JPH08101121A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH08101121A JPH08101121A JP23800694A JP23800694A JPH08101121A JP H08101121 A JPH08101121 A JP H08101121A JP 23800694 A JP23800694 A JP 23800694A JP 23800694 A JP23800694 A JP 23800694A JP H08101121 A JPH08101121 A JP H08101121A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- amplification factor
- converter
- spectrophotometer
- measurement
- Prior art date
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 比較的安価で測定時間の短い分光光度計とい
うユーザの要求に合致した分光光度計を提供すること。 【構成】 試料側光路と対照側光路のそれぞれに検出器
７、８を設け、かつ、これら検出器７、８からの試料側
信号及び対照側信号がＡ／Ｄ変換器１２に入力される前
に増幅器９、１０を設けると共に、試料側信号及び対照
側信号に対し適正な増幅率を設定する手段１３を備え
た。上記増幅率としては、１及び次の式を満たすような
増幅率Ｇが選択される。ここに、増幅率が１の場合には
検出器の出力レベルがＡ／Ｄ変換器１２の入力レベルに
収まるようになっているものとする。 （ｒ／２b ）≦Ｇ≦２b ｒ ：試料側又は対照側測光値の目的分解能 ２b ：Ａ／Ｄ変換器の分解能
うユーザの要求に合致した分光光度計を提供すること。 【構成】 試料側光路と対照側光路のそれぞれに検出器
７、８を設け、かつ、これら検出器７、８からの試料側
信号及び対照側信号がＡ／Ｄ変換器１２に入力される前
に増幅器９、１０を設けると共に、試料側信号及び対照
側信号に対し適正な増幅率を設定する手段１３を備え
た。上記増幅率としては、１及び次の式を満たすような
増幅率Ｇが選択される。ここに、増幅率が１の場合には
検出器の出力レベルがＡ／Ｄ変換器１２の入力レベルに
収まるようになっているものとする。 （ｒ／２b ）≦Ｇ≦２b ｒ ：試料側又は対照側測光値の目的分解能 ２b ：Ａ／Ｄ変換器の分解能
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、分光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的に、分光光度計は試料の透過率
（反射率を含む）又は吸光度を測定することが主たる目
的であるが、多くの場合には、先ず 透過率（又は反射率）：Ｔ＝Ｓ／Ｒ （１） Ｓ：試料側測光値 Ｒ：対照側測光値 の式により透過率を求めている。そして、吸光度は求め
られた透過率Ｔから 吸光度：Ａ＝−log Ｔ （２） の定義式に基づいて変換することにより得ている。
（反射率を含む）又は吸光度を測定することが主たる目
的であるが、多くの場合には、先ず 透過率（又は反射率）：Ｔ＝Ｓ／Ｒ （１） Ｓ：試料側測光値 Ｒ：対照側測光値 の式により透過率を求めている。そして、吸光度は求め
られた透過率Ｔから 吸光度：Ａ＝−log Ｔ （２） の定義式に基づいて変換することにより得ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記透過率を
求める（１）式の計算は専らディジタル処理で行われる
が、十分な透過率の分解能を得るためには、それに見合
う分解能をもつＡ／Ｄ変換器を必要とする。即ち、透過
率の分解能を上げようとすると、Ａ／Ｄ変換器の分解能
も上げなければならなくなり、高級（高価）なＡ／Ｄ変
