうち、出力端子234.23.。
がそれぞれMSB、LSBに対応している。
更にこの制御回路27は、取り込み信号S工、と、この
取り込み信号stsと整形信号S7のE−OR信号であ
る反転信号sa、を入力している。取り込み信号s1.
は、反転パルス信号S2゜のパルス群Gaの発生終了時
点で”L It状態を保ち、パルス群Gbの発生終了時
点で′″H”状態を保っている。
一方、反転信号S。は、取り込み信号s1.と整形信号
s7の各状態反転ごとにその状態反転を繰り返す、従っ
て、この状態反転は、各整形信号s7、S、のノイズに
基づく反転を除くと、整形信号S。
の−周期間に略等間隔に4回反転を繰返し、而もパルス
群Gaの発生終了時点では”L”状態となる。従って、
これ等の反転信号s2xと取り込み信号811の表すバ
イナリ2ビット信号は、アップダウンカウンタ23が1
アツプカウントする間に、0.1.2.3の順に変化す
る。
一方、第4図(b)には、光スポットが第2図の矢印B
方向に移動したとき、位置検出回路部24の各部で検出
される信号波形を示している。
この時、光量電圧信号S、を整形した整形信号S。
は、トラッキングエラー信号S6を整形した整形信号S
、より位相が90度遅れる。
尚、同図の各整形信号の状態反転時には、チャタリング
ノイズが発生しているものとする。
この場合、各回路の動作条件は、上記した回路動作と全
く同じなのでその詳しい説明は省略するが、パルス群G
a、Gbが現れるとき、禁止信号ηはそれぞれ”L”状
態、′H”状態と成っている。従って、アップダウンカ
ウンタ23は、パルス群Gbの各パルスのみカウントし
、アップダウン信号S13の各状態に応じてそのカウン
ト数をアップダウンさせるも、このパルス群Gbを入力
する毎、即ち整形信号S、の一周期毎にそのカウント数
を1つダウンする。更に、この時の取り込み信号sxs
は、各パルス群Ga、Gbの発生終了時点でそれぞれ”
H”状態、′L”状態を保ち、一方整形信号S、の一周
期間に4回反転する反転信号sixは、パルス群Gbの
発生終了時点で”H”状態となる。従って、これ等の反
転信号satと取り込み信号sxsの表わすバイナリ2
ビット信号は、アップダウンカウンタ23が1ダウンカ
ウントする間に3.2.1.0の順に変化する。
以上の如く、信号検出回路部24のアップダウンカウン
タ23は、光スポットが光デイスク上の記録トラックを
入方向に横切った時にはその数だけアップカウントし、
逆にB方向に横切った時にはその数だけダウンカウント
する。更に、反転信号s21と取り込み信号$18から
なる2ビツトのバイナリ信号の表す数値は、第2図(a
)に示すごとく、各記録トラック1001間を略4分割
した各領域に於ける光スポットの存在領域を示している
。また光スポットが一方向に移動しながら整形信号8.
の状態反転時に発生するノイズ領域を通過するときは、
必ず奇数のパルス群を発生するが、ノイズ領域の途中で
光スポットが他方向移動に変わる場合、そのノイズ領域
のみ偶数のパルス群を発生する。然もカウントは必ずア
ップとダウンが交互に行われるため、このような過渡的
な状態にあっても誤カウントを起こすことはない。
従って、制御回路27は、アップダウンカウンタ23か
ら出力されるバイナリ8ビット信号群s22を入力する
ことにより、光スポットが存在する記録トラック位置を
知ることが出来、更に反転信号s2□と取り込み信号s
xsからなるバイナリ2ビット信号群S。を入力するこ
とにより、光スポットが存在する前記領域を知ることが
出来る。
また制御回路27は、光スポットのトラックジャンプ時
には、所望の方向、速度に応じた速度設定信号s24を
移動速度制御回路25に出力すると共に、トラッキング
制御と移動制御とを切り換えるための制御切換え信号S
。をトラッキング制御装置26に出力する。
一方、移動速度制御回路25は、この速度設定信号sz
4と、光スポットの移動方向及び速度を示す加算信号s
x@を入力し、速度設定信号8114に基づく所望の状
態で光スポットを移動制御するための速度制御信号82
1をトラッキング制御装置26に出力する。
更に、トラッキング制御装置26は、トラッキング制御
時にはトラッキングエラー信号s6に基づき、光スポッ
トを記録トラック1002の中心部にトラッキングすべ
く光ピツクアップをゼロクロス制御し、また光スポット
のトラックジャンプを行う移動制御時には速度制御信号
