JPH0443786Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0443786Y2 JPH0443786Y2 JP1984164556U JP16455684U JPH0443786Y2 JP H0443786 Y2 JPH0443786 Y2 JP H0443786Y2 JP 1984164556 U JP1984164556 U JP 1984164556U JP 16455684 U JP16455684 U JP 16455684U JP H0443786 Y2 JPH0443786 Y2 JP H0443786Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dark current
- current measurement
- light
- filter
- spectrophotometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 20
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本考案は分光光度計における暗電流補正に関す
る。
る。
ロ 従来の技術
従来分光光度計では回折格子の高次光カツトフ
イルター等の光路内に出入させる素子とは別に暗
電流測定のためのシヤツターを用いていた。この
ように暗電流測定用のシヤツターを高次光カツト
フイルター等と別にしておくことは、二光束分光
光度計で試料側光のみをカツトするようなときに
は有用であるが、これも光検出器に光電子増倍管
のような内部増倍機能を有する素子を用いた場合
のことで、ホトダイオード等の内部増倍機能を持
たない素子を用いている場合には格別の意味はな
い。即ちホトダイオード等では暗電流の値はその
素子個有の定数であるが、光電子増倍管を用いる
場合、対照側の測光出力が一定になるように光電
子増倍管の感度を制御しているので、感度制御に
伴い暗電流値も変化するから、暗電流のデータを
得る場合、両光束を共にカツトしては意味がな
く、試料側光だけをカツトすると云う機能が必要
となるのである。また単光束分光光度計では暗電
流測定のためのシヤツターを高次光カツトフイル
ター等と独立して設ける必然性は全くない。この
ように高次光カツトフイルター等と暗電流測定の
ためのシヤツターとを相互独立に設けることは特
別の場合を除いて格別意味がないのであるが、従
来はこの両者を別々に設けており、装置が不必要
に複雑になつていた。
イルター等の光路内に出入させる素子とは別に暗
電流測定のためのシヤツターを用いていた。この
ように暗電流測定用のシヤツターを高次光カツト
フイルター等と別にしておくことは、二光束分光
光度計で試料側光のみをカツトするようなときに
は有用であるが、これも光検出器に光電子増倍管
のような内部増倍機能を有する素子を用いた場合
のことで、ホトダイオード等の内部増倍機能を持
たない素子を用いている場合には格別の意味はな
い。即ちホトダイオード等では暗電流の値はその
素子個有の定数であるが、光電子増倍管を用いる
場合、対照側の測光出力が一定になるように光電
子増倍管の感度を制御しているので、感度制御に
伴い暗電流値も変化するから、暗電流のデータを
得る場合、両光束を共にカツトしては意味がな
く、試料側光だけをカツトすると云う機能が必要
となるのである。また単光束分光光度計では暗電
流測定のためのシヤツターを高次光カツトフイル
ター等と独立して設ける必然性は全くない。この
ように高次光カツトフイルター等と暗電流測定の
ためのシヤツターとを相互独立に設けることは特
別の場合を除いて格別意味がないのであるが、従
来はこの両者を別々に設けており、装置が不必要
に複雑になつていた。
このため高次光カツト用の複数のフイルターの
境界に遮光部を設け、上記フイルターを分光器の
波長駆動と連動させて切換え、その切換え途中で
上記遮光部を利用して暗電流を測定するようにす
ることが提案されているが（特開昭56−145323
号）、暗電流測定が分光器の波長駆動と連動して
いるため、フイルター切換えを要しない波長範囲
での測定が繰返されるような場合は暗電流補正の
ためのデータを得る機会がないと云う問題があ
る。
境界に遮光部を設け、上記フイルターを分光器の
波長駆動と連動させて切換え、その切換え途中で
上記遮光部を利用して暗電流を測定するようにす
ることが提案されているが（特開昭56−145323
号）、暗電流測定が分光器の波長駆動と連動して
いるため、フイルター切換えを要しない波長範囲
での測定が繰返されるような場合は暗電流補正の
ためのデータを得る機会がないと云う問題があ
る。
ハ 考案が解決しようとする問題点
本考案は分光光度計における上述したような不
要な複雑さを除去しようとするものである。
要な複雑さを除去しようとするものである。
ニ 目的を達成するための手段
本考案では高次高カツトフイルター部材と結合
させて暗電流測定のための光束遮断部材を設け、
更に暗電流測定モードを選択する手段を設けて、
上記選択を行つたとき、上記フイルターの切換え
機構を利用して上記光束遮断部材を光路内に出入
させるようにした。
させて暗電流測定のための光束遮断部材を設け、
更に暗電流測定モードを選択する手段を設けて、
上記選択を行つたとき、上記フイルターの切換え
機構を利用して上記光束遮断部材を光路内に出入
させるようにした。
ホ 作用
本考案によれば暗電流補正データを得る場合、
随時暗電流測定モードを選択することで、高次光
カツトフイルター切換え機構を操作して光束遮断
部材を光路内に挿入すればよい。
随時暗電流測定モードを選択することで、高次光
カツトフイルター切換え機構を操作して光束遮断
部材を光路内に挿入すればよい。
ヘ 実施例
第１図は本考案の一実施例における高次光カツ
トフイルタを示す。Ｆ１〜Ｆ４はフイルター部材
であり、一つの円板１の四個の窓に取付けられて
おり、この窓との間の部分２が光束遮断部材とな
つている。
トフイルタを示す。Ｆ１〜Ｆ４はフイルター部材
であり、一つの円板１の四個の窓に取付けられて
おり、この窓との間の部分２が光束遮断部材とな
つている。
第２図は本考案の一実施例の分光光度計を示
す。１１は光源１２が第１図に示したフイルター
で、１３は分光器、１４は試料、１５は光検出
器、１６はプリアンプで１７は暗電流補正回路で
ある。１９は分光光度計全体を制御している制御
装置で、暗電流測定モードに設定すると、駆動装
置２０を制御してフイルター１２における光束遮
断部材２の部分を光路内に位置させ、分光器１３
への入射光を遮断すると同時にスイツチ１０を
ONにする。１８は暗電流値をラツチするコンデ
ンサで、スイツチ１０を介して暗電流補正回路７
