JPS59231425A - ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器 - Google Patents
ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器Info
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- JPS59231425A JPS59231425A JP10748883A JP10748883A JPS59231425A JP S59231425 A JPS59231425 A JP S59231425A JP 10748883 A JP10748883 A JP 10748883A JP 10748883 A JP10748883 A JP 10748883A JP S59231425 A JPS59231425 A JP S59231425A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/18—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value
- G01J2001/182—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value with SH sample and hold circuits
- G01J2001/184—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value with SH sample and hold circuits on a succession of signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/444—Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明はホトダイオードアレイ分光光度計検出器に関
する。特に液体クキマドグラフの検出器として好適に使
用される。
する。特に液体クキマドグラフの検出器として好適に使
用される。
（ロ）従、米技術
ホトダイオードアレイ分光光度計検出器は、ホトダイオ
ードアレイを構成する多数のホトダイオードに各々異な
る波長を対応させることでほぼ同時測定的にスペクトル
を得られるものである。
ードアレイを構成する多数のホトダイオードに各々異な
る波長を対応させることでほぼ同時測定的にスペクトル
を得られるものである。
しかし、光源の輝度変化、ホトダイオードアレイの感度
および暗信号の変化があると、異なる時刻に得た２つの
スペクトルの比較に訃いて誤差を生ずる。
および暗信号の変化があると、異なる時刻に得た２つの
スペクトルの比較に訃いて誤差を生ずる。
（ハ）発明の目的
この発明は、試料信号と参照信号と暗信号とを時分割的
に区別して得、参照信号および暗信号により試料信号を
校正可能とすることによシ誤差を抑制したホトダイオー
ドアレイ分光光度計検出器を提供するものである。
に区別して得、参照信号および暗信号により試料信号を
校正可能とすることによシ誤差を抑制したホトダイオー
ドアレイ分光光度計検出器を提供するものである。
（ニ）発すノの構成
この発明のホトダイオードアレイ分光光度計検出ｇ３は
、光源、その光源の光が入射される試料用測定セルと参
照用セル、分光器、ホトダイオードアレイ、前記試料用
測定セｌＶｆ出射し前記分光器で分光された光もしくは
前記参照用セＡ／ｉ出射し前記分光器で分光された光の
いずれかを前記ホトダイオードアレイに受光させるか又
はいずれの光も受光させないよう光音制御する光選択手
段、前記ホトダイオードアレイの出力側に接続されたサ
ンプルホー／ｌ／ド回路、そのサンプμホー〃ド回路の
出力に接続されたＡ／Ｄ変換器およびそのＡ／Ｄ変換器
の出力に接続され前記光選択手段との同期によって試料
信号と参照信号と暗信号全区別しこれらに基いて試料の
スペクト／Ｉ／’ｉ演算するデジタ上記光選択手段は、
たとえば光源と試料用測定セルの間および光源と参照用
セルの間に設けられる回転セクターミラーである。ある
いは試料用測定上μと分光器の間および参照用セルと分
光器の間に設けられる往復ミラーである。
、光源、その光源の光が入射される試料用測定セルと参
照用セル、分光器、ホトダイオードアレイ、前記試料用
測定セｌＶｆ出射し前記分光器で分光された光もしくは
前記参照用セＡ／ｉ出射し前記分光器で分光された光の
いずれかを前記ホトダイオードアレイに受光させるか又
はいずれの光も受光させないよう光音制御する光選択手
段、前記ホトダイオードアレイの出力側に接続されたサ
ンプルホー／ｌ／ド回路、そのサンプμホー〃ド回路の
出力に接続されたＡ／Ｄ変換器およびそのＡ／Ｄ変換器
の出力に接続され前記光選択手段との同期によって試料
