JPS6350656B2 - - Google Patents
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- JPS6350656B2 JPS6350656B2 JP22824682A JP22824682A JPS6350656B2 JP S6350656 B2 JPS6350656 B2 JP S6350656B2 JP 22824682 A JP22824682 A JP 22824682A JP 22824682 A JP22824682 A JP 22824682A JP S6350656 B2 JPS6350656 B2 JP S6350656B2
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 55
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 21
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 20
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 3
- 239000012496 blank sample Substances 0.000 claims description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 238000012921 fluorescence analysis Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は感度切換え可能な分光蛍光光度計に関
する。分光蛍光光度計で感度切換えを行うとダイ
ナミツクレンジが拡大される。感度の切換えには
光検出用光電子増倍管のダイノードに印加する負
高電圧を高低切換える。
する。分光蛍光光度計で感度切換えを行うとダイ
ナミツクレンジが拡大される。感度の切換えには
光検出用光電子増倍管のダイノードに印加する負
高電圧を高低切換える。
所で光電子増倍管の特性は管毎にばらつきがあ
り、同一の管でも経時的に特性が変動するから、
ダイノードに印加する負高電圧を高低切換えた場
合、高低両方の感度の比率，感度の絶対値等は不
明であり、感度を切換えて得られたデータをつな
いで統一的に見ると云うことがきわめて困難であ
る。本発明は感度を切換えたとき、自動的に高低
両感度の感度比及び特定試料例えば標準試料の測
定値が一定の数値になるために測定出力に掛算す
べき係数を検出するようにした分光蛍光光度計を
提供しようとするものである。
り、同一の管でも経時的に特性が変動するから、
ダイノードに印加する負高電圧を高低切換えた場
合、高低両方の感度の比率，感度の絶対値等は不
明であり、感度を切換えて得られたデータをつな
いで統一的に見ると云うことがきわめて困難であ
る。本発明は感度を切換えたとき、自動的に高低
両感度の感度比及び特定試料例えば標準試料の測
定値が一定の数値になるために測定出力に掛算す
べき係数を検出するようにした分光蛍光光度計を
提供しようとするものである。
本発明によるときは、測定途中で感度を切換え
たときでも、低感度における測定データを何倍す
れば高感度における測定データと連続させること
ができるかが明かであり、また特定試料の測定値
を一定の値にするための係数が判つているから、
測定結果を或る絶対的なスケールで表わすことが
でき、異る時に測定したデータとの間の統一的な
比較も可能となる。
たときでも、低感度における測定データを何倍す
れば高感度における測定データと連続させること
ができるかが明かであり、また特定試料の測定値
を一定の値にするための係数が判つているから、
測定結果を或る絶対的なスケールで表わすことが
でき、異る時に測定したデータとの間の統一的な
比較も可能となる。
次に本発明を実施例によつて説明する。第１図
は本発明の一実施例を示す。１は励起光分光器、
２は試料セル、３は蛍光分光器、鎖線Ｍで囲まれ
た部分は測光系で、測光系において、４は蛍光測
定用光電子増倍管である。５は励起光から反射に
よつてモニタ用光を採るための透明板で、６はモ
ニタ光測定用光電子増倍管で、その出力はDC―
DCコンバータ７で負高圧に変換された光電子増
倍管６のダイノードにフイードバツクされると共
にこの負高圧は螢光測定用光電子増倍管４にも印
加され、励起光の変動の影響をキヤンセルするよ
うになつている。Ｒ１，Ｒ２は負高圧切換え用抵
抗で、スイツチＳにより何れかの抵抗が選択さ
れ、それによつて光電子増倍管４の感度が切換え
られる。この構成によつて夫々の感度において、
モニタ光測定用光電子増倍管６のダイノードフイ
ードバツクによつて励起光の変動の影響が消去さ
れている。８は感度比検出動作標準光源で、試料
セル２を取除くと同光源の光が直接螢光分光器３
