JPS583073Y2 - ブンコウコウドケイ - Google Patents
ブンコウコウドケイInfo
- Publication number
- JPS583073Y2 JPS583073Y2 JP1975100786U JP10078675U JPS583073Y2 JP S583073 Y2 JPS583073 Y2 JP S583073Y2 JP 1975100786 U JP1975100786 U JP 1975100786U JP 10078675 U JP10078675 U JP 10078675U JP S583073 Y2 JPS583073 Y2 JP S583073Y2
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- JP
- Japan
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- kes
- circuit
- absorbance
- logarithmic conversion
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は主として吸光度の高い、例えば吸光度１程度の
試料の測定に際し、その微少範囲の変化を安定性良く測
定できる分光光度計の改良に関するものである。
試料の測定に際し、その微少範囲の変化を安定性良く測
定できる分光光度計の改良に関するものである。
周知の如く試料入射前の光の強さをＩｏ、試料入射後の
光の強さを■とすると吸光度は１ｎ（Ｉｏ／■）に比例
するので、従来の分光光度計ではこれらＩ、Ｉｏを電気
信号に変換した後対数変換器（対数変換素子）を通して
対数変換する必要がある。
光の強さを■とすると吸光度は１ｎ（Ｉｏ／■）に比例
するので、従来の分光光度計ではこれらＩ、Ｉｏを電気
信号に変換した後対数変換器（対数変換素子）を通して
対数変換する必要がある。
所が半導体の特性を利用した対数変換回路では特性の揃
ったトランジスタを使用したり温度特性が逆の抵抗を使
用したりして温度特性を安定させることに努めているが
、温度ドリフトが大きく、即ち温度に対する安定性が悪
いという欠点をもっているので、その債の測定値では信
頼性に欠けるものがある。
ったトランジスタを使用したり温度特性が逆の抵抗を使
用したりして温度特性を安定させることに努めているが
、温度ドリフトが大きく、即ち温度に対する安定性が悪
いという欠点をもっているので、その債の測定値では信
頼性に欠けるものがある。
本考案は温度変化に対しても十分安定性のある測定値を
得ることができる分光光度計を提供せんとするもので、
前記の如く任意の濃度の試料特に高濃度試料の測定に適
している。
得ることができる分光光度計を提供せんとするもので、
前記の如く任意の濃度の試料特に高濃度試料の測定に適
している。
前記Ｉｏ（入射光強度）に対応する電気信号をｅＲ。
■（試料透過光強度）に対する電気信号をｅｓ、ｋを定
数ｋｅｓ÷ｅＲとすると、良好な近似でなる関係があり
、この関係を利用してここで（ｅＲ＋ ｋｅｓ） −Ｖ
ｓ （一定）となるように測定装置を制御して吸光度を
（ｅＲ−ｋｅｓ）に比例する値として、ｅＳがｅＲ／に
≦ｅｓ≦（ｅＲ／ｋ ）＋ Ａ ・（Ａは微小幅）の範
囲にあるときの吸光度を対数変換を用いないで求めるも
のである。
数ｋｅｓ÷ｅＲとすると、良好な近似でなる関係があり
、この関係を利用してここで（ｅＲ＋ ｋｅｓ） −Ｖ
ｓ （一定）となるように測定装置を制御して吸光度を
（ｅＲ−ｋｅｓ）に比例する値として、ｅＳがｅＲ／に
≦ｅｓ≦（ｅＲ／ｋ ）＋ Ａ ・（Ａは微小幅）の範
囲にあるときの吸光度を対数変換を用いないで求めるも
のである。
即ちｋｅｓ ＝ ｅＲ＋εとし、ｅＲに比しεが小さい
とすると微分法によって Ｑ、ｎｅ ｓ＝Ｑ、ｎ （ｅＲ＋ε）−４，ｎｋ従って ここでε ｋｅｓ ｅＲであるので吸光度は となる。
とすると微分法によって Ｑ、ｎｅ ｓ＝Ｑ、ｎ （ｅＲ＋ε）−４，ｎｋ従って ここでε ｋｅｓ ｅＲであるので吸光度は となる。
また従って
この関係は係数の違いを除いて常用対数にも当て嵌る。
ここで吸光度αｎｅＲ／ｋｅｓ−：０になるようにｋの
値を設定する。
値を設定する。
即ちｅＲ＝＝ｋｅｓとなるようにｋの値を設定するとｋ
ｅｓ ＝ ｅＲなるときの吸光度ｌｎｋを中心にして微
少吸光度変化が（ｅＲ−ｋｅｓ）に比例する値として拡
大測定出来るようになる。
ｅｓ ＝ ｅＲなるときの吸光度ｌｎｋを中心にして微
少吸光度変化が（ｅＲ−ｋｅｓ）に比例する値として拡
大測定出来るようになる。
次に本考案を実施例について説明する。
図においてＷはタングステンランプの如き光源、Ａは分