換器か、変換時間の長いＡ／Ｄ変換器を用いなければな
らない。これは安価で測定時間の短い分光光度計を欲す
るユーザの要求に反するものである。なお、Ａ／Ｄ変換
器自身は低分解能（安価）なものを用い、Ｄ／Ａ変換器
と加算回路、増幅器をその周辺に接続して複数回Ａ／Ｄ
変換を行うことによって等価的に高分解能なＡ／Ｄ変換
回路となすこともできるが、Ｄ／Ａ変換器を用いるため
高価となり、また、複数回Ａ／Ｄ変換を行うので変換時
間も長くなり、結局、上記課題を解決するものとはなら
ない。本発明は、上記事情にかんがみ、比較的安価で測
定時間の短い分光光度計というユーザの要求に合致した
分光光度計を提供することを目的としている。
求める（１）式の計算は専らディジタル処理で行われる
が、十分な透過率の分解能を得るためには、それに見合
う分解能をもつＡ／Ｄ変換器を必要とする。即ち、透過
率の分解能を上げようとすると、Ａ／Ｄ変換器の分解能
も上げなければならなくなり、高級（高価）なＡ／Ｄ変
換器か、変換時間の長いＡ／Ｄ変換器を用いなければな
らない。これは安価で測定時間の短い分光光度計を欲す
るユーザの要求に反するものである。なお、Ａ／Ｄ変換
器自身は低分解能（安価）なものを用い、Ｄ／Ａ変換器
と加算回路、増幅器をその周辺に接続して複数回Ａ／Ｄ
変換を行うことによって等価的に高分解能なＡ／Ｄ変換
回路となすこともできるが、Ｄ／Ａ変換器を用いるため
高価となり、また、複数回Ａ／Ｄ変換を行うので変換時
間も長くなり、結局、上記課題を解決するものとはなら
ない。本発明は、上記事情にかんがみ、比較的安価で測
定時間の短い分光光度計というユーザの要求に合致した
分光光度計を提供することを目的としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の分光光度計においては、試料側光路と対照
側光路のそれぞれに検出器を設け、かつ、これら検出器
からの試料側信号及び対照側信号がＡ／Ｄ変換器に入力
される前に増幅器を設けると共に、試料側信号及び対照
側信号に対し適正な増幅率を設定する手段を備えたもの
である。この場合、実際の増幅率を正確に設定すること
は困難が伴い、また、安価な増幅器ではその増幅率の理
論値と実測値の差が大きいので、安価な増幅器を用いる
ことを前提に、試料側測光値と対照側測光値のスペクト
ルの波形が連続的に変化するような物質により、測定前
に増幅器の増幅率を正確に把握し、較正するのが望まし
い。なお、増幅器の増幅率が時間や温度に対して十分に
安定であれば、測定前に一度較正を行うだけでよいが、
不安定な場合には適当な頻度で較正するとよい。
に、本発明の分光光度計においては、試料側光路と対照
側光路のそれぞれに検出器を設け、かつ、これら検出器
からの試料側信号及び対照側信号がＡ／Ｄ変換器に入力
される前に増幅器を設けると共に、試料側信号及び対照
側信号に対し適正な増幅率を設定する手段を備えたもの
である。この場合、実際の増幅率を正確に設定すること
は困難が伴い、また、安価な増幅器ではその増幅率の理
論値と実測値の差が大きいので、安価な増幅器を用いる
ことを前提に、試料側測光値と対照側測光値のスペクト
ルの波形が連続的に変化するような物質により、測定前
に増幅器の増幅率を正確に把握し、較正するのが望まし
い。なお、増幅器の増幅率が時間や温度に対して十分に
安定であれば、測定前に一度較正を行うだけでよいが、
不安定な場合には適当な頻度で較正するとよい。
【０００５】上記増幅率としては、１及び次の式を満た
すような増幅率Ｇが選択される。ここに、増幅率が１の
場合には検出器の出力レベルがＡ／Ｄ変換器の入力レベ
ルに収まるようになっているものとする。 （ｒ／２b ）≦Ｇ≦２b （３） ｒ ：試料側又は対照側測光値の目的分解能 ２b ：Ａ／Ｄ変換器の分解能 この増幅率Ｇの値は、基本的には、（３）式を満たすよ
うな値を一つ設定すれば足りるが、増幅率が大きいほど
