JPH0544100B2

JPH0544100B2 -

Info

Publication number: JPH0544100B2
Application number: JP63024689A
Authority: JP
Inventors: Koji Uchikoshi; Toshihiko Ootomo
Original assignee: Nakamichi Corp
Current assignee: Nakamichi Corp
Priority date: 1988-02-04
Filing date: 1988-02-04
Publication date: 1993-07-05
Also published as: US5018125A; JPH01201832A

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、光デイスク装置の信号処理回路に関
し、特に光デイスク上に形成される光スポツト
が、光デイスクの半径方向に移動したときに得ら
れる正弦波状の全反射光量信号を整形し、全反射
光量信号がその振幅中心レベルと交叉するタイミ
ングで状態変化する“Ｈ、“Ｌ”の各状態からな
る整形信号を得るための信号処理回路に関する。

（従来の技術）上記の全反射光量信号は、直流成分と交流成分
とからなり、且つそのレベルは、光スポツトの光
量変動や光デイスクの反射率のばらつき等で変化
する。

従つて、従来においては全反射光量信号と、こ
れを平均化した比較信号とを比較回路で比較する
ことにより上記整形信号を得ていた。

（発明が解決しようとする問題点）しかしながら、このような比較信号を得るには
ローパスフイルタ等の時定数回路を用いるため、
全反射光量信号のレベルが急変動すると、この変
動に比較信号が追従出来ず、安定した整形信号が
得られない欠点があつた。

（問題点を解決するための手段）光スポツトがグループが形成された光デイスク
の記録トラツクをその半径方向に横切るのに応じ
て正弦波状に変化するトラツキングエラー信号
と、該トラツキングエラー信号と90度の位相差の
変動成分を有する全反射光量信号を得る信号検出
手段と、切換え信号に基づいて、前記全反射光量信号に
所定の割合で比例するサンプル信号の状態と、該
サンプル信号をホールドしたホールド信号の状態
とからなる比較信号を得るサンプルホールド手段
と、前記比較信号と前記全反射光量信号の各レベル
を比較して“Ｈ”、“Ｌ”の各状態からなる整形信
号を得る比較手段と、前記トラツキングエラー信号のレベルがその振
幅中心近傍の所定レベル範囲内にあるか否かを示
す判定信号を得るレベル判定手段と、前記整形信号と前記判定信号とに基づいて前記
切換え信号を得る切換え手段とからなり、前記比較信号は、前記トラツキングエラー信号
が前記所定レベル範囲内にあり、且つ前記整形信
号が一方の状態の時のみ前記サンプル信号状態と
なり、他の時には前記ホールド信号状態となるよ
うに構成する。

（作用）前記全反射光量信号がその振幅中心レベルと交
叉するタイミングで、“Ｈ”、“Ｌ”の各状態が変
化する前記整形信号を得ることができる。

（実施例）第１図は、本発明回路の構成の一実施例を示す
回路図である。同図中、４分解デイテクタ１は、
光デイスクに同心状或いは渦巻状に形成された記
録トラツクに略円形状の光スポツトを照射しつつ
走査するピツクアツプ内に配置され、この光デイ
スクからの反射光を検出して光電変換するもので
ある。更に各デイテクタは、光スポツトを記録ト
ラツク方向に２分割したとき、デイテクタ１₁と
１₂が一方の半部の、またデイテクタ１₃と１₄が
他方の半部の反射光を検出するように配置されて
いる。

加算器２はデイテクタ１₁と１₂から出力される
電圧信号s₁，s₂を加算した電圧信号s₁＋s₂を出力
し、加算器３はデイテクタ１₃と１₄から出力され
る電圧信号s₃，s₄を加算した電圧信号s₃＋s₄を出
力する。加算器４はこれら電圧信号を更に加算
し、s₁＋s₂＋s₃＋s₄となる光量電圧信号s₅を出力
する。一方、引き算器５は、s₃＋s₄−s₁＋s₂とな
るトラツキングエラー信号s₆を出力する。

