JPS631937A - 分光分析装置 - Google Patents
分光分析装置Info
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- JPS631937A JPS631937A JP61144936A JP14493686A JPS631937A JP S631937 A JPS631937 A JP S631937A JP 61144936 A JP61144936 A JP 61144936A JP 14493686 A JP14493686 A JP 14493686A JP S631937 A JPS631937 A JP S631937A
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- metal halide
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- halide lamp
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- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 claims abstract description 14
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- -1 dysprosium halide Chemical class 0.000 claims description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 9
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 abstract description 5
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 abstract 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract 1
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 7
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 6
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 6
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 4
- KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N dysprosium atom Chemical compound [Dy] KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000004811 liquid chromatography Methods 0.000 description 3
- QKEOZZYXWAIQFO-UHFFFAOYSA-M mercury(1+);iodide Chemical compound [Hg]I QKEOZZYXWAIQFO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- GQKYKPLGNBXERW-UHFFFAOYSA-N 6-fluoro-1h-indazol-5-amine Chemical compound C1=C(F)C(N)=CC2=C1NN=C2 GQKYKPLGNBXERW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000003053 toxin Substances 0.000 description 1
- 231100000765 toxin Toxicity 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/02—Details
- H01J61/12—Selection of substances for gas fillings; Specified operating pressure or temperature
- H01J61/18—Selection of substances for gas fillings; Specified operating pressure or temperature having a metallic vapour as the principal constituent
- H01J61/20—Selection of substances for gas fillings; Specified operating pressure or temperature having a metallic vapour as the principal constituent mercury vapour
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/33—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は分光分析装置に係り、特に、紫外領域から可視
領域の波長域において使用するのに好適な分光分析装置
に関する。
