JPS61116646A - ケイ光光度計及びケイ光測定方法 - Google Patents

ケイ光光度計及びケイ光測定方法

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JPS61116646A JP60190866A JP19086685A JPS61116646A JP S61116646 A JPS61116646 A JP S61116646A JP 60190866 A JP60190866 A JP 60190866A JP 19086685 A JP19086685 A JP 19086685A JP S61116646 A JPS61116646 A JP S61116646A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光源の輝度及び光検出器の感度の変化から生
じるあらゆる誤差を、内部ケイ光標準物質を使用するこ
とＫよシ取シ除いた、液体、固体又は気体試料のケイ光
を測定するための測定装置及びケイ光測定方法に関する
。
〔従来の技術・発明が解決しようとする問題点〕おる波
長の光を照射された物質がよシ長い波長の光を輻射する
現象はケイ元ということばによって示される。簡単なケ
イ光光度計には、光源、光の波長帯を遠択するための装
置、試料を置く場所及び光検出器がある。光の波長帯を
選択するための装置は例えば回折格子、プリズムモノク
ロメータ又はフィルタであることができる。簡単にする
ため、フィルタのみについて記載することが可能である
。試料にあてられた光は励起光と呼ばれ、そして試料そ
れ自体によりて輻射された光は発光と呼ばれる。励起光
束と発光の集光システムとの間の相互の幾何学的な関係
の選択によって、最小量の励起光が発光の集光システム
に入り、そしてそのシステムを通って検出器に入るよう
な状態に彦るようにほとんど試みられている。それにも
かかわらず、小量の励起光が分散及び反射の影響により
発光光路に入り、その結果、もし非常に小量の発光物質
を測定するならば、フィルタを発光光路にも用いなけれ
ばならない。
ランプの輝度には、長期間の低下及び短期間の変化の両
方が起こる。検出器、特に増倍型光電管の感度も一定で
なく、例えば温度に依存する。１回に１波長のみ使用す
る分光器においては、測定結果に対するこれらの現象の
影響は、測定ごとに試料を通過した単色光を光検出器に
通し、そして対照としてこれから得られた信号を用いる
ことによって、又は上記信号を一定にするためにランプ
の輝度又は増倍型光電管の感度を調節することによって
簡単に取シ除くことができる。発光光度計においては、
励起光と発光が異なった色であシ、等しく簡単な方法で
完全に安定化することはできない。増倍型光電管の感度
の温度係数は、すなわち異なった波長で異なっている：
温度が上昇すると、感度は、それが上昇する最も長い波
長を有する波長範囲のｙ！ａを除いて、はとんどすべて
の波長範囲で低下する。どこ−ろでモ、シ発光用フィル
タを通過して増倍型光電管に入る励起光を対照光として
用いるならば、温度が上昇すると、対照信号は、たとえ
実際の測定波長で増加したとしても増倍型光電管の感度
の低下を示す。他方、励起光は発光用フィルタを通って
増倍型光電管に入ることはできない。なぜならば発光用
フィルタは励起光の波長では不透明であるからである。
フィルタの特性の変更も考慮すべきであるが、完全に安
定化する唯一の方法はケイ光標準物質の使用である。
従来技術（でおいて、励起光のケイ光標準物質への適用
及びそれからの発光の集光は一つの試料の場合と同様の
方法で主に行われている。これは数枚のレンズ及び他の
光学部品が必要であるか、又は同じ光学系が試料とケイ
光標準物質の測定のために用いられているならば、試料
とケイ光標準物質の置き換え又は光学系の置き換えのた
めに部品を移動させる必袈がある。
従来技術において、内部ケイ光標準物質を使用する装置
もまた複雑で高価である。ケイ光標準品は、ケイ光物質
が鋳込まれたプラスチック又は特定の繰シ返えし時間で
置き換えなければならないケイ光物質の水溶液であった
。一般に、同一の溶液において、一つのケイ光物質のみ
が存在し、それによってケイ光標準品は、その化学物質
がケイ元にかかわった波長においてのみ用いることがで
きる。
日常の作業に使用する為の簡単なケイ光光度計において
、ランプの強度及び検出器の感度の変動の測定結果への
影ａｈ、例えば独立した対照検出器がランプの輝度の変
動の監睨のために用いられている１メッサーズ、エフラ
ブオイ（Ｍｅｓｓｒｓ、　ＥＦＬＡＢ　ＯＹ　）の”　
７　Ａ／　７ｊ　ロスカン（ＦＬＵＯＲＯ８ＫＡＮ　）
”ケイ光光度計、又はフィルタを通ったランプの光が断
続器により測定光と交互に増倍型光電管に入るアイディ
ーエル（ＩＤＬ　）の°フィアックス（ＦＩＡＸ）’　
　ケイ光光度計（イギリス国特許明細書第１５９６５２
１号参照）の場合のように部分的にのみ補正されている
。
本発明の目的は、励起ランプの輝度と発光検小器の感度
の変動による測定誤差を取り除くために内部ケイ光標準
物質を用いるケイ光測定装置及びケイ光測定方法を提供
することである。
〔問題点を解決するための手段］ 本発明の非常に重要な新規性は、単色化された対照光が
輻射モノクロメータを通り、それから光検出器に入ると
ころの光学系が、プラスチックのような適当なケイ光材
料で作られ、したがって光の導入路とケイ光標準物質の
両者として働く光学繊維からなることである。
本発明の装置は、対照光路を用いる他の多くの装置と同
様に光束分配器を含むが、光束分配器から得られた対照
光は、例えば、使用中あらゆる波長の励起光ｆ：あてら
れたとき光検出器の波長範囲内でケイ光を発するプラス
チックのような適当な材料で、全部又は一部分が作られ
た光学繊維にただちに入る。この光学繊維（該繊維はこ
こでは対照繊維と呼んでいる。）の他の一端から来る元
は発光用フィルタを通って光検出器に入る。試料のケイ
光は、一定である対照繊維のケイ光と常に比較されるの
で、その結果はランプの輝度又は検出器の感度に影響さ
れない。
本発明によれば、従来技術で公知の装置と比較して著し
くより単純である、内部ケイ光標準物質を用いたケイ光
光度計を提供することができる。
〔実施例〕
本発明によるーケイ光光度計を添付した図面によシ詳し
く説明する。
光源はランプ１である。励起光用フィルタ２はその光か
ら適当な励起波長帯を分離する。光束分配器５Ｆｉその
光を測定光路と対照光路に、好ましくはその光の大部分
を測定光路く通すように分配する。シャッタ４Ｆｉ、そ
の光を対照繊維５と励起光用繊維６とに交互に入れる。
この交互周波数は、ランプの輝度と検出器の感度がその
サイクルの間に有意の程度に変動する時間を有しないよ
うでなければならない。この周波数は光源と光検出器の
タイプと特性に依存し、そして１ないし１０００ｃ／ｓ
　　の範囲内が普通最も好ましい。試料７から発生した
光は発光用繊維８に集光される。発光用繊維から来る光
と対照繊維から来る光は洸束複合器９によって複合し、
そして発光用フィルタ１Ｇを通して光検出器１１に入れ
る。この対照値は、検出器の感度ｔ−調節するため、試
料から得られた測定値を割るため（それによって得られ
た商Ｆｉ最終結果である。）、又は対照′値が先に測定
された基本対照値と異なるところでその方法に従って試
料を測定する積分時間を調節するためのように、当業者
に公知のいかなる方法でも用いることができる。
上記した測定システムにおいて、原則として、測定の正
確さは、対照繊維のケイ光をいかに正確に一定に保つか
にのみ依存する。物質のケイ光が温度の上昇により減少
することは一般に知られている。対照繊維を作ることが
できる、例えばポリメチルメタクリレートのような材料
の場合では、ケイ光の温度依存性は１ケルビン度あた９
１０分の数パーセントである。測定操作の間に該装置内
の温度がいかに変化するか及び該装置がいかに正確であ
るかによって、対照繊維を一定温度に自動温度調節する
ことが必要となるかもしれない。これは自動温度調節し
たところにそれを置くことにより、又はその繊維を有す
る普通のジャケットの下に、温度検出器と一諸に該繊維
に沿って１ないし数本の抵抗線を置くことによって逐行
することができ、そしてこの補助器具によって該対照ｍ
維は自動温度調節器１２によシ一定温度罠保たれる。
図面に示す例においては、分離した光束分配器とシャヴ
タを用いている。同様に、例えば回転セクターミラーの
ように同時にこれらの機能の両方を担う部品を用いるこ
とも可能であろう。
この図面の例において、光学＃ｉ維によって、励起光が
試料に入り、輻射光が試料からでる。
同様に、例えばレンズ又Ｆｉ鏡、又はその両方からなる
光学系のような他のいくつかの光学系を用いてもよい。
この図面において、実施例のためにこのような光学装置
を励起光路と発光光路を試料からみて互いに９０°の角
度で配置したところに用いる。励起光路と発光光臨を試
料の同じ側又は対向する両側に配置したような従来技術
の装置を使用することも同様に可能であろう。
このような装置の部品はその他の点で当業者によ（知ら
れている。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例のケイ光光度計を示す図である。 手Ｖ、ネ市正書（方式） 昭和６０年１２月１６日 ２、発明の名称 ケイ光光度計及びケイ光測定方法 ３、補正する者 事件との関係　特許出願人 名称　ラブシステムズ　オイ ４、代　理　人（〒１０１） 住所　東京都千代田区神田駿河台１の６主婦の友ビル　
電話（２９１）９７２１〜４６、補正の対象