ダイナミックレンジが狭くなるので、増幅率Ｇより小さ
く１より大きい値から複数設定して、補助的に用いても
よい。なお、上記（３）式を満たすような増幅率Ｇが存
在しない場合には、本発明が適用できないときである。
即ち、非常に低い分解能のＡ／Ｄ変換器を用いて非常に
高い分解能を得ようとするときである。
すような増幅率Ｇが選択される。ここに、増幅率が１の
場合には検出器の出力レベルがＡ／Ｄ変換器の入力レベ
ルに収まるようになっているものとする。 （ｒ／２b ）≦Ｇ≦２b （３） ｒ ：試料側又は対照側測光値の目的分解能 ２b ：Ａ／Ｄ変換器の分解能 この増幅率Ｇの値は、基本的には、（３）式を満たすよ
うな値を一つ設定すれば足りるが、増幅率が大きいほど
ダイナミックレンジが狭くなるので、増幅率Ｇより小さ
く１より大きい値から複数設定して、補助的に用いても
よい。なお、上記（３）式を満たすような増幅率Ｇが存
在しない場合には、本発明が適用できないときである。
即ち、非常に低い分解能のＡ／Ｄ変換器を用いて非常に
高い分解能を得ようとするときである。
【０００６】
【作用】上記のように構成された分光光度計で、試料側
光路及び対照側光路における増幅器の増幅率は、分光光
度計全体を制御するＣＰＵにより、信号レベルに従いヒ
ステリシスをもって選択され、閾値が １≦Ｔl ≦２b ／Ｇ （４） Ｇ≦Ｔh ≦２b （５） Ｔl ＜Ｔh （６） Ｔl ：低レベル閾値（フルスケールを２b として正規
化） Ｔh ：高レベル閾値（フルスケールを２b として正規
化） 予め上記のように設定される。
光路及び対照側光路における増幅器の増幅率は、分光光
度計全体を制御するＣＰＵにより、信号レベルに従いヒ
ステリシスをもって選択され、閾値が １≦Ｔl ≦２b ／Ｇ （４） Ｇ≦Ｔh ≦２b （５） Ｔl ＜Ｔh （６） Ｔl ：低レベル閾値（フルスケールを２b として正規
化） Ｔh ：高レベル閾値（フルスケールを２b として正規
化） 予め上記のように設定される。
【０００７】スペクトル測定や時間変化測定では、当然
のことながら一回の測定の間に信号レベルが変化する。
従って、当初（測定開始時）には増幅率を１に設定し、
この信号レベルをモニターしながら、信号レベルがＴl
を下回れば増幅器の増幅率をＧに設定し、信号レベルが
Ｔh を上回れば増幅器の増幅率を１に設定する。増幅率
がＧのときに得られたデータはディジタル処理の中でＧ
で割算することにより正しい透過率に変換される。この
操作が試料側、対照側のそれぞれについて行われる。他
方、固定波長測定では、一回の測定の間に信号レベルは
変化しないので、このヒステリシスを使用しないで Ｔl ≦Ｔm ≦Ｔh （７） となるような閾値Ｔm を用いて増幅率を切り換えればよ
い。
のことながら一回の測定の間に信号レベルが変化する。
従って、当初（測定開始時）には増幅率を１に設定し、
この信号レベルをモニターしながら、信号レベルがＴl
を下回れば増幅器の増幅率をＧに設定し、信号レベルが
Ｔh を上回れば増幅器の増幅率を１に設定する。増幅率
がＧのときに得られたデータはディジタル処理の中でＧ
で割算することにより正しい透過率に変換される。この
操作が試料側、対照側のそれぞれについて行われる。他
方、固定波長測定では、一回の測定の間に信号レベルは
変化しないので、このヒステリシスを使用しないで Ｔl ≦Ｔm ≦Ｔh （７） となるような閾値Ｔm を用いて増幅率を切り換えればよ
い。
【０００８】また、試料側測光値と対照側測光値のスペ
クトルの波形が連続的に変化するような物質により行わ
れる測定前の増幅器の増幅率Ｇの較正は次のようにして
行われる。即ち、スペクトルの波形が連続的に変化する
ような物質の透過スペクトルと光源のエネルギースペク
トルは既知であるので、増幅率が１のときにおける測光
値Ｌ１が １≦Ｌ1 ≦Ｔh （８） を満たすと予想される波長の光を照射して増幅率が１の