S、に基づいて光ピツクアップを移動駆動する。
尚、制御装置27の制御切換え信号sxsによる移動制
御からトラッキング制御への切換えは、前記したバイナ
リ2ビット信号群sz3が1、又は2を示す状態の時に
行われる。このことにより、トラッキング制御の引き込
み領域を第2図(a)に示す領域Eに設定でき、制御切
換え時の誤動作をなくすことが出来る。
また、光スポットのトラッキング制御位置は、バイナリ
2ビット信号群stsが表す1と2の各領域の境に対応
し、アップダウンカウンタ23のカウントは、0の領域
と3の領域を光スポットが移動する時に行われる。従っ
て、アップダウンカウンタ23から出力されるバイナリ
8ビット信号群Soの示す数値を図示しない表示手段で
表示するように構成した場合にも、トラッキング制御時
の表示値がアップダウン変動することはない。
更に、アップダウンカウンタ23が誤カウントした場合
、カウントしたトラック数はずれるが、バイナリ2ビッ
ト信号群323が表す数値と各領域の対応関係は不変で
あるため、常に誤動作のない制御切換えが可能となる。
尚、前記実施例では、光量電圧信号3.の−周期内の最
大レベル近傍の電圧値をサンプルホールドし、このレベ
ルを抵抗で分圧して比較信号Vfを得たが、これに限定
されるものではなく、例えば光量電圧信号S、の一周期
内の最小レベル近傍の電圧値をサンプルホールドし、こ
のレベルを所定の割合で増幅して比較信号Vfを得ても
よい。
更に実施例では、分圧抵抗R1、R2をスイッチSWI
の後段に設けたが、その前段に配置してもよいなど種々
の態様が可能なものセある。
(発明の効果) 本発明によれば、全反射光量信号に相当する光量電圧信
号の振幅中心レベルを示す比較電圧が一周期毎に更新さ
れ、且つ光量電圧信号のレベル変動に比例して変化する
ため、このレベル変動が急峻であっても常に安定した整
形信号が得られるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図〜第4
図は本発明の説明に供する波形図である。 1・・・4分割ディテクタ、2〜4・・・加算器、5・
・・引算器、6.7.9.10川比較器、8・・・AN
D回路、12〜15・・・演算増幅器、17.18・・
・D型フリップフロップ回路、19.20・・・インバ
ータ、21.22・・・イクスクルーシブ・オア回路、
23・・・8ビツトのバイナリアップダウンカウンタ、
SW1〜SW4・・・スイッチ、C1〜C3・・・コン
デンサ、R1〜RIO・・・抵抗、11・・・波形整形
回路部、16・・・速度検出回路部、24・・・位置検
出回路部、25・・・移動速度制御回路、26・・・ト
ラッキング制御装置、27・・・制御装置、100・・
・光ディスク、100□・・−グルーブ、1002・・
・記録トラック。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光スポットがグルーブが形成された光ディスクの記録ト
    ラックをその半径方向に横切るのに応じて正弦波状に変
    化するトラッキングエラー信号と、該トラッキングエラ
    ー信号と90度の位相差の変動成分を有する全反射光量
    信号を得る信号検出手段と、 切換え信号に基づいて、前記全反射光量信号に所定の割
    合で比例するサンプル信号の状態と、該サンプル信号を
    ホールドしたホールド信号の状態とからなる比較信号を
    得るサンプルホールド手段と、 前記比較信号と前記全反射光量信号の各レベルを比較し
    て”H”、”L”の各状態からなる整形信号を得る比較
    手段と、 前記トラッキングエラー信号のレベルがその振幅中心近
    傍の所定レベル範囲内にあるか否かを示す判定信号を得
    るレベル判定手段と、 前記整形信号と前記判定信号とに基づいて前記切換え信
    号を得る切換え手段とからなり、前記比較信号は、前記
    トラッキングエラー信号が前記所定レベル範囲内にあり
    、且つ前記判定信号が一方の状態の時のみ前記サンプル
    信号状態となり、他の時には前記ホールド信号状態とな
    るように構成したことを特徴とする信号処理回路。
JP63024689A 1988-02-04 1988-02-04 信号処理回路 Granted JPH01201832A (ja)

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