JPS59125043A - 分光螢光光度計 - Google Patents

分光螢光光度計

Info

Publication number
JPS59125043A
JPS59125043A JP22824682A JP22824682A JPS59125043A JP S59125043 A JPS59125043 A JP S59125043A JP 22824682 A JP22824682 A JP 22824682A JP 22824682 A JP22824682 A JP 22824682A JP S59125043 A JPS59125043 A JP S59125043A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensitivity
output
photodetector
memory
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP22824682A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6350656B2 (ja
Inventor
Kunihiko Okubo
邦彦 大久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP22824682A priority Critical patent/JPS59125043A/ja
Publication of JPS59125043A publication Critical patent/JPS59125043A/ja
Publication of JPS6350656B2 publication Critical patent/JPS6350656B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は感度切換え可能な分光螢光光度計に関する。分
光螢光光度計で感度切換えを行うとダイナミックレンジ
が拡大される。感度の切換えには光検出用光電子増倍管
のダイノードに印加する負高電圧を高低切換える。
所で光電子増倍管の特性は管毎にばらつきゝがあシ、同
一の管でも経時的に特性が変動するから、ダイノードに
印加する負高電圧を高低切換えだ場合、高低両方の感度
の比率、感度の絶対値等は不明であり、感度を切換えて
得られたデータをつないで統一的に見ると云うことがき
わめて困難である。本発明は感度を切換えだとき、自動
的に高低両感度の感度比及び特定試料例えば標準試料の
測定値が一定の数値になるために測定出力に掛算すべき
係数を検出するようにしだ分光螢光光度計を提供しよう
とするものである。
本発明によるときは、測定途中で感度を切換えだときで
も、低感度における測定データを何倍すれば高感度にお
ける測定データと連続させることができるかが明かであ
り、まだ特定試料の測定値を一定の値にするだめの係数
が判っているから、測定結果を成る絶対的なスケールで
表わすことができ、異る時に測定したデータとの間の統
一的な比較も可能となる。
次に本発明を実施例によって説明する。第1図は本発明
の一実施例を示す。1は励起光分光器、2は試料セル、
3は螢光分光器、4は螢光測定用光電子増倍管である。
5は励起光からモニタ用光を採るだめの透明板で、6は
モニタ光測定用光電子増倍管で、その出力はDC−DC
コンバータ7で負尚圧に変換され光電子増倍管6のダイ
ノードにフィードバンクされると共にこの負高圧は螢光
測定用光電子増倍管4にも印加され、励起光の変動の影
響をキャンセルするようになっている。R1、R2け負
高圧切換え用抵抗で、スイッチSにより何れかの抵抗が
選択され、それ罠よって光電子増倍管4の感度が切換え
られる、この構成によって夫々の感度セおいて、モニタ
光測定用光電子増倍管6のダイ、ノードフィードバック
によって励起光の変動の影響が消去されている。8は感
度比検出動作用標準光源で、試料セル2を取除くと同光
源の光が直接螢光分光器3に入射できるようになってい
る。Kは上記標準光源8の点灯、消灯を行うスイッチで
ある。感度切換えはオペレータが操作卓上でのキー操作
で制御用マイクロコンピュータ(CPU)9に感度切換
えの指示をカえることによりCPUを介して行われる。
試料セル2は第2図に示すような回転台10上に載置さ
れ、この回転台の回転軸Oは第1図において図の紙面に
垂直である。C’P U 9によって行われる感度切換
えの動作は次のように行われる。試料セルをセットしな
い状態で自動感度切換モードのキーを押すと、CPU9
は分光光度計を高感度即ち負高圧をH側に切換え(常態
として高感度に設定されるよう例しておくと、最初装置
にスイッチを入れたとき高感度に設定されるから、この
ステップは不安である)、次に標準光源8を点灯させ、
光検出器4の出力を読取ってこれをメモリ]−J、に記
憶させる。この記憶データを工りとする。次に負高圧を
L側部ち低感度に切換え、そのときの光検出器4の出力
を読取ってメモリ11に記憶させる。このデータを11
とする。CPU9はとの工りとI/とから感度比Ih/
工l−αを算出し、これをメモリ」lに記憶させる、光
源8を消灯させる。そこでオペレータはブランク試別(
