JPH052931B2 - - Google Patents
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- JPH052931B2 JPH052931B2 JP58107488A JP10748883A JPH052931B2 JP H052931 B2 JPH052931 B2 JP H052931B2 JP 58107488 A JP58107488 A JP 58107488A JP 10748883 A JP10748883 A JP 10748883A JP H052931 B2 JPH052931 B2 JP H052931B2
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- Japan
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- light
- signal
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- photodiode array
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 5
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- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/18—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value
- G01J2001/182—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value with SH sample and hold circuits
- G01J2001/184—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value with SH sample and hold circuits on a succession of signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/444—Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明はホトダイオードアレイ分光光度計検
出器に関する。特に液体クロマトグラフの検出器
として好適に使用される。
出器に関する。特に液体クロマトグラフの検出器
として好適に使用される。
(ロ) 従来技術
ホトダイオードアレイ分光光度計検出器は、ホ
トダイオードアレイを構成する多数のホトダイオ
ードに各々異なる波長を対応させることでほぼ同
時測定的にスペクトルを得られるものである。
トダイオードアレイを構成する多数のホトダイオ
ードに各々異なる波長を対応させることでほぼ同
時測定的にスペクトルを得られるものである。
しかし、光源の輝度変化、ホトダイオードアレ
イの感度および暗信号の変化があると、異なる時
刻に得た２つのスペクトルの比較において誤差を
生ずる。
イの感度および暗信号の変化があると、異なる時
刻に得た２つのスペクトルの比較において誤差を
生ずる。
(ハ) 発明の目的
この発明は、試料信号と参照信号と暗信号とを
時分割的に区別して得、参照信号および暗信号に
より試料信号を校正可能とすることにより誤差を
抑制したホトダイオードアレイ分光光度計検出器
を提供するものである。
時分割的に区別して得、参照信号および暗信号に
より試料信号を校正可能とすることにより誤差を
抑制したホトダイオードアレイ分光光度計検出器
を提供するものである。
(ニ) 発明の構成
この発明のホトダイオードアレイ分光光度計検
出器は、光源、その光源の光が入射される試料用
測定セルと参照用セル、分光器、ホトダイオード
アレイ、前記試料用測定セルを出射し前記分光器
で分光された光もしくは前記参照用セルを出射し
前記分光器で分光された光のいずれかを前記ホト
ダイオードアレイに受光させるか又はいずれの光
も受光させないよう光を抑制する光選択手段、前
記ホトダイオードアレイの出力側に接続されたサ
ンプルホールド回路、そのサンプルホールド回路
の出力に接続されたＡ／Ｄ変換器およびそのＡ／
Ｄ変換器の出力に接続され前記光選択手段との同
期によつて試料信号と参照信号と暗信号を区別し
これらに基いて試料のスペクトルを演算するデジ
タル演算手段を具備して構成される。
出器は、光源、その光源の光が入射される試料用