信号と参照信号と暗信号全区別しこれらに基いて試料の
スペクト／Ｉ／’ｉ演算するデジタ上記光選択手段は、
たとえば光源と試料用測定セルの間および光源と参照用
セルの間に設けられる回転セクターミラーである。ある
いは試料用測定上μと分光器の間および参照用セルと分
光器の間に設けられる往復ミラーである。
上記光選択手段との同期は、たとえば光選択手段から同
期信号を上記デジタル演算手段が得るか、あるいはデジ
タル演算手段が光選択手段へ同期信号を出力することに
より達成できる。
期信号を上記デジタル演算手段が得るか、あるいはデジ
タル演算手段が光選択手段へ同期信号を出力することに
より達成できる。
（ホ）実施例
第１図（イ〕に示す（１）は、この発明のホトダイオー
ドアレイ分光光度計検出器の一実施例の光学系である。
ドアレイ分光光度計検出器の一実施例の光学系である。
光源切換ミラー（４）で選択された重水素ランプ（２）
もしくはタングステンランプ（３）の光は、光源ミラー
（５）およびスリット（りを経て、セクターミラー（７
）およびトロイダルミラー（８）で反射され、レファレ
ンス側セ／Ｌ／ （１０） 全透過し、再びセクターミ
ラー（７）で反射され、集光ミラー（１２）および平面
ミラー（１３） ’に経て、コンケイプグレーティング
（１４）で分光され、ホトダイオードアレイ（１５）で
受光される。しかしセクターミラー（７）の回転によっ
てセクターミラー（７）の切り欠き部分（７ａ）が光路
（詔）上に対応する場合は、スリット（６）全経た光は
セクターミラー（７）で反射されずにトロイダルミラー
（９）で反射され、サンプル側フローセμ（１１） ｋ
透過し、集光ミツ−（１２）、平面ミラー（１３）、コ
ンケイプグレーティング（１４） ’に経て、ホトダイ
オードアレイ（１５）で受光される。しかしさらにセク
ターミラー（７）の回転によってセクターミラー（７）
の遮光部分（７ｂ）が光路（））上に対応する場合は、
スリン） （６） ’ｒ：経た光はその遮光部分（７ｂ
）でカットされるので、ホトダイオードアレイ（１５）
では光は受光されない。
もしくはタングステンランプ（３）の光は、光源ミラー
（５）およびスリット（りを経て、セクターミラー（７
）およびトロイダルミラー（８）で反射され、レファレ
ンス側セ／Ｌ／ （１０） 全透過し、再びセクターミ
ラー（７）で反射され、集光ミラー（１２）および平面
ミラー（１３） ’に経て、コンケイプグレーティング
（１４）で分光され、ホトダイオードアレイ（１５）で
受光される。しかしセクターミラー（７）の回転によっ
てセクターミラー（７）の切り欠き部分（７ａ）が光路
（詔）上に対応する場合は、スリット（６）全経た光は
セクターミラー（７）で反射されずにトロイダルミラー
（９）で反射され、サンプル側フローセμ（１１） ｋ
透過し、集光ミツ−（１２）、平面ミラー（１３）、コ
ンケイプグレーティング（１４） ’に経て、ホトダイ
オードアレイ（１５）で受光される。しかしさらにセク
ターミラー（７）の回転によってセクターミラー（７）
の遮光部分（７ｂ）が光路（））上に対応する場合は、
スリン） （６） ’ｒ：経た光はその遮光部分（７ｂ
）でカットされるので、ホトダイオードアレイ（１５）
では光は受光されない。
ホトダイオードアレイ（１５）は、２００皿〜１１００
ｎ位の波長に各々対応させられている約５００個のホト
ダイオードにて構成されている。
ｎ位の波長に各々対応させられている約５００個のホト
ダイオードにて構成されている。
第１図（ロ）に示す（１７）は、セクターミラー（７）
の回転位置を検出するためのスリット円板で、セクター
ミ２−（７）の回転軸（１りに固設されていてセクター
ミラー（７）と共に回転する。セクターミラー（７）の
遮光部分（７ｂ）が光路（り上にかか勺始めるとき、ス
リット円板（１７）上に貼設された反射マーク（１７（
１）によシホトマイクロセンサ（１８）が出力信号を発
し、かつスリット（１７ａ）によシホトマイクロセンｔ
（１９）が出力信Ｊｉｊｔ−発する。またセクターミラ
ー（７）が回転してミラ一部分が光路（り上にかか）始
めるとき、スリット（１７ｂ）によシホトマイクロセン
ナ（１９）だけが出力信９を発する。さらにセクターミ
ラー（７）が回転して切シ欠き部分（７ａ）が光路Ｃ４
）上にかかり始めるとき、スリット、 （１７０）によ
シホトマイクロセンナ（１９）だけが出力信号を発する
。セクターミ７−（７）ノ半回転ごとに上記のような出
力信号が得られるので、これによシセクターミラー（７
）の回転位置を検出できる。
の回転位置を検出するためのスリット円板で、セクター
ミ２−（７）の回転軸（１りに固設されていてセクター
ミラー（７）と共に回転する。セクターミラー（７）の
遮光部分（７ｂ）が光路（り上にかか勺始めるとき、ス
リット円板（１７）上に貼設された反射マーク（１７（
１）によシホトマイクロセンサ（１８）が出力信号を発