溶媒だけを試料セルに入れたもの)を測定位置におき、
ゼロザプレツションキーを押す。CPU9は高感度及び
低感度で夫々光検出器4の出力を読取り、ゼロセット値
としてメモリ11に記憶させる。このときの高感度測定
値は高感度時のゼロセット値でbとし、低感度時のそれ
をaとする。次にオペレータが標檗サンプル(濃度既知
の試別)を測定位置にセット(7、その試料が示すべき
測定表示値Foをキー操作で人力すると、CPU9はま
ず高感度で光検出器4−の出力を読取り、それが゛予め
定めであるスレショルドレベル以下であれば、そのとき
の出力値CoからFo=K(Co−b)となるような係
fiKを算出し、メモリ11に記憶させる。光検出器4
の出力がスレショルドレベル以下のときはCPU9は分
光光度計を低感度に切換え、そのときの検出器4の出力
Co“に対してFo=に’α(Co’−a)となるよう
なに°を算出し、メモリ]]に記憶させる。こXでαは
高低両感度の感度比であり、α(Co’ −a )は低
感度で測定した標準試料の測定値を高感度での測定値に
換算しているのであり。
従ってKとK“とけ同じ係数である。以上で自動感度切
換えの準備動作が終る。以後オペレータが任意試料を測
定位置にセットし測定開始のキー操作を行うと、(1:
PU9はまず高感度で光検出器4の出力を読取り、前記
スレショルドレベル以下のときはそのときの光検出器出
力Cを用い、メモリ]1から高感度時のゼロセット値す
を読出し、また係数Kを読出してF=K(C−b)によ
って濃度値を算出し、プリンタ等の表示手段12に出力
する。光検出器4の出力がスレショルドレベ/L、 以
上のときはCPU9は測定を低感度に切換え、そのとき
の光検出器4の出力clを用いてF=にα(C−a>に
よって濃度値Fを算出し、表示手段]、2に出力する。
以上の動作の意味を第3図を用いて説明する。左の縦軸
は光検出器4の出力(のA/D変換はれたもの)、右の
縦軸は試料の濃度前7Jり値、横軸は試料の濃度である
。ブランク試料の測定では濃度Oにおけるa、  bが
求められる。−標準光源8の測定では横軸上適宜の点に
おけるIh。
工lが測定される。b / aも工h/工jも共に高低
両感度間の感度比であって同一値であり、これがαであ
る。従って工りとbを結ぶ直線及び工lとaを結ぶ直線
の延長は光検出器4の出力Oの所で交わる。濃度C1の
試料は高感度で測定され光検出器4の出力は工Iであり
、この試料の濃度表示値はFlである。係数にはこの図
でAC/ABである。感度は濃度Csの所で切換わり、
濃度C2の試オー1は低感度で測定される。このときの
光検出器40出カニ2にαを掛けると、高感度で測定し
たとした場合の値I2’が求まる。この工2′に対し7
てK(工2°−b) −にα(工2−a)の計算で濃度
表示値F2が求められる。
上の実施例では礪準光源8を用いて高低両感度の比を求
めているが、この光源の代シに標準試料の螢光を高低両
感度で測定して求めるようにしてもよいっもっともこの
場合標準試別は光検出器4の出力が前述スレショルドレ
ベルを超えないように調整する必要がある。また上の実
施例ではオペレータが試料セルの交換を行い、幾つかの
キー操作を行って感度切換えの準備動作が完了するもの
であるが、試料台10をCPU9で駆動し、全自動で上
述した感度切換えの準備動作を行わせることももちろん
可能である。まだ感度の切換えを自動の他手動でも切換
え得るようにしておくことも自由である。
第4図はCPU9の動作のフローチャー1・である。
螢光分析でダイナミックレンジを拡大しようとするとき
、レンジを規定するのは光検出器4の出力をA / D
変換するコンバータの有効ビット数で、20ビツト以」
二のA / D変換器はきわめて高価である。螢光分析
ではA / D変換器の有効ビット数として30ビット
程度が要求されるが、測定感度が単一であると、30ビ
ツトのA / D変換器を用いなければならない。感度
が自動的に切換えられることで、20ビツト以下の安価
なA / D変換器を1[」いて広いダイナミックレン
ジの測定を行うことができることとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示1−ブロック図、
第2図は試料台の平面図、第3図は本発明装置の動作を
説明するグラフ、第4図は同装置の動作のフローチャー
トである。 2・・試料セル、3・・・螢光分光器、4・・・螢光測
定用光検出命(光電子増倍管)、9・・・CPU、]1
・・・メモリ、R1,R2・・・感度(負高圧)切換え
用抵抗、コ2・・・表示装置。 代J」11人 弁理士  縣   浩  介子、  続
   1山   市   書 (自発)昭和sgイト 
2月 /61:1 1、 ”B fl の表示  昭和57年1゜Y許願第
 2276246号。 2 発明の名称 分光蛍米光嵐計 3 抽止会する者 ’B r’!、との関係  行許出願人4、代 fll
l  人 5、補1臼こより増加する発明の数  o■−2,1,
)iH’、’。 6、補1にの対象 1丙掴齋 発明の二゛r;ili l;シュ明の温特5
7 228246号 補正の内容別紙明細書第3頁第7
行目の、[−励起光から」と、「モニタ」との間に、「
反射によってtを加入する。 代理人 弁理士  縣   浩  介

