JP3451536B2 - 土壌の光学特性測定装置 - Google Patents

土壌の光学特性測定装置

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JP3451536B2
JP3451536B2 JP25433297A JP25433297A JP3451536B2 JP 3451536 B2 JP3451536 B2 JP 3451536B2 JP 25433297 A JP25433297 A JP 25433297A JP 25433297 A JP25433297 A JP 25433297A JP 3451536 B2 JP3451536 B2 JP 3451536B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は土壌の光学特性測定
装置に関する。特に、土壌の光学特性を測定し、土壌の
成分を分析するための光学特性測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】農産物の収量を増加させるためには、土
壌中の有機成分や肥料等の不足分を補給し、耕作地全体
の土壌の均質化を図る必要がある。そのためには、土壌
の成分を分析する必要があり、特にリアルタイムに成分
分析することが望まれる。
【0003】そのための土壌成分分析装置としては、図
1に示すようなものが知られている(Soil Organic Mat
ter, CEC, and Moisture Sensing with a Portable NIR
Spectrophotometer; K. A. Sudduth, J. W. Hummel: T
ransactions of the ASAE, 1993 Vol.36, 1571-158
2)。この土壌成分分析装置1は、トラクタ後部の鋤2
の直後に取り付けられており、トラクタで土壌成分分析
装置1を牽引して圃場を移動し、鋤2で露出させられた
新しい土壌面3を土壌成分分析装置1で分析し、土壌中
の有機物量や水分等を測定するものである。
【0004】この土壌成分分析装置1においては、光源
4から放射された白色光は、集光レンズ5によりバンド
ル光ファイバ6の一方端面に集光される。このとき、集
光レンズ5で集光された白色光は、スリット板7及び波
長選択フィルタ8を通過してバンドル光ファイバ6の端
面に入射する。波長選択フィルタ8は、図2に示すよう
な円板状をしたフィルタディスク9の扇形開口10に設
けられており、フィルタディスク9の円周方向に沿って
選択波長(透過波長)が連続的に変化するように配設さ
れている。フィルタディスク9は回転モータ11によっ
て回転駆動される。スリット板7の開口12はフィルタ
ディスク9の半径方向に沿って細長く位置しているの
で、フィルタディスク9が回転していると、スリット板
7及び波長選択フィルタ8を通過してバンドル光ファイ
バ6の端面に入射する単色の測定光の波長は連続的に変
化する。波長選択フィルタ8による選択波長は、400
〜2500nmの範囲の紫外光から近赤外光を用いるこ
とが多い。回転モータ11によるフィルタディスク9の
回転は、モータ制御部13によって制御されており、モ
ータ制御信号はモータ制御部13からデータ処理装置1
4へも送出されているので、データ処理装置14ではバ
ンドル光ファイバ6の端面に入射されている測定光(単
色光)の波長を認識している。バンドル光ファイバ6の
他端は投受光箱15へ導かれており、バンドル光ファイ
バ6の一方端面から入射した測定光は、バンドル光ファ
イバ6内部を伝搬して他方端面から出射し、投受光箱1
5の底面に設けられた石英窓16を透過し、鋤2によっ
て露出させられた耕作地等の新しい土壌面3へ照射され
る。
【0005】こうして土壌面3に照射された単色の測定
光は土壌面3で散乱反射され、散乱反射光は石英窓16
を通って再び投受光箱15内へ戻る。投受光箱15内へ
戻った散乱反射光の一部は、投受光箱15内部のバンド
ル光ファイバ6近傍に設けられた光検出器17で受光さ
れる。光検出器17は、受光した散乱反射光の強度に応
じた受光信号をデータ処理装置14へ送信する。
【0006】ついで、データ処理装置14は、図3に示
すように、モータ制御部13から受け取ったモータ制御
信号を測定光の波長データに変換し(S1)、この波長
データと光検出器17における受光信号とから当該土壌
の散乱反射光の光スペクトルを作成し(S2)、この散
乱反射光の光スペクトル強度に関するデータを、予め作
成してある所定の回帰式に代入する(S3)ことによっ
て当該土壌の成分を分析し、分析結果を表示部(図示せ
ず)に表示する(S4)。なお、回帰式は、多変量解析