光器、ｍｌ、ｍｌは回転セクタミラーであって参照側サ
ンプリングスイッチＳ１及び試料側サンプリングスイッ
チＳ２と連動している。
光器、ｍｌ、ｍｌは回転セクタミラーであって参照側サ
ンプリングスイッチＳ１及び試料側サンプリングスイッ
チＳ２と連動している。
Ｍｌ、Ｍｌはミラーで、Ｓは試料、ＰＭはホトマルチプ
ライヤ、Ａ１はプリアンプ、ＣＩ、Ｃ，２はホールド用
コンデンサ、Ａ２．Ａ３は帰還回路を有するバッファア
ンプ、Ｋは入力端子をに倍する回路であって、手動によ
り１，１．５８，２．５１，３．９９，６．３１，１０
，１５゜８、・・・・・・等段階的に倍率ｋを切換え適
宜にの数値をセットできる。
ライヤ、Ａ１はプリアンプ、ＣＩ、Ｃ，２はホールド用
コンデンサ、Ａ２．Ａ３は帰還回路を有するバッファア
ンプ、Ｋは入力端子をに倍する回路であって、手動によ
り１，１．５８，２．５１，３．９９，６．３１，１０
，１５゜８、・・・・・・等段階的に倍率ｋを切換え適
宜にの数値をセットできる。
Ｒ，Ｒ同じ大きさの抵抗、Ａ５は引算回路、Ａ６は対数
変換回路、Ｓ３はＡ２．Ａ３各出力の平均或はＡ２の出
力ｅＲをホトマルチプライヤＰＭにフィードバックさせ
ＰＭの感度を調節するモード切換スイッチ、Ａ４はダイ
ノードフィードバック誤差検出増幅器、Ｄｅ／Ｄｅはホ
トマル用高圧発生回路である。
変換回路、Ｓ３はＡ２．Ａ３各出力の平均或はＡ２の出
力ｅＲをホトマルチプライヤＰＭにフィードバックさせ
ＰＭの感度を調節するモード切換スイッチ、Ａ４はダイ
ノードフィードバック誤差検出増幅器、Ｄｅ／Ｄｅはホ
トマル用高圧発生回路である。
このような構成により光源Ｗを出た光は分光器Ａを経て
単色光束として取出されセクタミラーｍ１、ｍｌにより
時分割されて、一方の参照光束ＩｏはＭｌを経て直接ホ
トマルチプライヤＰＭへ、他方は試料Ｓのセルを透過し
て試料光束ＩとしてＭｌを経てホトマルチプライヤＰＭ
へ達し、それぞれが対応する電気信号に変えられてプリ
アンプＡ１を通過した後回転セクターミラーｍ１．ｍｌ
と連動しているサンプリングスイッチＳｌ、Ｓ２によっ
て参照用と試料用の電気信号はそれぞれ別の回路に分け
られて参照用電気信号はホールドコンデンサＣ１に記憶
されバッファアンプＡ２を経て出力ｅＲとなり、試料用
電気信号はホールドコンデンサＣ２に記憶されバッファ
アンプＡ３を経て出力ｅｓとなる。
単色光束として取出されセクタミラーｍ１、ｍｌにより
時分割されて、一方の参照光束ＩｏはＭｌを経て直接ホ
トマルチプライヤＰＭへ、他方は試料Ｓのセルを透過し
て試料光束ＩとしてＭｌを経てホトマルチプライヤＰＭ
へ達し、それぞれが対応する電気信号に変えられてプリ
アンプＡ１を通過した後回転セクターミラーｍ１．ｍｌ
と連動しているサンプリングスイッチＳｌ、Ｓ２によっ
て参照用と試料用の電気信号はそれぞれ別の回路に分け
られて参照用電気信号はホールドコンデンサＣ１に記憶
されバッファアンプＡ２を経て出力ｅＲとなり、試料用
電気信号はホールドコンデンサＣ２に記憶されバッファ
アンプＡ３を経て出力ｅｓとなる。
モード切換スイッチＳ３が図のように上側の接点に接し
ているとダイノードフィードバック系は（ｅＲ＋ ｋｅ
ｓ） ＝ Ｖｓ （一定）となるように働き、このとき
引算回路Ａ５を使用して（ｅＲ−ｋｅｓ）を測定すれば
前記の如く吸光度に比例した値が得られることになる。
ているとダイノードフィードバック系は（ｅＲ＋ ｋｅ
ｓ） ＝ Ｖｓ （一定）となるように働き、このとき
引算回路Ａ５を使用して（ｅＲ−ｋｅｓ）を測定すれば
前記の如く吸光度に比例した値が得られることになる。
実際の測定では、まずスイッチＳ３をｅＲ側に倒して、
対数変換回路Ａ６の出力を見る。
対数変換回路Ａ６の出力を見る。
この構成は通常の吸光度測定系である。
次に上記出力を見ながらこれが０．２以下になるように
に倍する回路Ｋをセットする。
に倍する回路Ｋをセットする。
前述したように回路・Ｋは段階的にｋを選択でき、一段
の変化によりＡ６の出力表示はＫの常用対数で０．２だ
け変化するようにｋの値が選んである。
の変化によりＡ６の出力表示はＫの常用対数で０．２だ
け変化するようにｋの値が選んである。
従ってこの操作により、 ′となるようにｋが設定
される。
される。
その後、Ｓ３を上側（ｅＲ＋ ｋｅｓ）側に倒してＡ５
により（ｅＲ−ｋｅｓ）を測定すると（ｅＲ−Ｋｅｓ）
＝ニ一定となるように制御されているので゛、 が得られる。
により（ｅＲ−ｋｅｓ）を測定すると（ｅＲ−Ｋｅｓ）
＝ニ一定となるように制御されているので゛、 が得られる。
回路にでは設定つまみの目盛には係数ｋに対して１０ｇ
１ｏｋ力゛ｆ記入しであるめで上記Ａ５の出力にその目
盛の値を加えれば前記（１）式によって吸光度が判る。