第２図は、これ等の形成された光量電圧信号
s₅、トラツキングエラー信号s₆とデイスク１００
との対応関係を示す波形図である。光ピツクアツ
プ（図示せず）が、所定形状のグループ１００₁
が等間隔に形成された照射面を矢印Ａ，Ｂ方向、
即ち光デイスク半径方向に移動する時、各移動位
置に対応して変化する光量電圧信号s₅、トラツキ
ングエラー信号s₆は、同図に示す如く略サイン波
状の信号となる。更に光量電圧信号s₅は、各記録
トラツク１００₂の中心位置で最大となり、逆に
各グループ１００₁の中心位置で最小となる。一
方、トラツキングエラー信号s₆は、光量電圧信号
s₅に対して90度位相がずれた波形を示し、記録ト
ラツク１００₂及びグループ１００₁の各中心位置
でゼロクロスする。

何故ならば、電圧信号s₁＋s₂とs₃＋s₄は、振幅
が略等しく、互いに適当な位相差を持つからであ
る。即ち、振幅が等しく位相の異なる２つの正弦
波の和信号と差信号の間には正確に90度の位相差
が生ずるからである。

第１図に示す如く、このトラツキングエラー信
号s₆は、波形整形回路部１１を構成する比較器６
のマイナス入力端子、及び比較器７のプラス入力
端子にそれぞれ入力すると共に、比較器９のプラ
ス入力端子に入力する。一方、光量電圧信号s₅
は、比較器１０のプラス入力端子に入力すると共
に、スイツチSW１の可動端子に入力する。スイ
ツチSW１の固定端子は、コンデンサＣ１及び抵
抗Ｒ１，Ｒ２を介してそれぞれグランドに接続さ
れている。比較器６，７，１０の各出力端子は、
それぞれAND回路８の各入力端子に接続され、
このAND回路８の出力端子は、スイツチSW１
の制御端子に接続されている。スイツチSW１
は、制御端子に入力する制御信号が“Ｈ”状態の
ときのみ閉成されるものである。比較器６のプラ
ス入力端子、及び比較器６のマイナス入力端子に
は、それぞれ基準電圧Vrl，Vr２が印加されてい
る。更に、比較器９，１０の各マイナス入力端子
はグランド、及び抵抗Ｒ１とＲ２の接続点にそれ
ぞれ接続されている。

以上の如く構成された波形整形回路部１１は、
トラツキングエラー信号s₆と光量電圧信号s₅の波
形整形を行うが、第１図、２図を参照しながら以
下にその動作を説明する。

電圧信号s₃＋s₄と電圧信号s₁＋s₂との差信号で
あるトラツキングエラー信号s₆を、比較器９でグ
ランドレベルOVと比較することにより、“Ｈ”
と“Ｌ”のレベル反転ポイントが、光デイスク１
００の記録トラツク１００₂及びグループ１００₁
の各中心位置と一致する２値の整形信号s₈が得ら
れる。

一方、光量電圧信号s₅は、電圧信号s₁＋s₂と電
圧信号s₃＋s₄との和信号であるため、整形信号s₈
と90度位相のずれた２値信号を得るには、平均レ
ベル電圧近傍の所定の比較電圧Vfと比較する必
要がある。

今、光スポツトがポジシヨンＰに位置すべく、
光ピツクアツプがトラツキング制御されていると
仮定すると、比較器１０の出力信号である整形信
号s₇は、後述するごとく“Ｈ”状態となる。この
時、AND回路８は、トラツキングエラー信号s₆
のレベルがOV近傍に設定された基準電圧Vr１
（プラス側に設定）とVr２（マイナス側に設定）
の間のレベル領域Veに有るために“Ｈ”信号を
出力し、スイツチSW１を閉成状態とする。従つ
て、比較器10は、光量電圧信号s₅の電圧Vs₅とこ
の電圧を抵抗Ｒ１，Ｒ２で分圧した電圧α・Vs₅
を比較するため、その整形信号s₇は“Ｈ”状態を
維持する。