として知られる手続により作成する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の土壌成分分析装
置は、上記のように鋤で露出させた新しい土壌面にバン
ドル光ファイバから連続的に変化する測定光を照射し、
土壌面で散乱反射した光をバンドル光ファイバの近傍に
配置した光検出器で受光し、その受光強度から散乱反射
光の光スペクトルを得ている。
【0008】しかしながら、土壌は一般に粒子の大きさ
や構造、土質が不均一で、さらには小さな石や異物など
が混入していることが多い。土壌にこのような不均一が
存在していると、土壌に測定光を照射しても、その散乱
反射光は全方位に均等に反射されず、特定の方向に強く
あるいは弱く、偏って反射されることになり、光照射の
方向や光検出器の位置によって光学特性が異なり、正確
に土壌成分を分析できない。
【0009】また、土壌面には溝や凹みなどが存在して
おり、鋤で掻いても埋らないような溝や窪みが一部に残
る場合がある。そのとき、たまたま測定光の照射位置が
土壌面の一部の窪みに一致すると、土壌面と光照射部
(バンドル光ファイバの照射側端面)との距離が長くな
ったり、土壌面と光検出器との距離が長くなったりす
る。そのような場合には、土壌の光学特性が同じであっ
ても散乱反射光強度が弱くなり、正確に土壌成分を分析
できなくなる。
【0010】本発明は前述の従来例の欠点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、土壌の形状
や構造、土質等あるいは土壌面の凹凸のばらつき等によ
らず、土壌の光学的特性を精度よく測定することができ
る土壌の光学特性測定装置を提供することにある。
【0011】
【発明の開示】請求項1に記載の土壌の光学特性測定装
置は、土壌面に向けて測定光を照射する投光部と、土壌
面に臨ませるための開口を有し、土壌面で散乱反射され
た測定光を捕捉して閉じ込める光捕捉部と、前記光捕捉
部の内部で、前記散乱反射光を受光する光検出器と、前
記光検出器の測定データに基づいて土壌の光学特性を分
析する手段と、前記光捕捉部の内側に立てて前記開口を
開き、かつ前記開口側に倒して前記開口を閉じるよう
に、一端が前記開口の縁に枢着された参照板と、を備え
たことを特徴としている。
【0012】この土壌の光学特性測定装置にあっては、
投光部から土壌面に向けて測定光を照射し、土壌面で散
乱反射された測定光を光捕捉部内に取り込んで捕捉す
る。光捕捉部内に閉じ込められた散乱反射光は、光捕捉
部内で何度か反射された後、光検出器に入射する。分析
手段は、光検出器の測定データ(受光量)に基づいて土
壌の光学特性を分析する。
【0013】従って、本発明によれば、土壌面で散乱反
射された測定光を光検出器で直接受光するのではなく、
土壌面で散乱反射され大きな立体角で放射された広い範
囲の散乱反射光を光捕捉部内に捕捉することによって平
均化して光検出器で検出することができるので、土壌の
形状や構造、土質、粒子の大きさ等によらず土壌本来の
光学的特性を測定することができ、測定データの信頼性
を向上させることができる。また、土壌面で散乱反射し
た測定光を光捕捉部に捕捉して光検出器で受光している
ので、測定面積を拡大することができ、光受光器におけ
る受光量を増加させて測定感度を向上させることができ
る。また、本発明によれば、参照板を光捕捉部の開口に
配置し、参照板に測定光を照射して参照板の光学特性を
モニターすることによって、光学系の不安定性(例え
ば、光検出器の感度変化や投光部の光源強度の揺らぎ
等)による光学特性の変動を補正することができる。
【0014】上記光捕捉部としては、請求項2に記載の
ように、高反射率の内面を有する略球状の空洞を用いる
ことができる。このような光捕捉部にあっては、開口か
ら光捕捉部内に入った散乱反射光は土壌面における反射
方向によらず、光捕捉部の内面で反射を繰り返して光受
光器に入るので、光受光器では各方向へ反射された光の
強度を平均化したものを検出することができる。
【0015】光学特性測定装置の代表的なものは、土壌
面で反射する散乱反射光のスペクトルを解析することに
よって土壌成分を分析するものである。このような方式
の土壌の光学特性測定装置の投光部の構成においては、
請求項3に記載したように、白色光のうちから特定波長
の測定光を選択的に取り出して土壌に照射し、土壌に照
射する測定光の波長を時間的に変化させることによって
測定光の波長をスキャンさせるようにしてもよく、ある
いは、請求項4に記載したように、投光部では、光源で
発生した複数波長の測定光を互いに異なるパラメータで
変調を施して土壌面へ出射し、光学特性分析手段では、
光検出器の出力を前記変調パラメータに基づいて分離す