ときとＧのときのそれぞれについて測光値Ｌ1 とＬG を
測定して、 Ｇ＝ＬG ／Ｌ1 （９） により増幅率Ｇの正確な値を求めることができる。
クトルの波形が連続的に変化するような物質により行わ
れる測定前の増幅器の増幅率Ｇの較正は次のようにして
行われる。即ち、スペクトルの波形が連続的に変化する
ような物質の透過スペクトルと光源のエネルギースペク
トルは既知であるので、増幅率が１のときにおける測光
値Ｌ１が １≦Ｌ1 ≦Ｔh （８） を満たすと予想される波長の光を照射して増幅率が１の
ときとＧのときのそれぞれについて測光値Ｌ1 とＬG を
測定して、 Ｇ＝ＬG ／Ｌ1 （９） により増幅率Ｇの正確な値を求めることができる。
【０００９】但し、Ａ／Ｄ変換器は原理的に±１／２ビ
ットの誤差を発生するので、ＬG 、Ｌ1 共に±１／２ビ
ットの誤差を含んでいる。従って、 Ｇt −（ＬG ／Ｌ1 ＋１）／２Ｌ1 ＋１≦Ｇ Ｇ≦Ｇt ＋（ＬG ／Ｌ1 ＋１）／２Ｌ1 −１ （10） となり、Ｇの誤差を小さくするためにはＬG ／Ｌ1 （＝
Ｇ）を（３）式を満たす範囲で小さく設定し、Ｇの値を
較正するときのＬ1 の値を（８）式を満たす範囲で大き
く設定するのが望ましい。なお、実際のＡ／Ｄ変換器で
は上述以外の要因による誤差もあるが、ここでは関係な
いので省略してある。
ットの誤差を発生するので、ＬG 、Ｌ1 共に±１／２ビ
ットの誤差を含んでいる。従って、 Ｇt −（ＬG ／Ｌ1 ＋１）／２Ｌ1 ＋１≦Ｇ Ｇ≦Ｇt ＋（ＬG ／Ｌ1 ＋１）／２Ｌ1 −１ （10） となり、Ｇの誤差を小さくするためにはＬG ／Ｌ1 （＝
Ｇ）を（３）式を満たす範囲で小さく設定し、Ｇの値を
較正するときのＬ1 の値を（８）式を満たす範囲で大き
く設定するのが望ましい。なお、実際のＡ／Ｄ変換器で
は上述以外の要因による誤差もあるが、ここでは関係な
いので省略してある。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の分光光度計について図面を参
照して説明するに、図１にはダブルビーム（二光束）方
式の分光光度計実施例の概略が示されている。光源１か
らの光は、分光器２で単色光に分光され、内蔵されてい
る迷光カットフィルタ３を通過してビームスプリッタ４
により試料側光路と対照側光路の二光路に分けられる。
試料側光路と対照側光路のそれぞれには、試料側セル５
及び対照側セル６が設けられ、それらの後段にはそれぞ
れのセル５、６を透過した光を検出する検出器７、８、
これら検出器７、８からの試料側信号及び対照側信号を
増幅する増幅器９、１０が配置されている。増幅器９、
１０により適正な増幅率で増幅された試料側信号及び対
照側信号は切換スイッチ１１で交互にＡ／Ｄ変換器１２
に入力され、デイジタル信号に変換されてＣＰＵ１３に
取り込まれる。ＣＰＵ１３では、これらの試料側測光値
と対照側測光値から式（１）及び式（２）に基づいて透
過率や吸光度が求められ、さらに適宜処理されて、その
データが表示装置１４に表示され、また、メモリ１５に
記憶される。
照して説明するに、図１にはダブルビーム（二光束）方
式の分光光度計実施例の概略が示されている。光源１か
らの光は、分光器２で単色光に分光され、内蔵されてい
る迷光カットフィルタ３を通過してビームスプリッタ４
により試料側光路と対照側光路の二光路に分けられる。
試料側光路と対照側光路のそれぞれには、試料側セル５
及び対照側セル６が設けられ、それらの後段にはそれぞ
れのセル５、６を透過した光を検出する検出器７、８、
これら検出器７、８からの試料側信号及び対照側信号を
増幅する増幅器９、１０が配置されている。増幅器９、
１０により適正な増幅率で増幅された試料側信号及び対
照側信号は切換スイッチ１１で交互にＡ／Ｄ変換器１２
に入力され、デイジタル信号に変換されてＣＰＵ１３に
取り込まれる。ＣＰＵ１３では、これらの試料側測光値
と対照側測光値から式（１）及び式（２）に基づいて透