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）光源と、測定光路及び対照光路に該光を分割する
    ための光束分配器と、該光を該測定光路及び対照光路に
    交互に入射するための光束交換器と、該測定光路の光を
    試料に適用するため及び該試料から輻射されたケイ光を
    光検出器に通すための光学系と、所望により、該光検出
    器へのケイ光からある波長帯を選択するためのフィルタ
    又はそれと等価のものと、該対照光路の光を上記の同じ
    光検出器に通すための光学系からなり、該対照光路の光
    を該光検出器に通すための該光学系において、光学繊維
    又は光学繊維束を有し、その全部又は一部がケイ光材料
    で作られていることを特徴とするケイ光光度計。
  2. （２）光学繊維又は光学繊維束を自動温度調節されたと
    ころに位置させることを特徴とする特許請求の範囲第１
    項記載のケイ光光度計。
  3. （３）光学繊維又は光学繊維束が、内側に更に加熱用抵
    抗器を有するジャケット内に収納されていることを特徴
    とする特許請求の範囲第２項記載のケイ光光度計。
  4. （４）励起光を、試料がある測定光路と、光学繊維又は
    光学繊維束があり、その全部又は一部がケイ光材料で作
    られていることを特徴とする対照光路とを交互に通して
    光検出器に入射させることを特徴とするケイ光測定方法
    。
  5. （５）ケイ光材料で作られた光学繊維の温度を測定する
    間一定に保つことを特徴とする特許請求の範囲第４項記
    載の方法。
JP60190866A 1984-08-29 1985-08-29 ケイ光光度計及びケイ光測定方法 Granted JPS61116646A (ja)

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FI843409A FI843409A0 (fi) 1984-08-29 1984-08-29 Fluorometer.

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JPS61116646A true JPS61116646A (ja) 1986-06-04
JPH0580615B2 JPH0580615B2 (ja) 1993-11-09

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