ることによって土壌面で散乱反射した測定光の光学特性
を分析するようにしてもよい。
【0016】請求項5に記載の実施態様は、請求項1に
記載の土壌の光学的特性測定装置において、前記投光部
から出射された測定光が、前記光捕捉部の内側から土壌
面に向けて照射されることを特徴としている。
【0017】この実施態様によれば、光捕捉部の内部か
ら測定光を照射し、その散乱反射光を光捕捉部へ集める
ようにできるので、光捕捉部と土壌面との距離を近づけ
ることができ、外乱光の影響を低減することができる。
また、光捕捉部を土壌面に接近させることができ、ひい
ては測定光の出射部を土壌面に近づけることができるの
で、土壌面の照射強度を高めることができる。よって、
光学特性測定装置の測定感度を向上させることができ
る。
【0018】
【0019】請求項6に記載の実施態様は、請求項1に
記載の土壌の光学特性測定装置において、前記投光部か
ら土壌面に向けて、測定光を断続的に照射させるように
したことを特徴としている。
【0020】この実施態様によれば、測定光を断続的に
照射させているから、測定光を照射しているときの光検
知器の受光データと測定光を照射していないときの光検
知器の受光データを比較することによって、外乱光の影
響を補正することができる。
【0021】
【0022】
【0023】請求項7に記載の実施態様は、請求項1に
記載した土壌の光学特性測定装置において、測定位置を
特定するための測定位置計測装置を備えたことを特徴と
している。
【0024】この実施態様によれば、測定位置計測装置
により測定位置を特定することができるので、測定デー
タと測定位置とを関連付けることができる。従って、土
壌成分などの測定データを測定地域全体で総合的に分析
することができる。また、後日、測定データに基づいて
土壌改良を行なう場合にも、測定位置と関連付けられて
いるので、容易に作業を行なうことができる。
【0025】特に、請求項8に記載の実施態様は、位置
情報と測定データとから、土壌の特性マップを自動作成
することができる。
【0026】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)図4は本発明の一実施形態による土
壌の光学特性測定装置21の構成を示す概略図である。
この光学特性測定装置21は、投光部22、光積分球2
3、光検出器24およびデータ処理装置25から構成さ
れている。投光部22は、特定波長の測定光を光積分球
23の内側から土壌面3へ照射するものであって、光源
27、光チョッパ28及び分光装置29から構成されて
いる。光源27は、ハロゲンランプ30と反射板31と
からなり、白色光を連続的に発光して分光装置29へ送
り込む。
【0027】光チョッパ28は、光源27から出射され
た白色光を一定のタイミングで遮断するものであって、
図5に示すような構造を有している。すなわち、光チョ
ッパ28は、透光部(窓)32と遮光部33を円周方向
に沿って一定ピッチで配列した遮光円板34をモータ3
5で回転させるようにしたものであって、透光部32に
白色光が入射すると白色光を透過させて分光装置29へ
白色光を入射させ、遮光部33に白色光が入射すると、
光源27から分光装置29へ向けて出射された白色光を
遮断する。遮光円板34は、モータ35により一定速度
で回転させられるので、白色光は一定タイミングで遮光
円板34を透過し、あるいは遮断される。また、この遮
光円板34の透光部32及び遮光部33が設けられてい
る部分を挟んで一方にモニター用発光素子36が、他方
にモニター用受光素子37が配置されている。モニター
用発光素子36及び受光素子37は、光源27からの白
色光が透光部32を通過するとき、モニター用発光素子
36から出た光rも透光部32を通過してモニター用受
光素子37で受光され、光源27の白色光が遮光部33
で遮断されるとき、モニター用発光素子36から出た光
rも遮光部33で遮断されるよう配置されているので、
モニター用受光素子37によって光源27の白色光が透
過しているか、遮断されているかを検知することができ
る。この光チョッパ28は、太陽光等の外乱光の影響を
除くために用いられる(詳細は後述する)。
【0028】分光装置29は、光源27からの白色光の
うち特定波長の光を測定光として選択的に取り出し、そ
の選択波長を所定の最短波長から最長波長まで一定速度
でスキャニングするものである。このような分光装置2
9としては、例えば従来例(図2)で述べたような、波
長選択フィルタ(干渉フィルタ)8を備えたフィルタデ
ィスク9とスリット板7からなるものを用いることがで
きる。
【0029】あるいは、図6(a)に示すように、白色
光を色分散させる回折格子38とスリット板39によっ