測定セルと参照用セル、分光器、ホトダイオード
アレイ、前記試料用測定セルを出射し前記分光器
で分光された光もしくは前記参照用セルを出射し
前記分光器で分光された光のいずれかを前記ホト
ダイオードアレイに受光させるか又はいずれの光
も受光させないよう光を抑制する光選択手段、前
記ホトダイオードアレイの出力側に接続されたサ
ンプルホールド回路、そのサンプルホールド回路
の出力に接続されたＡ／Ｄ変換器およびそのＡ／
Ｄ変換器の出力に接続され前記光選択手段との同
期によつて試料信号と参照信号と暗信号を区別し
これらに基いて試料のスペクトルを演算するデジ
タル演算手段を具備して構成される。
上記光選択手段は、たとえば光源と試料用測定
セルの間および光源と参照用セルの間に設けられ
る回転セクターミラーである。あるいは試料用測
定セルと分光器の間および参照用セルと分光器の
間に設けられる往復ミラーである。
セルの間および光源と参照用セルの間に設けられ
る回転セクターミラーである。あるいは試料用測
定セルと分光器の間および参照用セルと分光器の
間に設けられる往復ミラーである。
上記光選択手段との同期は、たとえば光選択手
段から同期信号を上記デジタル演算手段が得る
か、あるいはデジタル演算手段が光選択手段へ同
期信号を出力することにより達成できる。
段から同期信号を上記デジタル演算手段が得る
か、あるいはデジタル演算手段が光選択手段へ同
期信号を出力することにより達成できる。
(ホ) 実施例
第１図イに示す１は、この発明のホトダイオー
ドアレイ分光光度計検出器の一実施例の光学系で
ある。光源切換ミラー４で選択された重水素ラン
プ２もしくはタングステンランプ３の光は、光源
ミラー５およびスリツト６を経て、セクターミラ
ー７およびトロイダルミラー８で反射され、レフ
アレンス側セル１０を透過し、再びセクターミラ
ー７で反射され、集光ミラー１２および平面ミラ
ー１３を経て、コンケイブグレーテイング１４で
分光され、ホトダイオードアレイ１５で受光され
る。しかしセクターミラー７の回転によつてセク
ターミラー７の切り欠き部分７ａが光路ｌ上に対
応する場合は、スリツト６を経た光はセクターミ
ラー７で反射されずにトロイダルミラー９で反射
され、サンプル側フローセル１１を透過し、集光
ミラー１２、平面ミラー１３、コンケイブグレー
テイング１４を経て、ホトダイオードアレイ１５
で受光される。しかしさらにセクターミラー７の
回転によつてセクターミラー７の遮光部分７ｂが
光路ｌ上に対応する場合は、スリツト６を経た光
はその遮光部分７ｂでカツトされるので、ホトダ
イオードアレイ１５では光は受光されない。
ドアレイ分光光度計検出器の一実施例の光学系で
ある。光源切換ミラー４で選択された重水素ラン
プ２もしくはタングステンランプ３の光は、光源
ミラー５およびスリツト６を経て、セクターミラ
ー７およびトロイダルミラー８で反射され、レフ
アレンス側セル１０を透過し、再びセクターミラ
ー７で反射され、集光ミラー１２および平面ミラ
ー１３を経て、コンケイブグレーテイング１４で
分光され、ホトダイオードアレイ１５で受光され
る。しかしセクターミラー７の回転によつてセク
ターミラー７の切り欠き部分７ａが光路ｌ上に対
応する場合は、スリツト６を経た光はセクターミ
ラー７で反射されずにトロイダルミラー９で反射
され、サンプル側フローセル１１を透過し、集光
ミラー１２、平面ミラー１３、コンケイブグレー
テイング１４を経て、ホトダイオードアレイ１５
で受光される。しかしさらにセクターミラー７の
回転によつてセクターミラー７の遮光部分７ｂが
光路ｌ上に対応する場合は、スリツト６を経た光
はその遮光部分７ｂでカツトされるので、ホトダ
イオードアレイ１５では光は受光されない。
ホトダイオードアレイ１５は、200nm〜700nm
位の波長に各々対応させられている約500個のホ
トダイオードにて構成されている。
位の波長に各々対応させられている約500個のホ
トダイオードにて構成されている。
第１図ロに示す１７は、セクターミラー７の回
転位置を検出するためのスリツト円板で、セクタ
ーミラー７の回転軸１６に固設されていてセクタ
ーミラー７と共に回転する。セクターミラー７の
遮光部分７ｂが光路ｌ上にかかり始めるとき、ス
リツト円板１７上に貼設された反射マーク１７ｄ
によりホトマイクロセンサ１８が出力信号を発
し、かつスリツト１７ａによりホトマイクロセン
サ１９が出力信号を発する。またセクターミラー
７が回転してミラー部分が光路ｌ上にかかり始め
るとき、スリツト１７ｂによりホトマイクロセン
サ１９だけが出力信号を発する。さらにセクター
