JPH0580615B2 - - Google Patents

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JPH0580615B2
JPH0580615B2 JP60190866A JP19086685A JPH0580615B2 JP H0580615 B2 JPH0580615 B2 JP H0580615B2 JP 60190866 A JP60190866 A JP 60190866A JP 19086685 A JP19086685 A JP 19086685A JP H0580615 B2 JPH0580615 B2 JP H0580615B2
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    • G01N21/276—Calibration, base line adjustment, drift correction with alternation of sample and standard in optical path

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光源の輝度及び光検出器の感度の変
化から生じるあらゆる誤差を、内部ケイ光標準物
質を使用することにより取り除いた、液体、固体
又は気体試料のケイ光を測定するための測定装置
及びケイ光測定方法に関する。
〔従来の技術・発明が解決しようとする問題点〕
ある波長の光を照射された物質がより長い波長
の光を輻射する現象はケイ光ということばによつ
て示される。簡単なケイ光光度計には、光源、光
の波長帯を選択するための装置、試料を置く場所
及び光検出器がある。光の波長帯を選択するため
の装置は例えば回折格子、プリズムモノクロメー
タ又はフイルタであることができる。簡単にする
ため、フイルタのみについて記載することが可能
である。試料にあてられた光は励起光と呼ばれ、
そして試料それ自体によつて輻射された光は発光
と呼ばれる。励起光束と発光の集光システムとの
間の相互の幾何学的な関係の選択によつて、最小
量の励起光が発光の集光システムに入り、そして
そのシステムを通つて検出器に入るような状態に
なるようにほとんど試みられている。それにもか
かわらず、小量の励起光が分散及び反射の影響に
より発光光路に入り、その結果、もし非常に小量
の発光物質を測定するならば、フイルタを発光光
路にも用いなければならない。
ランプの輝度には、長期間の低下及び短期間の
変化の両方が起こる。検出器、特に増倍型光電管
の感度も一定でなく、例えば温度に依存する。１
回に１波長のみ使用する分光器においては、測定
結果に対するこれらの現象の影響は、測定ごとに
試料を通過した単色光を光検出器に通し、そして
対照としてこれから得られた信号を用いることに
よつて、又は上記信号を一定にするためにランプ
の輝度又は増倍型光電管の感度を調節することに
よつて簡単に取り除くことができる。発光光度計
においては、励起光と発光が異なつた色であり、
等しく簡単な方法で完全に安定化することはでき
ない。増倍型光電管の感度の温度係数は、すなわ
ち異なつた波長で異なつている：温度が上昇する
と、感度は、それが上昇する最も長い波長を有す
る波長範囲の端を除いて、ほとんどすべての波長
範囲で低下する。ところでもし発光用フイルタを
通過して増倍型光電管に入る励起光を対照光とし
て用いるならば、温度が上昇すると、対照信号
は、たとえ実際の測定波長で増加したとしても増
倍型光電管の感度の低下を示す。他方、励起光は
発光用フイルタを通つて増倍型光電管に入ること
はできない。なぜならば発光用フイルタは励起光
の波長では不透明であるからである。フイルタの
特性の変更も考慮すべきであるが、完全に安定化
する唯一の方法はケイ光標準物質の使用である。
従来技術において、励起光のケイ光標準物質へ
の適用及びそれからの発光の集光は一つの試料の
場合と同様の方法で主に行われている。これは数
枚のレンズ及び他の光学部品が必要であるか、又
は同じ光学系が試料とケイ光標準物質の測定のた
めに用いられているならば、試料とケイ光標準物
質の置き換え又は光学系の置き換えのために部品
を移動させる必要がある。
従来技術において、内部ケイ光標準物質を使用
する装置もまた複雑で高価である。ケイ光標準品
は、ケイ光物質が鋳込まれたプラスチツク又は特
定の繰り返えし時間で置き換えなければならない
ケイ光物質の水溶液であつた。一般に、同一の溶
液において、一つのケイ光物質のみが存在し、そ
れによつてケイ光標準品は、その化学物質がケイ
光にかかわつた波長においてのみ用いることがで
きる。
日常の作業に使用する為の簡単なケイ光光度計
において、ランプの強度及び検出器の感度の変動
の測定結果への影響は、例えば独立した対照検出
器がランプの輝度の変動の監視のために用いられ
ている”メツサーズ．エフラブオイ（Messrs.
EFLAB OY）の”フルオロスカン（FLUORO
SKAN）”ケイ光光度計、又はフイルタを通つた
ランプの光が断続器により測定光と交互に増倍型
光電管に入るアイデイーエル（IDL）の”フイア
ツクス（FIAX）”ケイ光光度計（イギリス国特
許明細書第1596521号参照）の場合のように部分
的にのみ補正されている。
本発明の目的は、励起ランプの輝度と発光検出
器の感度の変動による測定誤差を取り除くために
内部ケイ光標準物質を用いるケイ光測定装置及び
ケイ光測定方法を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の非常に重要な新規性は、単色化された
対照光が輻射モノクロメータを通り、それから光
検出器に入るところの光学系が、プラスチツクの
ような適当なケイ光材料で作られ、したがつて光
の導入路とケイ光標準物質の両者として働く光学
繊維からなることである。
本発明の装置は、対照光路を用いる他の多くの
装置と同様に光束分配器を含むが、光束分配器か
ら得られた対照光は、例えば、使用中あらゆる波
長の励起光をあてられたとき光検出器の波長範囲
内でケイ光を発するプラスチツクのような適当な
材料で、全部又は一部分が作られた光学繊維にた
だちに入る。この光学繊維（該繊維はここでは対
照繊維と呼んでいる。）の他の一端から来る光は
発光用フイルタを通つて光検出器に入る。試料の
ケイ光は、一定である対照繊維のケイ光と常に比