て分光装置29を構成し、回折格子38又はスリット板
39を移動させることによって分光装置29から出射さ
れる測定光の波長を連続的に変化させるようにしたもの
でもよい。また、図6(b)に示すように、白色光を色
分散させるプリズム40とスリット板41によって分光
装置29を構成し、プリズム40又はスリット板41を
移動させることによって分光装置29から出射される光
の波長を連続的に変化させるようにしたものでもよい。
【0030】なお、光チョッパ28の透光、遮断のタイ
ミング周期は、通常、分光装置29における選択波長の
スキャニング周期よりも十分に短くしてあるので、分光
装置29ないし光源27からは、出射波長が時間的に且
つ規則的に変化する測定光がパルス状に出射される。
【0031】光積分球23は、略球殻状をしていて下面
には土壌面3と対向させるための照射窓42が設けられ
ている。光積分球23の内部には、光捕捉部となる空洞
が設けられており、その内壁面は反射率がほぼ100%
の光拡散面(又は、鏡面)となっている。この光積分球
23の内面においては、照射窓42と対向する位置に測
定光の光投射部43が設けられており、側面には光検出
器24が設置されている。この光検出器24としては、
InGaAs、PbS、PbSeなどの半導体受光素子
やシリコンフォトダイオードなどを用いることができ
る。
【0032】分光装置29と光積分球23の光投射部4
3との間は、光ファイバ束(バンドル光ファイバ)等の
導光手段44によって結ばれており、分光装置29から
出射された測定光は導光手段44を通じて光積分球23
の光投射部43へ送られ、光投射部43から光積分球2
3内へ出射された測定光は照射窓42を通って土壌面3
に照射される。この土壌面3は鋤2によって土壌を掻き
取って露出させた新しい土壌面であって、光積分球23
とほぼ一定の距離にある。なお、光投射部43から出射
された測定光が光積分球23の内面に当たって散乱され
ると、光検出器24で受光されるので、光投射部43に
は測定光を照射窓42内に集光させるために集光レンズ
が設けてあってもよく、あるいは光ファイバ束の各光フ
ァイバ端面に凸レンズ状の加工が施されていてもよい。
【0033】また、土壌面3に照射された測定光は、土
壌面3で反射散乱され、大部分は再び照射窓42から光
積分球23の内部に戻る。光積分球23内に戻った散乱
反射光は、光積分球23の内部で吸収されることなく拡
散反射を繰り返し、土壌面3で不規則かつ不均一に様々
な方向へ反射された散乱反射光が光積分球23内部では
平均化され、各方向で均一化された散乱反射光が光検出
器24により受光される。
【0034】土壌の性質(成分)が同じでも、土壌の表
面の傾きや凹凸、土壌粒子の大きさ等が異なると、その
分布により土壌面3から散乱反射される光の強度は検出
する方向によりばらつきが生じる。しかし、本発明の光
学特性測定装置21のように、土壌面3で散乱反射され
た測定光を光検出器24で直接受光するのでなく、土壌
面3で散乱反射され大きな立体角で放射された広い範囲
の散乱反射光を光積分球23内に捕捉することによって
平均化して光検出器24で検出すれば、土壌の形状や構
造、土質、粒子の大きさ等によらず土壌本来の光学的特
性を測定することができ、測定データの信頼性を向上さ
せることができる。
【0035】また、光積分球23の照射窓42の面積に
相当する広い領域で散乱反射した測定光を積分球内に集
められるから、光受光器に多くの測定光を集めて受光量
を増加させることができ、測定感度を向上させることが
できる。
【0036】こうして光検出器24で散乱反射光が受光
されると、光検出器24からデータ処理装置25へ受光
信号が送られる。一方、データ処理装置25は、分光装
置29からは、測定光の波長を示す信号をリアルタイム
で受信している。測定光が土壌面3で反射されるとき、
土壌の成分によって特定波長の光の吸収が起きるから、
土壌の成分に応じて特有の光スペクトル(吸収スペクト
ル)を示す。分光装置29によって測定光の波長を連続
的に変化させながら、光検知器で受光している測定光の
光強度を検出すれば、散乱反射光の光スペクトルが得ら
れるから、これをデータ処理装置25で解析することに
より当該土壌の成分を分析することができる。
【0037】測定光は光積分球23の内部から土壌面3
に照射する構造としているから、光積分球23と土壌面
3との距離を小さくすることができ、この隙間から太陽
光等の外乱光は入りにくくなっている。しかし、全く外
乱光が積分球内に入らないようにすることができないの
で、この光学特性測定装置21では、上記光チョッパ2
8により外乱光の影響を除去している。すなわち、光チ
ョッパ28により測定光が遮断されている時には、光検