領域の波長域において使用するのに好適な分光分析装置
に関する。
分光分析の分野においては、紫外領域から17f視領域
にわたる広い波長領域の光が用いられている。
にわたる広い波長領域の光が用いられている。
分光分析装置の中でも物質の吸収により定性、定量分析
を行う装置の光源には、特に光I(′、力の時間的ゆら
ぎの少ないことが重要となってくる。ところが、単独の
光源で、紫外領域から可視領域にわたる発光スペクトル
を持ち、なおかつき1c出力のゆらぎのすくないものは
ないのが現状である。例えば、この領域で発光スペクト
ルを持つ光源として、キセノンシゴートアークランプが
あるが、光出力の時間的ゆらぎが大きいため用いられて
いない。
を行う装置の光源には、特に光I(′、力の時間的ゆら
ぎの少ないことが重要となってくる。ところが、単独の
光源で、紫外領域から可視領域にわたる発光スペクトル
を持ち、なおかつき1c出力のゆらぎのすくないものは
ないのが現状である。例えば、この領域で発光スペクト
ルを持つ光源として、キセノンシゴートアークランプが
あるが、光出力の時間的ゆらぎが大きいため用いられて
いない。
また、光出力の時間的ゆらぎの少ないものとして、重水
素放電ランプやタングステンランプがある。
素放電ランプやタングステンランプがある。
しかし、重水素放電ランプは紫外部での発光スペクトル
は強いものの可視域で弱く、−方、タングステンランプ
は可視域で強いものの紫外域で弱い。
は強いものの可視域で弱く、−方、タングステンランプ
は可視域で強いものの紫外域で弱い。
このため、これらのランプもm独では紫外領域から可視
領域までをみたすことができない。したがって、従来の
装置においては、波長350nmを境にしてそれより短
波長側では重水素放電ランプを、長波長側ではタングス
テンランプを光源とするように、ミラー等を用いて機械
的に入射光を切り変える構成が採用されている。このた
め、機構が複雑になる、また、光源を切り換える波長に
おいて光軸が完全には一致しないことから測定値に段差
が生じる、等の不具合があった。
領域までをみたすことができない。したがって、従来の
装置においては、波長350nmを境にしてそれより短
波長側では重水素放電ランプを、長波長側ではタングス
テンランプを光源とするように、ミラー等を用いて機械
的に入射光を切り変える構成が採用されている。このた
め、機構が複雑になる、また、光源を切り換える波長に
おいて光軸が完全には一致しないことから測定値に段差
が生じる、等の不具合があった。
また、紫外域から可視域にわたる光源として、重水素放
電ランプとタングステンランプを一体構成にしたランプ
が「分光研究」第27巻(1978) 。
電ランプとタングステンランプを一体構成にしたランプ
が「分光研究」第27巻(1978) 。
421〜425頁に記載されている。しかし、このラン
プにおいては、重水素放電ランプとタングステンランプ
の発光点が異なるので、光軸上に両方の発光点がくるよ
うに調整するのが難しい、また重水素放電ランプとタン
グステンランプの両方の電源が必要である、などの問題
点を有している。
プにおいては、重水素放電ランプとタングステンランプ
の発光点が異なるので、光軸上に両方の発光点がくるよ
うに調整するのが難しい、また重水素放電ランプとタン
グステンランプの両方の電源が必要である、などの問題
点を有している。
上述したように、従来技術においては、適切な光源が無
いため、装置が複雑で高価になる、測定結果の信頼性が
劣る、などの問題点があった。
いため、装置が複雑で高価になる、測定結果の信頼性が
劣る、などの問題点があった。
本発明の目的は、従来のような異なる種類の光源を複数
個用いて波長域により切り変えるのではなく、単一の光
源で紫外域から可視域までの測定を行うことができる分
光分析装置を提供することにある。
個用いて波長域により切り変えるのではなく、単一の光
源で紫外域から可視域までの測定を行うことができる分
光分析装置を提供することにある。
上記目的は、光源として、少なくとも水銀とハロゲン化
ジスプロシウムを封入したメタルハライドランプを用い
ることにより、達成される。
ジスプロシウムを封入したメタルハライドランプを用い
ることにより、達成される。
上記メタルハライドランプは、水銀原子、水銀分子、ヨ
ウ化水銀、ジスプロシウムなどの発光によって、約22
0nmから約700nmの範囲にわたって有効なスペク
トルを持つので、この波長領域で用いる分光分析装置の
光源として単一ですませろことができる。
ウ化水銀、ジスプロシウムなどの発光によって、約22
0nmから約700nmの範囲にわたって有効なスペク
トルを持つので、この波長領域で用いる分光分析装置の
光源として単一ですませろことができる。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図において、1はハロゲン化ジスプロシウムを含むメタ
ルハライドランプ、2はレンズ、3は試料セル、4は分
光器、5は凹面回折格子、6はホトダイオードアレイ、
7は信号処理回路である。メタルハライドランプlから
発した光はレンズ2により分光器4の入口スリット上に
結像される。入口スリットの直前には測定すべき試料を
入れた試料セル3が配置され、試料に応じた波長の光が
吸収される。試料セル3を通過して分光器4に入った光
は凹面回折格子5により分光され、ホトダイオードアレ
イ6の上にそれぞれの波長に応じて結像される。ホトダ
イオードアレイ6上に結像される波長域は220nmか