に入射できるようになつている。Ｋは上記標準光
源８の点灯，消灯を行うスイツチである。感度切
換えはオペレータが操作卓上でのキー操作で制御
用マイクロコンピユータ（CPU）９に感度切換
えの指示を与えることによりCPUを介して行わ
れる。試料セル２は第２図に示すような回転台１
０上に載置され、この回転台の回転軸０は第１図
において図の紙面に垂直である。CPU９によつ
て行われる感度切換えの動作は次のように行われ
る。試料セルをセツトしない状態で自動感度切換
モードのキーを押すと、CPU９は分光光度計を
高感度即ち負高圧をＨ側に切換え（常態として高
感度に設定されるようにしておくと、最初装置に
スイツチを入れたとき高感度に設定されるから、
このステツプは不要である）、次に標準光源８を
点灯させ、光検出器４の出力を読取つてこれをメ
モリ１１に記憶させる。この記憶データをIhとす
る。次に負高圧をＬ側即ち低感度に切換え、その
ときの光検出器４の出力を読取つてメモリ１１に
記憶させる。このデータをIlとする。CPU９はこ
のIhとIlとから感度比Ih／Il＝αを算出し、これ
をメモリ１１に記憶させる。光源８を消灯させ
る。そこでオペレータはブランク試料（溶媒だけ
を試料セルに入れたもの）を測定位置におき、ゼ
ロサプレツシヨンキーを押す。CPU９は高感度
及び低感度で夫々光検出器４の出力を読取り、ゼ
ロセツト値としてメモリ１１に記憶させる。この
ときの高感度測定値は高感度時のゼロセツト値で
ｂとし、低感度時のそれをａとする。次にオペレ
ータが標準サンプル（濃度既知の試料）を測定位
置にセツトし、その試料が示すべき測定表示値
Foをキー操作で入力すると、CPU９はまず高感
度で光検出器４の出力を読取り、それが予め定め
てあるスレシヨルドレベル以下であれば、そのと
きの出力値CoからFo＝Ｋ（Co−ｂ）となるよう
な係数Ｋを算出し、メモリ１１に記憶させる。光
検出器４の出力がスレシヨルドレベル以上のとき
はCPU９は分光光度計を低感度に切換え、その
ときの検出器４の出力Co′に対してFo＝K′α
（Co′−ａ）となるようなK′を算出し、メモリ１
１に記憶させる。こゝでαは高低両感度の感度比
であり、α（Co′−ａ）は低感度で測定した標準
試料の測定値を高感度での測定値に換算している
のであり、従つてＫとK′とは同じ係数である。
以上で自動感度切換えの準備動作が終る。以後オ
ペレータが任意試料を測定位置にセツトし測定開
始のキー操作を行うと、CPU９はまず高感度で
光検出器４の出力を読取り、前記スレシヨルドレ
ベル以下のときはそのときの光検出器出力Ｃを用
い、メモリ１から高感度時のゼロセツト値ｂを読
出し、また係数Ｋを読出してＦ＝Ｋ（ｃ−ｂ）に
よつて濃度値を算出し、プリンタ等の表示手段１
２に出力する。光検出器４の出力がスレシヨルド
レベル以上のときはCPU９は測定を低感度に切
換え、そのときの光検出器４の出力C′を用いてＦ
＝Kα（ｃ−ａ）によつて濃度値Ｆを算出し、表示
手段１２に出力する。
は本発明の一実施例を示す。１は励起光分光器、
２は試料セル、３は蛍光分光器、鎖線Ｍで囲まれ
た部分は測光系で、測光系において、４は蛍光測
定用光電子増倍管である。５は励起光から反射に
よつてモニタ用光を採るための透明板で、６はモ
ニタ光測定用光電子増倍管で、その出力はDC―
DCコンバータ７で負高圧に変換された光電子増
倍管６のダイノードにフイードバツクされると共
にこの負高圧は螢光測定用光電子増倍管４にも印
加され、励起光の変動の影響をキヤンセルするよ
うになつている。Ｒ１，Ｒ２は負高圧切換え用抵
抗で、スイツチＳにより何れかの抵抗が選択さ
れ、それによつて光電子増倍管４の感度が切換え
られる。この構成によつて夫々の感度において、
モニタ光測定用光電子増倍管６のダイノードフイ
ードバツクによつて励起光の変動の影響が消去さ
れている。８は感度比検出動作標準光源で、試料
セル２を取除くと同光源の光が直接螢光分光器３
に入射できるようになつている。Ｋは上記標準光
源８の点灯，消灯を行うスイツチである。感度切
換えはオペレータが操作卓上でのキー操作で制御
用マイクロコンピユータ（CPU）９に感度切換
えの指示を与えることによりCPUを介して行わ
れる。試料セル２は第２図に示すような回転台１
０上に載置され、この回転台の回転軸０は第１図
において図の紙面に垂直である。CPU９によつ
て行われる感度切換えの動作は次のように行われ
る。試料セルをセツトしない状態で自動感度切換
モードのキーを押すと、CPU９は分光光度計を
高感度即ち負高圧をＨ側に切換え（常態として高
感度に設定されるようにしておくと、最初装置に
スイツチを入れたとき高感度に設定されるから、
このステツプは不要である）、次に標準光源８を
点灯させ、光検出器４の出力を読取つてこれをメ
モリ１１に記憶させる。この記憶データをIhとす
る。次に負高圧をＬ側即ち低感度に切換え、その
ときの光検出器４の出力を読取つてメモリ１１に