出器24の出力は外乱光によるものであると考えられる
から、測定光を受光している時の光検出器24の出力と
外乱光による出力の差を求めることにより、外乱光の影
響を補正することができる。
【0038】図7に示すものは、外乱光の影響を補正す
るための回路45であって、主増幅器(同調増幅器)4
6、同期整流回路47、低域ろ波器48、参照信号増幅
器(同調増幅器)49及び移相回路50で構成されたロ
ックインアンプ51と、光検出器24からの出力を光チ
ョッパ28の透光/遮断の周期の1/2だけ遅延させて
参照信号増幅器49に送る遅延回路52と、光検出器2
4の出力を主増幅器46側と参照信号増幅器49側とに
切り替える電子スイッチ53とからなっている。電子ス
イッチ53は、モニター用の受光素子37が透光状態を
検出している場合には、光検出器24を主増幅器46側
に接続し、遮断状態を検出している場合には、光検出器
24を参照信号増幅器49側に接続する。従って、この
補正回路45にあっては、外乱光のみによる光検出器2
4出力が参照信号として参照信号増幅器49に入力さ
れ、外乱光と測定光による光検出器24出力が主増幅器
46に入力される。外乱光と測定光による受光信号は主
増幅器46で帯域幅を狭められた後、同期整流回路47
に送られる。外乱光による参照信号はこれと一定の周波
数・位相関係をもった信号成分のみを検出するため移相
回路50によって適当な位相(0°もしくは90°)に
設定されて同期整流回路47に入力される。この出力は
次段の低域ろ波器48で積算され外乱光による信号成分
を除去した後、データ処理装置25へ送られ、光スペク
トルが求められる。
【0039】なお、分光装置29と光積分球23を結ぶ
導光手段44としては、図8に示す光学特性測定装置5
4のように、複数枚の集光レンズ55a,55bからな
る光伝送用のリレーレンズ55を用いてもよい。この集
光レンズ55a,55b間の距離を調整可能にすれば、
測定光のビーム径を調整することができる。
【0040】(第2の実施形態)図9は本発明の別な実
施形態による土壌の光学特性測定装置56の一部破断し
た断面図である。この実施形態では、分光装置29と光
積分球23を結ぶ導光手段44である光ファイバ束57
を照射窓42近くまで光積分球23の内部へ突出させて
いる。この実施形態では、光ファイバ束57の端面が土
壌面3に接近しているので、土壌面3に強い測定光を照
射することができ、光検出器24の受光レベルを高くし
て測定感度を高めることができる。一方、土壌面3で散
乱反射して光積分球23内に捉えられた散乱反射光が光
ファイバ束57に吸収されて光検出器24の受光量が低
下するのを防止するため、光積分球23の内部において
は、光ファイバ束57の端面を除く外周面に光拡散性物
質58をコーティングしてある。
【0041】(第3の実施形態)図10は本発明の別な
実施形態による土壌の光学特性測定装置59の一部破断
した断面図である。この実施形態にあっては、光積分球
23の照射窓42の下に参照板60が設けられており、
参照板60は光積分球23の下面に設けられたレールや
ガイド等に沿って照射窓42から外れた位置まで水平に
移動できるようになっている。参照板60としては、ア
ルミナなどのセラミック板などを用いることができる
が、少なくとも上面(内面)は反射率がほぼ100%と
なっている。
【0042】この実施形態によれば、参照板60で光積
分球23の照射窓42を閉じるように参照板60を照射
窓42へ移動させ、参照板60に測定光を照射して参照
板60の光スペクトルをモニターすることによって、光
学系の不安定性(例えば、光検出器24の感度変化や投
光部22の光源強度の揺らぎ等)による光学特性の変動
を検出し、測定データの補正に使用することができる。
なお、参照板60を照射窓42の開口から外れた位置へ
移動させることにより、土壌面3を測定できる。
【0043】なお、参照板60は、図11に示す光学特
性測定装置61のように、一端を光積分球23の照射窓
42の縁に枢着し、参照板60を立てて照射窓42を開
き、参照板60を倒して照射窓42を閉じるようにして
もよい。この場合には、参照板60の両面で反射率をほ
ぼ100%としている。
【0044】(第4の実施形態)図12は本発明のさら
に別な実施形態による土壌の光学特性測定装置62の構
成を示す概略図である。この光学特性測定装置62にあ
っては、互いに異なる発光波長を有する複数の発光素子
63a,63b,…とそれぞれ異なる変調周波数で強度
変調しながら発光素子63a,63b,…を発光させる
発光素子駆動回路64a,64b,…とから投光部22
が構成されている。発光素子63a,63b,…は発光
ダイオード(LED)や半導体レーザー素子(LD)な
どであって個別素子でもアレイ状のものでもよい。