ミラー７が回転して切り欠き部分７ａが光路ｌ上
にかかり始めるとき、スリツト１７ｃによりホト
マイクロセンサ１９だけが出力信号を発する。セ
クターミラー７の半回転ごとに上記のような出力
信号が得られるので、これによりセクターミラー
７の回転位置を検出できる。
転位置を検出するためのスリツト円板で、セクタ
ーミラー７の回転軸１６に固設されていてセクタ
ーミラー７と共に回転する。セクターミラー７の
遮光部分７ｂが光路ｌ上にかかり始めるとき、ス
リツト円板１７上に貼設された反射マーク１７ｄ
によりホトマイクロセンサ１８が出力信号を発
し、かつスリツト１７ａによりホトマイクロセン
サ１９が出力信号を発する。またセクターミラー
７が回転してミラー部分が光路ｌ上にかかり始め
るとき、スリツト１７ｂによりホトマイクロセン
サ１９だけが出力信号を発する。さらにセクター
ミラー７が回転して切り欠き部分７ａが光路ｌ上
にかかり始めるとき、スリツト１７ｃによりホト
マイクロセンサ１９だけが出力信号を発する。セ
クターミラー７の半回転ごとに上記のような出力
信号が得られるので、これによりセクターミラー
７の回転位置を検出できる。
第１図ハに示す３０は、この発明のホトダイオ
ードアレイ分光光度計検出器の一実施例の信号処
理回路である。ホトダイオードアレイ１５は出力
回路２０と一体化されている。その出力回路２０
は、各ホトダイオードe1，e2……の出力信号を
各々積分しており、スタート信号SRTが入力さ
れると各積分値をクロツク信号CKに同期して出
力端子２０ａから出力する。各積分値は出力後に
一旦クリアされる。クロツク信号CKは、たとえ
ば100μsecの周期のパルス信号で、発振器２１か
ら与えられている。出力回路２０の出力信号Ｅ
は、アンプ２２、サンプルホールド回路２３およ
びＡ／Ｄ変換器２４を介してマイクロコンピユー
タ２５に入力される。またマイクロコンピユータ
２５には前記ホトマイクロセンサ１８，１９から
の信号が入力されている。さらにマイクロコンピ
ユータ２５は、セクターミラー７およびスリツト
円板１７の回転駆動モータ２６の駆動信号を出力
し、かつ出力回路２０のスタート信号SRTとな
る出力信号Ｐを出力する。
ードアレイ分光光度計検出器の一実施例の信号処
理回路である。ホトダイオードアレイ１５は出力
回路２０と一体化されている。その出力回路２０
は、各ホトダイオードe1，e2……の出力信号を
各々積分しており、スタート信号SRTが入力さ
れると各積分値をクロツク信号CKに同期して出
力端子２０ａから出力する。各積分値は出力後に
一旦クリアされる。クロツク信号CKは、たとえ
ば100μsecの周期のパルス信号で、発振器２１か
ら与えられている。出力回路２０の出力信号Ｅ
は、アンプ２２、サンプルホールド回路２３およ
びＡ／Ｄ変換器２４を介してマイクロコンピユー
タ２５に入力される。またマイクロコンピユータ
２５には前記ホトマイクロセンサ１８，１９から
の信号が入力されている。さらにマイクロコンピ
ユータ２５は、セクターミラー７およびスリツト
円板１７の回転駆動モータ２６の駆動信号を出力
し、かつ出力回路２０のスタート信号SRTとな
る出力信号Ｐを出力する。
次に作動を説明すると、マイクロコンピユータ
２５は、回転駆動モータ２６をオンした後、ホト
マイクロセンサ１８，１９からの信号をモニター
する。第２図に示すように、ホトマイクロセンサ
１８，１９からの信号が同時にオンになると、た
だちにスタート信号SRTを与える。これにより
ホトダイオードアレイ１５の出力回路２０から一
連の出力信号が得られる。しかし、これらの出力
信号は、セクターミラー７の遮光部分７ｂが光路
ｌにかかる前後を通じて積分されたものなのでデ
ータとして不良であり、全て無視する。クロツク
信号CKの周期が100μsecで、ホトダイオードe1，
e2……の数が約500個であつたから約50msecで一
連の出力信号の出力が全て終了する。余裕をもた
せるために約60msecで再びスタート信号SRTを
与える。これにより再び一連の出力信号が得られ
る。これらは光が遮光部分７ｂでカツトされてい
る状態における60msec間の積分値なので、ダー
ク信号のデータとして記憶する。なお第１回目の
スタート信号SRTを与えてから２回目の一連の
出力信号のサンプリングを完了するまでの約
120msecのあいだ遮光部分７ｂが光をカツトしつ
づけているように、セクターミラー７の遮光部分
７ｂの寸法と回転速度が規定されているものとす
る。
２５は、回転駆動モータ２６をオンした後、ホト
マイクロセンサ１８，１９からの信号をモニター
する。第２図に示すように、ホトマイクロセンサ