し、かつスリット（１７ａ）によシホトマイクロセンｔ
（１９）が出力信Ｊｉｊｔ−発する。またセクターミラ
ー（７）が回転してミラ一部分が光路（り上にかか）始
めるとき、スリット（１７ｂ）によシホトマイクロセン
ナ（１９）だけが出力信９を発する。さらにセクターミ
ラー（７）が回転して切シ欠き部分（７ａ）が光路Ｃ４
）上にかかり始めるとき、スリット、 （１７０）によ
シホトマイクロセンナ（１９）だけが出力信号を発する
。セクターミ７−（７）ノ半回転ごとに上記のような出
力信号が得られるので、これによシセクターミラー（７
）の回転位置を検出できる。
第１図（ハ）に示す（３りは、この発明のホトダイオー
ドアレイ分光光度計検出器の一実施例の信号処理回路で
ある。ホトダイオードアレイ（１５）は出力回路（２０
）と一体化されている。その出力回路（２０）は、各ホ
トダイオード（ｅｘ）Ｃｅｚ）・・・・・の出力信号全
各々積分しておシ、スタート信号（ＳＲＴ）が入力され
ると名積分値をクロック信号（ＯＫ）に同期して出力端
子（２０ａ）から出力する。各積分値は出力後に一旦ク
リアされる。クロック信号（ＯＫ）は、たとえば１００
μｓｅｃの周期のノクルヌ信号で、発振器（２１）から
与えられている。出力回路（２０）の出力信号（Ｅ）は
、アンプ（２２）、サンプルホールド回路（２３）謔び
Ａ／Ｄ変換器（２４） ｋ介してマイクロコンピュータ
（２りに入力される。またマイクロコンピュータ（２５
）には前記ホトマイクロセンサ（１８）（］９）からの
信号が入力されている。さらにマイクロコンピュータ（
２５）は、セクターミラー（７）およびスリット円板（
１７）の回転駆動モータ（２６）の駆動信号を出力し、
かつ出力回路（２０）のスタート信号（ＳＲＴ）となる
出力信号ＣＰ）を出力する０次に作動を説明すると、マ
イクロコンピュータ（２５）は、回転駆動モータ（２６
） ’にオンした後、ホトマイクロセンサ（１Ｂ）（１
９）からの（ｌｆモモ−−する。第２図に示すように、
ホトマイクルセンただちにスタート信号（ＳＲＴ） ’
（与える。これによシホトダイオードアレイ（１りの出
力回路（２０）から一連の出力信号が得られる。しかし
、これらの出力信号は、セクターミラー（７）の遮光部
分（７ｂ）が光路（−ｅ）にかかる前後を通じて積分さ
れたものなのでデータとして不良であシ、全て無視する
。
ドアレイ分光光度計検出器の一実施例の信号処理回路で
ある。ホトダイオードアレイ（１５）は出力回路（２０
）と一体化されている。その出力回路（２０）は、各ホ
トダイオード（ｅｘ）Ｃｅｚ）・・・・・の出力信号全
各々積分しておシ、スタート信号（ＳＲＴ）が入力され
ると名積分値をクロック信号（ＯＫ）に同期して出力端
子（２０ａ）から出力する。各積分値は出力後に一旦ク
リアされる。クロック信号（ＯＫ）は、たとえば１００
μｓｅｃの周期のノクルヌ信号で、発振器（２１）から
与えられている。出力回路（２０）の出力信号（Ｅ）は
、アンプ（２２）、サンプルホールド回路（２３）謔び
Ａ／Ｄ変換器（２４） ｋ介してマイクロコンピュータ
（２りに入力される。またマイクロコンピュータ（２５
）には前記ホトマイクロセンサ（１８）（］９）からの
信号が入力されている。さらにマイクロコンピュータ（
２５）は、セクターミラー（７）およびスリット円板（
１７）の回転駆動モータ（２６）の駆動信号を出力し、
かつ出力回路（２０）のスタート信号（ＳＲＴ）となる
出力信号ＣＰ）を出力する０次に作動を説明すると、マ
イクロコンピュータ（２５）は、回転駆動モータ（２６
） ’にオンした後、ホトマイクロセンサ（１Ｂ）（１
９）からの（ｌｆモモ−−する。第２図に示すように、
ホトマイクルセンただちにスタート信号（ＳＲＴ） ’
（与える。これによシホトダイオードアレイ（１りの出
力回路（２０）から一連の出力信号が得られる。しかし
、これらの出力信号は、セクターミラー（７）の遮光部
分（７ｂ）が光路（−ｅ）にかかる前後を通じて積分さ
れたものなのでデータとして不良であシ、全て無視する
。
クロック信号（ＣＫ）の周期が１００μＢｅＱで、ホト
ダイオード（ｅｘ） （ｅ＋）・・・・・の数が約５０
０個であったから約５０ｊｌ１８ｅＣで一連の出力信号
の出力が全て終了する。余裕をもたせるために約６０ｍ
Ｓ ｅＣで再びスタート信号（ＳＲＴ）１与える。とれ
により再び一連の出力信号が得られる。これらは光が遮
光部分（７ｂ）でカットされている状態におけるＧｏｍ
ｓｅｃ間の積分値なので、ダーク信号のデータと【７て
記憶する。なお第１回目のスタート信号（ＳＲＴ） ？
！−与えてから２回目の一連の出力信号のサンプリング
全完了するまでの約１２０ ｍｆ３ｅｃ Ｌｆ）６いだ
遮光部分（７ｂ）が光をカットしつづけているように、
セクターミラー（７）の遮光部分（７ｂ）の寸法と回転
速度が規定されているものとする。
ダイオード（ｅｘ） （ｅ＋）・・・・・の数が約５０
