JPH01155221A - 分光光度計の波長走査方法 - Google Patents
分光光度計の波長走査方法Info
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- JPH01155221A JPH01155221A JP62318170A JP31817087A JPH01155221A JP H01155221 A JPH01155221 A JP H01155221A JP 62318170 A JP62318170 A JP 62318170A JP 31817087 A JP31817087 A JP 31817087A JP H01155221 A JPH01155221 A JP H01155221A
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 18
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- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 20
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 7
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- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 2
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/06—Scanning arrangements arrangements for order-selection
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は可視・紫外分光光度計や分光蛍光光度計などの
分光光度計において、スペクトルデータを採取する波長
走査方法に関し、特に定電分析を行なう場合のスペクト
ルデータ採取の波長走査方法に関するものである。
分光光度計において、スペクトルデータを採取する波長
走査方法に関し、特に定電分析を行なう場合のスペクト
ルデータ採取の波長走査方法に関するものである。
（従来の技術）
分光光度計でスペクトルデータを採取するには分光器を
ある波長範囲で走査する。その測定される波長範囲内で
迷光カットフィルタを切り換えたり、光源を切り換える
場合には、そのフィルタ切換え波長や光源切換え波長で
は波長走査を一旦停止し、その後再び走査を行なうが、
スペクトルデータを採取するための走査範囲では一定速
度で波長を送り、データを取り込んでいる。
ある波長範囲で走査する。その測定される波長範囲内で
迷光カットフィルタを切り換えたり、光源を切り換える
場合には、そのフィルタ切換え波長や光源切換え波長で
は波長走査を一旦停止し、その後再び走査を行なうが、
スペクトルデータを採取するための走査範囲では一定速
度で波長を送り、データを取り込んでいる。
（発明が解決しようとする問題点）
一定速度で走査を行なって得られたスペクトルデータの
特定波長における測光値と、分光器をその特定波長に固
定して測定した場合の測光値との間には、僅かではある
が差異があるのが普通である。その差異の原因としては
次の２つの事柄が考えられる。
特定波長における測光値と、分光器をその特定波長に固
定して測定した場合の測光値との間には、僅かではある
が差異があるのが普通である。その差異の原因としては
次の２つの事柄が考えられる。
（１）測光系のレスポンスの遅れにより、測光値が波長
走査に追従しない。
走査に追従しない。
（２）スペクトルデータ採取時はデータサンプリング時
間が短かいので、ノイズが多くなる。
間が短かいので、ノイズが多くなる。
一方、定量分析の分野では、最近のコンビュー夕波術の
進歩、特にＲＡＭ、フロッピーディスク、ＲＡＭカード
などの記憶媒体の大容量化、低価格化に伴なって、スペ
クトルデータを使って定量分析を行なうことが可能にな
ってきた。このような定量分析を行なう際に問題となる
のが上記のスペクトルデータの不正確さである。この不
正確さは定量分析結果の精度に直接影響する。
進歩、特にＲＡＭ、フロッピーディスク、ＲＡＭカード
などの記憶媒体の大容量化、低価格化に伴なって、スペ
クトルデータを使って定量分析を行なうことが可能にな
ってきた。このような定量分析を行なう際に問題となる
のが上記のスペクトルデータの不正確さである。この不
正確さは定量分析結果の精度に直接影響する。
スペクトルデータの不正確さは、波長走査速度を遅くす
るに従がって小さくなるが、測定時間が長くなる。特に
、定量分析の際にはスペクトルの概要がわかればよい場
合が多く、また、試料数も多いことがしばしばであるの
で、測定時間の短縮化が望まれている。
るに従がって小さくなるが、測定時間が長くなる。特に
、定量分析の際にはスペクトルの概要がわかればよい場