の出力が印加され、このときの暗電流補正回路１
７の出力は暗電流値であるから、その後スイツチ
１０がOFFになると、コンデンサ１８に暗電流
値がラツチされる。これで暗電流測定動作は終了
する。その後フイルタ部材Ｆ１〜Ｆ４のうち適当
なものを指定して光路内に挿入して試料の測定を
行う。この測定時には暗電流補正回路１７でプリ
アンプ１６の出力からラツチされている暗電流値
を引算した信号が出力され、暗電流補正が行われ
る。
す。１１は光源１２が第１図に示したフイルター
で、１３は分光器、１４は試料、１５は光検出
器、１６はプリアンプで１７は暗電流補正回路で
ある。１９は分光光度計全体を制御している制御
装置で、暗電流測定モードに設定すると、駆動装
置２０を制御してフイルター１２における光束遮
断部材２の部分を光路内に位置させ、分光器１３
への入射光を遮断すると同時にスイツチ１０を
ONにする。１８は暗電流値をラツチするコンデ
ンサで、スイツチ１０を介して暗電流補正回路７
の出力が印加され、このときの暗電流補正回路１
７の出力は暗電流値であるから、その後スイツチ
１０がOFFになると、コンデンサ１８に暗電流
値がラツチされる。これで暗電流測定動作は終了
する。その後フイルタ部材Ｆ１〜Ｆ４のうち適当
なものを指定して光路内に挿入して試料の測定を
行う。この測定時には暗電流補正回路１７でプリ
アンプ１６の出力からラツチされている暗電流値
を引算した信号が出力され、暗電流補正が行われ
る。
上述実施例は単光束分光光度計に関するもので
あるが、本考案は二光束分光光度計にも適用でき
ることは云うまでもない。この場合、光束遮断部
材は対照側、試料側両光束を同時にカツトできる
位置に挿入されることになるので、両方の暗電流
値を計測することができ、ホトダイオード等内部
増倍機能を持たない検出器を対照側、試料側夫々
に独立して配置した２検出器方式の分光光度計で
は特に有意義である。
あるが、本考案は二光束分光光度計にも適用でき
ることは云うまでもない。この場合、光束遮断部
材は対照側、試料側両光束を同時にカツトできる
位置に挿入されることになるので、両方の暗電流
値を計測することができ、ホトダイオード等内部
増倍機能を持たない検出器を対照側、試料側夫々
に独立して配置した２検出器方式の分光光度計で
は特に有意義である。
ト 効果
本考案によれば、暗電流測定用のシヤツター装
置が不要で、高次光カツトフイルター及びその切
換え機構が利用されているので、分光光度計の機
構が簡単化される。また暗電流測定モードが選択
可能であるため、フイルタ切換えを要しない波長
範囲の測定であつても、随時任意に暗電流測定が
可能で、暗電流測定が測定波長範囲に拘束されな
い。
置が不要で、高次光カツトフイルター及びその切
換え機構が利用されているので、分光光度計の機
構が簡単化される。また暗電流測定モードが選択
可能であるため、フイルタ切換えを要しない波長
範囲の測定であつても、随時任意に暗電流測定が
可能で、暗電流測定が測定波長範囲に拘束されな
い。
第１図は本考案の一実施例における高次光カツ
トフイルターの正面図、第２図は本考案の一実施
例の構成を示すブロツク図である。
トフイルターの正面図、第２図は本考案の一実施
例の構成を示すブロツク図である。
Claims (1)
- 高次光カツトフイルター部材と結合させて暗電
流測定のための光束遮断部材を設けると共に、暗
電流測定モードを選択する手段を設けて、同手段
により暗電流測定モードを選択したとき、上記フ
イルターの切換え機構を利用して上記光束遮断部
材が光路内に位置せしめられるようにしてなる分
光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984164556U JPH0443786Y2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984164556U JPH0443786Y2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6179229U JPS6179229U (ja) | 1986-05-27 |
| JPH0443786Y2 true JPH0443786Y2 (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=30722417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1984164556U Expired JPH0443786Y2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0443786Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0675004B2 (ja) * | 1989-08-31 | 1994-09-21 | 株式会社島津製作所 | 測光装置の暗電流補正装置 |
| WO2021215034A1 (ja) * | 2020-04-23 | 2021-10-28 | 株式会社島津製作所 | 分光測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5142958A (ja) * | 1974-10-11 | 1976-04-12 | Hitachi Ltd | Konseishusekikairosochinadonishosarerukiban oyobi sonosenjohoho |
| JPS56145323A (en) * | 1980-04-14 | 1981-11-12 | Toshiba Corp | Spectrophotometer |
-
1984
- 1984-10-29 JP JP1984164556U patent/JPH0443786Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5142958A (ja) * | 1974-10-11 | 1976-04-12 | Hitachi Ltd | Konseishusekikairosochinadonishosarerukiban oyobi sonosenjohoho |
| JPS56145323A (en) * | 1980-04-14 | 1981-11-12 | Toshiba Corp | Spectrophotometer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6179229U (ja) | 1986-05-27 |
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