過率や吸光度が求められ、さらに適宜処理されて、その
データが表示装置１４に表示され、また、メモリ１５に
記憶される。
【００１１】次に、上記のように構成された分光光度計
の動作について説明するに、全体の動作の流れは図２に
示されている。以下説明する分光光度計動作における分
光器２の波長設定、迷光カットフィルタ３の切り換え、
増幅器９、１０の増幅率の設定、切り換え等はそのタイ
ミングの制御と共にＣＰＵ１３により行われる。分光光
度計の電源を投入すると、スペクトル測定に先だって初
期化の中で試料側光路と対照側光路のそれぞれに配置さ
れた増幅器９、１０の増幅率の較正が行われる。較正用
の物質として迷光カットフィルタ３が用いられる。これ
は、波長により測光値が広い範囲に亘って連続的に変
化するため、安定しているため、及び分光光度計に
標準的に内蔵されているため、である。
の動作について説明するに、全体の動作の流れは図２に
示されている。以下説明する分光光度計動作における分
光器２の波長設定、迷光カットフィルタ３の切り換え、
増幅器９、１０の増幅率の設定、切り換え等はそのタイ
ミングの制御と共にＣＰＵ１３により行われる。分光光
度計の電源を投入すると、スペクトル測定に先だって初
期化の中で試料側光路と対照側光路のそれぞれに配置さ
れた増幅器９、１０の増幅率の較正が行われる。較正用
の物質として迷光カットフィルタ３が用いられる。これ
は、波長により測光値が広い範囲に亘って連続的に変
化するため、安定しているため、及び分光光度計に
標準的に内蔵されているため、である。
【００１２】増幅率の較正は、図３に示されているよう
に、迷光カットフィルタ３及び分光器２の波長を（８）
式を満たすと予想される状態に設定し（ＳＴ１）、先
ず、試料側光路の増幅器９の増幅率を１に設定して（Ｓ
Ｔ２）Ｌ1 を取得する。このときのＬ1 が（８）式を満
たしていれば、即ち、高レベル閾値Ｔh より小さいか等
しい場合にはそのままにし、満たしていなければ、即
ち、高レベル閾値Ｔh より大きい場合には（８）式を満
たす方向に分光器２の波長を移動する（ＳＴ３）。次
に、増幅率をＧに設定して（ＳＴ４）ＬG を取得する。
これで、（９）式からＧの値を正確に求めることができ
る（ＳＴ５）。対照側光路の増幅器１０についても同様
な操作を行うことによって増幅率の較正は終了する。
に、迷光カットフィルタ３及び分光器２の波長を（８）
式を満たすと予想される状態に設定し（ＳＴ１）、先
ず、試料側光路の増幅器９の増幅率を１に設定して（Ｓ
Ｔ２）Ｌ1 を取得する。このときのＬ1 が（８）式を満
たしていれば、即ち、高レベル閾値Ｔh より小さいか等
しい場合にはそのままにし、満たしていなければ、即
ち、高レベル閾値Ｔh より大きい場合には（８）式を満
たす方向に分光器２の波長を移動する（ＳＴ３）。次
に、増幅率をＧに設定して（ＳＴ４）ＬG を取得する。
これで、（９）式からＧの値を正確に求めることができ
る（ＳＴ５）。対照側光路の増幅器１０についても同様
な操作を行うことによって増幅率の較正は終了する。
【００１３】スペクトル測定は次のように行われる。図
４に示されているように、各測定パラメータをセットし
分光器２の波長を測定開始波長に設定し（ＳＴ１）、試
料側光路の増幅器９の増幅率を１に設定して（ＳＴ
２）、先ず、試料側測光値を取得する（ＳＴ３）。試料
側測光値が（５）式で設定した低レベル閾値Ｔ1 を下回
るようであれば、増幅率をＧに設定して再度試料側測光
値を取得する。対照側測光値についても同様にして取得
する（ＳＴ４）。これら測光値取得の動作については図
５にその流れが示されている。これら取得された試料側
測光値と対照側測光値から、とりあえず、透過率を求め
（ＳＴ５）、その上で増幅率がＧで取得した測光値であ
ればその透過率を試料側光路の場合にはＧで割算し、対
照側光路の場合にはＧを掛算して補正する（ＳＴ６）。
吸光度が表示単位に指定されている場合には、さらに吸