合が多く、また、試料数も多いことがしばしばであるの
で、測定時間の短縮化が望まれている。
本発明は上記の問題点を解決し、スペクトルデータを使
った定量分析を精度よく行ない、かつ、スペクトルデー
タ採取時間を長くしないことを目的とするものである。
った定量分析を精度よく行ない、かつ、スペクトルデー
タ採取時間を長くしないことを目的とするものである。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、制御部に波長走査条件を設定し、その制御部
によって分光器の波長走査が制御されてスペクトルデー
タが採取される分光光度計において、波長走査条件とし
て一定速度で波長走査を行なう波長範囲の他に、波長走
査を一時停止する波長又は前記一定速度より遅い速度で
波長走査を行なう波長範囲を設定する。
によって分光器の波長走査が制御されてスペクトルデー
タが採取される分光光度計において、波長走査条件とし
て一定速度で波長走査を行なう波長範囲の他に、波長走
査を一時停止する波長又は前記一定速度より遅い速度で
波長走査を行なう波長範囲を設定する。
（作用）
定量を行なわない波長範囲では従来と同じ一定速度で波
長走査が行なわれる。定量を行なう波長では波長走査が
一旦停止されてデータが採取され、又は波長走査速度が
遅くされてデータが採取される。そのため、定量の行な
われる波長でのデータの精度が向上する。定量を行なわ
ない波長範囲では従来と同じく一定速度で波長走査が行
なわれるので、スペクトルデータの採取に要する時間は
従来に比べて殆んど長くはならない。
長走査が行なわれる。定量を行なう波長では波長走査が
一旦停止されてデータが採取され、又は波長走査速度が
遅くされてデータが採取される。そのため、定量の行な
われる波長でのデータの精度が向上する。定量を行なわ
ない波長範囲では従来と同じく一定速度で波長走査が行
なわれるので、スペクトルデータの採取に要する時間は
従来に比べて殆んど長くはならない。
（実施例）
第１図は本発明の方法が適用される分光光度計の一例と
して可視・紫外分光光度計の構成を示す。
して可視・紫外分光光度計の構成を示す。
１は光源部、２は分光器部、３は試料室部、４は測光部
であり、光源部１から出た光は分光器部２によって分光
されて単色光になり、試料室部３に入射する。試料室部
３において試料を透過又は反射した光は測光部４に入射
し、電気信号に変換される。
であり、光源部１から出た光は分光器部２によって分光
されて単色光になり、試料室部３に入射する。試料室部
３において試料を透過又は反射した光は測光部４に入射
し、電気信号に変換される。
５は制御部であり、測光部４の出力信号から吸光度や透
過率が演算処理される。６は記憶媒体部であり、制御部
５で演算処理されたデータが格納される。光源部１にお
ける光源の切換え１分光器部２における分光器の波長走
査、迷光カットフィルタの切換え、及び測光部４におけ
る光検出器の感度切換え、アナログ信号の処理などは制
御部５により制御される。制御部５としては、例えばマ
イクロコンピュータが使用される。
過率が演算処理される。６は記憶媒体部であり、制御部
５で演算処理されたデータが格納される。光源部１にお
ける光源の切換え１分光器部２における分光器の波長走
査、迷光カットフィルタの切換え、及び測光部４におけ
る光検出器の感度切換え、アナログ信号の処理などは制
御部５により制御される。制御部５としては、例えばマ
イクロコンピュータが使用される。
第２図に制御部５としてマイクコンピュータを使用した
場合の構成の一例を示す。
場合の構成の一例を示す。
制御部５は各部の制御や演算を行なうＣＰＵ７、通常測
定時の波長走査速度、光源や迷光カットフィルタの切換
え動作などのプログラムを記憶しているＲＯＭ、波長走
査条件を設定したり取り込んだデータを一時記憶するＲ
ＡＭ９を備えている。ＣＰＵ７には入出力インターフェ
イス１０を介して測光部４、分光器部２のパルスモータ
１１を駆動する駆動回路１２．光源部１、波長走査条件
を入力するキーボード１３、表示を行なうＣＲＴ１４、
スペクトルデータを記録する記録計１５及びスペクトル
データを格納する記憶媒体部６が接続されている。記憶
媒体部６としては電池でバックアップされたＲＡＭ、フ
ロッピーディスク装置、ＲＡＭカードなど、不揮発性の
記憶媒体が使用される。
定時の波長走査速度、光源や迷光カットフィルタの切換
え動作などのプログラムを記憶しているＲＯＭ、波長走
査条件を設定したり取り込んだデータを一時記憶するＲ
ＡＭ９を備えている。ＣＰＵ７には入出力インターフェ
イス１０を介して測光部４、分光器部２のパルスモータ
１１を駆動する駆動回路１２．光源部１、波長走査条件
を入力するキーボード１３、表示を行なうＣＲＴ１４、
スペクトルデータを記録する記録計１５及びスペクトル
データを格納する記憶媒体部６が接続されている。記憶
媒体部６としては電池でバックアップされたＲＡＭ、フ
ロッピーディスク装置、ＲＡＭカードなど、不揮発性の