【0045】ここでは、発光素子63a,63b,63
cは3個でそれぞれ異なる発光波長λ1,λ2,λ3を
持ち、発光素子駆動回路64a,64b,64cによっ
てそれぞれ異なる変調周波数f1,f2,f3で強度変
調を加えて発光させられるものとする。各発光素子63
a,63b,63cからは、周波数f1,f2,f3で
強度変調された各発光波長λ1,λ2,λ3の測定光が
同時に発射されており、各測定光は光投射部43の集光
レンズ65を通って光積分球23の照射窓42から土壌
面3に照射される。土壌面3で散乱反射された各波長の
測定光は光積分球23に戻り、光検出器24で受光され
る。光検出器24の受光信号は、それぞれフィルタ回路
66により周波数f1,f2,f3の信号に弁別され
る。フィルタ回路66で弁別された、各周波数f1,f
2,f3で変調された受光信号はそれぞれ異なる復調回
路(積分回路など)67a,67b,67cへ送られ、
各復調回路67a,67b,67cで強度信号に変換さ
れてデータ処理装置25へ出力され、データ処理装置2
5で光スペクトルを分析される。
【0046】このような実施形態によれば、分光装置2
9が必要なくなり、またLED等の発光素子63a,6
3b,63cを用いることにより省電力化を図ることが
できる。さらに、フィルタ回路66で特定周波数の信号
だけを弁別しているので、外乱光の影響を除去すること
ができる。
【0047】なお、この実施形態では、光積分球23の
照射窓42には、光積分球23の内部に汚れや土等が入
らないようにするため、測定光に対して透明となった、
石英ガラスのような透明板68をはめている。
【0048】(第5の実施形態)図13は本発明のさら
に別な実施形態による土壌の光学特性測定装置69の構
成を示す概略図である。この実施形態にあっては、光積
分球23の照射窓42に石英ガラスのような透明板68
をはめ、その周囲に照射窓42を囲むようにして不透明
な遮光枠70を設けてあり、遮光枠70の下端は土壌中
に挿入し易いよう薄くテーパを施している。
【0049】しかして、遮光枠70を土壌中に差し込ん
で照射窓42の透明板68を土壌面3に押しつけた状態
で土壌の測定を行なう。このようにして測定すれば、透
明板68を土壌面3に押しつけることで土壌面3を平ら
に均して測定することができると共に光積分球23を土
壌面3の上に真っ直ぐに設置でき、散乱反射光の反射方
向を均一化できる。また、照射窓42の周囲に遮光枠7
0を設けているので、光積分球23の下面と土壌面3の
間の隙間から外乱光が侵入するのを確実に防止できる。
さらに、遮光枠70を土壌中に差し込むことで光学特性
測定装置69をしっかりと設置することができる。
【0050】この光学特性測定装置69は、トラクタで
測定位置まで移動させ、自動的に一定圧力となるように
照射窓42の透明板68を土壌面3に押し付けて土壌の
測定を行うようにすればよい。また、この実施形態の場
合には、光積分球23を土壌面3から浮せる必要がない
ので、人が光学特性測定装置69を携帯し、測定位置の
土壌に遮光枠70を差し込むと共に透明板68を土壌面
3に押し付けるようにして設置し、その状態で測定する
ようにもできる。
【0051】(第6の実施形態)図14は本発明のさら
に別な実施形態による土壌の光学特性測定装置71の構
成を示す概略図である。この実施形態は、高精度の測定
を目的とするものである。光源27としては、ハロゲン
ランプ30と反射板31と集光レンズ72を備えてい
る。分光装置29としては、音響光学波長チューニング
素子(Acoust-OpticTunable Filter; 以下、AOTF
という)73を用いている。
【0052】AOTF73とは、白色光から単色光を分
離し、電気的に波長をスキャンするバンドパスフィルタ
であって、可動部分を持たない。AOTF73は、音響
光学結晶[例えば、二酸化テルル(TeO2)結晶の音
響波と光の進行方向が交差するもの]74と音響波ドラ
イバー75からなり、図15に示すように、結晶74の
対向する辺にトランスジューサ(Acoustic Transduce
r)76とアブソーバ(Acoustic Absorber)77が貼り
付けられており、音響波ドライバー75からトランスジ
ューサ76にRF周波数の電気信号が印加されると、ト
ランスジューサ76からアブソーバ77へと結晶74中
を音響波が通過し、音響波が通過するとき、結晶74中
に生じる歪がグレーティングのような働きをする。この
AOTF73に白色光が照射されていると、単色光だけ
が透過し、しかも、この透過波長はRF周波数によって
制御することができる。この透過波長の半値幅は、波長
にもよるが1nmのオーダーまで狭くすることができ、