光度変換をして（ＳＴ７）、表示装置１４の画面にデー
タを表示し（ＳＴ８）、分光器２の波長が次の波長に設
定され（ＳＴ９）、以下この操作が繰り返される。増幅
率はすでに述べたようにヒステリシスもって制御され、
測定終了波長に達したら測定が終了される。次のスペク
トル測定に際しては、増幅器の増幅率は直前の状態を保
持して測光値取得を始める。通常、多くのスペクトル曲
線はなめらかに変化するので、直前波長における測光値
に近い測光値が予想され、増幅率を切り換える時間を省
略できる可能性が高いからである。
４に示されているように、各測定パラメータをセットし
分光器２の波長を測定開始波長に設定し（ＳＴ１）、試
料側光路の増幅器９の増幅率を１に設定して（ＳＴ
２）、先ず、試料側測光値を取得する（ＳＴ３）。試料
側測光値が（５）式で設定した低レベル閾値Ｔ1 を下回
るようであれば、増幅率をＧに設定して再度試料側測光
値を取得する。対照側測光値についても同様にして取得
する（ＳＴ４）。これら測光値取得の動作については図
５にその流れが示されている。これら取得された試料側
測光値と対照側測光値から、とりあえず、透過率を求め
（ＳＴ５）、その上で増幅率がＧで取得した測光値であ
ればその透過率を試料側光路の場合にはＧで割算し、対
照側光路の場合にはＧを掛算して補正する（ＳＴ６）。
吸光度が表示単位に指定されている場合には、さらに吸
光度変換をして（ＳＴ７）、表示装置１４の画面にデー
タを表示し（ＳＴ８）、分光器２の波長が次の波長に設
定され（ＳＴ９）、以下この操作が繰り返される。増幅
率はすでに述べたようにヒステリシスもって制御され、
測定終了波長に達したら測定が終了される。次のスペク
トル測定に際しては、増幅器の増幅率は直前の状態を保
持して測光値取得を始める。通常、多くのスペクトル曲
線はなめらかに変化するので、直前波長における測光値
に近い測光値が予想され、増幅率を切り換える時間を省
略できる可能性が高いからである。
【００１４】上記実施例ではスペクトル測定について説
明したが、固定波長測定や時間変化測定など分光光度計
の測定全般に本発明が応用できることはいうまでもな
く、また、ダブルビーム分光光度計に限らず、シングル
ビーム分光光度計でも同様に本発明が実施できる。この
場合、光学系や電気系部分は試料側光路のみとなるが、
実質的には対照側光路を試料側光路が兼ねることにな
る。即ち、試料側光路における試料側セルに対照物質を
セットして測定した測光値をメモリに蓄えた後に、試料
をセットして測光値を取得し、透過率を求めることにな
る。
明したが、固定波長測定や時間変化測定など分光光度計
の測定全般に本発明が応用できることはいうまでもな
く、また、ダブルビーム分光光度計に限らず、シングル
ビーム分光光度計でも同様に本発明が実施できる。この
場合、光学系や電気系部分は試料側光路のみとなるが、
実質的には対照側光路を試料側光路が兼ねることにな
る。即ち、試料側光路における試料側セルに対照物質を
セットして測定した測光値をメモリに蓄えた後に、試料
をセットして測光値を取得し、透過率を求めることにな
る。
【００１５】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、低透過率や高吸光度測定において分解能の
向上が期待できる。勿論、これを実現するための回路は
安価なもので構成できる。さらに、誤差要因となる増幅
率の較正を行えば、正確な値が得られる。
ているので、低透過率や高吸光度測定において分解能の
向上が期待できる。勿論、これを実現するための回路は
安価なもので構成できる。さらに、誤差要因となる増幅
率の較正を行えば、正確な値が得られる。
【図１】本発明実施例装置の概略構成を示す図である。
【図２】本発明実施例装置の全体の動作の流れを示す図
である。
である。
【図３】本発明実施例装置における増幅器の増幅率の較
正動作を示す図である。
正動作を示す図である。