ら700nmの範囲にわたっており、この波長域の吸収
スペクトルを同時に測定することができる。従来は紫外
域から可視域にわたる適切な光源がないため不可能であ
ったが、本実施例によれば、紫外域から可視域にわたる
測定が瞬時に行えるようになる。また、この特徴は、液
体クロマトグラフィーの検出器として用いるとさらに効
果的である。すなわち、試料3を、液体クロマトグラフ
ィーのフローセルとする。液体クロマトグラフィーでは
検出器を通過する試料が時間約に変化するので、全波長
域の測定を瞬時に行わねばならない。従来は重水素放電
ランプにより紫外域のみの測定しかできなかったが、本
実施例によれば紫外域から可視域にわたる三元クロマI
・ダラム(吸収スペクトルの時間的変化を示すりaマド
グラム)が容易に得られる。
図において、1はハロゲン化ジスプロシウムを含むメタ
ルハライドランプ、2はレンズ、3は試料セル、4は分
光器、5は凹面回折格子、6はホトダイオードアレイ、
7は信号処理回路である。メタルハライドランプlから
発した光はレンズ2により分光器4の入口スリット上に
結像される。入口スリットの直前には測定すべき試料を
入れた試料セル3が配置され、試料に応じた波長の光が
吸収される。試料セル3を通過して分光器4に入った光
は凹面回折格子5により分光され、ホトダイオードアレ
イ6の上にそれぞれの波長に応じて結像される。ホトダ
イオードアレイ6上に結像される波長域は220nmか
ら700nmの範囲にわたっており、この波長域の吸収
スペクトルを同時に測定することができる。従来は紫外
域から可視域にわたる適切な光源がないため不可能であ
ったが、本実施例によれば、紫外域から可視域にわたる
測定が瞬時に行えるようになる。また、この特徴は、液
体クロマトグラフィーの検出器として用いるとさらに効
果的である。すなわち、試料3を、液体クロマトグラフ
ィーのフローセルとする。液体クロマトグラフィーでは
検出器を通過する試料が時間約に変化するので、全波長
域の測定を瞬時に行わねばならない。従来は重水素放電
ランプにより紫外域のみの測定しかできなかったが、本
実施例によれば紫外域から可視域にわたる三元クロマI
・ダラム(吸収スペクトルの時間的変化を示すりaマド
グラム)が容易に得られる。
第2図に本発明の他の実施例を示す。これは、フーリエ
変換型の分光光度計に本発明を適用した例である。第2
図において、1は光源でハロゲン化ジスプロシウムを含
むメタルハライドランプ、12はビームスプリッタ、1
3は固定鏡、14は移動鏡、15は試料セル、16およ
び18は光検出器、17はレーザ、19は信号処理回路
、20および21はレンズである。光源のメタルハライ
ドランプから発した光はレンズ20により平行光線とな
り、ビームスプリッタ12により2方向に分けられる。
変換型の分光光度計に本発明を適用した例である。第2
図において、1は光源でハロゲン化ジスプロシウムを含
むメタルハライドランプ、12はビームスプリッタ、1
3は固定鏡、14は移動鏡、15は試料セル、16およ
び18は光検出器、17はレーザ、19は信号処理回路
、20および21はレンズである。光源のメタルハライ
ドランプから発した光はレンズ20により平行光線とな
り、ビームスプリッタ12により2方向に分けられる。
−方の光は固定鏡13により反射され、ビームスプリッ
タ12にもどる。他方の光は移動鏡I4により反射され
ビームスプリッタ12にもどる。これらの光は干渉し、
レンズ12により集光され試料セルI5を通過して光検
出器16に入射する。移動鏡14の位置をモニタするた
めにレーザ]7から出た光も上記と同様に干渉させ、そ
の干渉光を光検出器18に入射させる。すなわち、信号
処理回路19には、移動鏡14の移動により生ずるレー
ザ光の干渉出力に同期して光検出器16の信号を取り込
むのである。データの取り込みが終了したの後、信号処
理回路19ではフーリエ変換を行って、吸収スペクトル
を得るように構成されている。このようなフーリエ変換
型分光光度剖では、測定できる波長域は光源の発光スペ
クトルに依存する。したがって、本実施例によれば、従
来不可能であった紫外域から可視域にわたるフーリエ変
換型分光光度H1が実現できる。
タ12にもどる。他方の光は移動鏡I4により反射され
ビームスプリッタ12にもどる。これらの光は干渉し、
レンズ12により集光され試料セルI5を通過して光検
出器16に入射する。移動鏡14の位置をモニタするた
めにレーザ]7から出た光も上記と同様に干渉させ、そ
の干渉光を光検出器18に入射させる。すなわち、信号
処理回路19には、移動鏡14の移動により生ずるレー
ザ光の干渉出力に同期して光検出器16の信号を取り込
むのである。データの取り込みが終了したの後、信号処
理回路19ではフーリエ変換を行って、吸収スペクトル
を得るように構成されている。このようなフーリエ変換
型分光光度剖では、測定できる波長域は光源の発光スペ
クトルに依存する。したがって、本実施例によれば、従
来不可能であった紫外域から可視域にわたるフーリエ変
換型分光光度H1が実現できる。
また、他の実施例として、ハロゲン化ジスプロシウムを
含むメタルハライドランプを光源とし、回折格子を機械
的に回転させて試料の吸収スペクトルを測定するように
構成することもできる。この構成によれば、従来、重水
素放電ランプとタングステンランプとを波長域により切
り変えていた方式と比べ、光源の切り変えが無いため機
構が簡琳で安価となる、また、測定値に光源切り変え時
の段差がなくなるなどのすぐれた利点をもつ分光光度計
が実現できる。