１８，１９からの信号が同時にオンになると、た
だちにスタート信号SRTを与える。これにより
ホトダイオードアレイ１５の出力回路２０から一
連の出力信号が得られる。しかし、これらの出力
信号は、セクターミラー７の遮光部分７ｂが光路
ｌにかかる前後を通じて積分されたものなのでデ
ータとして不良であり、全て無視する。クロツク
信号CKの周期が100μsecで、ホトダイオードe1，
e2……の数が約500個であつたから約50msecで一
連の出力信号の出力が全て終了する。余裕をもた
せるために約60msecで再びスタート信号SRTを
与える。これにより再び一連の出力信号が得られ
る。これらは光が遮光部分７ｂでカツトされてい
る状態における60msec間の積分値なので、ダー
ク信号のデータとして記憶する。なお第１回目の
スタート信号SRTを与えてから２回目の一連の
出力信号のサンプリングを完了するまでの約
120msecのあいだ遮光部分７ｂが光をカツトしつ
づけているように、セクターミラー７の遮光部分
７ｂの寸法と回転速度が規定されているものとす
る。
次いでマイクロコンピユータ２５は、ホトマイ
クロセンサ１９の出力信号をモニターし、オンに
なるとただちにスタート信号SRTを与え、その
後に得られる一連の出力信号を無視し、60msec
後に再びスタート信号SRTを与え、その後に得
られる一連の出力信号をレフアレンス信号のデー
タとして記憶する。最初の一連の出力信号を無視
する理由は、これらの信号には遮光部分７ｂが光
路ｌ上にある時間の積分値を含んでおりデータ不
良であるからである。なお、約120msecのあいだ
ミラー部分が光路ｌ上にあるように、セクターミ
ラー７のミラー部分の寸法と回転速度が規定され
ているものとする。
クロセンサ１９の出力信号をモニターし、オンに
なるとただちにスタート信号SRTを与え、その
後に得られる一連の出力信号を無視し、60msec
後に再びスタート信号SRTを与え、その後に得
られる一連の出力信号をレフアレンス信号のデー
タとして記憶する。最初の一連の出力信号を無視
する理由は、これらの信号には遮光部分７ｂが光
路ｌ上にある時間の積分値を含んでおりデータ不
良であるからである。なお、約120msecのあいだ
ミラー部分が光路ｌ上にあるように、セクターミ
ラー７のミラー部分の寸法と回転速度が規定され
ているものとする。
次いでマイクロコンピユータ２５は、同様の作
動によつてサンプル信号のデータを得て記憶す
る。
動によつてサンプル信号のデータを得て記憶す
る。
ダーク信号のデータをＤ（λ）、レフアレンス信
号のデータをＲ（λ）、サンプル信号のデータをＳ
（λ）とするとき、マイクロコンピユータ２５は
次式により吸光度Ａ（λ）を算出する。
号のデータをＲ（λ）、サンプル信号のデータをＳ
（λ）とするとき、マイクロコンピユータ２５は
次式により吸光度Ａ（λ）を算出する。
Ａ（λ）＝logＲ（λ）−Ｄ（λ）／Ｓ（λ）−Ｄ（λ
）−Ｂ（λ）…(i) ただし、Ｂ（λ）は、サンプル側フローセル１
１にキヤリア液だけを流したときに得られたダー
ク信号のデータをD′（λ）、レフアレンス信号の
データをR′（λ）、サンプル信号のデータをS′（λ）
としたときに次式により算出され記憶されている
バツクグラウンド吸光度である。
）−Ｂ（λ）…(i) ただし、Ｂ（λ）は、サンプル側フローセル１
１にキヤリア液だけを流したときに得られたダー
ク信号のデータをD′（λ）、レフアレンス信号の
データをR′（λ）、サンプル信号のデータをS′（λ）
としたときに次式により算出され記憶されている
バツクグラウンド吸光度である。
Ｂ（λ）＝logR′（λ）−D′（λ）／S′（λ）−D′
（λ）…(ii) 上述のようにして得られたＡ（λ）は、スぺク
トルとして記憶され、あるいはクロマトグラムと
してレコーダ（図示省略）へ出力される。
（λ）…(ii) 上述のようにして得られたＡ（λ）は、スぺク
トルとして記憶され、あるいはクロマトグラムと
してレコーダ（図示省略）へ出力される。
(ニ) 発明の効果
この発明のホトダイオードアレイ分光光度計検
出器によれば、光源の輝度変化やホトダイオード
の感度変化等の影響による誤差をキヤンセルでき
る。したがつて、測定精度が向上し、安定なクロ
マトグラムを得ることができるようになる。また
ウオームアツプ時間を短縮しても安定に測定を行
えるようになる。
出器によれば、光源の輝度変化やホトダイオード
の感度変化等の影響による誤差をキヤンセルでき
る。したがつて、測定精度が向上し、安定なクロ
マトグラムを得ることができるようになる。また