【図４】本発明実施例装置におけるスペクトル測定動作
を示す図である。
を示す図である。
【図５】本発明実施例装置のスペクトル測定動作におけ
る測光値取得の動作を示す図である。
る測光値取得の動作を示す図である。
１…光源 ２…分光器 ３…迷光カットフィルタ ４…ビームスプリ
ッタ ５…試料側セル ６…対照側セル ７…試料側検出器 ８…対照側検出器 ９…試料側増幅器 10…対照側増幅器 11…切換スイッチ 12…Ａ／Ｄ変換器 13…ＣＰＵ 14…表示装置 15…メモリ
ッタ ５…試料側セル ６…対照側セル ７…試料側検出器 ８…対照側検出器 ９…試料側増幅器 10…対照側増幅器 11…切換スイッチ 12…Ａ／Ｄ変換器 13…ＣＰＵ 14…表示装置 15…メモリ
Claims (1)
- 【請求項１】 試料側光路に試料信号を検出する検出器
とこの検出器からの出力信号を増幅する増幅器、及び対
照側光路に対照信号を検出する検出器とこの検出器から
の出力信号を増幅する増幅器、をそれぞれ設置すると共
に、これら増幅器の増幅率を独立に設定する手段を備え
たことを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23800694A JPH08101121A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23800694A JPH08101121A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08101121A true JPH08101121A (ja) | 1996-04-16 |
Family
ID=17023746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23800694A Pending JPH08101121A (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08101121A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013224838A (ja) * | 2012-04-20 | 2013-10-31 | Seiko Epson Corp | 成分濃度測定装置及び成分濃度測定方法 |
| US10585035B2 (en) | 2017-11-22 | 2020-03-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Spectrometer, method of controlling output gain of spectrometer, and apparatus and method for measuring bio-information |
-
1994
- 1994-09-30 JP JP23800694A patent/JPH08101121A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013224838A (ja) * | 2012-04-20 | 2013-10-31 | Seiko Epson Corp | 成分濃度測定装置及び成分濃度測定方法 |
| US10585035B2 (en) | 2017-11-22 | 2020-03-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Spectrometer, method of controlling output gain of spectrometer, and apparatus and method for measuring bio-information |
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