０個であったから約５０ｊｌ１８ｅＣで一連の出力信号
の出力が全て終了する。余裕をもたせるために約６０ｍ
Ｓ ｅＣで再びスタート信号（ＳＲＴ）１与える。とれ
により再び一連の出力信号が得られる。これらは光が遮
光部分（７ｂ）でカットされている状態におけるＧｏｍ
ｓｅｃ間の積分値なので、ダーク信号のデータと【７て
記憶する。なお第１回目のスタート信号（ＳＲＴ） ？
！−与えてから２回目の一連の出力信号のサンプリング
全完了するまでの約１２０ ｍｆ３ｅｃ Ｌｆ）６いだ
遮光部分（７ｂ）が光をカットしつづけているように、
セクターミラー（７）の遮光部分（７ｂ）の寸法と回転
速度が規定されているものとする。
次いでマイクロコンピュータ（２５）は、ホトマイクロ
センナ（１９）の出力信号をモニターし、オンになると
ただちにスタート信”１（ＳＲＴ） ′ｆｃ与え、その
後に得られる一連の出力信号全無視し、ａｏｍｓｅｃ後
に再びスタート信号（ＳＲＴ） ｋ与え、その後に得ら
れる一連の出力信す°？レファレンス信号のデータとし
て記憶する。最初の一連の出力信号を無視する理由は、
これらの信号には遮光部分（７ｂ）が光路（ｎ）上にあ
る時間の積分値を含んでおシデータ不良であるからであ
る。なお、約１２０ｍ５ｅＱのあいだミラ一部分が光路
（１）上にあるように、セクター、ミラー（７〕のミラ
一部分の寸法と回転速度が規定されているものとする。
センナ（１９）の出力信号をモニターし、オンになると
ただちにスタート信”１（ＳＲＴ） ′ｆｃ与え、その
後に得られる一連の出力信号全無視し、ａｏｍｓｅｃ後
に再びスタート信号（ＳＲＴ） ｋ与え、その後に得ら
れる一連の出力信す°？レファレンス信号のデータとし
て記憶する。最初の一連の出力信号を無視する理由は、
これらの信号には遮光部分（７ｂ）が光路（ｎ）上にあ
る時間の積分値を含んでおシデータ不良であるからであ
る。なお、約１２０ｍ５ｅＱのあいだミラ一部分が光路
（１）上にあるように、セクター、ミラー（７〕のミラ
一部分の寸法と回転速度が規定されているものとする。
次いでマイクロコンピュータ（２５）は、同様の作動に
よってサンプル信号のデータ金得て記憶する。
よってサンプル信号のデータ金得て記憶する。
ダーク信号のデータｋＤ（λ）、レファレンス信号のデ
ータ２ Ｒ（λ）、サンプル信号のブータラＳ（λ）と
するとき、マイクロコンピュータ（２５）は次式により
吸光度Ａ（λ）と算出する。
ータ２ Ｒ（λ）、サンプル信号のブータラＳ（λ）と
するとき、マイクロコンピュータ（２５）は次式により
吸光度Ａ（λ）と算出する。
ただし、Ｂ（＾）は、サンプル側７０−セ／Ｌ’ （１
１）にキャリア液だけを流したときに得られたダーク信
号のデータ’ｋ Ｄ’（λ）、レファレンス信号のデー
タをＲ／（λ）、サンプル信号のデータｔ Ｓ’（λ）
としたときに次式によ）算出され記憶されているバツク
グンウンド吸光度である。
１）にキャリア液だけを流したときに得られたダーク信
号のデータ’ｋ Ｄ’（λ）、レファレンス信号のデー
タをＲ／（λ）、サンプル信号のデータｔ Ｓ’（λ）
としたときに次式によ）算出され記憶されているバツク
グンウンド吸光度である。
上述のようにして得られたＡ（λ）は、スペクトμとし
て記憶され、あるいはクロマトグラムとしてレコーダ（
図示省略）へ出力される。
て記憶され、あるいはクロマトグラムとしてレコーダ（
図示省略）へ出力される。
（ニ）発明の効果
この発明のホトダイオードアレイ分光光度計検出器によ
れば、光源の輝度変化やホトダイオードの感度変化等の
影響による誤差をキャンセμできる。したがって、測定
精度が向上し、安定なり口マトダラムを得ることができ
るようになる。またウオームアツプ時間を短縮しても安
定に測定を行えるようになる。
れば、光源の輝度変化やホトダイオードの感度変化等の
影響による誤差をキャンセμできる。したがって、測定
精度が向上し、安定なり口マトダラムを得ることができ
るようになる。またウオームアツプ時間を短縮しても安
定に測定を行えるようになる。
第１図はこの発明のホトダイオードアレイ分光光度計検
出器の構成説す］図で、（イ）は光学系、（ロ）はセク
ターミラーの回転位置検出系、（′υは信号処理系であ
る。第２図は第１図（／″−）に示す信号処理系の各信
号のタイムチャートである。
出器の構成説す］図で、（イ）は光学系、（ロ）はセク
ターミラーの回転位置検出系、（′υは信号処理系であ
る。第２図は第１図（／″−）に示す信号処理系の各信
号のタイムチャートである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １゜光源、その光源の光が入射される試料用測定セルと
参照用七μ、分光器、ホトダイオードアレイ、前記試料
用測定セ／Ｌ’ｉ出射し前記分光器で分光された光もし
くは前記参照用セ１ｖヲ出射し前記分光器で分光された
光のいずれか全前記ホトダイオードアレイに受光させる