尚、αは分圧比を示し、 α＝R2／（R1＋R2）となる。

この状態から、光スポツトを例えば矢印Ａ方向
に移動させた場合、トラツキングエラー信号s₆の
電圧レベルが基準電圧Vr１より高くなつた時点
でスイツチSW１が開放し、コンデンサＣ１がこ
の時の光量電圧信号s₅のサンプル電圧Vpをサン
プルホールドするので、比較器10はこの時点から
電圧値α・Vpと光量電圧信号s₅を比較する。

尚、分圧比αは、この電圧α・Vpが前記した
比較電圧Vfと同レベルになるよう予め設定され
るものである。

従つて、光スポツトが矢印Ａ方向移動を続ける
と、ポジシヨンP₁で整形信号s₇の状態が“Ｈ”か
ら“Ｌ”に反転し、ポジシヨンP₂近傍でトラツ
キングエラー信号s₆の電圧Vs₆が前記レベル領域
Ve内に入る。しかしこの時、整形信号s₇が“Ｌ”
状態のためにAND回路８は“Ｌ”出力を保つて
光労電圧信号s₅のサンプリングは行われない。ポ
ジシヨンP₃に至ると整形信号s₇の状態が“Ｌ”か
ら“Ｈ”に反転し、更にポジシヨンP₄近傍では
トラツキングエラー信号s₆の電圧Vs₆が再びレベ
ル領域Ve内に入る。この時には整形信号s₇が
“Ｈ”状態になつているため、この間SW１が閉
成して再び光量電圧信号s₅をサンプリングし、新
たなサンプル脱Vpがホールドされる。以後同様
の動作が繰り返されるため、光量電圧信号s₅は一
周期毎にピーク近傍のサンプル電圧Vpがサンプ
リングされ、これを分圧した比較電圧Vfと比較
される。また光ピツクアツプが矢印Ｂ方向に移動
した時の動作も同様であるためその説明を省略す
るが、比較器７から出力される整形信号s₇は、第
２図ａに示すように光量電圧信号s₅と同期し、且
つ整形信号s₈と90度位相がずれた波形となる。以
上の如く、比較電圧Vfはサンプル電圧Vpよりも
レベルが低いため、光ピツクアツプがポジシヨン
Ｐのような記録トラツク位置にトラツキング制御
されている場合、整形信号s₇は常に“Ｈ”状態を
維持する。

次に、光デイスク１００の反射率のばらつき、
或いは光スポツト光量の変動等により、反射光量
レベルが異なる時の光量電圧信号s₅、トラツキン
グエラー信号s₆の様子を第２図ｂに示す。

この時、光量電圧信号s₅、トラツキングエラー
信号s₆の各電圧レベルは、反射光量レベルに比例
して変動する。従つて、比較電圧Vfもこれに比
例して設定すれば、常に同条件で比較することに
なる。上記実施例によれば、比較電圧Vfがα・
Vpで設定され、更にサンプル電圧Vpが一周期毎
に更新されているので、この比較電圧Vfは常に
光量レベルに比例し、常に同条件で比較が可能と
なるものである。