１ｏｋ力゛ｆ記入しであるめで上記Ａ５の出力にその目
盛の値を加えれば前記（１）式によって吸光度が判る。
即ち回路にの設定つまみの目盛（上記実施例では吸光度
につき０．２飛びになっている）によって少数以下第１
桁を指示し、第２桁以下の詳細をＡ５の出力によって表
示するのである。
につき０．２飛びになっている）によって少数以下第１
桁を指示し、第２桁以下の詳細をＡ５の出力によって表
示するのである。
この場合
を測定する本考案の回路ではＡ２．Ａ３．Ａ４の温度特
性が、従来の対数変換回路に比べて十分安定にできるの
で、例え温度変化がある場合でも吸光度の微少変化を拡
大測定して得られる測定値は信頼できるものとなる。
性が、従来の対数変換回路に比べて十分安定にできるの
で、例え温度変化がある場合でも吸光度の微少変化を拡
大測定して得られる測定値は信頼できるものとなる。
しかも対数変換回路を要せず温度補償が簡単となるので
回路構成は簡単であり、吸光度を小範囲に区切って、そ
の範囲で正確な吸光度が得られるのである。
回路構成は簡単であり、吸光度を小範囲に区切って、そ
の範囲で正確な吸光度が得られるのである。
尚、上記実施例は時分割ダブルビーム光学系について述
べたが、セクタミラーに変えてハーフミラ−を使用した
シングルビーム分光光度計においても、又三周波数ダブ
ルビーム分光光度計においても同様に使用できる。
べたが、セクタミラーに変えてハーフミラ−を使用した
シングルビーム分光光度計においても、又三周波数ダブ
ルビーム分光光度計においても同様に使用できる。
またスイッチＳ３をｅＲ側に倒したときのＡ６の出力は
従来の普通の吸光度測定系に相当するから吸光度の大体
の値を見当づけるのに利用できるが、この系統は正確さ
を要しないから温度補償等は不要なものである。
従来の普通の吸光度測定系に相当するから吸光度の大体
の値を見当づけるのに利用できるが、この系統は正確さ
を要しないから温度補償等は不要なものである。
このように本考案により吸光度の高い試料であっても、
その微少変化を安定に拡大測定できる分光光度計が得ら
れることになったのである。
その微少変化を安定に拡大測定できる分光光度計が得ら
れることになったのである。
【図面の簡単な説明】
図は本考案実施例の回路図である。
ｅＲ・・・・・・参照光に対応する電気信号、ｅｓ・・
・・・・試料透過光に対応する電気信号。
・・・・試料透過光に対応する電気信号。
Claims (1)
- 参照先に対応する電気信号ｅＲ及び試料透過光に対応す
る電気信号ｅＳを得る手段と、ｅＳを可変に倍してその
ｋの値を調節つまみに対数変換値目盛で指示するように
したｋｅＳを得る手段と、この手段の出力を上記ｅＲｉ
割算する手段と、その割算結果を対算変換する対数変換
素子と、同素子の出力を表示する表示手段と、（ｅＲ＋
ｋｅＳ）を一定値になるように上記両電気信号ｅＲ、ｅ
Ｓを得る手段を制御する回路と、（ｅＲ−ｋｅＳ）を出
力する回路とよりなる分光光度計。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1975100786U JPS583073Y2 (ja) | 1975-07-19 | 1975-07-19 | ブンコウコウドケイ |
| US05/704,530 US4092069A (en) | 1975-07-19 | 1976-07-12 | Spectrophotometer |
| GB29106/76A GB1551433A (en) | 1975-07-19 | 1976-07-13 | Spectrophotometer |
| DE19762632160 DE2632160A1 (de) | 1975-07-19 | 1976-07-16 | Spektralphotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1975100786U JPS583073Y2 (ja) | 1975-07-19 | 1975-07-19 | ブンコウコウドケイ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5215279U JPS5215279U (ja) | 1977-02-03 |
| JPS583073Y2 true JPS583073Y2 (ja) | 1983-01-19 |
Family
ID=14283127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1975100786U Expired JPS583073Y2 (ja) | 1975-07-19 | 1975-07-19 | ブンコウコウドケイ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4092069A (ja) |