含むメタルハライドランプを光源とし、回折格子を機械
的に回転させて試料の吸収スペクトルを測定するように
構成することもできる。この構成によれば、従来、重水
素放電ランプとタングステンランプとを波長域により切
り変えていた方式と比べ、光源の切り変えが無いため機
構が簡琳で安価となる、また、測定値に光源切り変え時
の段差がなくなるなどのすぐれた利点をもつ分光光度計
が実現できる。
第3図に、本発明に用いられるメタルハライドランプの
一実施例を示す。石英製の外管32の中に、石英製の発
光管31が固定されている。リ−1’線33および34
により発光管31中の一約のL電極37.38と外部電
源(図示省略)とが電気的に接続されている。ステム部
分35は、リー1−線34.35か封止可能な膨張係数
の大きなガラスで構成され、中間ガラス36を介して石
英製の外管32に接続している。
一実施例を示す。石英製の外管32の中に、石英製の発
光管31が固定されている。リ−1’線33および34
により発光管31中の一約のL電極37.38と外部電
源(図示省略)とが電気的に接続されている。ステム部
分35は、リー1−線34.35か封止可能な膨張係数
の大きなガラスで構成され、中間ガラス36を介して石
英製の外管32に接続している。
発光管31の内容積は約0.3d、主電棒37.:(8
間距離は]、0nynである。発光管31中には水銀、
ジスプロシウム、ヨウ化水銀および点灯始動用の弄ノノ
スを封入して製作する。製作後、電気炉中に数時間放置
するか、数時間点灯することにより、蒸気圧の低いジス
プロシウムはヨウ素と反応して5!へ気圧の高いヨウ化
ジスプロシウムとなり、放電による発光に寄与するよう
になる。第4図に、このようにして得られたメタルハラ
イドランプの発光スベク7一 1〜ルの測定結果を示す。約220nmから約700n
mの範囲にわたって強いスペクトルを持っていることが
示されている。
間距離は]、0nynである。発光管31中には水銀、
ジスプロシウム、ヨウ化水銀および点灯始動用の弄ノノ
スを封入して製作する。製作後、電気炉中に数時間放置
するか、数時間点灯することにより、蒸気圧の低いジス
プロシウムはヨウ素と反応して5!へ気圧の高いヨウ化
ジスプロシウムとなり、放電による発光に寄与するよう
になる。第4図に、このようにして得られたメタルハラ
イドランプの発光スベク7一 1〜ルの測定結果を示す。約220nmから約700n
mの範囲にわたって強いスペクトルを持っていることが
示されている。
〔発明の効果〕
以」二説明したように、本発明によれば、紫外域から可
視域にわたる測定が単一の光源で実現できるので、光源
の切り変えが不要となり機構が簡単で安価となり、かつ
、測定値に光源切り変えに伴う段差がなくなって信頼性
の高い測定が行える効果がある。
視域にわたる測定が単一の光源で実現できるので、光源
の切り変えが不要となり機構が簡単で安価となり、かつ
、測定値に光源切り変えに伴う段差がなくなって信頼性
の高い測定が行える効果がある。
第1図および第2図はそれぞれ本発明の一実施例を示す
図、第3図は本発明に用いるメタルハライドランプの一
実施例を示す図、第4図はその発光スペクトルの測定結
果を示す図である。 〈符号の説明〉 トハロゲン化ジスプロシウムを封入したメタルハライド
ランプ 3.15・・試料セル 5・・凹面回折格子6・・
ホトダイオードアレイ 7.19・・・信号処理回路 12・・・ビームスプリ
ッタ13・・固定鏡 14・・・移動鏡16、
18 光検出器 17 レーザ31・石英製の発
光管 32・・石英製の外管33.34・・・リード線
35・・ステム部分36・・・中間ガラス 3
7.38・主電極代理人弁理士 中 村 純之助 第1図 1− 光群 第3図 31−−−61f!製の発先管 37.3B−一一主電槽
図、第3図は本発明に用いるメタルハライドランプの一
実施例を示す図、第4図はその発光スペクトルの測定結
果を示す図である。 〈符号の説明〉 トハロゲン化ジスプロシウムを封入したメタルハライド
ランプ 3.15・・試料セル 5・・凹面回折格子6・・
ホトダイオードアレイ 7.19・・・信号処理回路 12・・・ビームスプリ
ッタ13・・固定鏡 14・・・移動鏡16、
18 光検出器 17 レーザ31・石英製の発
光管 32・・石英製の外管33.34・・・リード線
35・・ステム部分36・・・中間ガラス 3
7.38・主電極代理人弁理士 中 村 純之助 第1図 1− 光群 第3図 31−−−61f!製の発先管 37.3B−一一主電槽
Claims (1)
- 1、光源と、この光源からの光を単色光に分光する手段
と、この分光手段を通過した光の光量を検出する検出器
と、この検出出力信号を処理する手段と、被測定試料を
上記光源から上記検出器に至る光路中に設置する手段と
を有する分光分析装置において、上記光源が少なくとも
水銀およびハロゲン化ジスプロシウムを含むメタルハラ
イドランプであり、上記分光手段が少なくとも220〜
700nmの波長範囲にわたって分光する分光手段であ
ることを特徴とする分光分析装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61144936A JPS631937A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 分光分析装置 |
US07/063,921 US4755056A (en) | 1986-06-23 | 1987-06-19 | Instrument for spectroscopy having metal halide lamp as light source |