次に、第１図に示す光スポツトの移動速度を検
出するための速度検出回路部１６について説明す
る。

演算増幅器１２のマイナス入力端子には、コン
デンサＣ２を介してトラツキングエラー信号s₆が
印加され、演算増幅器１３のマイナス入力端子に
は、コンデンサＣ３を介して光量電圧信号s₅が印
加されている。演算増幅器１２の出力端子は、ス
イツチSW２，SW３の各可動端子に直接接続さ
れると共に、抵抗Ｒ３を介してそのマイナス入力
端子に接続されている。演算増幅器１３の出力端
子は、スイツチSW４，SW５の各可動端子に直
接接続されると共に、抵抗Ｒ６を介してそのマイ
ナス入力端子に接続されている。スイツチSW
２，SW４の各固定端子は、それぞれ抵抗Ｒ４，
Ｒ７を介して演算増幅器１４のマイナス入力端子
に接続され、またスイツチSW３，SW５の各固
定端子は、それぞれ抵抗Ｒ５，Ｒ８を介して演算
増幅器１５のマイナス入力端子に接続されてい
る。演算増幅器１５の出力端子は、抵抗Ｒ９を介
してそのマイナス入力端子に接続されると共に抵
抗Ｒ１０を介して演算増幅器１４のマイナス入力
端子に接続され、演算増幅器１４の出力端子は抵
抗Ｒ１１を介してそのマイナス入力端子に接続さ
れている。更に、各演算増幅器１２〜１５のプラ
ス入力端子はそれぞれグランドに接続されてい
る。

以上の構成において、第３図の波形図を参照し
ながらその動作を説明する。

この第３図の波形図は、光スポツトがポジシヨ
ンＰの位置から矢印Ａ方向に所定の移動速度ｖで
移動したときに回路の各個所で検出される電圧波
形を実線で示し、また横軸に経過時間ｔを示す。

但し、光量電圧信号s₅を交流成分のみが示さ
れ、また説明の簡単のために光量電圧信号s₅とト
ラツキングエラー信号s₆の振幅が等しく設定され
ている。

コンデンサＣ３、抵抗Ｒ６と共に微分器を構成
する演算増幅器１３は、光量電圧信号s₅を微分し
て反転した微分信号s₉を出力し、一方コンデンサ
Ｃ２、抵抗Ｒ３と共に微分器を構成する演算増幅
器１２は、トラツキングエラー信号s₆を微分して
反転した微分信号s₁₀を出力する。スイツチSW５
は、整形信号s₈で制御され、その“Ｈ”、“Ｌ”の
各状態に応じて閉成、又は開放する。従つて、そ
の固定端子には、微分信号s₉のプラス側の半波信
号s₁₁が現れる。一方、スイツチSW４は、インバ
ータ２９から出力される整形信号₈によつて成御
されるため、その固定端子には微分信号s₉のマイ
ナス側の半波信号s₁₂が現れる。同様にして各整
形信号s₇，₇でそれぞれ制御されるスイツチSW
２，SW３の各固定端子には、微分信号s₁₀のマイ
ナス側の半波信号s₁₄、及びプラス側の半波信号
s₁₃がそれぞれ現れる。

抵抗５，Ｒ８，Ｒ９と共に反転型の加算器を構
成する演算増幅器１５は、プラス側の半波信号
s₁₁とs₁₃を加算して反転した加算信号s₁₅を出力す
る。更に、抵抗Ｒ４，Ｒ７，Ｒ１０，Ｒ１１と共
に反転型の加算器を構成する演算増幅器１４は、
マイナス側の半波信号s₁₂，s₁₄と加算信号s₁₅を加
算して反転した加算信号s₁₆を出力する。従つて、
この加算信号s₁₆の絶対値は、微分信号s₉，s₁₀を
それぞれ全波整流して加算した値となり、この平
均レベルは、光スポツトの移動速度ｖに比例す
る。

次に光スポツトがポジシヨンＰの位置から矢印
Ｂ方向に移動速度ｖで移動する場合について説明
する。この時、トラツキングエラー信号s₆は、第
３図の点線で示す如く、光量電圧信号s₅に対して
位相が90度進んで現れる。更に、各スイツチSW
２〜SW５の固定端子には、同図の点線で示す半
波信号s₁₁〜s₁₄が現れ、これ等が加算された加算
信号s₁₆は、前記した光スポツトが矢印Ａ方向に
移動速度ｖで移動したときと極性が逆になる。