| JP (1) | JPS583073Y2 (ja) |
| DE (1) | DE2632160A1 (ja) |
| GB (1) | GB1551433A (ja) |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2905230C2 (de) * | 1979-02-12 | 1984-03-29 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Zweistrahl-Wechsellicht-Kolorimeter |
| US4236076A (en) * | 1979-02-26 | 1980-11-25 | Technicon Instruments Corporation | Infrared analyzer |
| DE2924131A1 (de) * | 1979-06-15 | 1980-12-18 | Bodenseewerk Geosystem Gmbh | Signalauswerterschaltung fuer ein messgeraet zur messung der extinktion |
| US4300203A (en) * | 1979-10-19 | 1981-11-10 | Beckman Instruments, Inc. | Method and means for operating logarithmic circuits |
| DE3008345C2 (de) * | 1980-03-05 | 1983-11-17 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Spektralphotometer zur Bestimmung der Konzentration eines gesuchten Bestandteils einer Probe |
| JPS58103604A (ja) * | 1981-12-16 | 1983-06-20 | Teijin Ltd | フイルムの厚さ測定方法及び測定装置 |
| FR2533073A1 (fr) * | 1982-09-14 | 1984-03-16 | Telecommunications Sa | Procede et dispositif de stabilisation d'une photodiode a avalanche |
| JPS59125040A (ja) * | 1982-12-30 | 1984-07-19 | Shimadzu Corp | 分光分析装置 |
| US4637729A (en) * | 1983-12-14 | 1987-01-20 | Carrier Corporation | Fiber optic moisture analysis probe |
| JPS61296650A (ja) * | 1985-06-25 | 1986-12-27 | Anelva Corp | 四重極型質量分析計電源 |
| US4797000A (en) * | 1986-01-02 | 1989-01-10 | Artel | Comparative colorimeter |
| US4857735A (en) * | 1987-10-23 | 1989-08-15 | Noller Hans G | Light emitting diode spectrophotometer |
| JPH0518896A (ja) * | 1990-02-22 | 1993-01-26 | Heinrich Hertz Inst Nachrichtentech Berlin Gmbh | 小さな吸光量の検出用測定方法 |
| US5233470A (en) * | 1992-12-30 | 1993-08-03 | Hsin Yi Foundation | Variable lens assembly |
| KR100737397B1 (ko) | 2007-01-31 | 2007-07-09 | 한국교세라정공(주) | 밀링 커터 |
| US10147043B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-12-04 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for texture assessment of a coating formulation |