記憶媒体が使用される。
波長走査条件はキーボード１３から対話形式で入力され
、ＲＡＭ９に保持される。
、ＲＡＭ９に保持される。
次に、一実施例の動作を第３図のフローチャートを参照
して説明する。
して説明する。
スペクトルデータの測定パラメータとしては波長走査条
件以外にもあるが、他の測定パラメータの設定について
は説明を省略する。
件以外にもあるが、他の測定パラメータの設定について
は説明を省略する。
まず、波長走査モードが選択される（ステップＳｔ）。
モード１は通常測定モード、モード２は指定波長で波長
走査を止めてデータ採取を行なう波長走査モード、モー
ド３は指定波長範囲で低速走査を行なう波長走査モード
である。
走査を止めてデータ採取を行なう波長走査モード、モー
ド３は指定波長範囲で低速走査を行なう波長走査モード
である。
モード１が選択されると、従来通りの通常測定を行なう
（ステップＳ２）。通常測定では迷光カットフィルタの
切換えと光源切換え以外の波長範囲では一定速度で波長
走査を行ない、データを取り込む・ モード２が選択されると、指定波長が入力されるのを待
つ（ステップＳ３）。この指定波長は複数個を指定する
ことが可能である。指定波長が入力されると、波長走査
はスタート波長から第１の指定波長まで通常の一定速度
により波長走査が行なわれ（ステップＳ４）、指定波長
で波長走査を一旦止め、測光値が十分安定してからデー
タを採取する（ステップＳ５）。測光値が安定したかど
うかは、例えば、数点のデータ採取を行ない、それらの
平均値からの偏差を算出して判定することができる。
（ステップＳ２）。通常測定では迷光カットフィルタの
切換えと光源切換え以外の波長範囲では一定速度で波長
走査を行ない、データを取り込む・ モード２が選択されると、指定波長が入力されるのを待
つ（ステップＳ３）。この指定波長は複数個を指定する
ことが可能である。指定波長が入力されると、波長走査
はスタート波長から第１の指定波長まで通常の一定速度
により波長走査が行なわれ（ステップＳ４）、指定波長
で波長走査を一旦止め、測光値が十分安定してからデー
タを採取する（ステップＳ５）。測光値が安定したかど
うかは、例えば、数点のデータ採取を行ない、それらの
平均値からの偏差を算出して判定することができる。
その後、次の指定波長まで通常の一定速度で波長走査を
行ない、エンド波長までこの動作を繰り返す（ステップ
Ｓ６．Ｓ７）。
行ない、エンド波長までこの動作を繰り返す（ステップ
Ｓ６．Ｓ７）。
ステップＳ１でモード３が選択されると、指定波長範囲
が入力されるのを待つ（ステップＳ８）。
が入力されるのを待つ（ステップＳ８）。
この指定波長範囲も複数の範囲の指定が可能である。指
定波長範囲が入力されると、スタート波長から第１の指
定波長範囲まで通常の一定速度で波長走査を行ない（ス
テップＳ９）、指定波長範囲では測定系のレスポンスよ
り十分長い時間をかけて低速で波長走査を行なってデー
タを採取する（ステップ５ＩＯ）。
定波長範囲が入力されると、スタート波長から第１の指
定波長範囲まで通常の一定速度で波長走査を行ない（ス
テップＳ９）、指定波長範囲では測定系のレスポンスよ
り十分長い時間をかけて低速で波長走査を行なってデー
タを採取する（ステップ５ＩＯ）。
その後、次の指定波長範囲まで通常の走査を行ない、エ
ンド波長までこの動作を繰り返えす（ステップＳｌｌ、
５１２）。
ンド波長までこの動作を繰り返えす（ステップＳｌｌ、
５１２）。
モード１，２．３のいずれの場合も採取されたデータは
記録計１５で記録紙に記録されるか、ＲＡＭ９に一時的
に格納される。もし、後日これらのスペクトルデータを
使用しようとする場合には、それらのスペクトルデータ
をフロッピーディスクなどの不揮発性記憶媒体６に格納
することができる。フローチャートではこれらの記憶動
作もデータ採取に含まれている。
記録計１５で記録紙に記録されるか、ＲＡＭ９に一時的
に格納される。もし、後日これらのスペクトルデータを
使用しようとする場合には、それらのスペクトルデータ
をフロッピーディスクなどの不揮発性記憶媒体６に格納
することができる。フローチャートではこれらの記憶動
作もデータ採取に含まれている。
第４図には測定モード２で採取されたスペクトルデータ
を示す。縦軸は吸光度（Ａｂｓ）、横軸は波長である。
を示す。縦軸は吸光度（Ａｂｓ）、横軸は波長である。
定量分析では定量波長が予め決まっていることが多い。
例えば第４図で指定波長λｌを定量波長に指定したなら
ば、このスペクトルデータを使って精度のよい定量測定
が可能となる。
ば、このスペクトルデータを使って精度のよい定量測定
が可能となる。
また、Ａｂｓ（λ＋）−Ａｂｓ（λ：）の値を使用する
２波長演算の定量の場合でも、波長λｌ、λ２を定量波
長に指定することにより、精度のよい定量分析が可能と
なる。
２波長演算の定量の場合でも、波長λｌ、λ２を定量波
長に指定することにより、精度のよい定量分析が可能と
なる。
第５図に測定モード３で採取されたスペクトルデータを