従つて、この加算信号s₁₆の絶対値レベルは光
スポツトの移動速度ｖの大きさを示し、またその
極性が移動方向を示すことになるため、この加算
信号s₁₆により光スポツト移動状態を知ることが
出来る。

尚、上記の説明では、トラツキングエラー信号
s₆と光量電圧信号s₅の振幅を等しくしたが、これ
等の振幅が異なる場合にも、予め図中の各抵抗値
を適当に設定することにより、同波形の加算信号
s₁₆が得られることは明らかである。また、加算
信号s₁₆に現れるリツプルを除去するため、必要
に応じて平滑回路２８を演算増幅器１４の後段に
設けてもよい。更に、上記実施例では、スイツチ
SW１〜SW５に可動端子と固定端子を有するリ
レー方式のスイツチを示したが、これ等の代わり
にアナログスイツチ等の電子スイツチを用いても
よいことは明らかである。

次に、第１図に示す光デイスク上の光スポツト
のトラツク位置を検出するための位置検出回路部
２４について説明する。

Ｄ型フリツプフロツプ回路（以下DFF回路と
称す）１７のＤ入力端子は、整形信号s₈を入力
し、そのＱ出力端子はイクスクールシブ・オア回
路（以下Ｅ−OR回路と称す）２１，２２の各一
方の入力端子に接続されると共に、DFF回路１
８のＤ入力端子に接続されている。整形信号s₈の
最小周期よりも短い周期のクロツクパルス信号
（以下CP信号と称す）s₁₇を入力する入力端子２
４₁は、直接DFF回路１７のCP入力端子に接続さ
れると共に、インバータ１９を介してDFF回路
１８のCP入力端子に接続されている。整形信号
s₇は、Ｅ−OR回路２２の他方の入力端子に印加
されると共に、インバータ２０に印加される。Ｅ
−OR回路２１の他方の入力端子は、DFF回路１
８のＱ出力端子に接続され、８ビツトのバイナリ
アツプダウンカウンタ（以下アツプダウンカウン
タと称す）２３のパルス信号入力端子２３₁、ア
ツプダウン信号入力端子２３₂、及びENABLE入
力端子２３₃は、それぞれＥ−OR回路２１の出力
端子、DFF回路１８の出力端子、インバータ
２０の出力端子に接続されている。

以上の構成において、第１図、第２図ａ及び第
４図の波形図を参照しながらその動作を説明す
る。

第４図ａは、光スポツトが第２図ａに示す矢印
Ａ方向に移動したとき、位置検出回路部２４の各
部でい検出される信号波形を示している。この
時、光量電圧信号s₅を整形した整形信号s₇は、ト
ラツキングエラー信号s₆を整形した整形信号s₈よ
り位相が90度進む。

尚、同図の各整形信号の状態反転時には、ノイ
ズが発生しているものとする。

DFF回路１７、CP信号s₁₇の立上がりに同期し
て整形信号s₈を取り込み、そのＱ出力端子から取
り込み信号s₁₈を逐次出力する。従つて、この取
り込み信号s₁₈は、整形信号s₈のノイズが発生し
ている状態反転時には、取り込みタイミングに応
じて“Ｈ”、“Ｌ”の各状態を繰り返すが、他の時
には整形信号s₈と同じ状態となる。DFF回路１８
は、この取り込み信号s₁₈をCP信号s₁₇の反転信号
s₁₇で更に取り込むため、これをCP信号s₁₇の半周
期だけ遅延した遅延信号s₁₉を出力する。Ｅ−OR
回路２１は、これ等の取り込み信号s₁₈と遅延信
号s₁₉とのＥ−OR信号である反転パルス信号s₂₀を
出力するが、この反転パルス信号s₂₀は、取り込
み信号s₁₈の状態反転に同期し、且つこの反転数
と同数のパルスを有することになる。従つて、こ
の反転パルス信号s₂₀のパルスは、整形信号s₈の
状態反転時に発生し、且つノイズの発生状態によ
つて発生パルス数が変わるものの、各反転時に発
生する各パルス群Ｇが有するパルス数は必ず奇数
となる。また、DFF回路１８は、その出力端
子から遅延信号s₁₉と逆相のアツプダウン信号₁₉
を出力するが、このアツプダウン信号₁₉の状態
反転は、反転パルス信号s₂₀のパルス発生に対し
て遅れて現れる。アツプダウンカウンタ２３は、
これ等のアツプダウン信号₁₉、反転パルス信号
s₂₀と、整形信号s₇の反転信号である禁止信号₇を
それぞれ入力し、アツプダウン信号₁₉が“Ｈ”
状態の時には反転パルス信号s₂₀のパルス入力毎
にダウンカウントし、逆にアツプダウン信号₁₉
が“Ｌ”状態の時にはこのパルス入力毎にアツプ
カウントする。但し、これ等のカウント動作は、
禁止信号₇が“Ｈ”状態のときのみ行われ、“Ｌ”
状態時には行われない構成と成つている。