か又はいずれの光も受光させないよう光を制御する光選
択手段、前記ホトダイオードアレイの出力側に接続され
たサンプルホールド回路、そのサンプルホールド回路の
出力に接続されたＡ／Ｄ変換器およびそのＡ／Ｄ変換器
の出力に接続され前記光選択手段との同期によって試料
信号と参照信号と賠償Ｊ８を区別しこれらに基いて試料
のスベク）／Ｌｔ−演算するデジタル演算手段を具備し
てなるホトダイオードアレイ分光光度計検出器。 ２、光選択手段が、光源と試料用測定セルの間および光
源と参照用セルの間に設けられたセクターミラーである
請求の範囲第１項記載のホトダイオードアレイ分光光度
肝検出器。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10748883A JPS59231425A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器 |
| GB08334656A GB2141536B (en) | 1983-06-14 | 1983-12-30 | Photodiode array spectrophotometric detector |
| DE19833347603 DE3347603C2 (de) | 1983-06-14 | 1983-12-30 | Spektrofotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10748883A JPS59231425A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59231425A true JPS59231425A (ja) | 1984-12-26 |
| JPH052931B2 JPH052931B2 (ja) | 1993-01-13 |
Family
ID=14460481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10748883A Granted JPS59231425A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器 |
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Cited By (1)
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| JPS62167422A (ja) * | 1985-11-30 | 1987-07-23 | Shimadzu Corp | 分光検出器 |
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| DE19956729C1 (de) * | 1999-11-25 | 2001-08-09 | Recipe Chemicals & Instr Gmbh | Elektrochemischer Detektor und diesbezügliches Auswertegerät |
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| CN114200068B (zh) * | 2021-12-08 | 2024-04-26 | 大连依利特分析仪器有限公司 | 一种具有参比端的二极管阵列检测器及控制方法 |
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Family Cites Families (2)
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1983
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- 1983-12-30 DE DE19833347603 patent/DE3347603C2/de not_active Expired
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Also Published As
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| GB8334656D0 (en) | 1984-02-08 |
| DE3347603A1 (de) | 1984-12-20 |
| JPH052931B2 (ja) | 1993-01-13 |
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| GB2141536B (en) | 1987-02-18 |
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