透過率も高く最高98%まで可能である。ただし、透過
光は0次回折光と±1次回折光とに分離するので、図1
5に示すように、0次回折光と−1次回折光(又は、+
1次回折光)は光積分球23の光投射部43に達しない
よう遮蔽板78によりカットする。
【0053】こうしてAOTF73からなる分光装置2
9を透過した単色光が光積分球23の内部から土壌面3
に照射され、照射波長は音響ドライバー75によって最
短波長から最長波長まで(例えば、400nm〜250
0nm)スキャンされる。分光装置29としてAOTF
73を用いれば、可動部分がなく、電気的に波長を制御
できるから、波長スキャン速度を高速化することができ
る。また、音響波ドライバー75によってAOTF73
の透光と遮断を制御することもできるので、AOTF7
3及び音響波ドライバー75に光チョッパ28と同じ機
能を持たせることができ、受光信号中の外乱光の影響を
除去することができる。一方、データ処理装置25は、
音響波ドライバー75からの信号によって照射波長を検
知するとともに、AOTF73による透光と遮断のタイ
ミングをモニターしている。
【0054】また、土壌面3で散乱反射した測定光を受
光する光検出器24には、InGaAs素子のような応
答性のよい受光素子を用い、温度変化による光検出器2
4の感度や出力等の変動をなくすため光検出器24の温
度を一定温度に保つための温度制御装置79を備えてい
る。
【0055】データ処理装置25は、AOTF73の透
光(測定)時の受光信号と遮断(非測定)時の受光信号
を比較することによって外乱光の影響を除去する機能
と、受光信号から光スペクトルを求める機能とを備えて
いる。ここで受光信号から光スペクトルを求める方式と
しては、フーリエ変換型分光法を用いるのが好ましく、
特に、インタフェログラム(interferogram)を用いる
方法が望ましい。ここで、インタフェログラムとは、光
線束干渉計の光路差を変えるとき、光路差xの関数とし
て測定記録した干渉光強度の変化F(x)のことをい
い、インタフェログラムF(x)をフーリエ逆変換する
ことにより光スペクトルが求められる。これらのインタ
フェログラムやフーリエ変換型分光法などは、光スペク
トルを求めるための常法であるから、詳しい説明は省略
する。
【0056】また、この光学特性測定装置71は、投光
部22の時間的変動を補正するための参照板60を備え
ており、つぎのような順序で光吸収スペクトルを求め
る。まず、参照板60を降ろして照射窓42を閉じ、そ
の状態で測定光の照射波長をスキャンして参照板60の
拡散反射強度スペクトルR(λ)を測定する。ついで、
参照板60を上げて照射窓42を開き、再度測定光の照
射波長をスキャンして土壌の拡散反射強度スペクトルS
(λ)を測定する。そして、 吸収強度 Abs(λ)=log[R(λ)/S(λ)] から土壌の光吸収スペクトルを求める。
【0057】この実施形態の光学特性測定装置71で
は、分光装置として、電気的に高速高精度の波長スキ
ャンが可能で、外乱光補正機能(光チョッパの機能)も
備えたAOTF73を用いること、参照板60を用い
て投光部22の揺らぎ等を補正すること、温度制御装
置79による光検出器24の特性の安定化、インタフ
ェログラムにより光スペクトルを求めること、などによ
って高精度の土壌成分分析を可能にしている。
【0058】(第8の実施形態)図16は本発明のさら
に別な実施形態による土壌の光学特性測定装置80の構
成を示す概略図である。この光学特性測定装置80は、
測定位置検出装置81を備えている。測定位置検出装置
81としては、人工衛生を利用した測位システム(GP
S; Grobal Positioning System)、ジャイロセンサ等
を用いて移動方向や移動量を監視することによって位置
を検出する方式のものなどを用いることができる。測定
位置検出装置81によって検出された位置情報はマップ
作成部82へ送られる。マップ作成部82では、データ
処理装置25から得た土壌成分の情報と測定位置検出装
置81から得た測定位置情報を関連付けて蓄積し、測定
地域全体における土壌成分マップを自動作成する。作成
された土壌マップは、記録媒体に保存され、あるいはデ
ィスプレイに表示され、あるいはプリンタ等から出力さ
れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の土壌成分分析装置の構成を示す概略図で
ある。
【図2】同上のフィルタディスクを示す平面図である。
【図3】データ処理装置における処理手順を示すフロー
図である。
【図4】本発明の一実施形態による土壌の光学特性測定
装置の構成を示す概略図である。
【図5】同上の光学特性測定装置に用いられている光チ
ョッパの構造示す斜視図である。