示す。
示す。
定量分析ではまた、測定したスペクトルから定量波長を
決定することもある。測定モード３は定量波長がある波
長範囲にあることがわかっている場合に使用することが
できる。低速で波長走査が行なわれる０部（λ１ｓ〜λ
＋ｅ）、Ｄ部（λ２ｓ〜λ２６）のデータは正確である
。したがって、λ１ｓ〜λ１１９の間又はλりｓ〜λ２
ｅの間に定量波長がある場合にはこのスペクトルデータ
を使って精度のよい定量分析を行なうことが可能となる
。
決定することもある。測定モード３は定量波長がある波
長範囲にあることがわかっている場合に使用することが
できる。低速で波長走査が行なわれる０部（λ１ｓ〜λ
＋ｅ）、Ｄ部（λ２ｓ〜λ２６）のデータは正確である
。したがって、λ１ｓ〜λ１１９の間又はλりｓ〜λ２
ｅの間に定量波長がある場合にはこのスペクトルデータ
を使って精度のよい定量分析を行なうことが可能となる
。
（発明の効果）
本発明では定量を行なう波長で波長走査を一旦止めるか
、又は定量を行なう波長を含む波長範囲で低速で波長走
査を行なってスペクトルデータを採取するようにしたの
で、スペクトルデータを使って精度のよい定量測定を行
なうことが可能となる。
、又は定量を行なう波長を含む波長範囲で低速で波長走
査を行なってスペクトルデータを採取するようにしたの
で、スペクトルデータを使って精度のよい定量測定を行
なうことが可能となる。
また、定量を行なわない波長範囲では従来と同様に高速
で波長走査を行なうので、スペクトル測定に要する時間
は従来に比べて殆んど長くはならない。
で波長走査を行なうので、スペクトル測定に要する時間
は従来に比べて殆んど長くはならない。
第１図は本発明が適用される可視・紫外分光光度計の構
成を示すブロック図、第２図は同分光光度計の構成の具
体例を示すブロック図、第３図は一実施例の動作を示す
フロチャート、第４図は波長走査モード２で採取したス
ペクトルデータを示す波形図、第５図は波長走査モード
３で採取したスペクトルデータを示す波形図である。 ２・・・・・・分光器部、 ５・・・・・・制御部。 ７・・・・・・ＣＰＵ。 ８・・・・・・ＲＯＭ。 ９・・・・・・ＲＡＭ。 １１・・・・・・パルスモータ。 １２・・・・・・駆動回路。 特許出願人 株式会社島津製作所
成を示すブロック図、第２図は同分光光度計の構成の具
体例を示すブロック図、第３図は一実施例の動作を示す
フロチャート、第４図は波長走査モード２で採取したス
ペクトルデータを示す波形図、第５図は波長走査モード
３で採取したスペクトルデータを示す波形図である。 ２・・・・・・分光器部、 ５・・・・・・制御部。 ７・・・・・・ＣＰＵ。 ８・・・・・・ＲＯＭ。 ９・・・・・・ＲＡＭ。 １１・・・・・・パルスモータ。 １２・・・・・・駆動回路。 特許出願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- 制御部に波長走査条件を設定し、その制御部によって分
光器の波長走査が制御されてスペクトルデータが採取さ
れる分光光度計において、波長走査条件として一定速度
で波長走査を行なう波長範囲の他に、波長走査を一時停
止する波長又は前記一定速度より遅い速度で波長走査を
行なう波長範囲を設定することを特徴とする分光光度計
の波長走査方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62318170A JPH01155221A (ja) | 1987-12-14 | 1987-12-14 | 分光光度計の波長走査方法 |
| US07/275,362 US4930891A (en) | 1987-12-14 | 1988-11-23 | Method and apparatus for scanning wavelength in spectrophotometers |
| CN88108271.6A CN1015205B (zh) | 1987-12-14 | 1988-11-29 | 分光光度计的波长扫描方法 |
| DE3840550A DE3840550A1 (de) | 1987-12-14 | 1988-12-01 | Verfahren und vorrichtung zur wellenlaengenabfrage in einem spektralfotometer |
| GB8828688A GB2213928B (en) | 1987-12-14 | 1988-12-08 | Method and apparatus for scanning wavelength in spectrophotometers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62318170A JPH01155221A (ja) | 1987-12-14 | 1987-12-14 | 分光光度計の波長走査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01155221A true JPH01155221A (ja) | 1989-06-19 |