記憶させる。このデータをIlとする。CPU９はこ
のIhとIlとから感度比Ih／Il＝αを算出し、これ
をメモリ１１に記憶させる。光源８を消灯させ
る。そこでオペレータはブランク試料（溶媒だけ
を試料セルに入れたもの）を測定位置におき、ゼ
ロサプレツシヨンキーを押す。CPU９は高感度
及び低感度で夫々光検出器４の出力を読取り、ゼ
ロセツト値としてメモリ１１に記憶させる。この
ときの高感度測定値は高感度時のゼロセツト値で
ｂとし、低感度時のそれをａとする。次にオペレ
ータが標準サンプル（濃度既知の試料）を測定位
置にセツトし、その試料が示すべき測定表示値
Foをキー操作で入力すると、CPU９はまず高感
度で光検出器４の出力を読取り、それが予め定め
てあるスレシヨルドレベル以下であれば、そのと
きの出力値CoからFo＝Ｋ（Co−ｂ）となるよう
な係数Ｋを算出し、メモリ１１に記憶させる。光
検出器４の出力がスレシヨルドレベル以上のとき
はCPU９は分光光度計を低感度に切換え、その
ときの検出器４の出力Co′に対してFo＝K′α
（Co′−ａ）となるようなK′を算出し、メモリ１
１に記憶させる。こゝでαは高低両感度の感度比
であり、α（Co′−ａ）は低感度で測定した標準
試料の測定値を高感度での測定値に換算している
のであり、従つてＫとK′とは同じ係数である。
以上で自動感度切換えの準備動作が終る。以後オ
ペレータが任意試料を測定位置にセツトし測定開
始のキー操作を行うと、CPU９はまず高感度で
光検出器４の出力を読取り、前記スレシヨルドレ
ベル以下のときはそのときの光検出器出力Ｃを用
い、メモリ１から高感度時のゼロセツト値ｂを読
出し、また係数Ｋを読出してＦ＝Ｋ（ｃ−ｂ）に
よつて濃度値を算出し、プリンタ等の表示手段１
２に出力する。光検出器４の出力がスレシヨルド
レベル以上のときはCPU９は測定を低感度に切
換え、そのときの光検出器４の出力C′を用いてＦ
＝Kα（ｃ−ａ）によつて濃度値Ｆを算出し、表示
手段１２に出力する。
上の実施例では標準光源８を用いて高低両感度
の比を求めているが、この光源の代りに標準試料
の螢光を高低両感度で測定して求めるようにして
もよい。もつともこの場合標準試料は光検出器４
の出力が前述スレシヨルドレベルを超えないよう
に調整する必要がある。また上の実施例ではオペ
レータが試料セルの交換を行い、幾つかのキー操
作を行つて感度切換えの準備動作が完了するもの
であるが、試料台１０をCPU９で駆動し、全自
動で上述した感度切換えの準備動作を行わせるこ
とももちろん可能である。また感度の切換えを自
動の他手動でも切換え得るようにしておくことも
自由である。
の比を求めているが、この光源の代りに標準試料
の螢光を高低両感度で測定して求めるようにして
もよい。もつともこの場合標準試料は光検出器４
の出力が前述スレシヨルドレベルを超えないよう
に調整する必要がある。また上の実施例ではオペ
レータが試料セルの交換を行い、幾つかのキー操
作を行つて感度切換えの準備動作が完了するもの
であるが、試料台１０をCPU９で駆動し、全自
動で上述した感度切換えの準備動作を行わせるこ
とももちろん可能である。また感度の切換えを自
動の他手動でも切換え得るようにしておくことも
自由である。
第３図はCPU９の動作のフローチヤートであ
る。
る。
螢光分析でダイナミツクレンジを拡大しようと
するとき、レンジを規定するのは光検出器４の出
力をＡ／Ｄ変換するコンバータの有効ビツト数
で、20ビツト以上のＡ／Ｄ変換器はきわめて高価
である。螢光分析ではＡ／Ｄ変換器の有効ビツト
数として30ビツト程度が要求されるが、測定感度
が単一であると、30ビツトのＡ／Ｄ変換器を用い
なければならない。感度が自動的に切換えられる
ことで、20ビツト以下の安価なＡ／Ｄ変換器を用
いて広いダイナミツクレンジの測定を行うことが
できることとなる。
するとき、レンジを規定するのは光検出器４の出
力をＡ／Ｄ変換するコンバータの有効ビツト数
で、20ビツト以上のＡ／Ｄ変換器はきわめて高価
である。螢光分析ではＡ／Ｄ変換器の有効ビツト
数として30ビツト程度が要求されるが、測定感度
が単一であると、30ビツトのＡ／Ｄ変換器を用い
なければならない。感度が自動的に切換えられる
ことで、20ビツト以下の安価なＡ／Ｄ変換器を用
いて広いダイナミツクレンジの測定を行うことが
できることとなる。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロツ
ク図、第２図は試料台の平面図、第３図は同装置
の動作のフローチヤートである。 ２…試料セル、３…螢光分光器、４…螢光測定
用光検出器（光電子増倍管）、９…CPU、１１…
メモリ、Ｒ１，Ｒ２…感度（負高圧）切換え用抵
抗、１２…表示装置。
ク図、第２図は試料台の平面図、第３図は同装置
の動作のフローチヤートである。 ２…試料セル、３…螢光分光器、４…螢光測定