ウオームアツプ時間を短縮しても安定に測定を行
えるようになる。
第１図はこの発明のホトダイオードアレイ分光
光度計検出器の構成説明図で、イは光学系、ロは
セクターミラーの回転位置検出系、ハは信号処理
系である。第２図は第１図ハに示す信号処理系の
各信号のタイムチヤートである。 １…光学系、２…重水素ランプ、３…タングス
テンランプ、７…セクターミラー、１０…レフア
レンス側セル、１１…サンプル側フローセル、１
４…コンケイブグレーテイング、１５…ホトダイ
オードアレイ、１７…スリツト円板、１８，１９
…ホトマイクロセンサ、２０…出力回路、２３…
サンプルホールド回路、２４…Ａ／Ｄ変換回路、
２５…マイクロコンピユータ。
光度計検出器の構成説明図で、イは光学系、ロは
セクターミラーの回転位置検出系、ハは信号処理
系である。第２図は第１図ハに示す信号処理系の
各信号のタイムチヤートである。 １…光学系、２…重水素ランプ、３…タングス
テンランプ、７…セクターミラー、１０…レフア
レンス側セル、１１…サンプル側フローセル、１
４…コンケイブグレーテイング、１５…ホトダイ
オードアレイ、１７…スリツト円板、１８，１９
…ホトマイクロセンサ、２０…出力回路、２３…
サンプルホールド回路、２４…Ａ／Ｄ変換回路、
２５…マイクロコンピユータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光源、その光源の光が入射される試料用測定
セルと参照用セル、分光器、スタート信号が入力
されることによつて各ホトダイオードの出力信号
を各々積分した値を出力するホトダイオードアレ
イ、前記試料用測定セルを出射し前記分光器で分
光された試料光かもしくは前記参照用セルを出射
し前記分光器で分光された参照光かもしくはいず
れの光も受光しない暗光のいずれかを所定時間ず
つ前記ホトダイオードアレイに受光させるように
光を制御する光選択手段、前記ホトダイオードア
レイの出力側に接続されたサンプルホールド回
路、そのサンプルホールド回路の出力に接続され
たＡ／Ｄ変換器およびそのＡ／Ｄ変換器に出力に
接続され前記光選択手段との同期によつて試料信
号と参照信号と暗信号を区別しこれらに基づいて
試料のスペクトルを演算するデジタル演算手段を
具備してなり、前記デジタル演算手段が、前記所
定時間の間に少なくとも２回以上のスタート信号
を前記ホトダイオードアレイに入力し、その入力
によつて得られた試料信号と参照信号と暗信号の
各出力信号について、第１回目のスタート信号に
よつて得られた各出力信号をそれぞれ廃棄し、第
２回目のスタート信号によつて得られた各出力信
号をそれぞれ採用するよう構成されてなるホトダ
イオードアレイ分光光度計検出器。 ２ 光選択手段が、光源と試料用測定セルの間お
よび光源と参照用セルの間に設けられたセクター
ミラーである請求の範囲第１項記載のホトダイオ
ードアレイ分光光度計検出器。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10748883A JPS59231425A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器 |
| GB08334656A GB2141536B (en) | 1983-06-14 | 1983-12-30 | Photodiode array spectrophotometric detector |
| DE19833347603 DE3347603C2 (de) | 1983-06-14 | 1983-12-30 | Spektrofotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10748883A JPS59231425A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59231425A JPS59231425A (ja) | 1984-12-26 |
| JPH052931B2 true JPH052931B2 (ja) | 1993-01-13 |
Family
ID=14460481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10748883A Granted JPS59231425A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59231425A (ja) |
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