| US10586162B2 (en) * | 2013-03-15 | 2020-03-10 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for determining a coating formulation |
| NZ631068A (en) | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using electrostatics calculations |
| NZ631063A (en) | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using cross-normalization |
| NZ631047A (en) | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using kepler’s planetary motion laws |
| US10871888B2 (en) | 2018-04-26 | 2020-12-22 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems, methods, and interfaces for rapid coating generation |
| US10970879B2 (en) | 2018-04-26 | 2021-04-06 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Formulation systems and methods employing target coating data results |
| US11874220B2 (en) | 2018-04-26 | 2024-01-16 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Formulation systems and methods employing target coating data results |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3273448A (en) * | 1962-12-06 | 1966-09-20 | Du Pont | Analytical logarithmic ratio determination apparatus |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3623817A (en) * | 1970-02-24 | 1971-11-30 | Ciba Ltd | Comparison densitometer including means to maintain the detector output at a means valve |
| JPS5214636B2 (ja) * | 1973-11-05 | 1977-04-22 |
-
1975
- 1975-07-19 JP JP1975100786U patent/JPS583073Y2/ja not_active Expired
-
1976
- 1976-07-12 US US05/704,530 patent/US4092069A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-07-13 GB GB29106/76A patent/GB1551433A/en not_active Expired
- 1976-07-16 DE DE19762632160 patent/DE2632160A1/de not_active Ceased
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3273448A (en) * | 1962-12-06 | 1966-09-20 | Du Pont | Analytical logarithmic ratio determination apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB1551433A (en) | 1979-08-30 |
| US4092069A (en) | 1978-05-30 |
| DE2632160A1 (de) | 1977-02-03 |
| JPS5215279U (ja) | 1977-02-03 |
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