用光検出器（光電子増倍管）、９…CPU、１１…
メモリ、Ｒ１，Ｒ２…感度（負高圧）切換え用抵
抗、１２…表示装置。
Claims (1)
- １ 感度切換え可能な測光系を有し、感度切換え
の準備動作として、同じ光を高低両方の感度で測
定して感度比を検出し記憶させる動作と、ブラン
ク試料を上記高低両感度で測定して両感度におけ
るゼロセツト値を検出し記憶させる動作と、標準
試料について蛍光を測定し所定の表示値とするた
めの係数を記憶させる動作を行い、試料測定動作
として蛍光検出出力がスレシヨルドレベル以下の
ときは高感度に設定し、スレシヨルドレベル以上
のときは低感度に設定して測定を行い、上述動作
で記憶させたデータによつて同一感度で測定した
表示値に変換する演算を行つて測定値を表示する
動作プログラムを有する制御回路を備えた分光蛍
光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22824682A JPS59125043A (ja) | 1982-12-30 | 1982-12-30 | 分光螢光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22824682A JPS59125043A (ja) | 1982-12-30 | 1982-12-30 | 分光螢光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59125043A JPS59125043A (ja) | 1984-07-19 |
| JPS6350656B2 true JPS6350656B2 (ja) | 1988-10-11 |
Family
ID=16873449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22824682A Granted JPS59125043A (ja) | 1982-12-30 | 1982-12-30 | 分光螢光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59125043A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112020002285T5 (de) | 2019-05-07 | 2022-02-03 | AGC Inc. | Fahrzeug |
| KR102623539B1 (ko) * | 2023-08-21 | 2024-01-11 | 코리아스펙트랄프로덕츠(주) | 가축분뇨 액비의 성분 분석장치 및 분석방법 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4486837B2 (ja) * | 2004-03-22 | 2010-06-23 | 株式会社堀場製作所 | 燃料油中の特定成分濃度測定装置 |
| JP2009222533A (ja) | 2008-03-17 | 2009-10-01 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP4887319B2 (ja) | 2008-03-17 | 2012-02-29 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置、及び光電子増倍管を用いた分析システム |
| JP5124498B2 (ja) | 2009-01-30 | 2013-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP6613063B2 (ja) * | 2015-07-07 | 2019-11-27 | 大塚電子株式会社 | 光学特性測定システム |
| JP6681632B2 (ja) * | 2019-05-22 | 2020-04-15 | 大塚電子株式会社 | 光学特性測定システムの校正方法 |
-
1982
- 1982-12-30 JP JP22824682A patent/JPS59125043A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112020002285T5 (de) | 2019-05-07 | 2022-02-03 | AGC Inc. | Fahrzeug |
| KR102623539B1 (ko) * | 2023-08-21 | 2024-01-11 | 코리아스펙트랄프로덕츠(주) | 가축분뇨 액비의 성분 분석장치 및 분석방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59125043A (ja) | 1984-07-19 |
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