DE19873720732 DE3720732A1 (de) | 1986-06-23 | 1987-06-23 | Vorrichtung zur spektroskopie mit einer metall-halogenidlampe als lichtquelle |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61144936A JPS631937A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 分光分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS631937A true JPS631937A (ja) | 1988-01-06 |
Family
ID=15373637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61144936A Pending JPS631937A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 分光分析装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4755056A (ja) |
JP (1) | JPS631937A (ja) |
DE (1) | DE3720732A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04132939A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-07 | Kubota Corp | 光学式穀粒分析装置 |
JP2007285847A (ja) * | 2006-04-17 | 2007-11-01 | Hitachi High-Tech Manufacturing & Service Corp | 分光光度計 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62103529A (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-14 | Toshiba Corp | 複合管 |
US5050991A (en) * | 1989-09-29 | 1991-09-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | High optical density measuring spectrometer |
DE4118168A1 (de) * | 1991-06-03 | 1993-01-21 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Anordnung zur bestimmung von fett und eiweiss |
EP0772029B1 (de) * | 1992-08-13 | 2002-07-24 | Meinrad Mächler | Spektroskopische Systeme zur Analyse von kleinen und kleinsten Substanzmengen |
DE4226884C1 (de) * | 1992-08-13 | 1994-03-10 | Meinrad Maechler | Spektroskopisches System zur Durchführung der Mikroanalytik |
US5483335A (en) * | 1993-03-18 | 1996-01-09 | Tobias; Reginald | Multiplex spectroscopy |
EP0634780B1 (en) * | 1993-07-13 | 1997-01-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Metal halide discharge lamp, illumination optical apparatus, and image display system |
DE19544481A1 (de) * | 1995-11-29 | 1997-06-05 | Laser Sorter Gmbh | Beleuchtungseinrichtung mit Halogen-Metalldampflampen |
WO2002026121A1 (en) * | 2000-09-26 | 2002-04-04 | Calhoun Vision, Inc. | Power adjustment of adjustable lens |
US6963399B2 (en) | 2001-10-18 | 2005-11-08 | Cargill Robert L | Method and apparatus for quantifying an “integrated index” of a material medium |