較されるので、その結果はランプの輝度又は検出
器の感度に影響されない。
本発明によれば、従来技術で公知の装置と比較
して著しくより単純である、内部ケイ光標準物質
を用いたケイ光光度計を提供することができる。
〔実施例〕
本発明による一ケイ光光度計を添付した図面に
より詳しく説明する。
光源はランプ１である。励起光用フイルタ２は
その光から適当な励起波長帯を分離する。光束分
配器３はその光を測定光路と対照光路に、好まし
くはその光の大部分を測定光路に通すように分配
する。シヤツタ４は、その光を対照繊維５と励起
光用繊維６とに交互に入れる。この交互周波数
は、ランプの輝度と検出器の感度がそのサイクル
の間に有意の程度に変動する時間を有しないよう
でなければならない。この周波数は光源と光検出
器のタイプと特性に依存し、そして１ないし
1000C／Ｓの範囲内が普通最も好ましい。試料７
から発生した光は発光用繊維８に集光される。発
光用繊維から来る光と対照繊維から来る光は光束
複合器９によつて複合し、そして発光用フイルタ
１０を通して光検出器１１に入れる。この対照値
は、検出器の感度を調節するため、試料から得ら
れた測定値を割るため（それによつて得られた商
は最終結果である。）、又は対照値が先に測定され
た基本対照値と異なるところでその方法に従つて
試料を測定する積分時間を調節するためのよう
に、当業者に公知のいかなる方法でも用いること
ができる。
上記した測定システムにおいて、原則として、
測定の正確さは、対照繊維のケイ光をいかに正確
に一定に保つかにのみ依存する。物質のケイ光が
温度の上昇により減少することは一般に知られて
いる。対照繊維を作ることができる、例えばポリ
メチルメタクリレートのような材料の場合では、
ケイ光の温度依存性は１ケルビン度あたり10分の
数パーセントである。測定操作の間に該装置内の
温度がいかに変化するか及び該装置がいかに正確
であるかによつて、対照繊維を一定温度に自動温
度調節することが必要となるかもしれない。これ
は自動温度調節したところにそれを置くことによ
り、又はその繊維を有する普通のジヤケツトの下
に、温度検出器と一緒に該繊維に沿つて１ないし
数本の抵抗線を置くことによつて逐行することが
でき、そしてこの補助器具によつて該対照繊維は
自動温度調節器１２により一定温度に保たれる。
図面に示す例においては、分離した光束分配器
とシヤツタを用いている。同様に、例えば回転セ
クターミラーのように同時にこれらの機能の両方
を担う部品を用いることも可能であろう。
この図面の例において、光学繊維によつて、励
起光が試料に入り、輻射光が試料からでる。同様
に、例えばレンズ又は鏡、又はその両方からなる
光学系のような他のいくつかの光学系を用いても
よい。この図面において、実施例のためにこのよ
うな光学装置を励起光路と発光光路を試料からみ
て互いに90°の角度で配置したところに用いる。
励起光路と発光光路を試料の同じ側又は対向する
両側に配置したような従来技術の装置を使用する
ことも同様に可能であろう。
このような装置の部品はその他の点で当業者に
よく知られている。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例のケイ光光度計を示
す図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 光源と、測定光路及び対照光路に前記光源か
    らの光を分割するための光束分配器と、前記光を
    前記測定光路及び対照光路に交互に入射するため
    の光切換器と、前記測定光路の光を試料に照射
    し、該試料から輻射されたケイ光を光検出器に通
    すための光学系と、前記光検出器へのケイ光から
    ある波長帯を選択するためのフイルタ等の波長選
    択手段と、前記対照光路の光を前記光検出器に通
    すための光学系からなり、前記対照光路の光を前
    記光検出器に通すための前記光学系はその全部又
    は一部がケイ光材料で作られている光学繊維また
    は光学繊維束を有することを特徴とするケイ光光
    度計。 ２ 光学繊維または光学繊維束を自動温度調節さ
    れたところに位置させることを特徴とする特許請
    求の範囲第１項記載のケイ光光度計。 ３ 光学繊維又は光学繊維束が、内側に更に加熱
    用抵抗器を有するジヤケツト内に収納されている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第２項記載のケ
    イ光光度計。 ４ 試料がある測定光路と、その全部または一部
    がケイ光材料で作られている光学繊維または光学
    繊維束で構成されていることを特徴とする対照光
    路とに、励起光を交互に照射し、輻射されたケイ
    光を同一の光検出器に入射させることを特徴とす
    るケイ光測定方法。 ５ ケイ光材料で作られた光学繊維の温度を蛍光
    を測定する間一定に保つことを特徴とする特許請
    求の範囲第４項記載のケイ光測定方法。
JP60190866A 1984-08-29 1985-08-29 ケイ光光度計及びケイ光測定方法 Granted JPS61116646A (ja)

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FI843409 1984-08-29
FI843409A FI843409A0 (fi) 1984-08-29 1984-08-29 Fluorometer.

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Publication Number Publication Date
JPS61116646A JPS61116646A (ja) 1986-06-04
JPH0580615B2 true JPH0580615B2 (ja) 1993-11-09

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EP (1) EP0174722B1 (ja)
JP (1) JPS61116646A (ja)
AT (1) ATE49479T1 (ja)
DE (1) DE3575352D1 (ja)
FI (1) FI843409A0 (ja)

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