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 感度切換え可能な測光係を有し、感度切換えの準備動作
    として、同じ光を高低両方の感度で測定して感度比を検
    出し記憶させる動作と、ブランク試料を上記高低両感度
    で測定して両感度におけるゼロセント値を検出し記憶さ
    せる動作と、標準試料について螢光を測定し所定の表示
    値とするだめの係数を算出し記憶させる動作を行い、試
    料測定動作と(−で螢光検出出力がスレショルドレベル
    以下のときは高感度に設定し、スレショルドレベル以上
    のときは低感度に設定して測定を行い、上述動作で記憶
    させたデータによって同一感度で測定した表示値に変換
    する演算を行って測定値を表示する動作プログラムを有
    する制御回路を備えだ分光螢光光度、計。
JP22824682A 1982-12-30 1982-12-30 分光螢光光度計 Granted JPS59125043A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22824682A JPS59125043A (ja) 1982-12-30 1982-12-30 分光螢光光度計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22824682A JPS59125043A (ja) 1982-12-30 1982-12-30 分光螢光光度計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59125043A true JPS59125043A (ja) 1984-07-19
JPS6350656B2 JPS6350656B2 (ja) 1988-10-11

Family

ID=16873449

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22824682A Granted JPS59125043A (ja) 1982-12-30 1982-12-30 分光螢光光度計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59125043A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274139A (ja) * 2004-03-22 2005-10-06 Horiba Ltd 試料中の特定成分測定装置
EP2103923A2 (en) 2008-03-17 2009-09-23 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer and analysis system using photomultiplier tube
EP2103946A2 (en) 2008-03-17 2009-09-23 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
DE112010000834T5 (de) 2009-01-30 2012-06-21 Hitachi High-Technologies Corp. Automatischer Analysator
JP2019158892A (ja) * 2019-05-22 2019-09-19 大塚電子株式会社 光学特性測定システムの校正方法
TWI733310B (zh) * 2015-07-07 2021-07-11 日商大塚電子股份有限公司 光學特性測量系統之校正方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020226075A1 (ja) 2019-05-07 2020-11-12 Agc株式会社 車両
KR102623539B1 (ko) * 2023-08-21 2024-01-11 코리아스펙트랄프로덕츠(주) 가축분뇨 액비의 성분 분석장치 및 분석방법

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274139A (ja) * 2004-03-22 2005-10-06 Horiba Ltd 試料中の特定成分測定装置
JP4486837B2 (ja) * 2004-03-22 2010-06-23 株式会社堀場製作所 燃料油中の特定成分濃度測定装置
EP2103923A2 (en) 2008-03-17 2009-09-23 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer and analysis system using photomultiplier tube
EP2103946A2 (en) 2008-03-17 2009-09-23 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
DE112010000834T5 (de) 2009-01-30 2012-06-21 Hitachi High-Technologies Corp. Automatischer Analysator
US8628720B2 (en) 2009-01-30 2014-01-14 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
TWI733310B (zh) * 2015-07-07 2021-07-11 日商大塚電子股份有限公司 光學特性測量系統之校正方法
JP2019158892A (ja) * 2019-05-22 2019-09-19 大塚電子株式会社 光学特性測定システムの校正方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6350656B2 (ja) 1988-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4389118A (en) Color meter
JPH06201472A (ja) 二次元測色計
JPS59125043A (ja) 分光螢光光度計
US3988591A (en) Photometric method for the quantitative determination of a material or substance in an analysis substance and photoelectric photometer for the performance of the aforesaid method
US5194916A (en) Fluorescence spectrophotometer
JP3266637B2 (ja) 潤滑油劣化度判定方法およびその装置
JPH07260680A (ja) 赤外線センサ
JP2001041891A (ja) 蛍光検出方法及び装置
JPS60178322A (ja) 色識別の基準となるデ−タの作成方法
JPH0668467B2 (ja) 発光分光分析用測光装置
JP3128163U (ja) 分光光度計
JPH088424Y2 (ja) 分光光度計におけるピーク検出装置
JPH0520993Y2 (ja)
KR100405862B1 (ko) 사용이 간편한 휴대용 계측기
JPS59120844A (ja) 分光分析装置
JPH07128148A (ja) 色彩測定装置
JPS6032819B2 (ja) 吸光度分析装置
JP2569500B2 (ja) X線分析計測装置
SU1093910A1 (ru) Фотометр
JPH08101121A (ja) 分光光度計
JPS5885139A (ja) 分光分析装置
JPH0830659B2 (ja) レベル測定器
JPH0546505B2 (ja)
Basson et al. Construction of an impedance adaptor for coupling the Perkin-Elmer Model 303 atomic-absorption spectrophotometer to a recording system
JPS6352040A (ja) Icp発光分析装置におけるスペクトル表示方法