整形信号s₈の状態反転時に発生する反転パルス
信号s₂₀は、整形信号s₈の“Ｈ”から“Ｌ”への
状態変化に伴つて発生し、且つ最初のパルスがア
ツプダウン信号₁₉の“Ｌ”状態時に発生するパ
ルス群Gaと、整形信号s₈の“Ｌ”から“Ｈ”へ
の状態変化に伴つて発生し、且つ最初のパルスが
アツプダウン信号₁₉の“Ｈ”状態時に発生する
パルス群Gbとが交互に現れる。然し乍ら、光ス
ポツト矢印Ａ方向に移動する時、このパルス群
Gbは常に禁止信号₇が“Ｌ”状態の時に現れる
ので、このパルス群Gbのパルスはカウントされ
ない。従つて、アツプダウンカウンタ２３は、パ
ルス群Gaの各パルスのみカウントし、アツプダ
ウン信号₁₉の各状態に応じてそのカウント数を
アツプダウンさせるも、このパルス群Gaを入力
するごと、即ち整形信号s₈の一周期ごとにそのカ
ウント数を１つアツプし、このカウント結果をバ
イナリ８ビツト信号としてその出力端子２３₄〜
２３₁₁から制御回路２７に逐次出力する。

尚各出力端子のうち、出力端子２３₄，２３₁₁
がそれぞれMSB，LSBに対応している。

更にこの制御回路２７は、取り込み信号s₁₈と、
この取り込み信号s₁₈と整形信号s₇のＥ−OR信号
である反転信号s₂₁を入力している。取り込み信
号s₁₈は、反転パルス信号s₂₀のパルス群Gaの発生
終了時点で“Ｌ”状態を保ち、パルス群Gbの発
生終了時点で“Ｈ”状態を保つている。一方、反
転信号s₂₁は、取り込み信号s₁₈と整形信号s₇の各
状態反転ごとにその状態反転を繰り返す。従つ
て、この状態反転は、各整形信号s₇，s₈のノイズ
に基づく反転を除くと、整形信号s₈の一周期間に
略等間隔に４回反転を繰返し、而もパルス群Ga
の発生終了時点では“Ｌ”状態となる。従つて、
これ等の反転信号s₂₁と取り込み信号s₁₈の表すバ
イナリ２ビツト信号は、アツプダウンカウンタ２
３が１アツプカウントする間に、０、１、２、３
の順に変化する。

一方、第４図ｂには、光スポツトが第２図の矢
印Ｂ方向に移動したとき、位置検出回路部２４の
各部で検出される信号波形を示している。この
時、光量電圧信号s₅を整形した整形信号s₇は、ト
ラツキングエラー信号s₆を整形した整形信号s₈よ
り位相が90度遅れる。