【図6】(a)(b)はそれぞれ異なる構成の分光装置
を示す概略図である。
【図7】光チョッパによる光検出器の受光信号の補正回
路を示す図である。
【図8】光積分球に設けられた導光手段の他例を示す概
略断面図である。
【図9】本発明の別な実施形態による土壌の光学特性測
定装置を示す一部破断した概略断面図である。
【図10】本発明のさらに別な実施形態による土壌の光
学特性測定装置を示す一部破断した概略断面図である。
【図11】本発明のさらに別な実施形態による土壌の光
学特性測定装置を示す一部破断した概略断面図である。
【図12】本発明のさらに別な実施形態による土壌の光
学特性測定装置を示す概略断面図である。
【図13】本発明のさらに別な実施形態による土壌の光
学特性測定装置を示す概略断面図である。
【図14】本発明のさらに別な実施形態による土壌の光
学特性測定装置を示す概略断面図である。
【図15】音響光学波長チューニング素子の概略を示す
説明図である。
【図16】本発明のさらに別な実施形態による土壌の光
学特性測定装置を示す概略断面図である。
【符号の説明】
3 土壌面 22 投光部 23 光積分球 24 光検出器 25 データ処理装置 28 光チョッパ 29 分光装置 42 照射窓 60 参照板 63a,63b,63c 発光素子 68 透明板 70 遮光枠 81 測定位置検出装置 82 マップ作成部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−249952(JP,A) 特開 平5−87733(JP,A) 特開 平9−149903(JP,A) 特開 平8−37807(JP,A) 特開 昭63−88430(JP,A) 実開 昭59−49935(JP,U) 国際公開96/027713(WO,A1) Transactions of t he ASAE,1993年,vol.36, p.1571−1582 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/00 - 21/61 G01J 3/00 - 3/52 WPI/L JICSTファイル(JOIS) IEEE Xplore Web of Science

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 土壌面に向けて測定光を照射する投光部
    と、 土壌面に臨ませるための開口を有し、土壌面で散乱反射
    された測定光を捕捉して閉じ込める光捕捉部と、 前記光捕捉部の内部で、前記散乱反射光を受光する光検
    出器と、 前記光検出器の測定データに基づいて土壌の光学特性を
    分析する手段と、前記光捕捉部の内側に立てて前記開口を開き、かつ前記
    開口側に倒して前記開口を閉じるように、一端が前記開
    口の縁に枢着された参照板と、 を備えた土壌の光学特性測定装置。
  2. 【請求項2】 前記光捕捉部は、高反射率の内面を有す
    る略球状の空洞であることを特徴とする、請求項1に記
    載の土壌の光学特性測定装置。
  3. 【請求項3】 前記投光部は、白色光を発生する光源
    と、当該光源の光のうちから特定波長の測定光を選択的
    に取り出して出射すると共に、測定光の波長を時間的に
    変化させる手段と、を有することを特徴とする、請求項
    1に記載の土壌の光学的特性測定装置。
  4. 【請求項4】 前記投光部は、複数波長の測定光を発生
    する光源と、波長の異なる測定光に異なるパラメータで
    変調を施して出射する手段とを有し、 前記光学特性分析手段は、光検出器の出力を前記変調パ
    ラメータに基づいて分離する機能を有することを特徴と
    する、請求項1に記載の土壌の光学的特性測定装置。
  5. 【請求項5】 前記投光部から出射された測定光は、前
    記光捕捉部の内側から土壌面に向けて照射されることを
    特徴とする、請求項1に記載の土壌の光学的特性測定装
    置。
  6. 【請求項6】 前記投光部から土壌面に向けて、測定光
    を断続的に照射させるようにしたことを特徴とする、請
    求項1に記載の土壌の光学特性測定装置。
  7. 【請求項7】 測定位置を特定するための測定位置計測
    装置を備えた、請求項1に記載の土壌の光学特性測定装
    置。
  8. 【請求項8】 前記測定位置計測装置から出力された位
    置情報と、前記光学特性分析手段により得られた測定デ
    ータとから、土壌の特性マップを作成する手段を備え
    た、請求項7に記載の土壌の光学特性測定装置。
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