US11266495B2 (en) | 2019-10-20 | 2022-03-08 | Rxsight, Inc. | Light adjustable intraocular lens with a modulable absorption front protection layer |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3452238A (en) * | 1966-12-05 | 1969-06-24 | Westinghouse Electric Corp | Metal vapor discharge lamp |
DE1572703A1 (de) * | 1967-04-06 | 1970-03-12 | Howaldtswerke Deutsche Werft | Vorrichtung zur schnellen Aufnahme von Absorptions-und Extinktionsspektren |
US3842307A (en) * | 1971-02-11 | 1974-10-15 | Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh | High pressure mercury vapor discharge lamp with metal halide additives |
DE2519377A1 (de) * | 1975-04-30 | 1976-11-11 | Patra Patent Treuhand | Quecksilberdampf-hochdruckentladungslampe |
DE2616893A1 (de) * | 1976-04-15 | 1977-11-03 | Patra Patent Treuhand | Bestrahlungslampe |
US4206387A (en) * | 1978-09-11 | 1980-06-03 | Gte Laboratories Incorporated | Electrodeless light source having rare earth molecular continua |
US4229673A (en) * | 1979-01-18 | 1980-10-21 | Westinghouse Electric Corp. | Mercury metal-halide lamp including neodymium iodide, cesium and sodium iodide |
US4462685A (en) * | 1981-03-04 | 1984-07-31 | Instrumentation Laboratory Inc. | Spectroanalytical system |
DD159565A1 (de) * | 1981-05-25 | 1983-03-16 | Joachim Mohr | Verfahren und anordnung zur durchfuehrung einer spektralanalyse |
JPS59215654A (ja) * | 1983-05-24 | 1984-12-05 | Hamamatsu Photonics Kk | 改良された複合光源ランプ |
JPS59231425A (ja) * | 1983-06-14 | 1984-12-26 | Shimadzu Corp | ホトダイオ−ドアレイ分光光度計検出器 |
DE3427280C2 (de) * | 1984-07-24 | 1986-06-12 | Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH, 8000 München | Metallhalogenid-Hochdruckentladungslampe |
US4692883A (en) * | 1985-02-21 | 1987-09-08 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic digital wavelength calibration system for a spectrophotometer |
-
1986
- 1986-06-23 JP JP61144936A patent/JPS631937A/ja active Pending
-
1987
- 1987-06-19 US US07/063,921 patent/US4755056A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-06-23 DE DE19873720732 patent/DE3720732A1/de active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04132939A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-07 | Kubota Corp | 光学式穀粒分析装置 |
JP2007285847A (ja) * | 2006-04-17 | 2007-11-01 | Hitachi High-Tech Manufacturing & Service Corp | 分光光度計 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4755056A (en) | 1988-07-05 |
DE3720732A1 (de) | 1988-01-14 |
DE3720732C2 (ja) | 1991-11-14 |
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