尚、同図の各整形信号の状態反転時には、チヤ
タリングノイズが発生しているものとする。

この場合、各回路の動作条件は、上記した回路
動作と全く同じなのでその詳しい説明は省略する
が、パルス群Ga，Gbが現れるとき、禁止信号₇
はそれぞれ“Ｌ”状態、“Ｈ”状態と成つている。
従つて、アツプダウンカウンタ２３は、パルス群
Gbの各パルスのみカウントし、アツプダウン信
号₁₉の各状態に応じてそのカウント数をアツプ
ダウンさせるも、このパルス群Gbを入力する毎、
即ち整形信号s₈の一周期毎にそのカウント数を１
つダウンする。更に、この時の取り込み信号s₁₈
は、各パルス群Ga，Gbの発生終了時点でそれぞ
れ“Ｈ”状態、“Ｌ”状態を保ち、一方整形信号
s₈の一周期間に４回反転する反転信号s₂₁は、パ
ルス群Gbの発生終了時点で“Ｈ”状態となる。
従つて、これ等の反転信号s₂₁と取り込み信号s₁₈
の表わすバイナリ２ビツト信号は、アツプダウン
カウンタ２３が１ダウンカウントする間に３、
２、１、０の順に変化する。

以上の如く、信号検出回路部２４のアツプダウ
ンカウンタ２３は、光スポツトが光デイスク上の
記録トラツクをＡ方向に横切つた時にはその数だ
けアツプカウントし、逆にＢ方向に横切つた時に
はその数だけダウンカウントする。更に、反転信
号s₂₁と取り込み信号s₁₈からなる２ビツトのバイ
ナリ信号の表す数値は、第２図ａに示すごとく、
各記録トラツク１００₁間を略４分割した各領域
に於ける光スポツトの存在領域を示している。ま
た光スポツトが一方向に移動しながら整形信号s₈
の状態反転時に発生するノイズ領域を通過すると
きは、必ず奇数のパルスを有するパルス群を発生
するが、ノイズ領域の途中で光スポツトが他方向
移動に変わる場合、そのノイズ領域のみ偶数のパ
ルスを有するパルス群を発生する。然もカウント
は必ずアツプとダウンが交互に行われるため、こ
のような過渡的な状態にあつても誤カウントを起
こすことはない。

従つて、制誤回路２７は、アツプダウンカウン
タ２３から出力されるバイナリ８ビツト信号群
s₂₂を入力することにより、光スポツトが存在す
る記録トラツク位置を知ることが出来、更に反転
信号s₂₁と取り込み信号s₁₈からなるバイナリ２ビ
ツト信号群s₂₃を入力することにより、光スポツ
トが存在する前記領域を知ることが出来る。

また制御回路２７は、光スポツトのトラツクジ
ヤンプ時には、所望の方向、速度に応じた速度設
定信号s₂₄を移動速度制御回路２５に出力すると
共に、トラツキング制御と移動制御とを切り換え
るための制御切換え信号s₂₅をトラツキング制御
装置２６に出力する。

一方、移動速度制御回路２５は、この速度設定
信号s₂₄と、光スポツトの移動方向及び速度を示
す加算信号s₁₆を入力し、速度設定信号s₂₄に基づ
く所望の状態で光スポツトを移動制御するための
速度制御信号s₂₆をトラツキング制御装置２６に
出力する。

更に、トラツキング制御装置２６は、トラツキ
ング制御時にはトラツキングエラーs₆に基づき、
光スポツトを記録トラツク１００₂の中心部にト
ラツキングすべく光ピツクアツプをゼロクロス制
御し、また光スポツトのトラツクジヤンプを行う
移動制御時には速度制御信号s₂₆に基づいて光ピ
ツクアツプを移動駆動する。

尚、制御装置２７の制御切換え信号s₂₅による
移動制御からトラツキング制御への切換えは、前
記したバイナリ２ビツト信号群s₂₃が１、又は２
を示す状態の時に行われる。このことにより、ト
ラツキング制御の引き込み領域を第２図ａに示す
領域Ｅに設定でき、制御切換え時の誤動作をなく
すことが出来る。