Family
ID=18096254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62318170A Pending JPH01155221A (ja) | 1987-12-14 | 1987-12-14 | 分光光度計の波長走査方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4930891A (ja) |
| JP (1) | JPH01155221A (ja) |
| CN (1) | CN1015205B (ja) |
| DE (1) | DE3840550A1 (ja) |
| GB (1) | GB2213928B (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008292249A (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Hitachi High-Tech Manufacturing & Service Corp | 分光光度計 |
| CN103175610A (zh) * | 2011-12-22 | 2013-06-26 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种测量装置和测量方法 |
| JP2015042959A (ja) * | 2013-08-26 | 2015-03-05 | 横河電機株式会社 | 光測定装置 |
| JP2019120680A (ja) * | 2017-12-29 | 2019-07-22 | パロ アルト リサーチ センター インコーポレイテッド | 不均一なリターダンス間隔での経路遅延の液晶可変リターダを通じた測定 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4997280A (en) * | 1989-09-27 | 1991-03-05 | Nirsystems Incorporated | Spectrophotometric instrument with rapid scanning distortion correction |
| DE4000584A1 (de) * | 1990-01-10 | 1991-07-11 | Muetek Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur konzentrationsbestimmung von isotopen |
| US5369484A (en) * | 1992-11-09 | 1994-11-29 | Akzo N.V. | Multiple discrete analyzer test apparatus and method |
| CN107110706A (zh) * | 2014-11-06 | 2017-08-29 | 光谱引擎股份公司 | 光学测量方法和系统 |
| JP2020201038A (ja) * | 2019-06-05 | 2020-12-17 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線分析装置及びピークサーチ方法 |
| JP2021032584A (ja) * | 2019-08-19 | 2021-03-01 | 株式会社島津製作所 | 電子線マイクロアナライザ |
| JP7367605B2 (ja) * | 2020-05-12 | 2023-10-24 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線分析装置及びピークサーチ方法 |
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| US4322807A (en) * | 1980-03-07 | 1982-03-30 | The Perkin-Elmer Corporation | Safe memory system for a spectrophotometer |
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1987
- 1987-12-14 JP JP62318170A patent/JPH01155221A/ja active Pending
-
1988
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- 1988-12-08 GB GB8828688A patent/GB2213928B/en not_active Expired - Fee Related
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