また、光スポツトのトラツキング制御位置は、
バイナリ２ビツト信号群s₂₃が表す１と２の各領
域の境に対応し、アツプダウンカウンタ２３のカ
ウントは、０の領域と３の領域との境を光スポツ
トが移動する時に行われる。従つて、アツプダウ
ンカウンタ２３から出力されるバイナリ８ビツト
信号群s₂₂の示す数値を図示しない表示手段で表
示するように構成した場合にも、トラツキング制
御時の表示値がアツプダンウン変動することはな
い。

更に、アツプダウンカウンタ２３が誤カウント
した場合、カウントしたトラツク数はずれるが、
バイナリ２ビツト信号群s₂₃が表す数値と各領域
の対応関係は不変であるため、常に誤動作のない
制御切換えが可能となる。

尚、前記実施例では、光量電圧信号s₅の一周期
内の最大レベル近傍の電圧値をサンプルホールド
し、このレベルを抵抗で分圧して比較信号Vfを
得たが、これに限定されるものではなく、例えば
光量電圧信号s₅の一周期内の最小レベル近傍の電
圧値をサンプルホールドし、このレベルを所定の
割合で増幅して比較信号Vfを得てもよい。

更に実施例では、分圧抵抗Ｒ１，Ｒ２をスイツ
チSW１の後段に設けたが、その前段に配置して
もよいなど種々の態様が可能なものである。

（発明の効果）本発明によれば、全反射光量信号に相当する光
量電圧信号の振幅中心レベルを示す比較電圧が一
周期毎に更新され、且つ光量電圧信号のレベル変
動に比例して変化するため、このレベル変動が急
峻であつても常に安定した整形信号が得られるも
のである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２
図〜第４図は本発明の説明に供する波形図であ
る。１……４分割デイテクタ、２〜４……加算器、
５……引算器、６，７，９，１０……比較器、８
……AND回路、１２〜１５……演算増幅器、１
７，１８……Ｄ型フリツプフロツプ回路、１９，
２０……インバータ、２１，２２……イクスクル
ーシブ・オア回路、２３……８ビツトのバイナリ
アツプダウンカウンタ、SW１〜SW４……スイ
ツチ、Ｃ１〜Ｃ３……コンデンサ、Ｒ１〜Ｒ１０
……抵抗、１１……波形整形回路部、１６……速
度検出回路部、２４……位置検出回路部、２５…
…移動速度制御回路、２６……トラツキング制御
装置、２７……制御位置。１００……光デイス
ク、１００₁……グループ、１００₂……記録トラ
ツク。

Claims

【特許請求の範囲】１光スポツトがグループが形成された光デイス
クの記録トラツクをその半径方向に横切るのに応
じて正弦波状に変化するトラツキングエラー信号
と、該トラツキングエラー信号と90度の位相差の
変動成分を有する全反射光量信号を得る信号検出
手段と、切換え信号に基づいて、前記全反射光量信号に
所定の割合で比例するサンプル信号の状態と、該
サンプル信号をホールドしたホールド信号の状態
とからなる比較信号を得るサンプルホールド手段
と、前記比較信号と前記全反射光量信号の各レベル
を比較して“Ｈ”、“Ｌ”の各状態からなる整形信
号を得る比較手段と、前記トラツキングエラー信号のレベルがその振
幅中心近傍の所定レベル範囲内にあるか否かを示
す判定信号を得るレベル判定手段と、前記整形信号と前記判定信号とに基づいて前記
切換え信号を得る切換え手段とからなり、前記比較信号は、前記トラツキングエラー信号
が前記所定レベル範囲内にあり、且つ前記整形信
号が一方の状態の時のみ前記サンプル信号状態と
なり、他の時には前記ホールド信号状態となるよ
うに構成したことを特徴とする信号処理回路。